KARAKTERISASI MATERIAL

MAKALAH
Yang dibina oleh Ibu Rr. Poppy Puspitasari, M.T., Ph.D

Oleh :
Anwar Faishol F. 150514602673
Ibnu Faizal Z. 150514601663

UNIVERSIAS NEGERI MALANG

FAKULTAS TEKNIK
PROGRAM STUDI TEKNIK MESIN
OKTOBER 2017
KATA PENGANTAR

Puji syukur kami panjatkan atas kehadirat Tuhan Yang Maha Esa yang
telah memberikan rahmat dan anugerahNya kepada kita semua sehingga kami
bisa menyelesaikan laporan ini.
Terima kasih kami sampaikan kepada Asisten pendamping dan Dosen
pembimbing yang telah membantu melancarkan pembuatan makalah ini.
Dibutuhkan kerjasama untuk menyusun makalah ini. Kerjasama juga
dibutuhkan dalam menentukan kelancaran suatu kegiatan. Oleh karena itu kami
berusaha menggalang kerjasama dengan semua pihak untuk kelancaran dan
keberhasilan pembuatan laporan ini.
Selain itu, kami juga mengharap kritik dan saran dari semua pihak yang
dapat kami jadikan koreksi dalam pembuatan laporan ini. Semoga laporan ini
dapat bermanfaat dan dapat digunakan dengan sebaik mungkin sehingga akan
menghasilkan hasil yang memuaskan dan sesuai keinginan.

Malang, 17 Oktober 2017

Penyusun
 DAFTAR ISI
KATA PENGANTAR .....................................................................................
DAFTAR ISI ....................................................................................................
BAB I PENDAHULUAN ................................................................................
1.1 Latar Belakang .....................................................................................
1.2 Rumusan Masalah ................................................................................
1.3 Tujuan ...................................................................................................
BAB II PEMBAHASAAN ..............................................................................
2.1 Definisi AFM .......................................................................................
2.2 Bagian dan Jenis AFM .........................................................................
2.3 Aplikasi AFM .......................................................................................
2.4 Studi Kasus AFM .................................................................................
BAB III PENUTUP .........................................................................................
3.1 Kesimpulan ...........................................................................................
DAFTAR PUSTAKA ......................................................................................
 BAB I PENDAHULUAN
1.1 Latar Belakang
Atomic force microscopy (AFM) dikembangkan ketika orang mencoba
untuk memperpanjang teknik Scanning Tunneling Microscopy (STM) untuk
menyelidiki bahan elektrik non-konduktif, seperti protein. Pada tahun 1986,
Binnig dan Quate mendemonstrasikan untuk pertama kalinya gagasan AFM,
yang menggunakan tip probe ultra-kecil di ujung cantilever. Pada tahun 1987,
Wickramsinghe et al. mengembangkan setup AFM dengan teknik cantilever
bergetar, yang menggunakan mekanisme tuas cahaya.
Setelah penganugerahan Nobel pada tahun 1986 kepada Binnig dan Rohler
atas penemuan Scanning Tunneling Microscope, ternyata awal penemuan ini
(STM) diikuti oleh perkembangan alat scanning microscopic yang menerapkan
sistem kerja yang hampir sama dengan Scanning Tunneling Microscope, alat
ini dikategorikan dalam teknik Scanning Probe Microscopy (SPM). Seiring
dengan derkembangnya teknik SPM yang didukung dengan perkembangan
teknologi, maka pada tahun 1986 Binnig, Quate dan Gerber berhasil
mengaplikasikan teknik SPM kedalam suatu alat yang diberi nama atomic force
microscopy (AFM), atomic forcer microscopy memungkinkan kita untuk
mempelajari non-conducting surfaces, karena alat ini dapat melihat ikatan van
der walls antara atom satu dengan yang lainnya. AFM dan STM memiliki
kemampuan untuk menampilkan hasil penglihatan dalam resolusi tiga dimensi
bahkan mencapai skala atomnya.
1.2 Rumusan Masalah
1. Apakah yang dimaksud dengan atomic force microscopy (AFM) ?
2. Apa saja bagian dan jenis AFM
3. Apa saja aplikasi AFM

