LAPORAN

INSTRUMENTASI LABORATORIUM KIMIA

Disusun oleh:
1. Nur Alya E. Simon (G1C023009)
2. Renata Viola Hapsari (G1C023032)
3. Indah Nurfitriyani (G1C023012)
4. Eka Ramadanti Oktafina (G1C023005)

D4 ANALIS KESEHATAN
FAKULTAS ILMU KEPERAWATAN DAN KESEHATAN
UNIVERSITAS MUHAMMADIYAH SEMARANG
 DAFTAR ISI

HALAMAN JUDUL......................................................................................................................1
DAFTAR ISI..................................................................................................................................2
BAB I PENDAHULUAN..............................................................................................................3
1.1 Latar Belakang..................................................................................................................3
1.2 Rumusan Masalah.............................................................................................................3
1.3 Tujuan Penulis...................................................................................................................4
1.4 Manfaat Penulis.................................................................................................................4
BAB II PEMBAHASAN................................................................................................................5
2.1 Sejarah Dan Pengertian Transmission Electron Microscopy (Tem).................................5
2.2 Komponen Dan Fungsi Transmission Electron Microscopy (Tem)................................5
2.3 Persiapan Sampel Transmission Electron Microscopy (Tem)..........................................7
2.4 Cara Kerja Transmission Electron Microscopy................................................................7
2.5 Kelebihan Dan Kekurangan Transmission Electron Microscopy.....................................8
2.6 Kelebihan dan kekurangan Transmission Electron Microscopy (TEM)..........................8
BAB III PENUTUP......................................................................................................................10
3.1 Kesimpulan.....................................................................................................................10
DAFTAR PUSTAKA...................................................................................................................11
 BAB I
PENDAHULUAN

1.1 Latar Belakang

Perkembangan ilmu pengetahuan memberikan dampak yang positif terhadap
perkembangan teknologi. Kemajuan ilmu pengetahuan yang berorientasi pada
pengembangan teknologi dan informasi merupakan bagian dari kehidupan masyarakatdunia
saat ini khususnya kalangan akademisi, banyak cara yang dapat dilakukan untuk
memanfaatkan perkembangan teknologi saat ini dalam memperoleh informasi,
salahsatunya adalah dalam mendeteksi struktur permukaan berbagai jenis sampel atau
contoh bahan yang dibutuhkan di dalam suatu penelitian.
Dewasa ini hampir semua bidang IPTEK, serta jaminan kualitas mutu
produksidalam dunia industri, terutama industri berbasis teknologi tinggi tidak dapat lepas
dari pemantauan skala mikro (sepermiliar milimeter) atau bahkan pemantauan pada
skalayang jauh lebih kecil hingga beberapa puluh nanometer dengan menggunakan
mikroskop."alah satu jenis mikroskop yang berkembang sekarang ini adalah mikroskop
elektronyang terdiri dari Transmission Electron Microscopy (TEM) dan Scanning Electron
microscopy (SEM).
Scanning Electron microscopy (SEM) menghasilkan bayangan dengan resolusi
yang tinggi, maksudnya adalah pada jarak yang sangat dekat tetap dapat menghasilkan
perbesaran yang maksimal tanpa memecahkan gambar. Transmission Electron microscopy
(TEM) adalah sebuah mikroskopdimana sebuah berkas elektronditembakkanmelalui
spesimen ultra tipis.
1.2 Rumusan Masalah
1. Apa pengertian dan sejarah dari Transmission Electron Microscopy (TEM)?
2. Apa saja komponen dan fungsi Transmission Electron Microscopy (TEM)?
3. Bagaimana persiapan sampel yang akan digunakan pada alat Transmission Electron
Microscopy (TEM)?
4. Bagaimana cara kerja Transmission Electron Microscopy (TEM)?
5. Apa manfaat Transmission Electron Microscopy (TEM)?
6. Apa kelebihan dan kekurangan Transmission Electron Microscopy (TEM)?
1.3 Tujuan Penulis
1. Untuk mengetahui bagian bagian dari alat Transmission Electron Microscopy (TEM)
2. Mengkaji bagaimanaa prinsip kerja dari pengukuran dengan menggunakan alat
Transmission Electron Microscopy (TEM)
3. Untuk mengetahui bentuk keluaran dari alat Transmission Electron Microscopy (TEM)
1.4 Manfaat Penulis
1. Menambah wawasan bagi para pembacanya
2. Sebagai salah satu referensi bagi peneliti yang ingin mengetahui struktur kristal suatu
bahab dengan menggunakan alat TEM.
 BAB II
PEMBAHASAN

