See

discussions, stats, and author profiles for this publication at: https://www.researchgate.net/publication/215445822

Analisis Ukuran Partikel Menggunakan FreeSoftware Image-J

Article January 2011

READS

2,238

3 authors, including:
Candra Kurniawan

Perdamean Sebayang

Indonesian Institute of Sciences

Indonesian Institute of Sciences

20 PUBLICATIONS 2 CITATIONS

18 PUBLICATIONS 3 CITATIONS

SEE PROFILE

SEE PROFILE

Available from: Candra Kurniawan

Retrieved on: 10 May 2016

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

ANALISIS UKURAN PARTIKEL MENGGUNAKAN FREE SOFTWARE IMAGE-J

Candra Kurniawan1), Thomas Budi Waluyo1), Perdamean Sebayang1)
1)
Pusat Penelitian Fisika, Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia
Kawasan PUSPIPTEK, Serpong, 15314
Telp : (021) 7560570, Fax : (021) 7560554
E-mail : candra.kurniawan@lipi.go.id
ABSTRAK
Makalah ini membahas proses dan teknis sederhana analisis ukuran partikel menggunakan
free-software Image-J. Penggunaan Image-J dalam analisis gambar digital telah digunakan secara
luas dalam bidang kesehatan dan biologi. Analisis ukuran partikel dilakukan pada dua sampel yaitu
partikel BaO.6Fe2O3 single fase dan partikel SiO2. Sampel BaO.6Fe2O3 dikarakterisasi
menggunakan SEM dengan variasi perbesaran 500x, 2500x, dan 5000x, sedangkan sampel SiO2
menggunakan perbesaran tetap 10.000x. Distribusi partikel sampel SiO2 telah dikarakterisasi
menggunakan PSA dan hasilnya dibandingkan dengan analisis partikel menggunakan Image-J
untuk mendapatkan tingkat akurasi analisisnya. Analisis partikel sampel BaO.6Fe2O3 menghasilkan
penyimpangan yang cukup besar pada perbesaran 500x. Hal ini dapat terjadi karena pada
perbesaran yang kecil, ukuran partikel BaO.6Fe2O3 yang tampak semakin kecil, sehingga
pendefinisian partikel juga akan semakin sulit. Pendefinisian ukuran partikel terbatas pada ukuran
pixel gambar SEM. Ukuran pixel gambar mempengaruhi nilai skala terkecil yang dapat diukur dan
menyebabkan penyimpangan besar pada ukuran rata-rata partikel. Analisis partikel menggunakan
Image-J pada sampel SiO2 menunjukkan bahwa tingkat akurasi yang didapatkan dibandingkan
dengan menggunakan PSA adalah rata-rata sebesar 88,5%. Hasil ini menunjukkan bahwa analisis
partikel menggunakan Image-J cukup relevan untuk digunakan sebagai media pengolahan gambar
untuk analisis ukuran partikel yang didapat dari gambar SEM.
Kata Kunci : Ukuran Partikel, ImageJ, BaO.6Fe2O3, SiO2, Scanning Electron Microscopy,
Particle Size Analyzer
ABSTRACT
This paper describes a simple technical process of particle size analysis using freesoftware ImageJ. The use of ImageJ in digital image analysis has been used extensively in the field
of health and biology. Analysis of Particle size were experimented for two samples, single phase
BaO.6Fe2O3 particles and SiO2 particles. BaO.6Fe2O3 samples were characterized using SEM
with magnification of 500x, 2500x, and 5000x, while SiO 2 samples were using fix magnification of
10.000x. Sample SiO2 particle distribution has been characterized using PSA and the results were
compared with particle analysis results using ImageJ to get the level of Its accuration. Particle
analysis for BaO.6Fe2O3 sample produces a big deviation on magnification sample of 500x. This
result produced because a small magnification make a smaller view of BaO.6Fe2O3 particle, so
particle definition become more difficult. A particle size definition was limited to pixel size of SEM
image. Pixel size affect to limit the size that can be measured and make a big deviation of average
particles diameter. ImageJ particle analysis results on SiO2 sample showed that the level of
accuracy is obtained compared with using PSA is an average of 88.5%. These results suggest that
using ImageJ for particle analysis is relevant enough as a image processing medium for the
determination of particle size obtained from SEM image.
Keyword : Particle Size, ImageJ, BaO.6Fe2O3, SiO2, Scanning Electron Microscopy, Particle Size
Analyzer
____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