1.3 Tujuan
1. Mengetahui Definisi tentang AFM
2. Mengetahui bagian dan jenis AFM
3. Mengetahui aplikasi Afm
1.4 Manfaat

PEMBAHASAN

2.1 Definisi AFM

Mikroskop kekuatan atom (AFM) adalah salah satu keluarga mikroskop
probe scanning, dan banyak digunakan dalam aplikasi biologis. AFM
menggunakan kantilever yang fleksibel sebagai jenis pegas untuk mengukur
kekuatan antara ujung dan sampel. Gagasan dasar AFM adalah bahwa gaya
menarik atau tolak menolak antara ujung dan sampel diubah menjadi lipatan,
atau defleksi Cantilever. Cantilever melekat pada beberapa bentuk substrat
kaku yang bisa lendutan tetap terjaga, dan tergantung apakah interaksi pada
ujungnya menarik atau menolak, cantilever akan membelok ke arah mendekat
atau menjauh dari permukaan. Defleksi cantilever ini harus dideteksi dengan
cara tertentu dan diubah menjadi sinyal listrik untuk menghasilkan gambar.
Sistem deteksi yang telah menjadi metode standar untuk AFM menggunakan
sinar laser yang dipantulkan dari bagian belakang kantilever ke detektor.
Prinsip pengungkit optik digunakan, yang berarti bahwa perubahan kecil pada
sudut lentur kantilever diubah menjadi defleksi terukur besar pada posisi titik
pantulan.
Kekuatan menarik atau menolak antara ujung dan sampel menyebabkan
defleksi cantilever ke arah mendekat atau menjauh dari sampel. Saat cantilever
membelokkan, sudut sinar laser yang dipantulkan berubah, dan titik jatuh pada
bagian lain dari photodetektor. Sinyal dari empat kuadran detektor
dibandingkan untuk menghitung sinyal defleksi. Sebagian besar AFM
menggunakan fotodioda yang terbuat dari empat kuadran, sehingga posisi spot
laser dapat dihitung dalam dua arah. Defleksi vertikal (mengukur gaya
interaksi) dapat dihitung dengan membandingkan jumlah sinyal dari bagian
atas dan bawah detektor. Penulangan lateral kantilever juga dapat dihitung
dengan membandingkan bagian "kiri" dan kanan detektor.
Adapun AFM ini terdiri dari ujung jarum atau tip yang digunakan untuk
memindai spesimen permukaan , Penyangga yang biasanya silicon atau silicon
 nitride dengan ujung radius berupa lengkungan pada urutan nanometer Ketika
ujung yang dibawa ke kedekat permukaan sampel, memaksa ujung dan sampel
mengalami pembelokan dari penyangga menurut hukum Hooke.
Pembelokan diukur dengan menggunakan laser spot tercermin dari bagian
atas penyangga menjadi serangkaian photodiode.Metode lain yang digunakan
optik interferometry, capacitive sensing atau piezoresistive AFM cantilevers.
Centilevers ini siap untuk disamakan dengan element piezoresistive
Menggunakan jembatan Wheatstone di penyangga pembelokan dapat diukur,
tetapi metode ini tidak sensitif pada pembelokan laser atau interferometry.
Photodiode digunakan untuk menangkap hasil scan dari piezoelectric dimana
akan di tampilkan pada layar. AFM mampu memberikan informasi topografi
3D permukan pada skala nano.

Gambar Atomic Force Microscopy (AFM)

2.2 Bagian dan Jenis AFM

Pada mesin atomic force microscopy (AFM) ini memiliki beberapa bagian
umum antara lain ialah :
1. Cantilever : Pegas yang membelokan ujung probe tip sebagai pemindai
permukaan sample.
2. Probe tip : Suatu kompenen yang memiliki indra yang sangat peka
yang nantinya akan menggerakan cantilever.
3. Laser Diode : Sebuah laser yang akan mengirimkan sinyal aksi kepada
cermin.
4. Cermin : Perantara antara laser diode dan position sensitive
photdetector.
5. Position Sensitive Photdetector : Mengukur defleksi dari cantalever
yang berupa sinar.
6. Feedback Loop : Kontrol posisi Z sampel
7. Piezoelectric Scanner : posisi sampel (x,y,z)
8. Computer : sistem kontrol melakukan tampilan
data ac quistion, dan analisa
Lebih jelas seperti gambar di bawah ini.

