MAKALAH

“XRF (X-ray fluorescence spectrometry)”

Disusun oleh :

Izzah Mauryza H. K H31116009

Miftahul Rahmah H31116521

DEPARTEMEN KIMIA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM
UNIVERSITAS HASANUDDIN
2019
 BAB I
PENDAHULUAN

Dewasa ini banyak sekali penelitian yang dilakukan untuk mengetahui

susunan dari sebuah bahan. Dari pengukuran density dan repractive index, kekerasan¸

termal, struktur, sifat optic, sifat magnetic, sampai komposisi. Banyak teknik yang

dilakukan dalam suatu penelitian, dan beragam bentuknya, tidak sama antar satu dengan

yang lainnya.

Dalam pengukuran kompisisi khususnya, dilakukan dengan metode

spektometri,. Alat yang digunakan dalam metode tersebut yakni XRF dalam

penggunaan alat-alat tersebut, para peneliti memanfaatkan pemancaran sinar-x dalam

metode penelitiannya. Mengapa sinar-x yang digunakan, Profesor Daniel Mittleman

dari Fakultas Teknik Elektrik dan Komputer Rice University memberi penjelasan

detailnya. Sinar-x merupakan bentuk radiasi elektromagnetik, seperti cahaya, radiasi

inframerah, gelombang mikro, dan gelombang radio. Namun dibanding jenis radiasi

tersebut, sinar-x lebih enerjik. Foton sinar-x seribu kali lebih enerjik dibanding foton

cahaya tampak.

Terakhir, mesin yang mengakselerasi elektron dalam orbit lingkaran dapat

menghasilkan sinar-x. Ketika elektron berputar, elektron ini memancarkan sinar-x kuat.

Nah itu tadi adalah pengetahuan awal dari makalah yang akan kita bahas pada kali ini.

Pemancaran Sinar-x akan digunakan dalam alat yang dinamakan XRF (X-Ray

Flourencenses). Kali ini akan dibahas lebih mendetail tentang, apa pengertian XRF dan

bagaimana prinsip kerjanya terhadap pengukuran kaca, apa kelebihan dan kekurangan

XRF, apa saja aplikasi dari XRF serta beberapa contoh hasil dari pengukuran

menggunakan XRF.
 BAB II

A. PENGERTIAN XRF

X-ray fluorescence (XRF)

spektrometer adalah suatu alat x-ray

digunakan untuk rutin, yang relatif

non-destruktif analisis kimia batuan,

mineral, sedimen dan cairan. XRF

bekerja pada panjang gelombang-

dispersif spektroskopi prinsip yang

Gambar 1. X-Ray Flourenceses mirip dengan microprobe elektron.

XRF umumnya digunakan untuk

menganalisa unsur dalam mineral atau batuan. Analisis unsur di lakukan secara kualitatif

maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisi jenis unsur yang

terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk menentukan konsentrasi

unsur dalam bahan. Namun, XRF umumnya tidak dapat membuat analisis di spot ukuran

kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron), sehingga biasanya digunakan untuk analisis

sebagian besar fraksi lebih besar dari bahan geologi.

B. PRINSIP DASAR X-RAY FLUORESENSI (XRF)

Dasar analisis alat X-Ray Fluorescent ini adalah pencacahan sinar x yang

dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali kekosongan elektron pada orbital

yang lebih dekat dengan inti (karena terjadinya eksitasi elektron) oleh elektron yang terletak

pada orbital yang lebih luar.

 Ketika sinar x yang berasal dari radioisotop sumber eksitasi menabrak elektron dan

akan mengeluarkan elektron kulit dalam, maka akan terjadi kekosongan pada kulit itu.

Elektron dari kulit yang lebih tinggi akan mengisi kekosongan itu. Perbedaan energi dari dua

kulit itu akan tampil sebagai sinar X yang dipancarkan oleh atom. Spektrum sinar X selama

proses tersebut menunjukan peak/puncak yang karakteristik, dimana setiap unsur akan

menunjukkan peak yang karakteristik yang merupakan landasan dari uji kualitatif untuk

unsur-unsur yang ada dalam sampel.

