Muhammad Tsabit Ayman

1306368072

Tugas 06
1. Jelaskan beberapa Tools untuk analisa kerusakan!
Berikut ini merupakan beberapa tools untuk analis kerusakan

Scanning Electron Microscope (SEM)

Alat ini digunakan untuk mengetahui komposisi kimia permukaan dengan
ukuran luas mikron, topografi permukaan, dan gambar tiga dimensi dari
daerah yang diamati

Energy Dispersive Spectrometry (EDS)

Alat ini digunakan untuk mengetahui unsur-unsur yang terdapat pada sampel
berupa padatan.

Optical Microscpe (OM)

Alat ini digunakan untuk melihat butir pada sebuah material.

X-ray Difraction (XRD)

Alat ini digunakan untuk mengetahui komposisi senyawa.

X-ray Fluoresence (XRF)

Alat ini digunakan untuk mengetahui unsur dari sampel berupa serbuk.

2. Jelaskan fungsi dan prinsip kerja tools di atas!

Prinsip kerja dari tools diatas antara lain:

Scanning Electron Microscope (SEM)

Menembakkan elektron yang difokuskan oleh lensa magnetik ke arah sampel,
menyebabkan adanya elektron dari sampel yang terkeksitasi keluar. Dimana
elektron yang tereksitasi ditangakap oleh detektor sehingga dapat dilihat hasil
gambarnya.

Energy Dispersive Spectrometry (EDS)

Menangkap energy dalam bentuk x-ray yang dihasilkan dari eksitasi elektron
dari kulit terluar ke kulit yang lebih dalam untuk mengisi kekosongan pada
kulit elektron akibat insiden elektron yang membentuk interaksi secondary
electrons.

Optical Microscpe (OM)

Memanfaatkan cahaya yang berasal dari mikroskop ini, maka gambar dapat
dilihat. Pada umumnya untuk melihat batas butir.

Muhammad Tsabit Ayman

1306368072

X-ray Difraction (XRD)

Menembakan x-ray ke material dan menghasilkan grafik pada layar, dimana
grafik yang diambil adalah tiga peak tertinggi. Kemudaian dari hasil peak
tersebut maka dapat diketahui senyawa yang terkandung dalam material
tersebut.

X-ray Fluoresence (XRF)

Menggunakan insiden gelombang elektromagnetik x-ray dari x-ray tube.
Identifikasi yang dihasilkan dari insiden gelombang x-ray ini adalah sudut
difraksi beserta dengan bidang (dalam millers index) dan intensitasnya.

3. Gambarkan skematis perbedaan prinsip kerja antara OM & SEM!

Gambar Skema OM (Kiri) dan SEM (Kanan)

4. Jelaskan hasil apa saja yang akan diperoleh dari analisa kerusakan material
dengan menggunakan ke-3 tools diatas!
Hasil yang didapat antara lain:

Scanning Electron Microscope (SEM)

Orientasi kristalografi, batas butir, perbedaan fasa, dan komposisi kimia

Muhammad Tsabit Ayman

1306368072

X-ray Difraction (XRD)

Senyawa. Biasanya untuk melihat produk korosi.

Energy Dispersive Spectrometry (EDS) dan X-ray Fluoresence (XRF)

Unsur dari material yang diamati dengan melihat hasil dari peak yang didapat
pada grafik. Beda dari kedua alat ini ada pada bentuk sampelnya, yaitu sampel
XRF berupa serbuk dan sampel EDS berupa padatan atau bongkahan.

5. Jelaskan perbedaan antara secondary electron (SE) dan quick backscattered

electron (QBSE) pada hasil pengamatan permukaan material logam!

Secondary Electron (SE)

Hasil pengamatan SE lebih dikhususkan untuk kontras topografi permukaan material.
Ini disebabkan SE yang dihasilkan dengan energi yang rendah sehingga batas
scanningnya kecil dan hanya deteksi permukaan.

Quick Backscattered Electron (QBSE)

Hasil yang dihasilkan lebih tinggi atau besar kedalamannya disebabkan oleh energi
yang dimiliki oleh QBSE ini lebih tinggi. Namun, resolusi yang dihasilkan untuk
QBSE ini lebih besar sehingga dibandingkan dengan hasil SE akan lebih tidak jelas
gambar yang dihasilkan. Imaging permukaan yang dihasilkan oleh QBSE ini lebih
mengarah pada kontras nomor atom.