PENDAHULUAN
Teknik karakterisasi untuk menentukan ukuran atau distribusi partikel dapat dilakukan
dengan beberapa cara, salah satunya adalah menggunakan mikroskop elektron seperti SEM dan
TEM, atau menggunakan Particle Size Analyzer (PSA). Hasil dari karakterisasi SEM / TEM
berbentuk gambar digital partikel sedangkan hasil karakterisasi PSA dalam bentuk distribusi
ukuran partikel.
Data digital hasil karakterisasi menggunakan SEM / TEM dapat diolah lebih lanjut
sehingga didapat distribusi ukuran partikelnya melalui sarana media pengolah data digital. Terdapat
beberapa media pengolahan data digital untuk analisis partikel yang didapat dari public domain,
diantaranya adalah NIH-image, Scion Image, dan Image-J. NIH-image dan Scion image digunakan
pada Sistem Operasi Komputer Machintosh dan Windows, sedangkan Image-J yang berbasis
pemrograman Java dapat digunakan untuk sistem operasi komputer Windows, Linux, maupun
Machintosh [1] asalkan komputer tersebut terdapat java runtime environment (jre) [2]. Dalam
makalah ini media pengolahan data digital yang digunakan adalah image-J.
Image-J adalah software gratis (free-Software) untuk pengolahan gambar digital berbasis
Java yang dibuat oleh Wayne Rasband dari Research Services Branch, National Institute of Mental
Health, Bethesda, Maryland, USA [3]. Penggunaan ImageJ dalam analisis gambar digital telah
digunakan secara luas dalam bidang kesehatan dan biologi [4].
Dalam makalah ini ditunjukkan penggunaan Image-J versi 1.44 untuk analisis ukuran
partikel dalam beberapa sampel yang digunakan di PPF-LIPI. Sampel yang digunakan adalah
powder BaO.6Fe2O3 single fase dan partikel SiO2. Kedua sampel tersebut telah dikarakterisasi
menggunakan SEM dengan perbesaran yang berbeda.
METODOLOGI
Image-J

merupakan

perangkat

lunak

yang

dapat

diunduh

secara

gratis

dari

http://rsb.info.nih.gov/ij/. Perangkat lunak yang telah diunduh dapat dipasangkan ke komputer

dengan menjalankan paket program tersebut. Ada dua macam versi yang dapat diunduh melalui
alamat tersebut yaitu versi-32 bit dan versi-64 bit. Image-J dapat di-upgrade versi terbarunya
dengan cara membuka Image-J lalu mengklik Help > Update atau dengan cara membuka link
http://rsb.info.nih.gov/ij/upgrade/ [5].
Sampel yang digunakan adalah partikel BaO.6Fe2O3 single fase dan partikel SiO2. Kedua
sampel tersebut telah dikarakterisasi menggunakan SEM dengan perbesaran yang berbeda. Sampel
BaO.6Fe2O3 dikarakterisasi dengan SEM menggunakan perbesaran 500x, 2500x, dan 5000x,
sedangkan sampel SiO2 menggunakan perbesaran 10.000x. Sampel SiO 2 telah dikarakterisasi
____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