2.1 Sejarah Dan Pengertian Transmission Electron Microscopy (Tem)

Sejarah Penemuan Transmission Electron microscopy (TEM) seorang ilmuwan dari
universitas Berlinyaitu Dr. Ernst Ruska menggabungkan penemuan elektron dan
membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama pada tahun 1931. Untuk
hasil karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan menganugerahinya hadiah Penghargaan
Nobeldalam fisika pada tahun 1986. Mikroskop yang pertama kali diciptakannya adalah
dengan menggunakan dua lensa medan magnet, namun tiga tahun kemudian ia
menyempurnakan karyanya tersebut dengan menambahkan lensa ketiga dan
mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan resolusi hingga 100 nanometer (nm),
dua kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu.
Transmission Electron microscopy (TEM) adalah salah satu jenis mikroskop yang
memanfaatkan adanya penemuan elektron. Mikroskop ini memanfaatkan elektron dan
mentransmisikannya sehingga ditangkap oleh sebuah layar yang akan menghasilkan
gambar dari struktur material tersebut. Secara mudahnya cara kerja TEM sama dengan cara
kerja dari sebuah slide proyektor.
2.2 Komponen Dan Fungsi Transmission Electron Microscopy (Tem)
Berikut ini adalah bagian-bagian dari TEM:
a. Virtual Source di bagian atas mewakili senapan elektron, yang berfungsi Projeciar Lens
menghasilkan elektron monokromatik.
b. Lensa kondensor yaitu aliran elektron difokuskan pada berkas yang kecil, tipis dan
koheren dengan menggunakan lensa kondensor 1 dan 2. Lensa 1 (biasanya dikontrol ole
tombol "spot size") sangat menentukan ukuran dari besarnya aliran mengenai sampel.
Lensa kedua (biasanya dikontrol tombol "intensitas/brightness") yang mengubah
ukuran spot pada sampel.
c. Berkas dibatasi oleh aperture dari kondensor (biasanya dapat dipilih pengguna),
merobohkan sudut tinggi elektron (yang jauh dari sumbu optik, garis putus-putus di
tengah-tengah). Aperture Terdiri dari disc logam kecil yang cukup tebal untuk
mencegah elektron dari melewati disc, sementara mengijinkan aksial electron.
d. Berkas elektron menumbuk spesimen kemudian, bagian-bagiannya ditransmisikan.
e. Bagian yang ditransmisikan difokuskan oleh lensa objektif menjadi gambar.
f. Tujuan dan pilihan opsional logam Area aperture dapat membatasi Objective aperture
meningkatkan kontras dengan menghalang elektron yang high angle, yang dipilih
aperture memungkinkan pengguna untuk secara berkala memeriksa difraksi elektron
oleh atom dalam sampel.
g. Gambar selanjutnya terus melalui intermediate dan lensa proyektor, yang diperbesar
sepanjang jalan.
h. Gambar-gambar membentur layar fosfor dan cahaya yang dihasilkan memungkinkan
pemakai untuk melihat gambar. Daerah yang lebih gelap mewakili wilayah yang
elektronnya lebih sedikit sedangkan daerah yang lebih terang mewakili electron yang
lebih banyaki (mereka lebih tipis atau kurang padat).

Fungsi dari Transmission Electron Microscopy:

