MAKALAH

METODE ANALISIS

Kelompok 1
Disusun oleh :
FANDI WAKID
MUH KHOIRUS SAHAR
MUH IDRIS SALEH
EKO S SUPRANTO
FAHRI HEHAUSA
NELBEN KIERAHA
NOVENDI HOATA
RANTI SALIHI

FAKULTAS TEKNIK PERTAMBANGAN

UNIVERSITAS MUHAMMADIYAH
MALUKU UTARA
2016
 KATA PENGANTAR

Dengan memanjatkan syukur kehadirat Allah swt. Atas karunia dan

rahmatnya saya dapat menyelesaikan makalah metode analisis ini dengan baik dan
lancar salawat serta salam semoga senantiasa tercurahkan kepada junjungan besar
kita, yaitu nabi Muhammad SAW

Dalam pembuatan makalah ini saya berharap pembaca mendapatkan

manfaat dari makalah saya ini dan makalah ini merupakan salah satu syarat untuk
bisa lulus UAS dan makalah tentang metode analisis ini kita akan mempelajari
berbagai cara tentang bagaimana kita menganalisis mineral yang terkandung dalam
batuan

TERNATE

Penulis
 DAFTAR ISI

KATA PENGANTAR…………………………………………

BAB 1. PENDAHULUAN
 Latar belakang
 Tujuan

BAB II. PEMBAHASAN

 Analisi dengan cara megaskropis dan optic
 Analisis dengan cara XRD dan SEM/TEM
 Analisis dengan cara EDX dan XRF

BAB III.PENUTUP
 Kesimpulan

DAFTAR PUSTAKA…………………………….
 PENDAHULUAN

1.1 Latar Belakang

Dalam batuan terdapat mineral-mineral yang menyusung sehigga batuan tersebut dapat
menjadi padat dan tersusun dengan rapi. Dan dengan adanya mineral akan mempertambah
cantik suatu batuan contohnya batu bacan, batu akik, batu merah delima, dan masih banyak
lagi karena adanya mineral akhirnya batuan tersebut dapat terlihat cantik dan bagus untuk di
jadikah perhiasan. Juga batuan dalam kehidupan sehaari hari kita sangat di butuhkan karena
pada jaman sekarang in manusia banyak menggunakan batuan untuk membangun rumah dan
gedung yang kita pakai sehari-hari

1.2 Tujuan
 Untuk mengetahui metode-metode yang digunakan dalam menentukan mineral
 Untuk mengetahui alat-alat yang di gunakan dalam metode analisis
 BAB II
PEMBAHASAN

2.1 Analisi Dengan Cara Megaskropis dan optik

Dalam mengenali mineral dengan cara ini. Maka, pengenalan mineral itu sendiri dapat
dilakukan secara langsung tanpa sedikitpun ada bantuan dari suatu alat seperti mikroskup atau
hanya dengan mata biasa saja. Adapun alat pengenal atau dapat dikatakan sebagai pembesar yang
digunakan biasanya lup yang dilakukan dari 10-20 kali.

Dalam metode ini kita hanya menganalisi mineral dengan menggunakan mata telanjang
karena dalam metode ini biasanya hanya mensugesti mineral di batuan tersebut hanya lewat tekstur
dan warna dari batuan tersebut.

a. Keungulan dari analisis ini

 Dapat dilakukan dimana saja

 Tidak perlu menggunakan alat yang berat- berat untuk mengetahui kandungan mineral
dalam btuhan tersebut
 Tidak perlu melakukan uji coba terlebih dahulu untuk mengetahui mineral dalam
batuan tersebut

b. Kelemahan dari analisis ini

 Belum dapat membuktikann 100% kadungan mineral yang terdapat dalam batuan
tersebut
 Hanya bisa di lakukan oleh orang yang memiliki pengelihatan bagus atau haru bawa
kacamata dalam analisis ini bagi yang mata mines
2.2 Analisis Dengan Cara XRD Dan SEM/TEM

a. XRD

X-Ray Diffraction (XRD) merupakan salah satu analisis non-destruktif yang paling
penting untuk menganalisis semua jenis materi, mulai dari cairan, serbuk, maupun kristal. Mulai
dari penelitian, produksi, sampai rekayasa. XRD merupakan metode yang sangat diperlukan untuk
karakterisasi bahan dan kontrol kualitas.

1. Prinsip kerja

Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi
periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang
konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah
berdasarkan persamaan

Bragg:
n.λ = 2.d.sin θ ; n = 1,2,...

