Nama : Era Fazira

Nim : A 241 18 041

Kelas : A
MK : Pengantar Nanoteknologi

1. Jelaskan minimal 3 karakterisasi yang anda ketahui untuk mengetahui karakteristik nano
teknologi !
Jawaban :
1) Karakterisasi Nanopartikel Menggunakan UV-VIS
Spektrofotometer Ultarviolet-Visible (UV-Vis) digunakan untuk menentukan lebar celah
pita energi dalam demikonduktor. Montja (2012) mengkarakterisasi sifat optis sampel
dengan UV-Vis (Ultra Violet –Visible Spektrometer) pada jangkauan panjang gelombang
200-800 nm. Jika material disinari dengan gelombang elektromagnetik maka foton akan
diserap oleh electron dalam material. Setelah menyarap foton, electron akan berusaha
meloncat ke tingkat energy yang lebih tinggi. Jika electron yang menyerap foton mula-
mula berada pada puncak pita valensi maka tingkat energy terdekat yang dapat diloncati
electron adalah dasar pita konduksi. Jarak kedua tingkat energi tersebut sama dengan lebar
celah pita energi.
2) Karakterisasi Nanopartikel Menggunakan XRD
Prinsip kerjanya yaitu ketika sinar-X yang monokromatik jatuh pada sebuah kristal maka
sinar-X tersebut akan dihamburkan ke segala arah, tetapi karena ada keteraturan letak
atom-atom dalam kristal maka pada arah tertentu saja gelombang hambur akan
berinterferensi konstruktif dan pada arah lainnya akan berinterferensi destruktif. Alat
analisa XRD terdiri dari tabung sinar X, tempat sampel dan detektor. Tabung sinar X
berfungsi untuk menghasilkan sinar X. Detektor terletak bersebelahan dengan tabung sinar
X.
3) Karakterisasi Nanopartikel Menggunakan Scanning electron micrsocopy (SEM)
SEM adalah salah satu jenis mikroskop elektron yang menggunakan berkas elektron untuk
menggambar profil permukaan benda. Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan
benda dengan berkas elektron bernergi tinggi. Permukaan benda yang dikenai berkas akan
 memantulkan kembali berkas tersebut atau menghasilkan elektron sekunder ke segala
arah. Tetapi ada satu arah di mana berkas dipantulkan dengan intensitas tertinggi. Detektor
di dalam SEM mendeteksi elektron yang dipantulkan dan menentukan lokasi berkas yang
dipantulkan dengan intensitas tertinggi. Arah tersebut memberi informasi profil permukaan
benda seperti seberapa landai dan kemana arah kemiringan.

4) Karakterisasi Nanopartikel Menggunakan Transmission Electron Microscopy

(TEM)
TEM adalah alat yang paling teliti yang digunakan untuk menentukan ukuran partikel
karena resolusinya yang sangat tinggi. Partikel dengan ukuran beberapa nanometer dapat
diamati dengan jelas menggunakan TEM. Bahkan dengan high resolution TEM (HR-
TEM) kita dapat mengamati posisi atom-atom dalam partikel. Prinsip kerja TEM sangat
mirip dengan prinsip kerja peralatan rontgen di rumah. Pada peralatan roentgen,
gelombang sinar-X menembus bagian lunak tubuh (daging) tetapi ditahan oleh bagian
keras tubuh (tulang). Film yang diletakkan di belakang tubuh hanya menangkap berkas
sinar-X yang lolos bagian lunak tubuh. Akibatnya, film menghasilkan bayangan tulang.