DISUSUN OLEH :
KELOMPOK : 7
ANGGOTA : ARIEL KEVIN LAPONDU (011900003)
FARIS ADAM MAULANA (011900006)
NI MADE Y. GALIH P. (011900019)
ZAHRA KHALIFAH UTAMI (011900029)
PROGRAM STUDI : D-IV TEKNOKIMIA NUKLIR
JURUSAN : TEKNOKIMIA NUKLIR
ACARA : UV-Vis
PEMBIMBING : Haries Handoyo M.Eng
Tanggal Pengumpulan : 19 APRIL 2021
I. TUJUAN
Dapat mengkalibrasi alat UV-Vis melalui pemeriksaan Baseline correction dan Wavelength
accuracy
Spektrometer UV VIS adalah alat yang digunakan untuk mengukur transmitansi, reflektansi,
dan absorbansi dari cuplikan sebagai fungsi dari panjang gelombang. Spektrometer sesuai dengan
namanya merupakan alat yang terdiri dari spektrometer dan fotometer. Spektrometer menghasilkan
sinar dari spektrum dengan panjang gelombang tertentu dan fotometer adalah alat pengukur
intensitas cahaya yang ditransmisikan atau yang diabsorbsi. Jadi spektrometer digunakan untuk
mengukur energi cahaya secara relatif jika energi tersebut ditransmisikan, direfleksikan, atau
diemisikan sebagai fungsi dari panjang gelombang. Suatu spektrometer tersusun dari sumber
spektrum sinar tampak yang sinambung dan monokromatis. Sel pengabsorbsi untuk mengukur
perbedaan absorpsi antara cuplikan dengan blanko atau pembanding (Gandjar,2007).
Prinsip kerja spektrofotometri UV-Vis adalah interaksi yang terjadi antara energi yang berupa
sinar monokromatis dari sumber sinar dengan materi yang berupa molekul. Besar energi yang
diserap dapat menyebabkan elektron tereksitasi dari ground state ke keadaan tereksitasi yang
memiliki energi lebih tinggi. Serapan tidak terjadi seketika pada daerah ultraviolet-visible untuk
semua struktur elektronik tetapi hanya pada sistem-sistem terkonjugasi, struktur elektronik dengan
adanya ikatan p dan non bonding electron (Harjadi,1990).
Karena alat UV-Vis ini melakukan pengukuran berdasarkan akurasi maka perawatan
merupakan salah satu faktor penting untuk dapat memastikan alat berada dalam kondisi baik dan
memiliki akurasi baik. Berdasarkan Instruksi manual dari pabrik, alat spektrofotometer UV-VIS
UVmini-1240 harus dilakukan perawatan. Perawatan yang dilakukan meliputi:
Ketika proses analisis sering dilakukan dan melibatkan sampel yang sangat banyak,
kemungkinan terjadinya tumpahan yang mengotori sample compartment semakin besar sehingga
sample compartment perlu di cek dan dibersihkan. Bagian yang sering terkena biasanya dasar
compartment. Pembersihan sample compartment biasanya dilakukan harian yaitu sebelum dan
sesudah digunakan.
Pemeriksaan baseline flatness dilakukan secara periodik yaitu bulanan. Bila baseline
menunjukkan nilai abnormal (lebih dari ± 0,010 Abs) maka nilai baselinenya perlu dikoreksi.
III. METODE
A. Bahan
1. Sampel
B. Alat
1. UVmini-1240 Shimadzu
C. Langkah Kerja
Menyalakan Alat
LSI Initialize OK
ROM Check OK
RAM Check OK
Filter Initialize OK
WL motor Org. OK
Lamp motor Org. OK
WI Lamp Energy OK
θ Order Light OK
D2 Lamp Energy OK
WL Check (656.1 nm) OK
1. Setelah alat dinyalakan, sebaiknya ditunggu selama 60 menit agar alat stabil.
2. Tekan 2 untuk memilih [spektrum], kemudian dilakukan setting.
a. Tekan 1 untuk setting measurement mode, ubah menjadi [ABS]
b. Tekan 2 untuk setting panjang gelombang, ubah menjadi [1100 nm - 200 nm]
c. Tekan 3 untuk setting photometric range, ubah menjadi [-0,01 A - 0,01 A]
d. Tekan 4 untuk setting scan speed, ubah menjadi [Fast]
e. Tekan 5 untuk setting no. of scan, ubah menjadi [1]
f. Tekan 6 untuk setting display mode, ubah menjadi [sequential]
g. Tampilan layar akan menjadi seperti Gambar 3.
3. Tekan F1 untuk menjalankan baseline correction. Proses berlangsung sekitar 6 menit.
4. Tekan Start untuk memulai proses pengukuran.
5. Setelah proses selesai, hasil grafik baseline akan muncul.
6. Baseline flatness harus bernilai ± 0,010 A, tidak termasuk shock noise.
Gambar 3. Setting Spektrum untuk baseline correction
Mematikan alat
1. Tekan Return untuk kembali ke menu awal.
2. Saklar OFF dibagian belakang alat ditekan hingga layar mati.
3. Kabel kontak di cabut.
IV. DATA PENGAMATAN
Dari Gambar 6. diperoleh nilai baseline flatness sebesar 0,007 A. Nilai standar yang
diberikan sebesar ± 0,010 A, dengan demikian maka nilai baseline flatnessnya sesuai dengan
standar.
Untuk pemeriksaan wavelength accuracy dilakukan pada dua titik, yang pertama
dilakukan pada rentang 660-650 nm. Hasilnya berupa Grafik yang dapat dilihat pada Gambar
7.
07/Apr/21 14:00:00
W
Peak/Valley Graph 655.8 nm 47.5E D
Peak Valley
Dari Gambar 7. diperoleh nilai puncak spektrum pada 655,8 nm. Nilai yang diberikan oleh
standar yaitu 655,8 ± 1 nm, artinya berada pada rentang 654,8 nm- 656,8 nm. Dengan
demikian nilai wavelenght accuracynya masih bagus.
Pada titik yang ke dua, wavelenth accuracy dilakukan pada rentang 490-480 nm. Hasilnya
berupa Grafik yang dapat dilihat pada Gambar 8.
07/Apr/21 14:00:00
W
Peak/Valley Graph 485.4 nm 6.8 E D
Peak Valley
Dari Gambar 8. Diperoleh nilai puncak spektrum pada 485,4 nm. Nilai yang diberikan
oleh standar yaitu 486 ± 1 nm, artinya berada pada rentang 485 - 487 nm. Dengan
demikian nilai wavelenght accuracy-nya masih bagus.
V. KESIMPULAN
pemeriksaan Standar Hasil Kesimpulan
Baseline correction ± 0,010 A 0,007 A Sesuai
Wavelength accuracy 660-650 nm 655,1 nm- 657,1 nm 655,8 nm Sesuai
Wavelength accuracy 660-650 nm 485 - 487 nm 485,4 nm Sesuai