Pengukuran Kedataran Plat Baja Dengan

Menggunakan Moire Topografi

Aulia Rahman Ashari1, Muhammad Rozakur Rokhim2, Siti Nur Fitria3, Erna Septyaningrum4, Zuhrotul Aini5, Mariesta Arianti6
Jurusan Teknik Fisika, Institut Teknologi Sepuluh Nopember

Abstrak --- Permintaan akan baja terus meningkat, dan

kedataran serta performa dimensi dari produk harus
memenuhi standart. Untuk mengetahui tingkat kedataran
dari suatu plat logam sering kali digunakan cara manual yang
memiliki biaya yang tinggi dan membutuhkan banyak tenaga
kerja. Salah satu metode baru yang digunakan untuk
mengatasi permasalahan ini ada dengan menggunakan Moire
Topografi. Hasil dari metode ini adalah pola gelap terang
yang menggambarkan permukaan baja yang diukur. Pola
gelap terang tersebut diolah secara digital dengan
menggunakan komputer dan software tertentu sehingga
dapat diketahui informasi mengenai kedataran dari plat baja
tersebut. Area pengukuran alat ini adalah 3,5 m x 1,0 m, dan
alat ini mampu mencapai resolusi sebesar 0,3 mm.

Kata kunci : Plat Baja, Moire, Pola gelap terang

I. PENDAHULUAN Gambar 1. Macam-macam Kedataran Baja

Pada saat ini teknologi sudah semakin canggih saja dan
semakin membuat kehidupan manusia semakin canggih.
Tidak hanya dalam satu bidang, tetapi di berbagai bidang.
Salah satunya dalam bidang optik. Dalam bidang optik
penemuan-penemuan baru banyak ditemukan. Banyak
sekali hal berbau optik baru baik dalam komunikasi,
visualisasi, dan sebagainya. Pada saat ini pengukuran dan
penampilan suatu objek tidak hanya bisa dilakukan dalam
bentuk 2 dimensi melainkan juga bisa dalam bentuk 3
dimensi. Metode tersebut dinamakan moire topografi.
Dalam hal ini yang dituliskan adalah mengenai pengukuran
kedataran plat baja menggunakan moire topografi. Moire
Topografi digunakan untuk mengukur dan menampilkan
bentuk 3D dari suatu objek.
Terdapat dua macam parameter kedataran yang sering
digunakan untuk menentukan karakteristik dari permukaan
yang bergelombang atau tidak rata (ASTM stanart A568/A
568M – 96, 1996). Parameter tersebut adalah index
kecuraman (Steepness Index) dan index kedataran (flatness
index). Steepness Index merepresentasikan permukaan
yang memperlihatkan tepi yang bergelombang dengan
tinggi H dan interfal L. Seperti yang ditunjukkan pada
gambar berikut :

II. DASAR TEORI

Berikut ini adalah beberapa teori dasar yang mendasari
perancangan alat ini.
A. KEDATARAN PERMUKAAN BAJA
Proses pembuatan logam dapat menyebabkan
penurunan permukaan yang tidak sama (non- uniform)
pada permukaan potongan juga pemanjangan yang tidak
seragam dari potongan pada arah penggulungan (Heaven
1998). Berikut ini adalah contoh ketidaksempurnaan yang
terjadi pada permukaan baja :
Gambar 2. Permukaan yang ditunjukkan dengan
menggunakan Steepness Index
Steepness index secara matematis dapat dituliskan sebagai :
............................................................. 2.1
Sedangkan flatness inex secara matematis dituliskan
sebagai :
∆𝐿
𝐼=( ) 𝑥105 ........................ ................................. 2.2
𝐿𝑟𝑒𝑓
Dimana ΔL adalah perbedaan antara panjang dari potongan
logam yang diukur dan panjang dari potongan logam yang
dijadikan referensi.

