qwertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwerty

uiopasdfghjklzxcvbnmqwertyuiopasd
fghjklzxcvbnmqwertyuiopasdfghjklzx
cvbnmqwertyuiopasdfghjklzxcvbnmq
PENGENALAN ANALISIS KRISTAL
: XRD dan SEM
wertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwertyui
Pelatihan Instrumentasi Kimia

opasdfghjklzxcvbnmqwertyuiopasdfg
Juli 2009

hjklzxcvbnmqwertyuiopasdfghjklzxc
Cepi Kurniawan

vbnmqwertyuiopasdfghjklzxcvbnmq
wertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwertyui
opasdfghjklzxcvbnmqwertyuiopasdfg
hjklzxcvbnmqwertyuiopasdfghjklzxc
vbnmqwertyuiopasdfghjklzxcvbnmq
wertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwertyui
opasdfghjklzxcvbnmqwertyuiopasdfg
hjklzxcvbnmrtyuiopasdfghjklzxcvbn
mqwertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwert
yuiopasdfghjklzxcvbnmqwertyuiopas
dfghjklzxcvbnmqwertyuiopasdfghjklz
xcvbnmqwertyuiopasdfghjklzxcvbnm
qwertyuiopasdfghjklzxcvbnmqwerty
 Difraksi Sinar-X
Pengukuran difraksi sinar-X merupakan teknik yang digunakan untuk
menganalisis stuktur kristal padatan.
Sinar-X yang merupakan radiasi gelombang elektromagnetik dengan
panjang gelombang sekitar 1 , berada di antara panjang gelombang sinar gamma
() dan sinar ultraviolet. Sinar-X dihasilkan jika elektron berkecepatan tinggi
menumbuk suatu logam target sehingga elektron pada logam mengalami eksitasi
yang menyebabkan terjadinya kekosongan elektron. Kekosongan elektron
selanjutnya diisi oleh elektron dari tingkat energi yang lebih tinggi yang
menyebabkan terjadinya pancaran energi dalam bentuk sinar-X (Gambar A).
sinar X

Gambar A. Elektron berkecepatan tinggi yang mengenai elektron pada orbital 1s

(kulit K) menyebabkan elektron tereksitasi sehingga terjadi kekosongan () pada
orbital 1s, elektron pada orbital 2p mengisi kekosongan tersebut yang
menyebabkan terjadinya pancaran sinar-X (West, 1984).

Sinar-X yang diperoleh memberikan intensitas puncak tertentu yang

bergantung pada kebolehjadian transisi elektron yang terjadi. Transisi K lebih
mungkin terjadi dan memiliki intensitas yang lebih tinggi daripada transisi K ,
sehingga radiasi K yang digunakan untuk keperluan difraksi sinar-X. Sinar-X juga
dapat dihasilkan oleh proses perlambatan elektron pada saat menembus logam
sasaran. Proses perlambatan ini menghasilkan sinar-X yang biasa disebut sebagai
radiasi putih. Hasil dari semua proses tadi untuk logam tertentu adalah spektrum
khas sinar-X, seperti yang ditunjukkan pada Gambar B. Terdapat bentuk dasar
yang terbentuk oleh radiasi putih dan puncak khas tajam yang bergantung pada
kuantisasi transisi elektron.
Sinar-X yang diperlukan dalam suatu eksperimen difraksi sinar-X,
dilewatkan dalam filter yang secara selektif meneruskan panjang gelombang yang
ingin digunakan. Untuk sinar-X dari tabung tembaga, biasanya digunakan
lembaran nikel sebagai filter. Nikel sangat efektif dalam meneruskan radiasi Cu K ,
karena radiasi Cu K memiliki cukup energi untuk mengionisasi elektron 1s nikel,
sedangkan radiasi Cu K tidak cukup untuk mengionisasi. Dengan demikian,
lembaran nikel tersebut akan mengabsorpsi semua panjang gelombang termasuk
radiasi putih, kecuali radiasi Cu K.
Radiasi K, terdapat dalam beberapa jenis pancaran panjang gelombang
dengan intensitas yang berbeda. Pancaran gelombang K1 dan K2 digunakan
sebagai panjang gelombang untuk keperluan difraksi sinar-X.