Tahap 1 :

Ketika photon X-Ray memiliki energy yang cukup untuk menabrak atom, ini menyebabkan

electron terlepas dari kulitnya (dalam hal ini Kulit K)

Tahap 2:

Atom akan mengisi kekosongan pada kulit K dengan electron dari kulit L; sebagai

penurunan electron ke tingkat energy rendah dan melepaskan energy yang disebut K alfa X-

Ray.

Tahap 3:

Atom mengisi kekosongan kulit K dengan electron dari kulit M, sebagai penurunan electron

ke tingkat energy rendah, dan melepaskan energy yang disebut K betha X-ray.

Gambar 2. Prinsip Dasar XRF

 C. CARA KERJA XRF

Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF dimungkinkan

oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi. Sebuah spektrometer XRF

bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens beam, yang dikenal sebagai balok

insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi beberapa juga diserap dalam sampel dengan

cara yang tergantung pada kimia nya. Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target

Rh, meskipun W, Mo, Cr dan lain-lain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.

Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel, dikatakan bersemangat. Sampel

bersemangat pada gilirannya memancarkan sinar-X sepanjang spektrum panjang gelombang

karakteristik dari jenis atom hadir dalam sampel. Bagaimana ini terjadi? Atom-atom dalam

sampel menyerap sinar-X energi pengion, elektron mendepak dari tingkat energi rendah

(biasanya K dan L). Para elektron dikeluarkan diganti oleh elektron dari, energi luar orbit

yang lebih tinggi. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat

penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Hal ini melepaskan energi

dalam bentuk emisi karakteristik sinar-X menunjukkan atom jenis ini. Jika sampel memiliki

unsur-unsur yang hadir, seperti yang khas untuk kebanyakan mineral dan batuan,

penggunaan Spektrometer dispersif Panjang gelombang seperti bahwa dalam EPMA

memungkinkan pemisahan spektrum yang dipancarkan sinar-X yang kompleks ke dalam

panjang gelombang karakteristik untuk masing-masing elemen ini. Berbagai jenis detektor

(aliran gas proporsional dan kilau) digunakan untuk mengukur intensitas sinar yang

dipancarkan. Penghitung aliran yang biasa digunakan untuk mengukur gelombang panjang

(> 0,15 nm) sinar-X yang khas dari spektrum K dari unsur yang lebih ringan daripada Zn.

Detektor sintilasi umumnya digunakan untuk menganalisis panjang gelombang lebih pendek

dalam spektrum sinar-X (K spektrum elemen dari Nb ke I; L spektrum Th dan U). X-ray dari

panjang gelombang menengah (K spektrum yang dihasilkan dari Zn untuk Zr dan L

 spektrum dari Ba dan unsur tanah jarang) umumnya diukur dengan menggunakan kedua

detektor bersama-sama. Intensitas energi yang diukur oleh detektor sebanding dengan

kelimpahan elemen dalam sampel. Nilai yang tepat dari proporsionalitas ini untuk setiap

elemen diperoleh dengan perbandingan standar mineral atau batuan dengan komposisi yang

diketahui dari analisis sebelumnya dengan teknik lain.

BOX DIAGRAM DARI XRF :

· Gambar 3. Box Diagram Dari X-Ray Source (Tabung Sinar-X)

Electron energy tinggi ditembakkan pada anoda (biasanya terbuat dari Ag atau Rh). Energy

eksitasi dapat bervariasi dari 15-50 kV dan arusnya 1-200 µA.

· Silicon Drift Detector (SDD) and digital pulse processor

Energy dispersive, multi channel analyzer tidak monokromatik , inilah yang diperlukan.

Energy foton dalam keV adalah terkait dengan jenis elemen. Tingkat emisi (cps)

berhubungan dengan konsentrasi unsur.

· Perangkat lunak analyzer mengkonversi data spectral untuk pembacaan hasil secara

langsung.