B. PRINSIP PENGUKURAN BENTUK DENGAN

MENGGUNAKAN MOIRE

1
 Kata moire berasal dari bahasa Perancis mouaire yang
berarti perairan atau bentuk yang bergelombang. Moire
Topografi digunakan untuk mengukur dan menampilkan
bentuk 3D dari suatu objek. Formasi pola kedalaman yang
didapatkan dengan menyusunan sumber ahaya dan
memnampilkan titik pada jarak yang sama dari grid (kisi)
merupakan kunci dari Moire topografi yang baru. Konsep
ini dirumuskan oleh Meadows et al.(1970) dan Takasaki
(1970).
C. ANALISA POLA FRINGE
Output dari moire topografi adalah kontur yang harus
dianalisis lebih lanjut untuk mendapatkan informasi 3
dimensi yang diinginkan. Metode analisa yang digunakan
dalam analisa ini sama dengan metode yang digunakan
pada interferogram, walaupun kedua metode ini
menggunakan prinsip optik yang berbeda. Nilai yang
diukur pada proses fringi moire analisa adalah intensitas
G(x,y) dan sesuatu yang tidak diketahui yang disimbolkan
dengan Φ(x,y). Informasi ini dipengaruhi oleh backgroun
intensity a(x,y), local contrast b(x,y) dan noise δ. Dalam
bentuk matematis dapat dituliskan sebagai :
𝐺(𝑥, 𝑦) = 𝑎(𝑥, 𝑦) + 𝑏(𝑥, 𝑦) cos 2𝜋𝑁[𝜙(𝑥, 𝑦) + 𝛿)] ....2.3
Distribusi intensitas dari pola frinji dihubungkan
dengan persamaan diatas ditunjukan oleh grafik berikut :
Gambar 3. Grafik Distribusi Intensitas dari Pola Frinji
Metode analisa Fringe dapat dibedakan menjadi analisa
berdasarkan intensitas dan berdasarkan fase.
Gambar 4. Metode Analisa Fringe
Metode intensitas memiliki ketelitian atau akurasi yang
rendah sehingga akan sulit untuk menghitungnya pada
waktu riil. Pada analisa berdasarkan fasa, dibedakan
menjadi dua yaitu spasial (SPS) dan temporal (TPS).
Dalam analisa ini banyak digunakan metode Fourier untuk
menganalisa hasil yang didapatkan. Teknik temporal phase
shifting, menganalisis 3 atau lebih interferogram yang
berurutan, TPS menghasilkan resolusi dan akurasi paling
tinggi pada gelombang statis.
D. KEDUDUKAN TEKNIK PENGUKURAN BENTUK
MOIRE
Pada bagian ini akan dijelaskan tentang penyelesain
secara teknis, prosedur desain, dasar fenomena,
implementasi alat dan performa gambar.
1) Penyelesaian Optik Konvensional
Gambar 5. penyelesaian optik konvensional untuk a)
bayangan dan b) proyeksi instrumen moiré.
Dalam gambar a) grating harus dipasang didekat obyek
yang akan diukur dan setidaknya besarnya harus sama
dengan objek. Kekurangan dari teknik adalah kotak yang
dibutuhkan besar dan variasi ketinggian yang terbatas
karena grating yang dekat dengan objek. Kontras bayangan
dari moire kontur sangat dipengaruhi oleh ukuran dan
orientasi sumber cahaya.
2) Proses Desain
Hauer dan Harding (1990) memperkenalkan dan
menunjukkan, pendekatan pengaturan yang baik untuk
merancang interferometer moiré. Prosesdur sistem ini
terdiri dari :spesifikasi umum, gambar konseptual, desain
rinci awal, perancangan detil akhir, toleransi fisik
komponen sistem dan analisis termal. Pendekatan ini dapat
digunakan untuk mencapai desain yang efisien dan lengkap