distribusi partikelnya menggunakan PSA dan hasilnya dibandingkan dengan hasil teknik analisis
partikel dari gambar SEM menggunakan Image-J untuk mendapatkan tingkat akurasi analisisnya.
Dalam penggunaan Image-J hal pertama yang harus dilakukan untuk menganalisis ukuran
partikel dari suatu gambar SEM adalah dengan mengkalibrasi ukuran pixel gambar dengan ukuran
acuan. Ukuran acuan biasanya ditampilkan pada hasil gambar SEM berupa garis dengan skala
untuk menunjukkan tingkat perbesaran yang dilakukan. Kalibrasi dilakukan dengan cara membuka
gambar yang akan dianalisis kemudian menggambar garis lurus sepanjang ukuran acuan dengan
memilih Icon garis pada Tool Bar. Kemudian set skala yang dipilih dengan klik Analyze > Set
Scale. Sesuaikan keterangan yang diperlukan dengan mengisi kolom-kolom sesuai ukuran yang
acuan yang diinginkan. Pilih cek list global untuk menggunakan pengaturan kalibrasi yang dibuat
sampai Image-J ditutup.
Bila gambar yang dipakai dalam format RGB maka harus diubah menjadi 8-bit dengan
cara Image > Type > 8-bit. Penggunaan Image-J untuk analisis partikel membutuhkan definisi
bagian gambar yang didefinisikan sebagai benda / partikel dan bagian gambar yang didefinisikan
sebagai latar belakang (background) yang disebut sebagai segmentasi gambar. Hal ini dapat
dilakukan dengan cara Image > Adjust > Threshold. Dengan mengatur level Threshold maka dapat
diatur tingkat kecerahan gambar untuk definisi benda / partikel dan latar belakangnya.
Setelah dilakukan penyesuaian Threshold maka pengukuran besar / luas partikel yang
dimaksud dapat dilakukan fitur analisis partikel dalam Image-J. Analisis partikel dalam Image-J
dapat dilakukan dengan cara klik Analyze > Set Measurements untuk menentukan keluaran apa saja
yang dikehendaki dalam analisis partikel. Kemudian analisis partikel dilakukan dengan klik
Analyze > Analyze Particles [6].
EKSPERIMEN
Analisis partikel yang pertama dilakukan pada gambar SEM dari sampel BaO.6Fe2O3.
Sampel diperoleh dari penelitian yang sedang dilakukan di PPF LIPI mengenai magnet permanen
BaO.6Fe2O3. Dari penelitian tersebut diperoleh tiga gambar SEM dari sampel BaO.6Fe2O3 single
fase dengan perbesaran yang berbeda yaitu 500x, 2500x, dan 5000x.
Analisis yang pertama dilakukan adalah penghitungan diameter partikel BaO.6Fe2O3 single
fase dengan perbesaran 500x. Pertama-tama gambar SEM tersebut harus dikalibrasi.
Pengkalibrasian sesuai dengan langkah-langkah yang disebutkan di atas dengan menentukan
ukuran acuan yang terdapat dalam gambar yaitu sebesar 50 m.
Gambar SEM sampel BaO.6Fe2O3 dengan perbesaran 500x memperlihatkan bahwa
partikel terlihat sangat kecil dan terdapat partikel yang saling bertumpuk sehingga akan
____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

menimbulkan kesukaran dalam segementasi partikel. Untuk mengatasi hal ini maka diambil dua
gambar cuplikan yang merupakan bagian dari gambar tersebut yang pilih berdasarkan pemisahan
partikel yang jelas
Analisis partikel yang kedua adalah pada sampel BaO.6Fe2O3 dengan perbesaran 2500x
dan 5000x. Masing-masing gambar dikalibrasi sesuai dengan ukuran acuan yang terdapat pada
masing-masing gambar SEM, yaitu 10 m untuk perbesaran 2500x dan 5 m untuk perbesaran
5000x.
Analisis partikel berikutnya adalah pada gambar SEM sampel SiO2 yang telah mengalami
sonikasi dengan variasi waktu sebesar 30 menit, 60 menit, dan 120 menit. Sampel SiO2 tersebut
telah dikarakterisasi menggunakan PSA (Particle Size Analyzer). Hasil analisis partikel
menggunakan Image-J ini akan dibandingkan dengan hasil karakterisasi PSA tersebut untuk
mendapatkan tingkat akurasi Image-J dibandingkan dengan PSA. Analisa Image-J pada partikel
SiO2 terlebih dahulu dikalibrasi dengan ukuran acuan hasil SEM partikel SiO 2 yaitu sebesar 1 m.
Selanjutnya gambar-gambar hasil SEM tersebut diatur segmentasinya menggunakan
Threshold sehingga lebih jelas pendefinisian benda dan latar belakang. Dari hasil analisis partikel
dengan cara Analyze > Analyze Particles, maka didapatkan luas area rata-rata partikel. Dengan
mengasumsikan partikel berbentuk bola maka dari luas area rata-rata (A) yang dihasilkan dapat
dihitung diameter partikelnya (d) dengan menggunakan persamaan:

d 2 A

(1)

HASIL DAN PEMBAHASAN

Hasil analisis partikel yang pertama adalah pada sampel BaO.6Fe 2O3 dengan perbesaran
500x. Hasil karakterisasi sampel menggunakan SEM diperlihatkan pada Gambar 1. Dari gambar
SEM tersebut diambil 2 cuplikan seperti yang ditunjukkan pada gambar 2 (a,b). Setelah melalui
proses Threshold, maka analisis partikel dilakukan untuk mendapatkan luas area rata-ratanya.
Analisis luas area dan diameter rata-rata dari masing-masing cuplikan ditunjukkan pada Tabel 1
berturut-turut sebesar 2225,41 nm2, dan 1429,54 nm.