Konsentrasi unsur ditentukan dari data kalibrasi pabrik, ketebalan sampel seperti yang

diperkirakan dari sumber backscatter , dan parameter lainnya.

 D. JENIS – JENIS XRF

Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray

Fluorescence) dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer

yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik memilih panjang

gelombang yang sesuai dengan hukum bragg (PANalytical, 2009).

Keuntungan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):

· Aplikasinya luas dan beragam.

· Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.

· Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.

· Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah

Gambar berikut menggambarkan prinsip kerja WDXRF(Gosseau,2009.)

Gambar 4. Ilustrasi Prinsip Kerja WDXRF

Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah.

Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator. Sehingga refleksi

sinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika,

panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal.

Maka hanya panjang gelombang yang sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut
refleksi spesifik bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang

berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor (Gosseau,2009).

Jenis XRF yang kedua adalah EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray

Fluorescence) spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan

software yang mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009). Radiasi

Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor. Detektor

menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi impuls elektrik. Amplitudo

dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang diterima

detektor. Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel

Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam memori

komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai spesifik terhadap

sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun

keakuratan kurang. (Gosseau,2009).

Gambar berikut mengilustrasikan prinsip kerja EDXRF (Gosseau,2009):

Gambar 5. Ilustrasi prinsip kerja EDXRF

 E. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN XRF

Setiap teknik analisa memiliki kelebihan serta kekurangan, beberapa kelebihan

dari XRF :

· Cukup mudah, murah dan analisanya cepat

· Jangkauan elemen Hasil analisa akurat

· Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya(untuk Trace elemen)

· Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)

maupun tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh,

U, V, Y, Zr, Zn)

· Akurasi yang tinggi

· Dapat menentukan unsur dalam material tanpa adanya standar

· Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologik maupun dalam tubuh

secara langsung

Beberapa kekurangan dari XRF :

· Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He

· Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar

· Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan

memebutuhkan perlakuan yang banyak

. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang

terkandung dalam material yang akan kita teliti.

· Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.
APLIKASI

X-Ray fluoresensi digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk

 penelitian di petrologi beku, sedimen, dan metamorf

 survei tanah

 pertambangan (misalnya, mengukur nilai dari bijih)

 produksi semen

 keramik dan kaca manufaktur

 metalurgi (misalnya, kontrol kualitas)

 lingkungan studi (misalnya, analisis partikel pada filter udara)

 minyak industri (misalnya, kandungan sulfur minyak mentah dan produk

minyak bumi)

 bidang analisis dalam studi geologi dan lingkungan (menggunakan portabel,

tangan memegang spektrometer XRF)

X-Ray fluoresensi sangat cocok untuk penyelidikan yang melibatkan

 massal kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)

dalam batuan dan sedimen

 massal kimia analisis unsur jejak (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr,

Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan sedimen -

batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa bagian per juta

Fluoresensi sinar-X terbatas pada analisis

 relatif besar sampel, biasanya> 1 gram

 bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif dihomogenisasi

 bahan yang komposisinya mirip, standar baik ditandai tersedia

 bahan yang mengandung kelimpahan tinggi unsur-unsur yang penyerapan dan

efek fluoresensi yang cukup dipahami dengan baik

Contoh Penerapan XRF

“APLIKASI XRF UNTUK IDENTIFIKASI LEMPUNG PADA KEGIATAN

PENYIMPANAN LESTARI LIMBAH RADIOAKTIF”