untuk sistem optik yang paling. Murakami et al. (1982)
mempelajari pengaturan sumber cahaya untuk iluminasi
grid dari metode moiré, dan penulis yang sama sebelumnya
menyajikan setting kamera yang tepat untuk iluminasi grid
pada metode ini. (Murakami et al. 1985).
Tsuno dan Nakamura (1978) meneliti akurasi dari
proyeksi moiré topografi atas dasar geometris optik.
Kesalahan penjajaran (misalignment) dari elemen optik
dalam instrumen moiré menyebabkan deformasi kontur.
Dari penelitian yang dilakukan, menunjukkan bahwa
kesalahan karena efek misalignments lebih kecil bila
menggunakan optik proyeksi dengan panjang fokal panjang
dan perbesaran yang lebih besar.
2
E. ELECTRONIC MOIRE CONTOURING\
Electronic moiré contouring mengacu pada penggunaan
instrument dimana pembentukan kontur moire sebagian
besar berasal dari komponen elektronika. kontur tidak
terbentuk dari fenomena struktur kisi/gratting namun
terbentuk pada tingkat detektor atau sinyal yang dibantu
oleh komponenn elektronik. Topografi moire dengan
menggunakan kamera CCD. moire kontur diperoleh antara
proyeksi kisi dan grid detektor pada kamera. Pada sensor
CCD Fairchild 222 cahaya vertikal elemen detektor
sensitif dipisahkan oleh buram, pergeseran aluminium
terlindung register kira-kira ukuran sama dengan array
yang juga sensitif terhadap cahaya. Interval kontur pada
pengujian eksperimental bervariasi antara 1 mm dan 10
mm dan bidang pandang sekitar 150 mm sampai 800 mm.
Pendekatan ini memberikan real-time moiré contouring.
Proyektor dan kamera harus berjarak jauh dari objek. Jika
perbedaan dalam proyeksi dan sudut pandang seluruh objek
akan menciptakan permukaan kontur silinder dan yang
tidak planar.
F. COMPUTER AIDED MOIRE
Metode computer aided moiré menggunakan
fleksibilitas dari komputer untuk memanipulasi grating
dengan cepat sehinggga menguntungkan komputer untuk
memvariasikan luasan kisi-kisi dengan cepat dan mudah.
Dengan memilih luasan kisi yang tepat memungkionkan
untuk merubah sensitivitas metode. Moiré kontur dapat
dihasilkan oleh operasi logis antara kisi-kisi. Logika AND
dari dua satu-bit komputer hasil grating di kontur moiré
yang identik dalam segala hal dengan yang diperoleh oleh
superposisi fisik dua bar dan kisi-kisi ruang.
Asundi et al. (1994) mengusulkan proyeksi moiré
eksperimental set-up,di mana obyek dipasang pada alas
berputar didorong oleh variabel kecepatan motorik dan
diterangi oleh cahaya dari laser dioda.
Gambar 6. Set-up Eksperimental Proyeksi Moire
III. RANCANGAN ALAT
A. SPESIFIKASI ALAT UKUR
B. DESAIN ALAT UKUR
1) Spesifikasi Pengukuran
Bagian ini menyajikan spesifikasi dan desain untuk
skala besar sistem on-line pengukuran kerataan otomatis
berdasarkan Teknik proyeksi moiré. Situs adalah diujung
garis pemotongan mekanik, sebelum menyamaratakan
dingin. Standar pengukuran pada pabrik piring Rautaruukki
Baja di Raahe mempunyai spesifikasi kerataan pada
pengukuran ini adalah 6 mm / m (H / L) dan Nilai kerataan
khusus 3 mm / m sering dibutuhkan. Tujuan teknis untuk