Dengan λ adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak antara dua bidang
kisi, θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal, dan n adalah bilangan bulat yang
disebut sebagai orde pembiasan Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan
pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang
gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan
ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak
bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi
tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini
kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Standar
ini disebut JCPDS.
 2. Kelebihan

Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan

penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang
pendek.

3. Cara Kerja

Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5-2,0 mikron. Sinar ini
dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami
perlambatan saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam
tersebut terpental membentuk kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke
tempat kosong dengan memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar-X.
Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan tipis yang terbentuk.
Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X. Proses difraksi sinar X dimulai
dengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram yang
menyatakan hubungan antara sudut difraksi 2θ dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. Untuk
difraktometer sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X. Sinar X didifraksikan dari sampel
yang konvergen yang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar X. Sinar X
ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyal listrik. Sinyal tersebut, setelah
dieliminasi komponen noisenya, dihitung sebagai analisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar x juga
digunakan untuk menentukan ukuran kristal, regangan kisi, komposisi kimia dan keadaan lain
yang memiliki orde yang sama.

b. SEM Dan TEM

Mikroskop transmisi elektron (TEM)

Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-TEM)adalah sebuah mikroskop
elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara kerja proyektor slide, di mana elektron ditembuskan
ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada layar.
Sejarah penemuan
Seorang ilmuwan dari universitas Berlin yaitu Dr. Ernst Ruska menggabungkan penemuan ini dan
membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama pada tahun 1931. Untuk hasil
karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan menganugerahinya hadiah Penghargaan Nobel dalam
fisika pada tahun 1986. Mikroskop yang pertama kali diciptakannya adalah dengan menggunakan
dua lensa medan magnet, namun tiga tahun kemudian ia menyempurnakan karyanya tersebut
dengan menambahkan lensa ketiga dan mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan
resolusi hingga 100 nanometer (nm) (dua kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu).
Cara kerja
Mikroskop transmisi eletron saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga mampu
menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom) atau sama dengan pembesaran sampai satu
juta kali. Meskipun banyak bidang-bidang ilmu pengetahuan yang berkembang pesat dengan
bantuan mikroskop transmisi elektron ini.
Adanya persyaratan bahwa "obyek pengamatan harus setipis mungkin" ini kembali membuat
sebagian peneliti tidak terpuaskan, terutama yang memiliki obyek yang tidak dapat dengan serta
merta dipertipis. Karena itu pengembangan metode baru mikroskop elektron terus dilakukan.
Preparasi sediaan
Agar pengamat dapat mengamati preparat dengan baik, diperlukan persiapan sediaan dengan tahap
sebagai berikut : 1. melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah
struktur sel yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa
glutaraldehida atau osmium tetroksida. 2. pembuatan sayatan, yang bertujuan untuk memotong
sayatan hingga setipis mungkin agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan
monomer resin melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan pemotongan
menggunakan mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari berlian karena berlian
tersusun dari atom karbon yang padat. Oleh karena itu, sayatan yang terbentuk lebih rapi. Sayatan
yang telah terbentuk diletakkan di atas cincin berpetak untuk diamati. 3. pelapisan/pewarnaan,
bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati dengan lingkungan
sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.

Mikroskop pemindai elektron (SEM)

Mikroskop pemindai elektron (SEM) yang digunakan untuk studi detail arsitektur permukaan sel
(atau struktur jasad renik lainnya), dan obyek diamati secara tiga dimensi.
Sejarah penemuan
Tidak diketahui secara persis siapa sebenarnya penemu Mikroskop pemindai elektron (Scanning
Electron Microscope-SEM) ini. Publikasi pertama kali yang mendiskripsikan teori SEM dilakukan
oleh fisikawan Jerman dR. Max Knoll pada 1935, meskipun fisikawan Jerman lainnya Dr. Manfred
von Ardenne mengklaim dirinya telah melakukan penelitian suatu fenomena yang kemudian
disebut SEM hingga tahun 1937. Mungkin karena itu, tidak satu pun dari keduanya mendapatkan
hadiah nobel untuk penemuan itu.
Pada 1942 tiga orang ilmuwan Amerika yaitu Dr. Vladimir Kosma Zworykin, Dr. James Hillier,
dan Dr. Snijder, benar-benar membangun sebuah mikroskop elektron metode pemindaian (SEM)
dengan resolusi hingga 50 nm atau magnifikasi 8.000 kali. Sebagai perbandingan SEM modern
sekarang ini mempunyai resolusi hingga 1 nm atau pembesaran 400.000 kali. Mikroskop elektron
cara ini memfokuskan sinar elektron (electron beam) di permukaan obyek dan mengambil
gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan obyek.
Cara kerja
Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optic dan
TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron sekunder) atau
elektron pantul yang muncul dari permuk

