Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu

metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan
hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin
dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel.
A. PRINSIP XRD

Prinsip dari alat XRD (X-ray powder diffraction) adalah sinar X yang dihasilkan
dari suatu logam tertentu memiliki panjang gelombang tertentu, sehingga
dengan memfariasi besar sudut pantulan sehingga terjadi pantulan elastis yang
dapat dideteksi.Maka menurut Hukum Bragg jarak antar bidang atom dapat
dihitung dengan data difraksi yang dihasilkan pada besar sudut sudut
tertentu. Prinsip ini di gambarkan dengan diagram dibawah ini.

Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom
dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut
memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X
untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg :

n. = 2.d.sin ; n = 1,2,...

dengan adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak

antara dua bidang kisi, adalah sudut antara sinar datang dengan bidang
normal, dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel
kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang
gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang
dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah
puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin
kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul pada
pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam

sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini
kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis
material. Standar ini disebut JCPDS.

B. SUMBER SINAR
Tabung Sinar-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik, atau setara
dengan transisi kuantum partikel dari satu energi state ke lainnya. Contoh : radio
( electron berosilasi di antenna) , lampu merkuri (transisi antara atom). Ketika
sebuah elektron menabrak anoda :
a. Menabrak atom dengan kecepatan perlahan, dan menciptakan radiasi
bremstrahlung atau panjang gelombang kontinyu
b. Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya transisi
menghasilkan panjang gelombang garis
Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar
200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron
eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memilki panjang
gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki energi 103
-106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar
atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.

Komponen XRD ada 2 macam yaitu:

1. Slit dan film
2. Monokromator

Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar
untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut
dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan
menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi
yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik
spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponenkomponen, yang paling umum adalah K dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari
K1 dan K2. K1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua
kali lebih intensitas dari K2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan
karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau
kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang
diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum
untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu K =05418. Sinar-X ini
bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor
diputar, intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa
sinar-X tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan
suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan
memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu
arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer.
C. INSTRUMENTASI ALAT

Petunjuk Penggunaan, Penyiapan Sample

Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik)

Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 m atau 200-mesh
lebih disukai

Letakkan dalam sample holder

Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan mendapatkan
distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi
Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik-teknik
yang khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS
D. DATA YANG DIPROLEH
Hasil yang diperoleh dapi pengukuran dengan menggunakan instrument X-Ray
Diffraction (XRD) adalah grafik dikfraktogram. Difraktogram adalah output yang
merupakan grafik antara 2 (diffraction angle) pada sumbu X versus intensitas
pada sumbu Y.
Intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam sebagai
contoh dan detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing. Sebuah
puncak dalam intensitas terjadi ketika mineral berisi kisi-kisi dengan d-spacings
sesuai dengan difraksi sinar-X pada nilai Meski masing-masing puncak terdiri
dari dua pemantulan yang terpisah (K1 dan K2), pada nilai-nilai kecil dari 2
lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih dengan K2 muncul sebagai suatu
gundukan pada sisi K1. Pemisahan lebih besar terjadi pada nilai-nilai yang
lebih tinggi .

2 merupakan sudut antara sinar dating dengan sinar pantul. Sedangkan

intensitas merupakan jumlah banyaknya X-Ray yang didifraksikan oleh kisi-kisi
kristal yang mungkin. Kisi kristal ini juga tergantung dari kristal itu sendiri.
Kisi-kisi ini dibentuk oleh atom-atom penyusun kristal. Jika tidak ada atom-atom
yang menyusun suatu bidang kisi pada kristal, maka sinar X yang dating tidak
dapat didifraksikan atau dengan kata lain tidak ada kisi tersebut.

E. INFORMASI YANG DIDAPAT

Berdasarkan gambar bagan tersebut dapat dijelaskan bahwa pembangkit sinar-x
menghasilkan radiasi ektromagnetik setelah dikendalikan oleh celah
penyimpang (S1)selanjutnya jatuh pada cuplikan/sampel. Sinar yang
dihamburkan oleh cuplikan dipusatkan pada celah penerima (S2) dan jatuh pada
detektor yang sekaligus mengubahnya menjadi bentuk cahaya tampak (foton).

Informasi yang dapat diperoleh dari analisa dengan menggunakan

XRD tersebutyaitu sebagai berikut:
1.
Pembangkit sinar-x menghasilkan radiasi elektromagnetik setelah
dikendalikan oleh celah penyimpang (S)
2.
Posisi puncak difraksi memberikan gambaran tentang parameter kisi (a),
jarak antar bidang (dhkl), struktur kristal dan orientasi dari sel satuan (dhkl)
struktur kristal dan orientasi dari sel satuan.
3.
Intensitas relatif puncak difraksi memberikan gambaran tentang posisi
atom dalam sel satuan.
4.
Bentuk puncak difraksi memberikan gambaran tentang ukuran kristal dan
ketidaksempurnaan kisi. (dhkl) dikelompokkan dalam beberapa grup, dengan
intensitas relatif paling tinggi pertama disebut d1, kedua d2, ketiga d3 dan
seterusnya.

Dari pola difraksi padatan kristal yang teranalisa oleh XRD tersebut,
kita jugaakan mendapatkan beberapa informasi lain diantaranya :
1.

Panjang gelombang sinar X yang digunakan ()

2.

Orde pembiasan / kekuatan intensitas (n)

3.

Sudut antara sinar datang dengan bidang normal ()

Dengan persamaan Bragg, kita dapat memperoleh nilai jarak antara dua bidang
kisi (d) berdasarkan sudut sinar datng bidang.
KEGUNAAN DAN APLIKASI

Kegunaam dan aplikasi XRD:

Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf
Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
Karakterisasi material kristal
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film

KEUNTUNGAN DAN KERUGIAN DARI XRD KRISTAL DAN BUBUK

1. Kristal Tunggal
- Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
- Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
2. Bubuk
- Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya
- Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk

Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah

kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat
panjang gelombangnya yang pendek. Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik
dengan panjang gelombang 0,5-2,0 mikron. Sinar ini dihasilkan dari penembakan
logam dengan elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan
saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam
tersebut terpental membentuk kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih
tinggi masuk ke tempat kosong dengan memancarkan kelebihan energinya
sebagai foton sinar-X.
X-ray difraksi Instrumen yang tepat dirancang untuk aplikasi dalam
microstructure pengukuran, pengujian dan penelitian mendalam dalam
penyelidikan.