merancang sistem pengukuran adalah:
1. Kedalaman resolusi 0,3 mm
2. Kedalaman bahan sedikitnya 350 mm
3. Panjang minimum dari gelombang interval L adalah
300 mm
4. Maksimum waktu pengukuran 1 detik
5. Suhu malsimum pelat 100°C
6. Suhu operasi +5 ° C - 40 ° C
Resolusi spasial titik pada pelat 10 mm x 10 mm
Pelat yang akan diukur hingga 3,5 meter lebarnya dan
mungkin bisa sampai 4 meter hingga puluhan meter
panjangnya. Saat produksi pelat tersebut bisa diam atau
bergerak pada kecepatan 1 m / s. Lempeng memiliki sifat
permukaan diffusi dan specular, yang dapat bervariasi
antara lempeng produk. Pada permukaannya mungkin
memiliki debu, air, minyak atau berbagai jenis anomali.
Sistem ini diharapkan mencapai kehandalan operasional
tinggi dan harus mengukur secara otomatis sebesar 99%
dari produk piring yang melewati lokasi pengukuran.
Sistem ini harus steril dari cahaya, debu, getaran, dan
medan elektromagnetik.
2) Desain dari Sistem Pengukuran Kerataan
Sistem ini terdiri dari tiga bagian utama: Unit
pengukuran optomechanical, sebuah frame grabber DSP
dan sejumlah PC dengan user interface (lihat Gambar. 12).
Kontrol dan sinyal data yang ditransfer antara tiga unit
utama.
Gambar 7. Bagian utama dari sistem pengukuran kerataan.
Sistem ini terhubung ke sistem komputer server pabrik
dan proses komputer PC dikontrol melalui LAN (Local
Area Network). Pengukuran disinkronkan dengan aliran
material pada garis produksi , dan pelat baja yang akan
diukur diidentifikasikan oleh angka. Kebutuhan plat
nomor, dimensi dan kerataan dibaca dari database pabrik
itu melalui LAN, dan pengukuran dapat dilihat secara nyata
pada user interface. Peta kerataan piring disimpan pada
hard disk dari PC host untuk kemudian digunakan untuk
diagnosa dan penyimpangan kerataan maksimum dikirim
3
ke database pabrik itu melalui LAN. Pergerakan lempeng
pada produksi diikuti oleh saklar ultrasonik dan pemutaran
encoder. Lain interface yang diperlukan dari sistem ini
adalah power supply dan koneksi tekanan udara untuk
mendinginkan pencerah unit pengukuran optomechanical
dan membuat tekanan sedikit berlebih disekitar komponen
optik untuk menghilangkan debu. Antarmuka eksternal dari
sistem dapat dilihat pada Gambar. 13.
Gambar 8. Antarmuka eksternal dari sistem pengukuran
kerataan.
Unit pengukuran optomechanical menghasilkan
pinggiran moiré. Unit pengukuran dipasang diatas jalur
produksi pada bingkai baja dasar yang terisolasi dari jalur
produksi. Jarak dari permukaan pelat yang akan diukur dari
lensa proyeksi sekitar 4,9 meter. Instalasi unit pengukuran
di pabrik piring ditampilkan pada Gambar. 14. Latar
belakang dalam pencahayaan tergantung pada waktu, hari
dan tahun (lihat Gambar. 14). Moiré kontur tidak dapat
berfungsi dengan baik ketika menggunakan sistem tanpa
penutup dan pelindung pengukuran daerah terhadap
pencahayaan lingkungan.
Gambar 9. Pemasangan unit pengukuran dalam pabrik
piring.
3) Desain Optomechanical dari Unit Pengukuran
Rincian yang paling penting dari desain ini dilihat dari