Gambar microscop

SEM TEM

2.3 Analisi Dengan Cara EDX Dan XRF

a. Pengertian XRF
XRF merupakan alat yang digunakan untuk menganalisis komposisi kimia beserta
konsentrasi unsur-unsur yang terkandung dalam suatu sample dengan menggunakan metode
spektrometri. XRF umumnya digunakan untuk menganalisa unsur dalam mineral atau batuan.
Analisis unsur di lakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk
menganalisi jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk
menentukan konsentrasi unsur dalam bahan.

b. Jenis XRF
XRF ada dua 2 jenis yaitu : WDXRF ( Wave Length Dispersive XRF ) dan EDXRF (Energy
Dispersive XRF ). Secara umum perbedaan kedua alat ini adalah :
 c. Prinsip kerja XRF
Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan
karakteristik sinar-X yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena electron
dalam atom target pada sample terkena sinar berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-X). berikut
penjelasanya :

1. Elektron di kulit K terpental keluar dari atom akibat dari radiasi sinar X yang datang.
Akibatnya, terjadi kekosongan/vakansi elektron pada orbital (gambar 1).
2. Elektron dari kulit L atau M “turun” untuk mengisi vakansi tersebut disertai oleh emisi
sinar X yang khas dan meninggalkan vakansi lain di kulit L atau M (gambar 2).
3. Saat vakansi terbentuk di kulit L, elektron dari kulit M or N “turun” untuk mengisi vakansi
tersebut sambil melepaskan Sinar X yang khas (gambar 3).
4. Spektrometri XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh bahan yang
selanjutnya ditangkap detector untuk dianalisis kandungan unsur dalam bahan (gambar
4).
 d. karakteristik sampel pada XRF
Beberapa sample yang dapat dianalisis dengan menggunakan XRF yaitu :

a. Sample serbuk ± 100 mesh

b. Sample cair yang homogen

 Tipe sample yang diperoleh dari lingkungan seperti minyak dan air
 Tidak membutuhkan preparasi yang rumit

c. Sample padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm

 Logam, plastic dan kaca atau keramik

 Pelapisan permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia yang terbaca
 Ukuran partikel tidak menjadi persoalan
 Permukaan harus homogeny

d. Presed Powder

 Tipe sample yang dapat dibentuk press powder seperti batuan, semen, lumpur, alumina,
fly ash dan lain-lain
 Agen pengikat seperti lilin atau selulosa dapat digunakan untuk memperkuat sample

e. Serbuk dipress membentuk tabletvpadat menggunakan hydraulic press Fused Beads

 Tipe sample yang termasuk dipreparasi seperti fused bead adalah batuan, semen, bijih
besi dan lain-lain
 Sample dicmpur dengan flux. Digesti fluxing selalu penting bila dibutuhkan presisi yang
tinggi dan borat Spectromelt dapat digunakan untuk proses ini
 Sample dan flux dipanaskan pada suhu ≈ 1000 oC
 Permukaan harus homogen

e. Kelebihan dan kelemahan XRF

Keunggulan XRF :

1. Mudah digunakan dan Sample dapat berupa padat, bubuk (butiran) dan cairan
2. Tidak merusak sample (Non Destructive Test), sample utuh dan analisa dapat dilakukan
berulang-ulang
3. Banyak unsur dapat dianalisa sekaligus (Na- U)
4. Konsentrasi dari ppm hingga kadar dalam %
5. Hasil keluar dalam beberapa detik (hingga beberapa menit, tergantung aplikasi)
6. Menjadi metoda analisa unsur standar dengan banyaknya metoda analisa ISO dan ASTM
yang mengacu pada analisa XRF
Kelemahan dari metode XRF :

1. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang terkandung
dalam material yang akan kita teliti.
 BAB III
PENUTUP
3.1 Kesimpulan

Bahwa dari metode - metode tadi yang kita bahas, itu adalah metode untuk mengetahui mineral
mineral apa saja yang terdapat di dalam batuan beku, batuan sedimen dan batuan metamorf . Dan saya
mohon maaf apabila makalah saya ini kurang jelas atau tidak sesuai harapan ibu, maafkan saya karena saya
masih dalam proses belajar
 DAFTAR PUSTAKA
http://lppt.ugm.ac.id/Posts/read/16

http://led-almasy.blogspot.co.id/2011/12/tem-dan-sem.html?m=1

http://berjuang-di,blogspot.co.id/2011/12/mineral-dan-mineralogi