Gambar 1. Hasil pencitraan SEM dari BaO.6Fe2O3 dengan perbesaran 500x

____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

Gambar cuplikan asli

(belum diolah)

Sampel setelah
Threshold

Gambar
Outline sampel

(a)

(b)

Gambar 2. Hasil pengolahan gambar SEM menggunakan Image-J melalui proses

Thresholding dan gambar Outline untuk a) cuplikan 1, dan b) cuplikan 2
Tabel 1. Hasil penghitungan ukuran partikel rata-rata sampel
BaO.6Fe2O3 dengan perbesaran 500x
No

Jenis

Luas partikel ratarata (nm2)

diameter partikel ratarata (nm)

Cuplikan 1

2182,86

1417,26

Cuplikan 2

2267,96

1441,82

2225,41

1429,54

Rata-rata

Analisis partikel yang kedua adalah pada gambar SEM partikel BaO.6Fe2O3 dengan
perbesaran 2500x dan 5000x. Hasil pengolahan gambar SEM dengan menggunakan Image-J
ditunjukkan pada Gambar 3 (a,b). Dalam gambar tersebut ditunjukkan hasil pengolahan gambar
dengan menggunakan Threshold dan Outline hasil analisis Image-J.
Berdasarkan pengolahan gambar tersebut dihitung luas area partikel rata-rata dengan
menggunakan fitur Analyze Particles pada Image-J, sehingga dapat dihitung diameter rata-ratanya
dengan menggunakan persamaan 1 dan hasilnya ditunjukkan pada Tabel 2. Pada tabel tersebut
ditunjukkan bahwa analisis partikel dengan Image-J menghasilkan diameter partikel rata-rata untuk
perbesaran 2500x dan 5000x berturut-turut adalah sebesar 541,28 nm dan 398,3 nm.

____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

(a)

(b)
Gambar 3. Hasil pengolahan gambar SEM menggunakan Image-J pada sampel BaO.6Fe2O3
dengan perbesaran a) 2500x, dan b) 5000x
Tabel 2. Hasil analisa ukuran partikel rata-rata sampel
BaO.6Fe2O3 dengan perbesaran 2500x dan 5000x
No

Jenis
BaO.6Fe2O3

Luas partikel
rata-rata (nm2)

diameter partikel
rata-rata (nm)

Perbesaran 2500x

311,84

541,28

Perbesaran 5000x

184,40

398,30

Berdasarkan hasil analisis partikel menggunakan Image-J pada sampel BaO.6Fe2O3,

terlihat bahwa diameter rata-rata partikel terjadi penyimpangan yang cukup besar pada sampel
dengan perbesaran 500x. Hal ini dapat terjadi karena pada perbesaran yang kecil, ukuran partikel
BaO.6Fe2O3 yang tampak pun semakin kecil, sehingga pendefinisian partikel juga akan semakin
sulit pada saat Threshold. Pada sampel dengan perbesaran 500x analisis partikel akan terbatas pada
batas pixel gambar SEM dalam mendefinisikan ukuran partikel. Dibutuhkan 127 pixel untuk skala
50 m, sehingga skala terkecil yang mampu diukur menjadi 323,7 nm. Hal ini menyebabkan
analisis Image-J untuk partikel yang lebih kecil dari nilai skala terkecil gambar tidak dapat
dilakukan, sehingga memperbesar hasil analisis ukuran rata-rata partikel.
Analisis sampel berikutnya adalah analisis gambar SEM dari sampel SiO2 dengan variasi
waktu sonikasi menggunakan Image-J yang dibandingkan hasilnya dengan pengukuran PSA
(Particle Size Analyzer) untuk mengetahui tingkat akurasi pengukuran Image-J terhadap PSA.
____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