Gambar B. Spektrum panjang gelombang sinar-X yang dipancarkan oleh logam Cu

yang terdiri dari radiasi putih, radiasi Cu Kdan beberapa jenis radiasi Cu K

Hukum Bragg
Suatu kristal memiliki susunan atom yang tersusun secara teratur dan
berulang, serta memiliki jarak antar atom yang ordenya sama dengan panjang
gelombang sinar-X. Akibatnya, bila seberkas sinar-X ditembakkan pada suatu
material kristalin maka sinar tersebut akan menghasilkan pola difraksi khas. Pola
difraksi yang dihasilkan sesuai dengan susunan atom pada kristal tersebut.
Menurut pendekatan Bragg, kristal dapat dipandang terdiri atas bidang-
bidang datar (kisi kristal) yang masing-masing berfungsi sebagai cermin semi
transparan. Jika sinar-X ditembakkan pada tumpukan bidang datar tersebut, maka
beberapa akan dipantulkan oleh bidang tersebut dengan sudut pantul yang sama
dengan sudut datangnya, seperti yang diilustrasikan pada Gambar C, sedangkan
sisanya akan diteruskan menembus bidang.

Gambar C. Pemantulan berkas sinar-X oleh dua bidang kisi dalam kristal dengan
jarak antara bidang kisi sebesar dhkl. Sinar datang pada titik A dan D dengan sudut
sebesar , sebagian sinar dipantulkan dengan besar sudut yang sama dan
sebagian diteruskan menembus bidang.

Perumusan secara matematik dapat dikemukakan dengan menghubungkan

panjang gelombang sinar-X, jarak antar bidang dalam kristal, dan sudut difraksi:
 n = 2d sin (Persamaan Bragg)

adalah panjang gelombang sinar-X, d adalah jarak antar kisi kristal,

adalah sudut datang sinar, dan n = 1, 2, 3, dan seterusnya adalah orde difraksi.
Persamaan Bragg tersebut digunakan untuk menentukan parameter sel kristal.
Sedangkan untuk menentukan struktur kristal secara lengkap dengan
menggunakan metoda komputasi kristalografik, data intensitas digunakan untuk
menentukan posisi-posisi atomnya.

Difraksi Sinar-X Serbuk

Ada beberapa metoda dalam pengukuran difraksi sinar-X. Tiga variabel
yang menyebabkan perbedaan tersebut yaitu:
jenis radiasi : monokromatik atau variasi panjang gelombang
(),
bahan contoh : kristal tunggal atau serbuk,
detektor : pencacah radiasi atau film fotografi.

Metoda yang digunakan untuk menentukan struktur padatan yang disintesis

pada penelitian ini adalah metoda difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder
diffraction). Pada metoda difraksi sinar-X serbuk, contoh bahan berupa serbuk
padatan kristalin yang memiliki sejumlah besar kristal kecil dengan diameter
butiran kristalnya sekitar 10-7 10-4 m, ditempatkan pada suatu plat kaca dalam
difraktometer dengan susunan seperti terlihat pada Gambar D.
Tabung sinar-X

Pemfokus
Detektor

2
Keping
sampel Lintasan

Gambar D. Skema difraktometer sinar-X serbuk. Tabung sinar-X akan

memancarkan sinar-X yang difokuskan untuk mengenai contoh bahan oleh
pemfokus, detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk merekam pola
difraksi sinar-X (West, 1984).

Pola difraksi yang dihasilkan berupa deretan puncak-puncak difraksi dengan

intensitas relatif yang bervariasi sepanjang nilai 2 tertentu. Berbeda dengan
analisis kimia pada umumnya, yang memberikan informasi mengenai unsur apa
saja yang terdapat pada contoh bahan. Dengan metoda difraksi, kita dapat
menentukan senyawa kristalin atau fasa yang terdapat dalam suatu contoh bahan.
Pola serbuk yang karakteristik dapat dijadikan sebagai sidik jari yang dimiliki oleh
setiap fasa kristal. Ada dua variabel yang dapat ditentukan pada pola difraksi yaitu
posisi puncak atau jarak d tetapi sering juga digunakan pengecekan intensitasnya.
 Intensitas (cps)
2 ( o )
Gambar E. Pola difraksi sinar-X serbuk pada senyawa LSGM yang dihasilkan pada
pemanasan 1350 oC selama 30 jam penahanan.

