6. Struktur kristasl zat pada secara empiric menggunakan sinar-X.

hal tersebut karena adanya

keteraturan susunan partikel-partikel penyusun kristal zat padat yang dapar dimanfaatkan
sebagai kisi pemdifraksi untuk radiasi dengan panjang gelombang yang sesuai. Pada tahun
1912 Maxs Von Laue mengemukakan pendapatnya mengenai sinar-X yang memiliki
kemungkinan untuk mengetahui struktur internal kristal dengan cara menafsirkan pola
difraksi sinar-X oleh kristal itu. Gagasan tersebut di realisasikan dengan cara melewatkan
seberkas sinar-X pada sebuah plat fotografi melalui kristal Cu SO 4 . Hasil pemrosesan film
tersebut dari berkas sinar yang disimpangkan dan suatu pola bercak-bercak yang tersebar di
sekitar pusat tembakan sinar. Sedangkan menurut William Bragg dan Lawrnce Bragg pada
tahun 1913 mengembangkan spectrometer yang dapat mengukur intensitas sinar-X yang
terdifraksi, dan melakukan analisis terhadap pola-pola difraksi sinar-X oleh kristal NaCl,
KCI, dan ZnS. Bragg menyatakan bahwa antaraksi sinar-X dan atom-atom dalam kristal
harus dianggap analog dengan pemantulan sinar biasa. Jadi, jika seberkas sinar-X dijatuhkan
pada suatu struktur kristal, Sebagian radiasi akan melewati zat, tetapi Sebagian lagi akan
dipantulkan oleh partikel-partikel. Panjang gelombang sinar-X yang dipantulkan identic
dengan sinar yang dating, dan sudut dating sama dengan sudut pantul. Berkas sinar-X yang
menembus kristal dapat dipantulkan oleh partikel-partikel yang berada pada lapisan-lapisan
berikutnya. Semua gelombang yang dipantulkan oleh atom-atom atau ion-ion berada pada
bidang yang sama dengan bidang sinar harus sefasa.