Atomic force microscopy ini termasuk kedalam kategori Scaning Probe

microscopy (SPM), terdapat banyak sekali alat-alat yang termasuk kategori
SPM diantaranya ialah :
1. Atomic Force Microscopy (AFM)
2. Magnetic Force Microscopy (MFM)
Dalam mode ini, interaksi antara ujung dan permukaan akibat medan
magnet yang mungkin ada pada sampel terjadi. Untuk alasan yang jelas,
ujungnya harus dibuat dari material yang akan terkena medan magnet.
Interaksi antara sampel dan tip benar-benar terjadi selama pendekatan
dan selama sesi pemeriksaan pemindaian. Salah satu metode yang
digunakan untuk MFM melibatkan sebuah pendekatan diikuti dengan
pemindaian mode kontak intermiten dari permukaan untuk memetakan
topografi sampel. Setelah pemindaian awal ini, ujung AFM ditarik
 kembali ke posisi "lepas landas" atau tidak dihubungi dan sampel
dipindai ulang. Dengan cara ini, interaksi magnetik dapat dipisahkan
dari interaksi permukaan karena topografi. Interaksi magnetik antara
ujung dan sampel dapat mengubah resonansi kantilever / tip. Efek ini
akan mengurangi amplitudo osilasi dan fase sinyal penggerak. Hasil
bersihnya dapat diamati baik sebagai gambar fase atau gambar
amplitudo.
3. Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Penggambaran EFM bergantung pada kekuatan elektrostatik antara
ujung / kantilever dan permukaan sampel. Mengingat sifat lemah dari
kekuatan dan interaksi ini, perhatian harus diberikan untuk mengisolasi
efek gaya elektrostatik eksternal atau sumber defleksi kantilever
lainnya.
4. Shear Force Microscopy (ShFM)
5. Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
6. Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
7. Scanning Chemical Potential Microscopy (SCPM)
8. Scanning Thermal Microscopy (SThM)

2.3 Aplikasi AFM

Molekul dan permukaan membran
Gambar resolusi tertinggi biasanya diperoleh pada molekul tunggal yang
diimobilisasi pada permukaan seperti kaca atau mika. Hal ini dimungkinkan
untuk mempelajari sub-struktur dan organisasi protein, terutama dalam kristal
protein 2 dimensi. Ini juga bisa berhasil dengan protein membran dalam
kondisi yang tidak memungkinkan kristalisasi 3 dimensi untuk penyelidikan
struktural standar. Molekul panjang seperti DNA atau glikoprotein dapat
dipelajari untuk mengukur sifat intrinsik seperti panjang persistensi, atau
interaksi dengan protein terikat. Molekul tidak membutuhkan lapisan atau
pewarnaan dan dapat dicitrakan di udara atau cairan. Molekul dapat dipelajari
dalam tindakan, misalnya enzim seperti kolagenase atau amilase yang
mencerna substratnya.
 Menggambarkan Cell
AFM memiliki banyak keuntungan untuk menggambar sel, karena sel dapat
digambarkan pada resolusi tinggi dalam kondisi fisiologis, dalam buffer atau
media. Sel hidup dapat digambarkan, dan ini menyebabkan penelitian tentang
pengaruh berbagai obat atau kondisi pada morfologi dan perilaku sel. Sel yang
terinfeksi parasit atau virus juga telah dipelajari. Rincian sitoskeleton biasanya
terlihat pada gambar sel hidup, sedangkan sel tetap menunjukkan fitur resolusi
tertinggi permukaan membran. Banyak kemungkinan terbuka jika AFM dapat
dipasang pada mikroskop optik terbalik, sehingga gambar Dic atau fluoresensi
dapat dibandingkan dengan informasi topografi 3 dimensi, atau peta sifat
mekanik permukaan sel.
Modus dan interaksi lainnya
Selain dapat menggambarkan, AFM cantievers dapat digunakan dalam banyak
mode interaksi lainnya dengan permukaan. Tipnya bisa digunakan untuk
menghias permukaan, memindahkan dan memanipulasi molekul atau bagian
sampel, atau bahkan untuk membedah sampel pada skala nanometer.
Nanolithografi dimungkinkan, misalnya dengan menerapkan tegangan bias dan
menggunakan kapiler air alami yang terbentuk di antara ujung dan sampel di
udara untuk mengoksidasi pola di permukaan. Dengan permukaan tip
kantilever yang dimodifikasi, molekul pada ujung dapat dipola ke permukaan,
atau molekul di permukaan dapat diangkat dan dipindahkan di sekitar Ujung
dapat digunakan untuk gambar secara normal, dan kemudian gaya yang lebih
tinggi diterapkan untuk memotong bagian sampel, misalnya untuk membedah
bagian berlabel dari kromosom

2.4 Studi kasus AFM

(tulung garapen) aku yo dolek pisan
PENUTUP
3.1 Kesimpulan
 DAFTAR PUSTAKA
Handbook Nanowizard AFM Version 2.2a 05/2012. JPK Instrument
Nanotechnology for life Science.
https://www.spmtips.com/high-resolution-afm-probes.html, Di Akses pada
tanggal 27 januari 2018.
http://www.ammrf.org.au/myscope/spm/background/ Di Akses pada tanggal 27 januari
2018