Besarnya intensitas relatif puncak dari deretan puncak tersebut bergantung

pada jumlah atom atau ion yang ada, dan distribusinya di dalam sel satuan
material tersebut. Pola difraksi setiap padatan kristalin bersifat khas, bergantung
pada kisi kristal, parameter sel, dan panjang gelombang sinar-X yang digunakan.
Dengan demikian, sangat kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi yang sama
untuk suatu padatan kristalin yang berbeda.
Untuk mengidentifikasi senyawa tak dikenal, telah ada sumber referensi
yang sangat berharga, yaitu Powder Diffraction File (PDF) produk Joint Committee
on Powder Diffraction Standards, Swarthmore, USA (PCPDFWIN, 1998).
Sebelumnya, referensi ini bernama ASTM file, yang memiliki pola serbuk lebih dari
35000 material yang sampai sekarang terus bertambah. Material diklasifikasikan
berdasarkan puncak-puncak berintensitas tinggi atau berdasarkan delapan garis
pertama pada pola serbuk sebagai penurunan jarak d. Masalah timbul ketika
material belum masuk dalam data referensi atau material yang tidak murni,
sehingga mengandung puncak-puncak difraksi lebih dari satu fasa. Untuk
beberapa kasus, material yang dianalisis tidak diketahui secara menyeluruh, tetapi
hanya terbatas mendekati daerah fasa-fasa yang mungkin. Untuk mempermudah
analisis, harus dicocokkan antara hasil difraktogram dengan pola standar dari
material yang mempunyai fasa yang mirip.

Metode Le Bail
Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi overlap pada puncak difraksi
terutama pada nilai 2 yang tinggi. Dengan adanya overlap tersebut menyebabkan
sulitnya pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan sinar, sehingga penentuan
struktur sukar dilakukan. Namun, dengan metoda Rietveld, dimungkinkan untuk
menentukan struktur kristal (Refinement), terutama untuk struktur yang relatif
sederhana dengan menggunakan model struktur yang terdiri dari penggabungan
antara intensitas yang dihasilkan dengan panjang gelombang dan parameter
kisinya. Penggunaan Refine dengan metoda Rietveld pada penelitian ini, dilakukan
dengan menggunakan program Rietica (Howard and Hunter, 1997). Sebagai
langkah awal, analisis data XRD dilakukan dengan metode Le Bail. Pada metode
Le Bail, intensitas dari berbagai puncak difraksi dihitung dengan hanya
menggunakan parameter sel satuan dan parameter yang mendefinisikan puncak.
Dari analisis Le Bail akan didapatkan parameter sel dan plot Le Bail yang mirip plot
Rietveld.
Scanning Electron Microscopy (SEM) dan Energy Dispersive X-
Ray Spectrometry (EDX)
Morfologi permukaan senyawa padatan dan komposisi unsur yang terdapat
dalam padatan tersebut dapat dianalisis dengan menggunakan pencitraan
mikroskop elektron atau Scanning Electron Microscopy (SEM) yang dilengkapi
dengan Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDX).
SEM memiliki teknik dan kemampuan yang unik untuk menganalisa
permukaan suatu bahan dengan perbesaran yang sangat tinggi. Dengan SEM
maka tekstur, topografi, dan pola permukaan dari serbuk atau padatan dengan
ukuran ~2000 dapat diamati. Alat ini seperti sebuah analog dengan sinar yang
dipantulkan mikroskop, dengan sumber radiasi yang berbeda, namun sama-sama
memberikan suatu pencitraan. Jika sinar pantul dari mikroskop membentuk
gambar dari sinar yang dipantulkan permukaan sampel, SEM menggunakan
elektron untuk membentuk gambar.
Perbedaan panjang gelombang dari sumber radiasi ini menghasilkan tingkat
resolusi yang berbeda, elektron memiliki panjang gelombang yang jauh lebih
pendek dibandingkan sinar foton, dan panjang gelombang yang lebih pendek ini
dapat menghasilkan informasi dengan resolusi yang lebih tinggi. Resolusi
tambahan ini nantinya memungkinkan pembesaran yang lebih tinggi tanpa
kehilangan sedikitpun detail. Pembesaran maksimum dari mikroskop cahaya
sekitar 2000 kali, di atas tingkat ini adalah pembesaran kosong, atau titik dimana
pertambahan pembesaran tidak akan memberikan informasi tambahan (Gabriel,
1985).
Filamen sumber
berkas elektron
Anoda
Gambar