APLIKASI XRF UNTUK IDENTIFIKASI LEMPUNG PADA KEGIATAN PENYIAPAN

PENYIMPANAN LESTARI LIMBAH RADIOAKTIF. X Ray Fluorescence ( XRF) telah
lama dikenal sebagai instrumen untuk menganalisis sampel dari lingkungan, sampel biologi
atau sampel-sampel dari dunia industri. Jika dibandingkan dengan Atomic Absorption
Spectroscopy ( AAS ) atau Inductively Coupled Plasma Spectroscopy ( ICPS ), XRF
mempunyai banyak keuntungannya seperti : analisis tidak merusak, multi elemen, cepat dan
murah Tujuan makalah ini adalah menginformasikan XRF merupakan salah satu
instrumen untuk identifikasi lempung pada kegiatan penyiapan PLLR. Metode yang
digunakan adalah sistem spektroskopi sinar pendar ( XRF ) yang menggunakan detektor
SiLi. Untuk unsur Fe dan Ti dalam lempung dapat dianalisis dengan menggunakan
sumber eksitasi Am-241 sedangkan untuk unsur Si, Ca, Al dan Mg dengan menggunakan
sumber eksitasi Fe-55. XRF dapat dipakai untuk identifikasi lempung ( Clay ) baik secara
kualitatif maupun secara kuantitatif pada kegiatan penyiapan penyimpanan lestari limbah
radioaktif.

Batuan lempung diharapkan dapat menjadi host rock fasilitas penyimpanan limbah
radioaktif yang dapat menghambat laju migrasi radionuklida. Karena beberapa negara telah
menggunakan batuan lempung/clay (Mol-Dessel-Belgia, BurePrancis) (1,2,3). Pulau Jawa
mempunyai cukup banyak wilayah deposit lempung seperti : Karawang, Subang,
Majalengka, Tambakrogo, Tuban dan Madura (4,5). Wilayah-wilayah tersebut merupakan
wilayah potensial untuk penyimpanan limbah radioaktif, diharapkan di masa yang akan
datang dari wilayah-wilayah potensial tersebut dapat ditemukan beberapa tapak yang layak
untuk penyimpanan limbah radioaktif yang aman menurut IAEA, BAPETEN dan KLH (6).
Untuk Identifikasi batuan lempung/ clay pada kegiatan pemilihan penyiapan penyimpanan
lestari limbah radioaktif, banyak alat yang dapat dipergunakan untuk menganalisis
kandungan kimia dalam batuan lempung/ Clay seperti : Atomic absortion Spectroscocy
(AAS), Inductively Couple Plasma Spectroscocy ( ICPS ) dll. Tetapi XRay Fluorescent
Spectroscocy (XRF) mempunyai banyak keuntungannya yaitu analisis tidak merusak, cepat,
multi elemen dan murah. Alat analisis X-Ray Fluorescent Spectroscocy (XRF) yang ada di
Bidang Teknologi Penyimpanan Lestari – Pusat Pengembangan Pengelolaan Limbah
Radioaktif Badan Tenaga Nuklir Nasional terdiri dari Detektor Si(Li), Pre amplifier,
Amplifier, HV, ADC, MCA dan sumber eksitasi Amerisium-24.

Detektor yang digunakan adalah Si (Li) yang merupakan detektor semikonduktor

untuk jenis radiasi sinar X dan bekerja optimum pada suhu – 196o C. Detektor ini lebih
effesien dibandingkan dengan detektor isian gas, karena terbuat dari zat padat serta
mempunyai resolusi yang lebih baik dari pada detektor scintilasi.
METODA: Menggunakan sistem spektroskopi sinar pendar (XRF) yang menggunakan
detektor SiLi yang didinginkan dalam nitrogen cair untuk mengukur sinar pendar yang

dihasilkan dari interaksi antara sampel yang dieksitasi oleh sumber Am-241, Fe-55 dan Cd-
109. Setelah dikalibrasi energi sistemnya dengan sumber standard seperti : Titan, Besi dan
Molidenum yang mempunyai kemurnian 99.99%. Letakkan contoh diatas sumber
pengeksitasi kemudian buatlah spektrum radiasi sinar X karakteristik dari contoh tersebut.
Metode ini merupakan sistem analisis non destruktif yang sangat praktis dan cepat.

HASIL DAN PEMBAHASAN:

Kalibrasi Energi.
Kalibrasi energi ini dimaksudkan adalah merubah skala chanel dari spektroskopi sinar x
(XRF) ini ke skala energi. Kalibrasi menggunakan standard Ti, Cu dan Mo yang mempunyai
kemurnian 99.99% :

1. Titan (Ti) Standard.

- Tebal 1 mm
- Kemurnian 99.99%
- Energi K α1 = 4.509 & Kβ1 = 4.932.
- Pada chanel = 165
- Tegangan Kerja = - 450 volt
- Waktu cacah = 100 detik

2.Tembaga (Cu) Standard .