sudut pandang optik adalah kebutuhan akan resolusi
kedalaman yang tinggi, daerah pengukuran yang besar,
daya pencahayaan yang cukup, dan stabilitas mekanik.
Proyeksi Sistem moiré dapat dibagi menjadi tiga subsistem:
sistem proyeksi, sistem pencahayaan, dan sistem
pengawasan. Pertama merancang sistem proyeksi, setelah
itu sistem pengamatan dan yang terakhir adalah sistem
pencahayaannya. Untuk menentukan sudut antara sistem
observasi dan proyeksi, resolusi kedalaman, resolusi
pinggiran dan periode kisi pada pelat baja harus dipastikan
terlebih dahulu.
Sistem proyeksi
Sistem proyeksi terdiri dari kisi dan optik proyeksi.
Struktur periodik dari kisi-kisi dicitrakan dan diperbesar ke
permukaan untuk diukur. Tiga enlargers untuk proyeksi
optik diuji dalam desain kerja: lensa 50 mm, lensa 90 mm
dan lensa 210 mm. Lensa focal length yang pendek akan
mengizinkan jarak kebuntuan lebih pendek namun
membutuhkan kinerja baik off-axis. Jadi pendek lensa
fokus yang panjangnya 50 mm menggunakan sudut bidang
yang kurang tetapi membutuhkan perbesaran yang lebih
besar untuk menutupi lebar bidang sekitar 4 meter.
Perbesaran yang lebih besar mengimplementasikan
kebutuhan untuk menggunakan kisi-kisi yang lebih halus
dan karenanya resolusi dari lensa menjadi lebih besar.
Kualitas dari kisi diproyeksikan dan dievaluasi selama
sistem itu bekerja dengan cara target putih dilihat langsung
dengan kamera video yang diperbesar untuk dilihat pada
monitor video. Berbeda dari kisi-kisi telah diteliti dengan
menggunakan penganalisis video, yang memberikan profil
tegangan untuk jalur video. Baik 50 mm dan lensa 90 mm
memberikan hasil dalam percobaan yang menunjukkan
penurunan signifikan dalam kinerja di area yang
diperlukan. lensa 90 mm adalah lebih baik dari lensa
50mm, nilai kontras sekitar 60 % di tengah bidang untuk
sekitar 15% satu meter dari pusat, sedangkan gambar dari
lensa 50 mm hilang karena kebisingan meter dari pusat.
Kinerja terbaik dicapai dengan lensa Rogonar- s
Rodenstock 210 mm, yang hanya menunjukkan sedikit
degradasi kontras kisi pada tepi area pengukuran. Kontras
bervariasi dari 60% menjadi 80% pada tepi area
pengukuran. Kebuntuan sistem tersebut menjadi sama
besar seperti 4,5 meter atau lebih karena untuk penggunaan
lensa 210 mm dan kebutuhan untuk daerah pengukuran
besarnya sekitar 4 m. Penggunaan lensa 50 mm atau lensa
90 mm akan menghasilkan degradasi kinerja dengan
penyimpangan yang signifikan dan tidak sesuai. Proyeksi
satu baris kisi pada perbesaran 21x disimulasikan dengan
menggunakan desain KidgerOptics dan simulasi perangkat
lunak. Dengan perbesaran ini periode kisi dari 0,95 LP /
mm dapat dicapai pada objek dari 20 LP / mm dan bidang
yang luas sekitar 4 m dapat ditutupi dengan ukuran kisi
kurang dari 200 mm. Karena tidak ada spesifikasi teknis
yang rinci simulasi dibuat menggunakan lensa tunggal
setara dengan panjang fokus 200 mm dan diameter 50 mm.
Hasil simulasi, disajikan pada Gambar. 15, menunjukkan
penyebaran dari garis karena penyimpangan lensa.
4