Kondensor Mesin pemindai

Berkas Pengatur perbesaran

Katoda
Lensa obyektif

Photo Multiplier

Sampel Pengumpul sinar

Gambar E. Skema sederhana alat SEM dimana berkas elektron diarahkan pada
sampel zat yang kemudian direfleksikan kearah detektor yang memisah-misahkan
data dan mengirimkannya pada layar berupa tabung sinar katoda.

Pada Gambar tersebut ditunjukkan skema sederhana dari SEM. Perangkat

SEM pada dasarnya terdiri dari empat sistem yang terintegrasi, yaitu:
 1. Sistem iluminasi yang menghasilkan berkas elektron dan mengarahkannya ke
sampel.
2. Sistem informasi, yang meliputi data yang dilepaskan oleh sampel selama
penembakan elektron. Sinyal data ini dipisah-pisahkan dan dianalisis oleh
suatu detektor.
3. Sistem layar, terdiri dari satu atau dua tabung sinar katoda untuk mengamati
dan memotret permukaan yang diinginkan.
4. Sistem vakum, yang berfungsi untuk menghilangkan gas dari kolom mikroskop
agar tidak berinteraksi dengan berkas elektron sehingga mengganggu dalam
pembentukan gambar.
Pada dasarnya, prinsip kerja dari SEM sebanding dengan mikroskop.
Keduanya berfungsi sebagai alat pembesar benda yang ukurannya terlalu kecil
untuk dapat dilihat dengan mata telanjang. Pada Tabel 1 diperlihatkan
perbandingan bagian alat dari mikroskop biasa dengan SEM.

Tabel 1. Perbandingan bagian alat dalam mikroskop elektron dengan mikroskop

optik.
Bagian Alat Scanning Electron Mikroskop Biasa
Microscope
Sumber cahaya pancaran elektron cahaya tampak
(: 0,06 ~ ) (: 2.000 ~ 7.500)
Media hampa atmosfer
Lensa lensa elektron lensa optik
Resolusi 60 UV-Vis (2.000-1.000)
Panjang fokus 30 m 0,1 m
Pengaturan secara elektrik secara mekanik
fokus 10 x hingga 180.000 x 10 x hingga 2.000 x
Perbesaran gambar hamburan elektron gambar pantulan cahaya
Gambar hasil bentuk geometris, sifat penyerapan dan
Kontras kimia dan fisika pemantulan cahaya
LCD (Liquid Crystal pengamatan langsung
Monitor Display)

SEM dapat memberikan hasil yang baik untuk material konduktif dan
semikonduktif. Material yang tidak dapat menghantarkan listrik dapat dipotret oleh
SEM dengan teknik penyiapan tertentu. Teknik penyiapan sampel yang umum
adalah dengan melapisi sampel dengan lapisan tipis material konduktif, seperti
lapisan tipis emas-paladium (Au : 80% dan Pd : 20%). Kadangkala, proses ini
dapat mengganggu kondisi sampel sehingga agak mengganggu pengukuran
(Manual alat, 2005)
Hasil pengukuran SEM berupa gambar morfologi permukaan contoh bahan.
Contoh hasil pemotretan LSGM dengan SEM adalah pada Gambar F.
 a) b)
Gambar F. Contoh gambaran permukaan LSGM hasil SEM masing-masing setelah
pemanasan 1350 oC pada sintesis dengan metode reaksi fasa padat a) perbesaran
1000 kali dan b) perbesaran 2500 kali.