- Tebal 1 mm
- Kemurnian 99.99 %.
- Energi K α1 = 8,048 & Kβ1 = 8,905
- Pada chanel = 336
- Tegangan Kerja = - 450 volt
- Waktu cacah = 100 detik

3. Molibdenum (Mo) Standard.

- Tebal 1 mm
- Kemurnian 99.99 %.
- Energi K α1 = 17.479 & Kβ1 = 19.602
- Pada chanel = 786
- Tegangan Kerja = - 450 volt
- Waktu cacah = 100 detik
Dari data diatas diperoleh persamaan :

Energi: 9.715 e- 001 keV + 2.108e002*Chanel

FWHM: 1.054e-002 keV + 3.162e004*E^1/2.

Resolusi Sistem

Detektor Si(Li) adalah detektor semi konduktor yang mempunyai resolusi yang baik
dan juga mengacu pada sertifikat yang dikeluarkan oleh Canberra untuk detektor Si(Li)
model SL80190 menggunakan sumber Fe-55 dengan energi 5.9 keV. Resolusinya
(FWHM ) 190 eV pada peak 5.9 keV.

Setelah dikalibrasi Instrumen XRF ini telah siap untuk menganalisis unsur yang
mungkin terdapat dalam batuan lempung/ clay yang mempunyai energi dari 4.5 KeV
sampai dengan unsur yang mempunyai energi 17.5 keV, sedangkan untuk energi yang lebih
rendah dari 4.5 keV dapat dikalibrasi lagi dengan unsur lain agar dapat menjangkau energi
yang lebih rendah seperti unsur Magnesium (Mg) yang mempunyai energi Kα1 = 1.254 keV
dengan sumber eksitasi Radio isotope Fe-5.

Batuan lempung umumnya mempunyai tiga mineral utama, yakni

monthmorillonite/Al2O34SiO2H2O,illite/H2 KAl3O12, dan kaolinite/ [Al2(OH)4
(Si2O3)]2, dan berdasarkan hasil analisis yang dilakukan oleh PREETI SAGAR NAYAK*
and B K SINGH (8). Hasil analisis clay menggunakan X Ray Fluorescence (XRF) adalah :

Dengan menggunakan sumber eksitasi radioisotop Amerisium -241 unsur yang

dapat dianalisis meliputi Z= 22 (Ti), Z=23 (V), Z=24 (Cr), Z=25 (Mn), Z=26 (Fe), Z=27
(Co), Z=28 (Ni), Z=29 (Cu), Z=30 (Zn), Z= 33 (As), Z=38 (Sr), Z=42 (Mo), Z=79 (Au),
Z=80 (Hg), Z=82 (Pb). Dan menurut keterangan CT Yap (7) dengan menggunakan sumber
eksitasi radioisotop Fe-55, unsur yang dapat dianalisis meliputi unsur dari Magnesium (Z=
12) sampai unsur Chromium (Z = 24), yaitu termasuk unsur Z=12 (Mg), Z=13 (Al),
Z=14 (Si), Z=20 (Ca). unsur terdapat dalam batuan lempung/clay hasil analisis PREETI
SAGAR NAYAK*.
 Pada uji kualitatif setiap unsur biasanya akan muncul dua peak untuk meyakinkan
keberadaan unsur itu dalam sample clay seperti K α1 = 6.399 keV dan Kβ1 = 7.059 keV
adalah energi karakteristik sinar X untuk unsur Fe begitupun dengan yang lainya, kecuali
untuk unsur magnesium yang dapat terlihat hanya energi karakteristik sinar K α1 nya saja.
Untuk uji kuantitatif, dibuat standard unsur yang ada dalam clay yang diketahui kadarnya
dan dibuat agar mempunyai maktrik yang sama dengan sample clay yang dianalisis.
Contoh : untuk unsur Fe yang disetarakan /dihitung sebagai Fe2O3 dalam clay ini peak
area yang dihasilkan di- bandingkan dengan peak area standar Fe2O3 dan dikalikan dengan
kadarnya sehingga akan diperoleh kadar Fe2O3 dalam sampel Lempung/ clay.