Gambar 10. Sebuah proyeksi simulasi satu baris kisi di
permukaan.
Sistem pengamatan
Gambar sistem pengawasan permukaan objek bersama-
sama dengan diproyeksikan kisi ke kedua, deteksi kisi.
Sistem pengamatan bisa menjadi kembar dari sistem
proyeksi, tetapi ini akan memerlukan kondensor besar
sekitar 200 mm, dan kondensor dengan pencitraan yang
baik tidak mudah ditemukan dan akan lebih mahal
daripada lensa yang lebih kecil. Sebaliknya pembesar
dengan panjang fokus 105 mm dan 40 LP / mm kisi
memiliki perbesaran 42x. Ukuran kisi sekitar 100 mm
diperlukan untuk kebutuhan kondensor. Lebar daerah
pengukuran dihitung dari geometris optik menjadi 4163
mm dengan jarak kebuntuan dari 4600 mm.
Sistem pencahayaan
Cahaya dari area pengukuran besar harus efisien dan
cukup seragam. Sistem pencahayaan didasarkan pada
tradisional sistem memproyeksikan, dengan cermin cekung
memantulkan kembali ke sumber cahaya dan kondensor di
kedua modul pencahayaan dan modul kamera, seperti
terlihat pada Gambar. 17. Salah satu komponen penting
adalah kecil, sumber cahaya daya tinggi. Waktu hidup satu
bulan atau lebih ditentukan. Sumber cahaya harus tersedia
sebagai produk saham, karena kemudian dapat diganti
dengan mudah dan murah selama pemeliharaan. Juga,
membutuhkan power supply khusus harus dihindari.
Distribusi spektral sumber harus sesuai dengan
responsitivity spektral kamera, dan cahaya harus diarahkan
dan difokuskan melalui sistem optik. Sebuah Throughput
cahaya maksimum akan menghasilkan dari sumber yang
dicitrakan ke aperture dari lensa proyeksi, dan untuk ini
sumber titik diperlukan. Throughput daya dari sumber titik
ke detektor kamera adalah dihitung berdasarkan asumsi
bahwa 9% dari radiasi dari sumb akan dikumpulkan oleh
kondensor, cermin cekung akan meningkatkan daya radiasi
sebesar 3%, transmitansi dari kisi-kisi akan menjadi 40%
dan pelat baja tidak akan menyerap cahaya dan akan
mewakili sepenuhnya permukaan difus. Nilai-nilai
transmitansi dari lensa didasarkan pada mereka spesifikasi
teknis atau perkiraan. Nilai-nilai yang digunakan dalam
throughput perhitungan disajikan pada Tabel 4. Tabel 4.
Radiasi dan transmisi efisiensi yang digunakan untuk
menghitung Throughput listrik.
Kekuatan distibusi dari pengukuran area, disimulasikan
dengan Kidger Optics software.
Gambar 11. Kekuatan Distribusi dari Pengukuran Area
Sebuah konstruksi optomechanical yang stabil
diperlukan untuk mencapai kinerja tinggi dan stabilitas
jangka panjang dalam kondisi pabrik piring. Hal ini
diperlukan untuk menyesuaikan komponen optik selama
komposisi sistem.
4) Metode Visualisasi
Pada system ini untuk metode visualisasi dari
perhitungan menggunakan “image analysis software”.
Bagian ini menyajikan algoritma yang digunakan untuk
menafsirkan citra moiré. Objek utama dari analisa ini
adalah fringe dengan resolusi 1/20 dari real time dan
ketahanannya. Algoritma harus mampu menafsirkan
gambar fringe meskipun terdapat variasi sifat permukaan
dalam produk plat.
Gambar fringe sistem mencakup fringe bias yang
dicapai dengan memiringkan Unit optomechanical dan
memungkinkan ketidaksesuaian rotasi antara kisi-kisinya.
Tujuannya adalah untuk membantu kedua interpretasi
visual fringe dan pemeriksaan produk plat melalui gambar
monitor. Jika diperlukan, operator dapat melihat gambar
monitor dan mengamati garis lurus dalam kasus plat datar.
Penggunaan fringe Bias juga menyederhanakan pengolahan
gambar, karena fringe terutama vertikal dan terbuka
dicitrakan frekuensi, sedangkan pinggiran circular tertutup
dapat diartikan sebagai pertanda suatu plat non-datar tanpa
nilai kerataan akurat. Fringe vertikal adalah mereka yang
bertepatan dengan arah garis dan arah vertical gambar
kamera.
5
 Dengan memiringkan sistem untuk fringe bias juga
mungkin untuk menghindari atau mengurangi silau dari
permukaan logam. Rentang dinamis dari kamera diatur ke
52 mencakup semua jenis utama dari produk piring yang
melewati daerah pengukuran. jumlah gambar yang diambil
dari setiap lempeng saat lewat, proses pencitraan yang
disinkronkan dengan pergerakan lempeng untuk mencegah
tumpang tindih gambar. Gambar-gambar sekuensial
kemudian dikombinasikan untuk membentuk satu set data
kerataan untuk seluruh piring.

