2 Karakterisasi Zeolit ZSM-5 menggunakan Difraktogram Sinar-X (XRD)
Analisis difraksi sinar-X (XRD) dilakukan untuk mengetahui struktur dan fasa kristalin serta dapat juga digunakan untuk menentukan kristalinitas dari padatan/mineral hasil sintesis. Jenis mineral penyusun sampel ditunjukkan pada daerah munculnya puncak (2ϴ), sedangkan tingat kristalinitasnya ditunjukkan dengan tinggi rendahnya intensitas puncak tersebut. Hasil analisa difraksi sinar-x dari produk kemudian dibandingkan dengan difraksi sinar-x zeolit ZSM-5 standar yang diambil dari Collection of Simulated XRD Powder Patterns for Zeolites/JCPDS (Treacy dkk, 2001). Gambar 4.1 dan 4.2 menunjukkan pola XRD dari sampel padatan yang disintesis tanpa penambahan template, sedangkan gambar 4.3 dan 4.4 menunjukkan pola XRD dari sampel yang disintesis dengan penambahan template 0,5 M dan 0,03125 M. Pola XRD dari zeolit ZSM-5 standar memiliki puncak-puncak karakteristik yaitu pada 2 ϴ = 7,96°; 8,86°; 9,08°; 23,16°; 23,30° dan 23,98° (Treacy dkk, 2001). Dari analisa tersebut dapat dilihat zeolit produk sintesis ini cenderung berbeda dengan zeolit ZSM-5 standar. Secara umum semua difaktogram menunjukkan hasil yang serupa. Kehadiran dari aluminium dan silika dalam zeolit produk ditunjukkan pada daerah 2 ϴ = 35°, 31-32°. Struktur lain yang muncul yaitu daerah sekitar 2 ϴ = 14° dengan intensitasnya cukup tinggi kecuali untuk konsentrasi 0,5 M yang menunjukkan keberadaan mineral sodalite yang didukung dengan keberadaan puncak lainnya pada sudut 2 ϴ = 24°, 27°, 31°, 34°, 37°, dan 43°. Adapun ciri khas dari zeolit zsm-5 yang ditunjukkan pada masing-masing produk hanya muncul pada sudut 2 ϴ = 8,02°, 8,39° dan 9,5° dengan intensitas yang sangat rendah. Hal ini menunjukkan bahwa kristal yang diperoleh belum mengarah ke kristal zeolit zsm- 5.