NAMA : ASHARI BAYU PRASADA

N I M : S911408003

PRODI : S-2 ILMU FISIKA

TUGAS I
FISIKA MATERIAL

1. Jelaskan Pengertian XRD..?

A. Pengertian

Difraksi sinar-X (X-ray Difractometer) atau yang sering dikenal dengan XRD
adalah instrumen yang digunakan untuk mengidentifikasi material kristalit maupun non-
kristalit, sebagai contoh identifikasi struktur kristalit (kualitatif) dan fasa (kuantitatif)
dalam suatu bahan dengan memanfaatkan radiasi gelombang elektomagnetik sinar-X.
Dengan kata lain, teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran
partikel. Sinar-X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar
200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal
dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki panjang gelombang 10-10 s/d
5-10 nm, berfrekuensi 1017-1020 Hz dan memiliki energi 103-106 eV. Panjang gelombang
sinar-X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan
sebagai sumber difraksi kristal.

Sinar-X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895,
di Universitas Wurtzburg, Jerman. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu, maka
disebut sinar-X. Untuk penemuan ini Rontgen mendapat hadiah nobel pada tahun 1901,
yang merupakan hadiah nobel pertama di bidang fisika. Sejak ditemukannya, sinar-X
telah umum digunakan untuk tujuan pemeriksaan namun tidak merusak pada material
maupun manusia. Disamping itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola
difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.

B. Prinsip kerja

Di dalam XRD terdapat beberapa komponen yaitu : 1. Slit dan Film, 2.

Monokromator, 3. Tabung X-ray, 4. Detektor, dll. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi
cahaya yang melalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat
terjadi apabila difraksi tersebut berasal dari radius yang memiliki panjang gelombang
 yang setara dengan jarak antar atom, yaitu sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan
berupa radiasi sinar-X, elektron, dan neutron. Sinar-X merupakan foton dengan energi
tinggi yang memiliki panjang gelombang berkisar antara 0.5 sampai 2.5 Angstrom.
Ketika berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material, maka sebagian berkas akan
diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi dihamburkan terdifraksi. Hamburan
terdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD. Berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut
ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling
menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar-X yang saling menguatkan itulah yang
disebut sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan yang
harus dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas
difraksi. Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD dapat dilihat pada Gambar 1 dan Gambar 2.

Gambar 1 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD Gambar 2 : Ilustrasi difraksi sinar-X
pada XRD

Dari Gambar 2 dapat dideskripsikan sebagai berikut. Sinar datang yang menumbuk
pada titik pada bidang pertama dan dihamburkan oleh atom P. Sinar datang yang kedua
menumbuk bidang berikutnya dan dihamburkan oleh atom Q, sinar ini menempuh jarak
SQ + QT bila dua sinar tersebut paralel dan satu fasa (saling menguatkan). Jarak tempuh
ini merupakan kelipatan (n = 1,2,.) panjang gelombang (λ), sehingga persamaan menjadi :

Persamaan diatas dikenal juga sebagai Bragg’s law, dimana, berdasarkan persamaan di
atas, maka kita dapat mengetahui panjang gelombang sinar-X (λ) dan sudut datang pada
 bidang kisi (θ), maka dengan ini kita akan dapat mengestimasi jarak antara dua bidang
planar kristal (d001).

2. Bagaimana cara mengetahui struktur kristal dari informasi XRD..?

Difraksi sinar-X merupakan suatu teknik yang digunakan untuk menentukan

sistem kristal (kubus, tetragonal, ortorombik, rombohedral, heksagonal, monoklin,
triklin), kualitas kristal (kristal tunggal, polikristalin, dan amorf), simetri kristal,
menentukan cacat kristal, mencari parameter kristal (parameter kisi, jarak antar atom,
jumlah atom per unit sel), identifikasi campuran dan analisis kimia. Difraksi tergantung
pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombangnya mendekati
atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi.
Teknik difraksi memanfaatkan radiasi yang terpantul dari berbagai sumber seperti
atom dan kelompok atom dalam kristal. Ada beberapa macam difraksi yang dipakai
dalam studi material yaitu: difraksi sinar-X, difraksi neutron dan difraksi elektron.
Namun yang sekarang umum dipakai adalah difraksi sinar X dan elektron. Metode yang
sering digunakan untuk menganalisa struktur kristal adalah metode Scherrer. Ukuran
kristallin ditentukan berdasarkan pelebaran puncak difraksi sinar-X yang muncul. Metode
ini sebenarnya memprediksi ukuran kristallin dalam material, bukan ukuran partikel. Jika
satu partikel mengandung sejumlah kritallites yang kecil-kecil maka informasi yang
diberikan metode Schrerrer adalah ukuran kristallin tersebut, bukan ukuran partikel.
Untuk partikel berukuran nanometer, biasanya satu partikel hanya mengandung satu
kristallites. Dengan demikian, ukuran kristallinitas yang diprediksi dengan metode
Schreer juga merupakan ukuran partikel. Berdasarkan metode ini, makin kecil ukuran
kristallites maka makin lebar puncak difraksi yang dihasilkan, seperti diilustrasikan pada
Gambar 3. Kristal yang berukuran besar dengan satu orientasi menghasilkan puncak
difraksi yang mendekati sebuah garis vertikal. Kristallites yang sangat kecil
menghasilkan puncak difraksi yang sangat lebar. Lebar puncak difraksi tersebut
memberikan informasi tentang ukuran kristallites. Hubungan antara ukuran ksirtallites
dengan lebar puncal difraksi sinar-X dapat diproksimasi dengan persamaan Schrerrer.
 Gambar 3 : Puncak XRD

