X-RAY FLUOROSENCE

(XRF)

Dipresentasikan Oleh:
KELOMPOK IV

BAHRUN H311 14 305

SURIANI BINTI SULE H311 14 306
BERNADET H311 14 315

JURUSAN KIMIA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN
ALAM
UNIVERSITAS HASANUDDIN
MAKASSAR
PENGERTIAN XRF

Suatu alat x-ray yang digunakan

untuk rutin, yang relative analisis
kimia batuan non-destruktif,
mineral, sedimen dan cairan.

XRF
Sebuah teknik yang dapat digunakan
untuk menentukan konsentrasi unsur
berdasarkan pada panjang gelombang
dan jumlah sinar x yang dipancarkan
kembali setelah suatu material
ditembaki sinarx berenergi tinggi.
FUNGSI XRF
ANALISA
KUALITATIF:
Memberikan informasi jenis
unsur yang terkandung dalam
bahan yang dianalisis, yang
ditunjukkan oleh adanya
spektrum unsur pada energi
sinar-x karakteristiknya
ANALISA
KUANTITATIF:
Memberikan informasi jumlah
unsur yang terkandung dalam
bahan yang ditunjukkan oleh
ketinggian puncak spektrum.
PRINSIP KERJA XRF

Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray
atau sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi
atau dihamburkan oleh material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi
oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang
terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama
proses ini, bila sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron pindah
dari kulit yang di dalam menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini
menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil.
 PRINSIP KERJA XRF

Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke
kulit yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X yang
tertentu dan berbeda antara dua energi ikatan pada kulit tersebut. Emisi
sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray Fluorescence (XRF). Proses
deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada umumnya kulit K
dan L terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah K dan K
serta L dan L pada XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi
akan menggambarkan puncak-puncak pada intensitas yang berbeda
PRINSIP KERJA XRF
ALAT X-RAY FLUORESCENCE
JENIS-JENIS XRF

WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence) dimana dispersi

sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang
berupa kristal yang berperan sebagai grid.

EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence) spektrometri bekerja

tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software yang
mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor
SKEMA ALAT WDXRF
SKEMA ALAT EDXRF
 Untuk setiap atom di dalam sampel, intensitas dari sinar-X
berbanding lurus dengan jumlah (konsentrasi) sinar-X karakteristik
setiap unsur.

Dengan membandingkan intensitasnya terhadap suatu standar

yang telah diketahui konsentrasinya maka kita dapat menentukan
konsentrasi unsur dalam sampel.
KARAKTERISTIK SAMPEL

Sample serbuk 100 mesh

Sample cair yang homogen
Sample padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm
Pressed powder
Serbuk dipress membentuk tablet padat menggunakan hydraulic press fused
Beads
APLIKASI XRF

Penelitian di petrologi beku, sedimen, dan metamorf.

Survei tanah.
Pertambangan (misalnya, mengukur nilai dari bijih).
Produksi semen.
Keramik dan kaca manufaktur.
Metalurgi (misalnya, kontrol kualitas).
Lingkungan studi (misalnya, analisis partikel pada filter udara).
Minyak industri (misalnya, kandungan sulfur minyak mentah dan produk minyak bumi).
Bidang analisis dalam studi geologi dan lingkungan (menggunakan portabel, tangan
memegang spektrometer XRF).
APLIKASI XRF

X-Ray fluoresensi sangat cocok untuk penyelidikan yang melibatkan:

Analisis elemen utama secara massal (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) dalam
batuan dan sedimen
Analisis unsur jejak secara massal (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu,
Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan sedimen - batas
deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa bagian per juta.