a. Mengurangi intensitas sinar elektron disaring dari balok, yang mungkin diinginkan
dalam kasus sampel berkas sensitif.
b. Penyaringan ini melepaskan elektron yang tersebar.
2.3 Persiapan Sampel Transmission Electron Microscopy (Tem)
a. Melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tapa mengubah struktur sel
yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa glutaral
dehida atau osmium tetroksida.
b. Pembuatan sayatan, yang bertujuan untuk memotong sayatan hingga setipis mungkin
agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan monomer resin
melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan pemotongan menggunakan
mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari berlian karena berlian tersusun
dari atom karbon yang padat. Oleh karena itu, sayatan yang terbentuk lebih rapi.
Sayatan yang telah terbentuk diletakkan di atas cincin berpetak untuk diamati.
c. Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan
diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam
berat seperti uranium dan timbal.
2.4 Cara Kerja Transmission Electron Microscopy
a. Mikroskop elektron transmisi menggunakan berkas elektron energi tinggi ditularkan
melalui sampel yang sangat tipis untuk gambar dan menganalisis mikrostruktur bahan
dengan resolusi skala atom.
b. Elektron difokuskan dengan lensa elektromagnetik dan gambar diamati pada layar
fluorescent atau direkam dalam film atau kamera digital.
c. Elektron dipercepat di beberapa ratus kV, memberikan panjang gelombang jauh lebih
kecil daripada cahaya: 200kV elektron memiliki panjang gelombang 0.025À. Namun,
resolusi mikroskop optik dibatasi oleh panjang gelombang cahaya, yaitu mikroskop
elektron dibatasi oleh penyimpangan yang melekat pada lensa elektromagnetik,
menjadi sekitar 1-2 A. Karena sampel sangat tipis, biasanya kita tidak melihat atom
secara individual. Alih-alih pencitraan dengan modus resolusi tinggi dari gambar
mikroskop kisi kristal dari suatu material sebagai pola interferensi antara
ditransmisikan dan berkas terdifraksi. Hal ini memungkinkan seseorang untuk
mengamati garis planar dan cacat, batas butir, interface, dil dengan resolusi skala atom.
mode pencitraan mikroskop Bright field/dark field, yang beroperasi di antara
pembesaran, dikombinasikan dengan difraksi elektron, juga sangat berharga untuk
 memberikan informasi tentang morfologi, kristal tahapan, dan cacat pada material.
Akhirnya mikroskop dilengkapi dengan lensa pencitraan khusus yang memungkinkan
untuk pengamatan micromagnetic domain struktur di bidang lingkungan bebas. TEM
juga mampu membentuk elektron yang terfokus pada probe, sekecil 20A, yang dapat
diposisikan pada fitur yang sangat bagus dalam sampel untuk informasi atau
microdiffraction analisis x-ray untuk informasi komposisi.
2.5 Kelebihan Dan Kekurangan Transmission Electron Microscopy
Manfaat dari TEM adalah menangkap dan menghasilkan sinyal-sinyal. Sinyal utama
yang dapat ditangkap atau dihasilkan dari TEM cukup banyakantara lain:
a. Diffraction Contrast
Dipakai untuk mengkarakterisasi Kristal, digunakan untuk menganalisa defek, endapan,
ukuran butiran dan distribusinya.
b. Phase Contrast
Dipakai untuk menganalisa kristalin material (defek, endapan, struktur
interfasa,pertumbuhan kristal)
c. Mass/Thickness Contrast
Dipakai untuk karakterisasi bahan amorf berpori, polimer, material lunak (biologis)
d. Electron Diffraction
e. Characteristic X-ray (EDS)
f. Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS + EFTEM)
g. Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
2.6 Kelebihan dan kekurangan Transmission Electron Microscopy (TEM)
a. Kelebihan
1. Dengan TEM, maka gambar yang kita hasilkan akan memiliki tingkat resolusi yang
jauh lebih tinggi daripada mikroskop cahaya. Kita dapat melihat sesuatu yang
memiliki ukuran 10.000 kali lebih kecil daripada ukuran objek terkecil yang bisa
terlihat di mikroskop cahaya.
2. Pada perbesaran kecil, gambar TEM akan kontras karena absorbsi elektron pada
material akibat dari ketebalan dan komposisi material. Pada perbesaran tinggi, maka
gambar yang dihasilkan akan menampilkan data yang lebih jelas pada analisa
struktur kristal dan lainnya.
b. Kekurangan
1. Persiapan sampel untuk TEM umumnya memerlukan lebih banyak waktu dan
pengalaman daripada kebanyakan teknik karakterisasi lainnya.
2. Sebuah spesimen TEM tebalnya mendekati 1000À atau kurang dalam ketebalan di
daerah tertentu. Seluruh spesimen harus sesuai ke dalam diameter 3mm dan dengan
ketebalan kurang dari sekitar 100 mikron.
3. Banyak material memerlukan persiapan.
 BAB III
PENUTUP
3.1 Kesimpulan
Mikroskop Elektron ini dibuat dengan didasarkan pada teori gelombang partikel de
Broglie dan percobaan elektron yang dipercepat dalam suatu kolom elektromagnetik. TEM
mempunyai resolusi yang lebih baik daripada Mikroskop Optic. Hal in dikarenakan TEM
menggunakan energi yang besar sehingga menghasilkan panjang gelombang yang lebih
pendek. Mikroskop Electron pertama memiliki resolusi hingga 100 nm atau 2 kali lebih
baik dari Mikroskop Optic. TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan
tipis sampel, yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample tersebut
dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun fase sinar elektron yang
menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar elektron tersebut.
 DAFTAR PUSTAKA

https://id.scribd.com/doc/283681878/makalah-TEM-doc