Energi spesifik yang dipancarkan oleh setiap atom dalam senyawa dapat
dideteksi dengan Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX). EDX merupakan
prosedur standar untuk mengidentifikasi dan menghitung komposisi unsur dari
area sampel sebesar beberapa mikrometer kubik. Suatu sinar X karakteristik
dihasilkan ketika material ditembaki dengan elektron dari perangkat penghasil
elektron seperti SEM. Deteksi sinar-X ini dilakukan dengan suatu spektrometer
dispersif energi, yaitu suatu alat yang dapat memisah-misahkan sinar-X
berdasarkan energinya.
Ketika suatu unsur ditembaki berkas elektron, maka unsur tersebut akan
melepaskan energi dalam bentuk sinar-X. Ada dua metode yang digunakan untuk
menentukan sinar-X yang dihasilkan, yaitu (1) analisis energi dispersif,
memisahkan dan mendeteksi sinar-X pada energi tertentu dan dimunculkan dalam
bentuk histogram, (2) analisis panjang gelombang dispersif, menggunakan
pantulan sinar-X yang dikeluarkan oleh kristal pada sudut dan panjang gelombang
tertentu (Beck, 1977). Untuk mendeteksi sinar-X yang dihasilkan digunakan
detektor semikonduktor yang akan terpolarisasi dengan adanya tegangan tinggi.
Pengukuran EDX dilakukan bersama dengan pengukuran SEM. Alat yang
digunakan di Pusat Survey Geologi (PSG) adalah seperti pada Gambar G

Gambar G. Alat yang digunakan pada pengukuran SEM/EDX di PSG Bandung.

 Modul Praktikum

MENGGAMBARKAN STRUKTUR PADATAN KRISTALIN

DAN ANALISIS DIFRAKTOGRAM

Oleh:
Cepi Kurniawan, M.Si

Jurusan Kimia
Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam
UNIVERSITAS NEGERI SEMARANG
2009
 Menggambarkan struktur Kristal dengan software Balls & Sticks (BS)

Pendahuluan
BS (Balls & Sticks) adalah perangkat lunak gratis untuk menggambarkan struktur kimia,
terutama kristal, dalam 3D dan dapat menghasilkan gambar bitmap yang dapat disalin ke
clipboard dan ditempelkan (paste) di dokumen pengolah kata (Word misalnya). Perangkat
lunak BS dapat di download di http://www.toycrate.org

Sekilas tentang Padatan Kristalin

Padatan kristalin tersusun dari unit berulang yang teratur. Unit pengulangan terkecil
disebut dengan sel satuan. Penggambaran struktur dapat diwakili dengan penggambaran
sel satuannya. Ingat sel satuan adalah hanya satu bagian kecil saja dari struktur padatan.

Informasi yang diperlukan untuk menggambarkan struktur Kristal:

1. Simetri dari struktur: Grup Ruang. (Semacam grup titik dalam molekul). Informasi
ini menentukan bagaimana pengulangan dalam kristal terjadi.
2. Dimensi sel satuan. (untuk kubus a [karena a=b=c, a=b=g=90o], untuk triklin a, b, c,
a, b, g.
3. Posisi-posisi atom dalam sel satuan.
Informasi-informasi ini didapat dari studi difraksi.

Beberapa Cara Menampilkan Struktur Kristal

(1) (2) (3) (4)

(nomor merujuk pada gambar: dari kiri ke kanan)
1. Ball and stick: untuk menekankan bagaiamana atom-atom saling berkoordinasi.
2. Polihedra: melihat dengan cepat bagaimana koordinasi lokal(atom-atom tetangga)
dan bagaimana satu unit koordinasi bergabung dengan unit koordinasi lain.
3. Kombinasi 1 dan 2
4. Terjejal: untuk melihat bagaimana ruang diisi.

Contoh
Berikut akan diberikan contoh menggambarkan struktur kristal NaCl. Informasi
kristalografik NaCl adalah: Fm3m(225), a = 5.64006 , Na (0,0,0) Cl (,,). Ikuti prosedur
berikut:
1. Klik dua kali bs.exe
2. Pilih "File | New" atau "Edit | Structure" di menu.
3. Pilih grup ruang dengan kontrol {1}.
4. Kontrol {5} digunakan untuk mengatur "a", "b", "c" dan kontrol {6} untuk mengatur
"alpha", "beta" dan "gamma".
 5. Kontrol {8} "daftar parameter atom"
memberikan posisi-posisi atom dan sitenya
(sementara isi dengan nomor berbeda untuk
posisi yang berbeda). Untuk mengisi pertama
isilah daerah {7} kemudian "Add" atau "Insert".
Isikan posisi Na dan Cl
6. Kemudian tekan OK
7. Akan muncul dialog "Boundary of structure"
yang medefinisikan seberapa besar struktur
yang Anda akan gambarkan (berapa sel satuan)
untuk sementara klik OK saja.
Maka Anda akan mendapatkan atom-atom Na
dan Cl dalam satu sel satuan.