Gambar. 3 mengindikasikan bahwa makin lebar puncak difraksi sinar-X maka

semakin kecil ukuran kristallites. Ukuran kristallites yang menghasilkan pola difraksi
pada gambar bawah lebih kecil daripada ukuran kristallites yang menghasilkan pola
difraksi atas. Puncak difraksi dihasilkan oleh interferensi secara kontrukstif cahaya yang
dipantulkan oleh bidang-bidang kristal. Hubungan antara ukuran ksirtallites dengan lebar
puncal difraksi sinar-X dapat diproksimasi dengan persamaan Schrerrer.

Persamaan Schrerrer.

Kλ
D=
B cos θ

Dimana :

 Crystallite size (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D)

  FWHM (Line broadening at half the maximum intensity), Nilai yang dipakai adalah

nilai FWHM setelah dikurangi oleh “the instrumental line broadening” (satuan:
radian) dinotasikan dengan symbol (B)
  Bragg’s Angle dinotasikan dengan symbol (θ)

 X-Ray wave length dinotasikan dengan symbol (λ)

 K  Adalah nilai konstanta “Shape Factor” (0.8-1) dinotasikan dengan symbol (K)

Perlu diingat disini adalah, untuk memperoleh hasil estimasi ukuran kristal dengan lebih
akurat, maka nilai FWHM harus dikoreksi oleh "Instrumental Line Broadening"
berdasarkan persamaan berikut:

Dimana :
 FWHMsample adalah lebar puncak difraksi puncak pada setengah maksimum dari sampel
benda uji dan FWHMstandard adalah lebar puncak difraksi material standard yang sangat
besar puncaknya berada di sekitar lokasi puncak sampel yang akan kita hitung.
Bila sampel dianalisis dengan menggunakan XRD, maka setelah data hasil uji sampel
diperoleh, data hasil analisa yang dperoleh tersimpan dalam format RAW data, yang
kemudian data tersebut dianalisa menggunakan software EVA.

Contoh 1. Hasil Pengujian dengan XRD untuk serbuk WO3 dengan fasa Tungsten trioxide

Analisa dengan Software Match

 Pembahasan
1. XRD yang digunakan diffractometer system XPERT-PRO dengan posisi awal (° 2Th)
sebesar 9.9994°, dengan step size (° 2Th) sebesar 0.0170° dan berakhir pada (° 2Th)
sebesar 89.9844°
2. Analisa hasil uji XRD menggunakan software Match! Untuk mengetahui fasa yang
terkandung, sistem kristal serta ukuran Kristal dalam sampel uji. Dari hasil uji XRD
didapatkan 21 peak. Untuk menganalisa cukup memasukkan 3 data dari letak dan
intensitas puncak tertinggi, sehingga dengan fitting dalam software Match! Didapatkan
hasil bahwa sampel uji berupa WO3 dengan fasa Tungsten trioxide dengan sistem
kristal Triclinic (anorthic). Ukuran sel parameter dari kristal sebesar a= 7.2800 Å
b= 7.4800 Å, c= 3.8200 Å. Densitas dari Kristal sebesar 7.40300 g/cm3.
3. Tungsten (VI) oksida, juga dikenal sebagai tungsten trioksida atau anhidrida tungstic,
WO3 adalah senyawa kimia yang mengandung oksigen dan logam transisi tungsten.
Senyawa ini diperoleh sebagai hasil sampingan dalam pemurnian Tungsten dari
mineralnya. (1) bijih Tungsten direaksikan dengan alkali untuk menghasilkan WO3.
Reaksi selanjutnya dengan karbon atau gas hydrogen untuk mereduksi tungsten
trioksida menjadi logam murni.
2 WO3 + 3C + heat 2W + 3 CO2
WO3 + 3 H2 + heat W + 3 H2O
4. Tungsten (VI) oksida terjadi secara alami dalam bentuk hidrat yang meliputi mineral:
tungstite WO3. H2O, meymacite WO3 . 2H2O dan hydrotungstite (komposisi yang
sama dengan meymacite, namun kadang-kadang ditulis sebagai H2WO4).

