5/14/2019 LAPORAN VISITASI

LAB UNTUK
ANALISIS
GEOKIMIA
TUGAS EKSPLORASI CEBAKAN
MINERAL
Dosen : M. Nur, S.T, M.T, Ph.D

Timothy Antonio
22118019
 LAB HIDROLOGI

1. X-Ray Fluorosence (XRF)

1.1 Pengertian dan Jenis XRF

XRF merupakan alat yang digunakan untuk menganalisis komposisi kimia beserta
konsentrasi unsur-unsur yang terkandung dalam suatu sample dengan menggunakan
metode spektrometri. XRF umumnya digunakan untuk menganalisa unsur dalam mineral
atau batuan. Analisis unsur di lakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis
kualitatif dilakukan untuk menganalisi jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan
analisis kuantitatif dilakukan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam bahan. umumnya
XRF adalah teknik untuk menganalisis unsur kimia beserta konsentrasinya yang terkandung
dalam suatu sampel menggunakan spektrometri. XRF ada dua jenis yaitu WDXRF ( Wave
Length Dispersive ) dan EDXRF ( Energy Dispersive XRF ). Secara umum WDXRF lebih
besar, lebih kompleks, menggunakan water chiller (pendingin x-ray tube) serta alat ini
lebih sensitive dan lebih akurat. Kelebihan lainnya alat ini bagus pada unsur ringan dan
menggunakan gas P10 dan He. Untuk alat EDXRF lebih kecil, lebih sederhana, tidak
menggunakan water chiller dan analisa Na-U menggunkan pump optional. Baik digunakan
untuk menganalisis unsur berat dan hasilnya hampir sama dengan WDXRF dan
menggunakan He saja.

1.2 Prisnsip Kerja XRF

Prinsip menganalisis dengan XRF adalah identifikasi dan pencacahan karakter sinar –
X yang terjadi akibat efek fotolistrik dan dari efek ini terjadi karena adannya electron dalam
atom target pada sample terkena sinar yang mempunyai energi tinggi. Secara sederahana
akan dijelaskan dalam gambar dibawah ini menggunakan skema:
 Gambar 1. Skema Prinsip Dasar XRF

Elektron pada kulit K keluar dari atom akibat dari radiasi sinar X yang datang, lalu terjadi
kekosongan electron pada orbital. Kemuadian electron pada kulit L atau M turun untuk
mengisi kekosongan yang disertai oleh emisi dari sinar X yang khas dan meninggalkan
kekosongan lain di kulit L atau M. Saat vakansi terbentuk di kulit L, electron dari kulit M
atau N turun untuk mengisi kembali sambal melepaskan Sinar-X yang khas. Spektometri
XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh bahan yang selanjutnya ditangkap
detector untuk analisis kandungan unsur bahan.

1.3 Sampel dan SOP pada XRF

Sampel yang akan digunakan dalam analisis XRF adalah sampel serbuk dengan ukuran
100 Mesh, sampel cair yang homogen dimana tipe sampel yang diperoleh dari lingkungan
seperti minyak dan air dan tidak membutuhkan preparasi yang rumit. Sample berupa
padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm. sampel logam,plastic
atau keramik dan menggunakan pelapis permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia
yang terbaca. Ukuran partikel tidak menjadi persoalan dan permukaannya harus homogen.
Lalu sampel harus dibentuk seperti press powder seperti batuan, semen, lumpur, alumina,
fly ash dan untuk merekatkan dan memperkuat sampel dapat digunakan lilin. Kemudian
setelah itu sampel di press membentuk tablet padat dengan hydraulic press fused beads dan
dipanaskan pad suhu 1000°C.

Gambar 2. Skema SOP XRF

 Standard operational procedure dalam penggunaan XRF dijabarkan dalam bentuk poin
sebagai berikut:

a. Pertama dilakukan pengecekan pada tekanan gas P10 dan He

b. Kedua menyalakan UPS XRF dan mengaktifkan UPS
c. Ketika menyalakan Komputer pada XRF dan menaikan tombol power pada posisi on
d. Setalah menyala computer lalu melakukan kalibrasi dan adjustment secara otomatis pada
software
e. Setelah itu lampu indicator alat menyala lalu masukan sampel yang sudah dipreparasi
(holder) ke dalam ASC dan tutup pintu ASC
f. Pilih metode pengujian XRF EZ, Qualitative, Quantitative dan klik start
g. Lalu tunggu sebentar maka hasil pengukuran akan muncul pada layer

Gambar 3. Hasil Pengukuran XRF

h. Kemudian hasil pengukuran di validasi lagi dengan laboran bahwa semua yang dilakukan
dalam prosedur yang benar.
2. X-Ray Diffraction (XRD)

2.1