Menggambarkan Ikatan
8. Untuk membuat ikatan, pilih dua atom
(dengan "klik kiri mouse" sambil menekan
tombol "Ctrl"), kemudian tekan "Enter". Atau
dapat pula anda lakukan dengan memilih dua atom dan menekan tombol di toolbar.
9. Ikatan-ikatan yang ekivalen dalam struktur dapat digambarkan dengan memilih ikatan
(klik kiri) kemudian "Shift + Enter" atau dengan menekan tombol pada toolbar.

Menggambarkan polihedra
10. Pilih atom-atom yang akan menjadi titik-titik sudut polihedron (klik kiri sambil
menekan tombol "Ctrl", kemudia "Enter".
11. Polihedron yang ekivalen dapat dibuat dengan memilih polihedron yang telah terbuat
dan menekan "Shift + Enter" atau dengan tombol di toolbar.

TUGAS
Gambarkan struktur dengan cara penampilan 1 dan 2 (lihat cara penampilan di atas) :
1. Cu (bcc), Fm3m (no. 225), a = 3.6153, Cu(0,0,0).
2. -Fe (bcc), Im3m (no. 229), a = 2.866, Fe (0,0,0).
3. intan, Fd3m (no. 227), a = 3.567, C (0,0,0).
4. grafit, P63/mmc (no.194) a = 2.456 , c = 6.694, C(0,0,), (2/3, 1/3,).
5. CsCl, P43m (no. 215), a = 4.121, Cs (0,0,0), Cl (, ,).
6. ZnS (sfalerit), F43m (no. 216), a = 5.409, Zn (0,0,0), S(,,).
7. ZnS (wurzit), P63mc (no.186) a = 3,811 , c = 6.234, Zn (1/3, 2/3, 0), S(1/3,2/3, 5/8)
8. NiAs, P63mc (no.186) a = 3,619 , c = 5.034, Ni (0,0,0), As(1/3,2/3,)
9. CdI2, P3m(164), a = 4.244 , c = 6.835, Cd (0,0,0), I(1/3,2/3,0.2492)
10. SrTiO3 (perovskit), Pm3m (221), a = 3.853, Ti (0,0,0) Ca (,,) O(0,0,)
11. Flourite (CaF2): Fm3m(225) a = 5.462 , Ca (0,0,0) F(,,).
12. Li2O bila diketahui ia berstruktur anti-flourit dan a = 5.457 .
13. Rutil (TiO2): P42/mnm(136): a = 4.593 c = 2.956 Ti (0,0,0) O (0.3048, 0.3048, 0).
14. Spinel (MgAl2O4) Fd3m(227) a = 8.080 , Mg (0,0,0) Al (5/8, 5/8, 5/8) O(0.387, 0.387,
0.387).
15. K2PtCl6, Fm3m( 225), a = 9.686, Pt(0,0,0), Cl (0.239, 0,0), K(,,).
 Metode Le Bail Dengan Software RIETICA177

Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi overlap pada puncak difraksi
terutama pada nilai 2 yang tinggi. Dengan adanya overlap tersebut menyebabkan
sulitnya pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan sinar, sehingga penentuan
struktur sukar dilakukan. Namun, dengan metoda Rietveld, dimungkinkan untuk
menentukan struktur kristal (Refinement), terutama untuk struktur yang relatif sederhana
dengan menggunakan model struktur yang terdiri dari penggabungan antara intensitas
yang dihasilkan dengan panjang gelombang dan parameter kisinya. Penggunaan Refine
dengan metoda Rietveld pada penelitian ini, dilakukan dengan menggunakan program
Rietica (Howard and Hunter, 1997). Sebagai langkah awal, analisis data XRD dilakukan
dengan metode Le Bail. Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai puncak difraksi
dihitung dengan hanya menggunakan parameter sel satuan dan parameter yang
mendefinisikan puncak. Dari analisis Le Bail akan didapatkan parameter sel dan plot Le
Bail yang mirip plot Rietveld.