Gambar 13. Metode Kalibrasi Moire

Gambar 12. Proses Visualisasi dari Topografi Moire
5) Kalibrasi
Metode Kalibrasi sistem ini dilakukan dengan cara
mentransformasikan informasi data berupa phase menjadi
flatness. Informasi phase dinyatakan dalam satuan radian
dan informasi flatness dalam milimeter. Metode kalibrasi
sistem ini berdasarkan pada teori atau koreksi pada
referensi obyek, semisal data yang dihasilkan berbentuk
flat atau irisan. Pada metode koreksi teoritis tidak termasuk
pengaruh penyimpangan dan kesalahan yang tidak sejajar
(Kujawinska & Patorski 1993). Salah satu metode yang
praktis adalah menggunakan referensi obyek, dalam hal ini
kalibrasi dlakukan dengan cara memperhitungkan baik
aberasi optis dan ketidaksejajaran mekanis.
Obyek referensi diukur dan diketahui bernilai 0,1 mm,
toleransi menggunakan alat bengkel standar, dan terdiri
dari dua tingkatan dengan ketinggian berbeda yang dikenal
dengan pergeseran fasa citra moiré. Sebuah gambar teknis
objek diberikan pada Gambar. 19. Dimana nilai kalibrasi
digunakan atas wilayah pengukuran keseluruhan, mewakili
rata-rata dari empat gambar dari objek kalibrasi terletak di
berbagai bagian daerah pengukuran. Kesalahan karena
penggunaan hanya satu nilai kalibrasi kurang dari 0,1 mm
(lihat Bagian 5.1). Jika diperlukan, daerah pengukuran bias
54 dibagi menjadi subareas, masing-masing memiliki nilai
kalibrasi sendiri. Kalibrasi didukung oleh perangkat lunak
kalibrasi, dan sekarang dilakukan secara teratur empat kali
dalam setahun. Obyek kalibrasi memiliki permukaan difus
tanpa gangguan.
IV. KESIMPULAN
Adapun kesimpulan yang diperoleh antara lain :
1. Moire Topografi digunakan untuk mengukur dan
menampilkan bentuk 3D dari suatu objek.
2. Metode analisa yang digunakan dalam analisa frinji
sama dengan metode yang digunakan pada
interferogram, walaupun kedua metode ini
menggunakan prinsip optik yang berbeda.
3. Pada system ini untuk metode visualisasi dari
perhitungan menggunakan “image analysis software”.
Bagian ini menyajikan algoritma yang digunakan
untuk menafsirkan citra moiré.
4. Metode Kalibrasi sistem ini dilakukan dengan cara
mentransformasikan informasi data berupa phase
menjadi flatness. Informasi phase dinyatakan dalam
satuan radian dan informasi flatness dalam milimeter.
REFERENCES
[1] ABB 1997. ABB Stressometer Measuring Roll. Product
information.
[2] Air Gage Company 1992. CADEYES 3D inspection
system. Product guide.
[3] Arai, Y. & Kurata, T. 1988. Binarization of scanning
moiré fringe pattern.
[4] Optics and Lasers in Engineering, Vol. 8, Nos 3 & 4,
pp. 263 - 275. ISSN 0143-8166 ASTM designation: A
568/A 568M - 96. 1996. Standard specification for
steel, sheet, carbon, and high-strength, low-alloy, hot-
rolled and cold-rolled, general requirements. ASTM
American Society for Testing and Materials, 1996. 22
p.
[5] Asundi, A. 1993. Computer aided moiré methods.
Optics and Lasers in Engineering, Vol. 18, No. 3, pp.
213 - 238. ISSN 0143-8166
[6] Asundi, A., Sajan, M. R., Olson, G. & Walker, J. N.
1994. Digital moiré applications in automated
inspection. Machine Vision Applications,
Architectures, and Systems Integration III, Boston,
USA, 31 October – 2 November 1994. SPIE, Vol. 2347,
pp. 270 - 275. ISBN 0-8194-1682-7
[7] Asundi, A. & Sajan, M. R. 1995. Peripheral inspection
of objects. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 22,