KESIMPULAN.

Berdasarkan data yang ada dan data yang dapat dikumpulkan maka dapat
disimpulkan sebagai berikut :

1. Setelah dilakukan kalibrasi untuk merubah skala chanel dari spektroskopi sinar x
(XRF) ini ke skala energi. Menggunakan sumber standar dengan tingkat kemurnian
99.99%, alat layak untuk dipergunakan untuk menganalisis unsur-unsur dalam batuan
lempung/ clay.

2. Resolusi sistem sama dengan FWHM = 0.190 keV, sehingga dapat mem-
bedakan energi yang berdekatan dengan selisih 0.190 keV.

3. Untuk unsur-unsur Mg,Al,Si dan Ca yang mungkin terdapat dalam batuan

lempung / clay dapat dianalisis dengan menggunakan sumber eksitasi radio isotop Fe-55.

4. Untuk unsur-unsur Fe dan Ti yang mungkin terdapat dalam batuan lempung / clay
dapat dianalisis dengan menggunakan sumber eksitasi radio isotop Am-241
 BAB III
PENUTUP

Kesimpulan

Pada makalah ini dapat disimpulkan bahwa,

1. XRF (X-ray fluorescence spectrometry) digunakan untuk identifikasi serta penentuan

konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair.
2. Prinsip Dasar analisis alat XRF (X-ray fluorescence spectrometry) ini adalah

pencacahan Sinar-X yang dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali

kekosongan elektron pada orbital yang lebih dekat dengan inti.

3. Terdapat dua jenis XRF , WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence)
dan EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence) .
4. X-Ray Fluorescent Spectroscocy (XRF) mempunyai banyak keuntungannya yaitu

analisis tidak merusak, cepat, multi elemen dan murah.

5. X-Ray Fluorescent Spectroscocy (XRF digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk

keramik dan kaca manufaktur

DAFTAR PUSTAKA

Scott Ryland.XRF and SEM analysis of glass.Florida Dept. of Law Enforcement

Masrukan, Dian Anggraini dan Rosika. Vol. 13 No. 3 Juli 2007: 99 -146. Studi Komparasi

Hasil Analisis Komposisi Paduan Almgsi1 Dengan Menggunakan Teknik X Ray Fluorocency

(Xrf) Dan Emission Spectroscoy .Pusat Teknologi Bahan Bakar Nuklir, BATAN. Kawasan

Puspiptek Serpoong, Tangerang.

Masrukan dan Rosika. Vol. 14 No. 1 Tahun 2008: 1-48. Perbandingan Hasil Analisis Bahan

Bakar U-Zr dengan Menggunakan Teknik XRF dan SSA. Pusat Teknologi Bahan Bakar

Nuklir, BATAN. Kawasan Puspiptek Serpoong, Tangerang.

Sumantry, T., 2009., Aplikasi Xrf Untuk Identifikasi Lempung Pada Kegiatan Penyimpanan

Lestari Limbah Radioaktif, Prosiding Seminar Nasional Teknologi Pengelolaan Limbah

VII.

http://arindharenipramesti.blogspot.com. 3 Januari 2012-19.54.

http://anekakimia.blogspot.com. 4 Januari 2012-15.43

http://www.uniquant.com/applications/glass.html 3 Januari 2012-13.59

http://teaf.fiu.edu/Training_Downloads/Module%204d_SEM%20and%20XRF.pdf 5

Januari 2012-15.30

http://www.glass-ts.com/pdfs/xrf.pdf 6 Januari 2012-19.07.

http://www.icdd.com/resources/axa/vol42/V42_19a.pdf 6 Januari 2012-22.57.