Transmission

Electron
Microscopy

TEM

1. MELINDA CAHYAWATI
(13630010)
2. ROIKHATUL IYANI
(13630011)
3. NOR AYNI
(13630000)
4. ANDRI BUDIANTO
(13630000)
5. YUNITA DWI RAHMAWATI
(13630000)

KEGUNAAN
FUNCTION
BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA
PART, PRINCIPLES, HOW IT
WORKS
PREPARASI SAMPEL
SAMPLE PREPARATION

ANALISIS DATA
DATA ANALYSIS
KELEBIHAN & KEKURANGAN
ADVANTAGE & DISADVANTAGE

KEGUNAAN
FUNCTION

TEM memiliki fungsi untuk analisis morfologi, struktur Kristal, dan

komposisi

spesimen.

TEM

menyediakan

resolusi

lebih

tinggi

dibandingkan SEM, dan dapat memudahkan analisis ukuran atom (dalam

jangkauan nanometer) menggunakan energi berkas electron sekitar 60
sampai 350 keV. TEM cocok untuk menjadi teknik pencitraan material
padat pada resolusi atomik.

BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA

PART, PRINCIPLES, HOW IT
WORKS

1. Sumber elektron virtual

source
2. Lensa kondensor 1 dan 2 c1
& c2 condensor lense
3. Condensor aperture
4. Lensa kondensor 3 c3
condensor lense
5. Sampel yg tipis thin sample
6. Lensa objektif objective
lense
7. Logam pilihan area aperturselected area apertur strip
8. Lensa intermediet
intermediete lense
9. Lensa proyektor projector
lense
10.Detektor detector
11.Layar fluorosens fluorosens

BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA

PART, PRINCIPLES, HOW IT WORKS

BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA

PART, PRINCIPLES, HOW IT WORKS

BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA

PART, PRINCIPLES, HOW IT WORKS

BAGIAN, PRINSIP, CARA KERJA

PART, PRINCIPLES, HOW IT WORKS

PREPARASI SAMPEL
SAMPLE PREPARATION

Fiksasificsation

2
Pembuatan
sayatanmakes a slice

Pelapisan/
pewarnaancoating/colori
ng

ANALISIS DATA
DATA ANALYSIS

(a)TEM fotokatalis NaTaO3 tanpa doping

(b)TEM fotokatalis La/NaTaO3

(c) Pengamatan Serbuk cangkang

kerang menggunakan TEM

KELEBIHAN & KEKURANGAN

ADVANTAGE & DISADVANTAGE

1. Hanya meneliti area yang sangat kecil

dari sampel
2. Perlakuan awal dari sampel cukup
rumit sampai bisa mendapatkan gambar
yang baik.
3. Elektron dapat merusak atau
meninggalkan jejak pada sampel yang
diuji.
1. Resolusi Superior 0.1~0.2 nm, lebih
besar dari SEM (1~3 nm)
2. Mampu mendapatkan informasi
komposisi dan kristalografi dari
bahan uji dengan resolusi tinggi
3. Memungkinkan untuk mendapatkan
berbagai signal dari satu lokasi yang
sama.

Enjoy this video ....