Hasil analisis gambar menggunakan Image-J terhadap sampel SiO2 ditunjukkan pada gambar 7
(a,b,c). Dari proses tersebut didapatkan luas partikel rata-rata dan dihitung diameter rata-rata
menggunakan persamaan 1, sehingga didapatkan ukuran partikel rata-rata seperti yang ditunjukkan
pada Tabel 3.
Berdasarkan Tabel 3. diperlihatkan bahwa hasil analisis sampel SiO 2 menggunakan ImageJ menghasilkan diameter rata-rata berturut-turut untuk variasi waktu 30 menit, 60 menit, dan 120
menit adalah 212,08 nm, 263,68 nm, dan 269,4 nm. Hasil ini dibandingkan dengan hasil PSA yang
berturut-turut adalah 249,3 nm, 263,8 nm, dan 334,35 nm menghasilkan akurasi rata-rata sebesar
88,48 %. Hasil ini menunjukkan bahwa analisis partikel menggunakan free-software Image-J
cukup relevan untuk digunakan sebagai media pengolahan gambar untuk analisis ukuran partikel
yang didapat dari karakterisasi SEM.

No

Tabel 3. Hasil analisa partikel sampel SiO2 menggunakan Image-J

Waktu
Luas rataDiameter rataDiameter dengan
akurasi %
(menit)
rata (nm2)
rata (nm)
PSA (nm)

30

35327,010

212,084

249,3

85,07%

60

54443,158

263,285

263,8

99,80%

120

57002,048

269,402

334,35

80,57%

rata-rata

88,48%

(c)

(a)

(b)

(c)
Gambar 7. Hasil pengolahan gambar SEM menggunakan Image-J pada sampel SiO2
dengan variasi waktu, a) 30 menit, b) 60 menit, dan c) 120 menit
____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)

Seminar Nasional Fisika 2011

ISSN 2088-4176
Pusat Penelitian Fisika-LIPI
Serpong, 12-13 Juli 2011
_______________________________________________________________________________________

KESIMPULAN
Berdasarkan hasil analisis partikel terhadap sampel BaO.6Fe2O3 dan SiO2 maka didapatkan
hasil bahwa analisis ukuran partikel dapat dilakukan menggunakan free-software Image-J. Namun
dalam analisis partikel tersebut memiliki keterbatasan analisis sesuai dengan ukuran skala terkecil
dari gambar. Ukuran skala terkecil menentukan batas ketelitian analisis, sehingga dapat
mempengaruhi hasil analisis seperti penyimpangan hasil yang terjadi pada sampel BaO.6Fe2O3
dengan perbesaran 500x. Tingkat akurasi analisis partikel menggunakan Image-J dibandingkan
dengan pengukuran partikel dengan PSA cukup baik dengan tingkat akurasi rata-rata pada sampel
SiO2 yang mencapai 88%. Hal ini menunjukkan bahwa analisis partikel menggunakan Image-J
cukup akurat untuk diterapkan pada hasil pencitraan SEM.
UCAPAN TERIMA KASIH

Ucapan terima kasih ditujukan pada PPF-LIPI atas segala fasilitas yang disediakan
selama pembuatan makalah ini hingga dapat terselesaikan dengan baik. Ucapan terima
kasih juga ditujukan kepada seluruh pihak yang terlibat dalam penulisan makalah ini yang
tidak dapat disebutkan satu per satu.
DAFTAR PUSTAKA
1. Woehrle, Gerd H., et. al.Analysis of Nanoparticle Transmision Electron Microscopy Data
Using a Public Domain Image Processing Program, Image.Turk J. Chem., Vol. 30 (2006): 1
13.
2. Baecker, Volker.Montpellier RIO Imaging.Workshop: Image Processing and Analysis With
ImageJ and MRI Cell Image Analyzer, National Institute of Mental Health, Maryland, 2010.
3. Podlasov, Alexey and Eugene Ageenko. Working and Development with ImageJ:A Student
Reference, Joensuu: Departement of Computer Science, University of Joensuu, 2003.
4. Abramoff, Michael D., et. al.Image Processing with ImageJ. Biophotonic International, July
2004.
5. Collins, Tony J., ImageJ for Microscopy. BioTechnique, Vol. 43 (July, 2007): S25-S30.
6. Ross, Jacqui. Image Analysis Question. ImageJ Seminar: Introduction to Image Analysis,
Biomedical Imaging Research Unit, The University of Auckland, NZ, 2009.

____________________________________________________________________________________
Analisis Ukuran Partikel Menggunakan Free-Software Image-J
(Candra Kurniawan, dkk.)