6
 No. 3, pp. 227 - 240. ISSN 0143-8166 Bahners, T., November 1993. SPIE, Vol. 2101, pp. 1 - 12. ISBN 0-
Ringens, W. & Schollmeyer, E. 1994. On-line 8194-1384-4
inspection of textile geometries. Laser Dimensional
Metrology: Recent Advances for Industrial Application,
Brighton, UK, 5 - 7 October 1993. SPIE, Vol. 2088, pp.
97 - 103. ISBN 0-8194-1359-3
[8] Besl, P. J. 1988. Active optical range imaging sensors.
Machine Vision and Applications, Vol. 1, No. 2, pp.
127 - 152. ISSN 0932-8092
[9] Bieman, L. H. & Michniewicz, M. A. 1994. Large
angle incoherent structured light projector. Imaging and
Illumination for Metrology and Inspection, Boston,
USA, 31 October - 4 November 1994. SPIE, Vol. 2348,
pp. 165 - 169. ISBN 0-8194-1683-5
[10] Blatt, J. H., Hooker, J. A., Belfatto, R. V. & Young, E.
1990. 3-D inspection of large objects by moiré
profilometry. Southcon/90 Conference Record,
Orlando, USA, 20 - 22 March 1990. Piscataway (NJ):
IEEE. Pp. 96 - 100.
[11] Blatt, J. H., Cahall, S. C. & Hooker, J. A. 1992 a.
Variable resolution video moiré error map system for
inspection of continuously manufactured objects.
Industrial Applications of Optical Inspection,
Metrology, and Sensing, Boston, USA, 19 - 20
November 1992. SPIE, Vol. 1821, pp. 296 -303. ISBN
0-8194-1022-5 82
[12] Blatt, J. H., Hooker, J. & Caimi, F. M. 1992 b.
Adaptation of video moiré techniques to undersea
mapping and surface shape deformation. Optics and
Lasers in Engineering, Vol. 16, Nos 4 & 5, pp. 265 -
278. ISSN 0143-8166
[13] Boehnlein, A. J. & Harding, K. G. 1989. Field shift
moiré, A new technique for absolute range
measurement. Fringe Pattern Analysis, San Diego,
USA, 8 - 9 August 1989. SPIE, Vol. 1163, pp. 2 - 13.
ISBN 0-8194-0199-4
[14] Boehnlein, A. J. & Harding, K. G. 1986. Adaptation of
a parallel architecture computer to phase shifted moiré
interferometry. Optics, Illumination, and Image Sensing
for Machine Vision, Cambridge, USA, 30 -31 October
1986. SPIE, Vol. 728, pp. 183 - 194. ISBN 0-89252-
763-3
[15] Broner Group Ltd. 1991. Optiflat XAM. Technical
Summary. Cardenas-Garcia, J. F., Zheng, S. & Shen, F.
Z. 1994. Implementation and use of an automated
projection moiré experimental set-up. Optics and Lasers
in Engineering, Vol. 21, Nos 1& 2, pp. 77 - 98. ISSN
0143-8166
[16] Chiang, F. 1979. Moiré methods of strain analysis.
Experimental Mechanics, Vol. 19, No. 8, pp. 290 - 308.
ISSN 0014-4851
[17] Cielo, P. 1988. Optical Techniques for Industrial
Inspection. San Diego, USA: Academic Press Inc. 606
p. ISBN 0-12-174655-0
[18] Clarke, T. A., Robson, S. & Chen, J. 1993. A
comparison of three methods for the 3-D measurement
of turbine blades. Measurement Technology and
Intelligent Instruments, Wuhan, China, 29 October - 5