Gambar 4.4. Sistem Kristal Triclinic (anorthic)

Perhitungan untuk ukuran Kristal dapat dilihat dari puncak tertinggi, yaitu menggunakan
ketika (° 2Th) sebesar 23,78° dan menggunakan persamaan Schrerrer, dengan mengolah
data FWHM dan sudut 2θ. Besar ukuran Kristal pada peak tertinggi adalah 2,83 Å
Contoh 2. Hasil Pengujian dengan XRD Lapisan Tipis PZT

Metodologi Penelitian
Karakterisasi struktur kristal lapisan tipis PZT diobservasi dengan XRD pada sudut 2θ =
15o – 800, dengan sumber sinar X dari logam tembaga (Cu) dengan panjang gelombang
(λ) Kα1 sebesar 0,15406 nm. Hasil XRD diperoleh difraktogram yang hasilnya
dibandingkan dengan difraktogram PZT standar dari JCPDS no. 33-784 untuk PZT.
Perhitungan ukuran kristal dihitung dengan menggunakan persamaan (1.3) dengan nilai
panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang dihasilkan dari uji XRD.
 Pembahasan
1. Gambar 1 menunjukkan difraktogram lapisan tipis PZT. Puncak-puncak yang muncul
semua teridentifikasi dan terdapat kesesuaian dengan data standar dari JCPDS No. 33-
784 yang mengindikasikan bahwa struktur perovskit dari PZT dengan orientasi bidang
kristal (001), (110), (111), (200), (201) & (210), (211), (002), dan (310) yang spesifik
untuk struktur kristal perovskit PZT. Munculnya sebaran orientasi bidang kristal
menunjukkan bahwa serbuk PZT yang dihasilkan memiliki struktur polikristalin.
2. Ukuran kristal dapat dihitung dengan menggunakan persamaan Schrerrer dengan nilai
panjang gelombang, intensitas, 2θ, dan FWHM yang telah dihasilkan dari uji XRD.
Persamaan modifikasi Debye Schrerrer pada tabel 1 dibuat grafik hubungan ln (1/cos θ)
sebagai sumbu x dan ln β sebagai sumbu y sehingga diperoleh nilai intersep yang
nilainya sama dengan ln (Kλ/D) seperti ditunjukkan pada Gambar 2, dan nilai ukuran
kristal (D) didapatkan hubungan D = (Kλ /e(nilai intersep)). Dari grafik diperoleh nilai
intersep sebesar -5,088 dan nilai K = 0,89 serta λ= 0,15406 nm.

Gambar 2. Grafik hubungan ln (1/cos θ) versus ln β

3. Dari hubungan nilai intersep, nilai K dan λ maka dapat dihitung ukuran Kristal.
k xλ
Ukuran Kristal (D) = intersep
e
0,89 x 0,15406
=
e−5,088
0,137105
=
0,006170348
= 22,22 nm
4. Hasil perhitungan ukuran kristal lapisan tipis PZT menghasilkan ukuran kristal sebesar
22,22 nm. Persamaan Debye Schrerrer menunjukkan bahwa nilai ukuran kristal yang
dihasilkan akan berbanding terbalik dengan nilai FWHM, sedangkan nilai FWHM
dipengaruhi oleh intensitas masing-masing bidang kristal, dimana semakin tinggi
intensitas maka nilai FWHM semakin kecil
Referensi :

1. Cullity, B.D. dan Stock, S.R, 2001. Element of X-Ray Diffraction. Third Edition, New
Jersey : Prentice Hall.
2. Monshi, Ahmad., Mohammad, R. F., Mohammad, R. M., 2012. Modified Scherrer
Eqquation to Estimate More Accurately Nano-Crystallite Size Using XRD. World Journal
of Nano Science and Engineering, Vol. 2, pp. 154-160.
3. Callister,Jr, W.D., Rethwisch, D.G,. “Materials Science and Engineering An
Introduction 8Th”, John Wiley & Sons, Inc. 2009.
4. J.I. Langford and A.J.C. Wilson, “Scherrer after Sixty Years: A Survey and Some New
Results in the Determination of Crystallite Size,” J. Appl. Cryst. 11 (1978) pp 102-113.
5. Sartono, A.A., 2006. Difraksi sinarX (XRD). Tugas Akhir Mata kuliah proyek
Laboratorium. Departemen Fisika Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam
Universitas Indonesia. http://www.doitpoms.ac.uk /tlplib/xraydiffraction/ single
crvstal.php. Download 12 Maret 2008.