Langkah-langkah refinement
1. Buka Program Rietica, kemudian akan terlihat seperti gambar berikut, untuk
memulai klik icon New , seperti terlihat pada gambar:

2. Ubah a structure menjadi an extraction, dengan Cara Klik terlihat seperti dibawah
ini, kemudian klik OK

3. Akan terlihat kotak dialog seperti di bawah ini, kemudian klik Cancel

4. Setelah itu klik icon Input Fasa , seperti terlihat pada gambar
5. Selanjutnya akan muncul kotak dialog seperti gambar berikut, kemudian Isikan
Parameter Input sesuai dengan yang diinginkan pada kotak dialog tersebut.
Parameter Input antara lain yang harus diisikan adalah :
- Space Group
- a,b,c,a, b, g dan nilai Z
- Calculation Method adalah Le Bail
Setelah semua parameter input telah dimasukkan, selanjutnya klik OK.
Parameter Input yang harus diisikan

6. Selanjutnya input data tersebut di Save dengan mengklik icon Save , lalu akan
terlihat kotak dialog seperti di bawah ini:

7. Kemudian tuliskan nama file pada kotak File Name. Setelah itu klik Save.
8. Setelah itu klik icon Refine , akan terlihat kotak dialog seperti di bawah ini:
9. Kemudian klik icon Input , akan
terlihat kotak dialog seperti gambar di bawah ini.

10. Kemudian isikan nama file input yang telah kita buat, sehingga akan nampak
seperti di bawah ini.

11. Setelah itu klik icon Data ,

Selanjutnya ikuti prosedur yang sama seperti memasukkan nama File Input pada
prosedur nomor 9 dan 10. Kemudian akan terlihat kotak dialog seperti berikut ini:

12. Setelah itu Klik , menjadi 5 10, dan klik Dinamic Plotting, sehingga akan
terlihat seperti di bawah ini:
 13. Setelah itu klik Start , selanjutnya klik Step , untuk melakukan
proses Refinement, akan terlihat seperti pada gambar berikut:

14. Jika hasil Refinementnya belum bagus, maka dapat dilakukan perubahan
parameter untuk mendapatkan hasil refinement yang baik.
Parameter yang dapat di ubah yaitu :
- Input Histogram
- Input Fasa
- Input Sampel , yang dijelaskan pada prosedur selanjutnya, pada nomor 1517

15. Input Histogram .

Yang dapat di ubah antara lain zero, B-1, B0, B1, B2 dengan cara mengklik seperti
terlihat pada gambar.
16. Input Fasa
Yang dapat di ubah antara lain a, b, c

17. Input Sampel

Yang dapat di ubah antara lain u, v, w, Asy1 dan Gam0

18. Refinemnet dihentikan jika Rp dan Rwp ,10%

Kriteria kesesuaian tercapai apabila parameter yang diperoleh untuk oksida yang
diamati menghasilkan residu minium. Hasil penghalusan yang baik harus memberikan
harga Rp dan Rwp 10 %. Harga tersebut menunjukkan tingkat kecocokan antara pola
difraksi hasil kalkulasi dan pola difraksi hasil pengukuran. Hal ini diantaranya sangat
ditentukan oleh model yang digunakan, di mana model tersebut harus mengandung
parameter yang diperkirakan dimiliki oleh oksida yang diamati.

Tugas
Lakukan Refinement untuk difraktogram yang ada pada folder pelatihan. Untuk semua
Kristal, space group dan prediksi parameter sel awal yang dapat di coba adalah:
SG Prediksi / Referensi
A b C
P m 3 m (Z = 4) 3,95 - -
B m m b (Z = 8) 7,50 7,50 7,50
P n m a (Z = 8) 7,70 7,70 7,70
Catat parameter sel akhir (a, b, dan c), Rp, Rwp, serta printscreen hasil refinement