MAKALAH KARAKTERISASI

X-RAY DIFRACTOMETER (XRD) DAN

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY (XRF)

Adam Aswin Usman 01111750010002

Faried Latief 01111750010013

DOSEN PENGAMPU MATA KULIAH

Dr. Mashuri, M.Si

PROGRAM MAGISTER
DEPARTEMEN FISIKA
FAKULTAS ILMU ALAM
INSTITUT TEKNOLOGI SEPULUH NOPEMBER
SURABAYA
2018

i
 DAFTAR ISI

COVER................................................................................................................................i
DAFTAR ISI........................................................................................................................ii
BAB I PENDAHULUAN...................................................................................................1
BAB II PEMBAHASAN.....................................................................................................2
1. X-RAY DIFRACTOMETER (XRD).......................................................................2
A. Pembangkit Sinar –X..........................................................................................2
B. Hukum Bragg......................................................................................................4
C. Komponen XRD..................................................................................................6
D. Tujuan Penggunaan XRD...................................................................................8
E. Contoh Data Pengukuran Mengggunakan XRD.................................................9
2. X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY (XRF)..........................................10
A. Prinsip Kerja XRF...............................................................................................10
B. Jenis-Jenis XRF...................................................................................................11
C. Kelebihan dan Kekurangan XRF........................................................................13
DAFTAR PUSTAKA..........................................................................................................14

ii
 BAB 1
PENDAHULUAN

Sinar-X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895.
Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar-X digunakan untuk
tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia.
Disamping itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang
dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Pada waktu suatu material
dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar
datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh
atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut ada yang
saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena
fasanya sama. Berkas sinar -X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas
difraksi. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus
dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Sinar-X
dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip
dari Hukum Bragg ini. XRD merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut
dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering
digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran
partikel. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus, homogenized, dan rata-rata komposisi
massal ditentukan

1
 BAB II
PEMBAHASAN

1. X-RAY DIFRACTOMETER (XRD)

A. Pembangkit Sinar-X

Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar

200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal
dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki panjang gelombang 10-5 – 10
nm, berfrekuensi 1017 - 1020 Hz dan memiliki energi 103 -106 eV. Panjang gelombang
sinar-X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai
sumber difraksi kristal.
Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam
target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar-X harus terdiri dari

beberapa komponen utama,

yaitu :
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron
c. Logam target (anoda)
Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar-X. Skema
tabung sinar-X dapat dilihat pada gambar 1.

Gambar 1. Skema tabung sinar-X

Sinar-X mempunyai panjang gelombang dalam orde angstrom (Å), panjang
gelombang tersebut sama ordenya dengan konstanta kisi kristal sehingga sinar-X sangat
berguna untuk menganalisa struktur kristal.

2
 K
A

Gambar 2. Pembangkit Sinar-X

Skema pembangkit sinar-X seperti ditunjukkan dalam gambar 2. Elektron di emisikan
dari katode dalam tabung vakum dan dipercepat oleh beda potensial tinggi yang ditimbulkan
oleh anode dan katode, sehingga elektron memperoleh energi kinetik. Ketika elektron
menegenai target, maka sinar akan diemisikan dari target tersebut. Target yang terpasang
pada anode berupa logam Mo, Fe, Ni, atau Cu.
Emisi radiasi sinar-X mempunyai spektrum kontinu disebabkan emisi radiasi dari
interaksi elektron dengan elektron luar atom-atom dalam target akibatnya gerak elektron
ketika menumbuk target mengalami perlambatan. Peristiwa tersebut disebut peristiwa
‘bremstrahlung’, sedangkan spektrum diskrit disebabkan emisi setelah atom-atom dalam
target tereksitasi karena elektron yang datang.
Frekuensi maksimum vo dari spectrum kontinu berhubungan dengan potensial
pemercepat eV = hvo, sebab energi maksimum foton tidak dapat melebihi energi kinetik dari
elektron yang datang. Hiubungan antara potensial dengan panjang gelombang minimum λo
adalah

dengan V = tegangan dalam kilo volt.

Ketika sinar-X melewati medium material, maka sebagian sinar-X tersebut diserap
oleh material. Intensitas dari sinar akan berkurang sesuai dengan formula:

dengan Io adalah intensitas awal pada permukaan medium, x jarak lintasan sinar dan α
merupakan koefisien serapan. Berkurangnya intensitas dalam persamaan diatas disebabkan
karena peristiwa hamburan dan serapan sinar oleh atom medium.

3
 B. Hukum Bragg
Ketika sinar-X monokromatik datang pada permukaan Kristal, sinar tersebut akan
dipantulkan. Akan tetapi pemantulan terjadi hanya ketika sudut datang mempunyai harga
tertentu. Besarnya sudut datang tersebut bergantung dari panjang gelombang dan konstanta
kisi Kristal. Sehingga peristiwa tersebut dapat digunakan sebagai salah satu model untuk
menjelaskan pemantulan dan interferensi. Model tersebut ditunjukkan dalam gambar 3.
Kristal digambarkan sebagai bidang parallel sesuai dengan bidang orientasi atomnya. Sinar
datang dipantulkan sebagian pada masing-masing bidangnya, dimana bidang tersebut
berfungsi seolah-olah sebagai cermin, dan pantulan sinar-sinar kemudian terkumpul pada
detektor. Karena kumpulan pantulan sinar-sinar tersebut merupakan sinar-sinar yang koheren
dan ada selisih lintasan dari masing-masing pantulan bidang Kristal maka akan terjadi
peristiwa interferensi ketika diterima oleh detektor. Interferensi konstruktif terjadi jika selisih
antar dua sunar berturutan merupakan kelipatan dari panjang gelombang (λ).

4
 Sinar
E 1 pantul

Sinar
datang
2
θ θ
A C D
d
3

Gambar 3. Pantulan sinar-X pada bidang kristal

Berdasarkan gambar 3, jarak selisih lintasan sinar pantul 1 dan 2 adalah
V = AB + BD – AE

dengan d merupakn jarak anatara 2 bidang pantul yang berdekatan dan θ sudut antar sinar
datang dan sinar pantul. Dari kedua persamaan diatas dapat disubstitusikan sehingga
diperoleh persamaan

Sehingga interfernsi konstruktif terjadi jika

dengan n = 1,2,3, … berturut-turut menunjukkan orde pertama, kedua, ketiga, dst. Persamaan
diatas pada umumnya disebut sebagai Hukum Bragg.
Jika panjang gelombang sinar-X (λ) dapat ditentukan dari macam target tabung
generator sinar-X dan θ dapat diukur dari percobaan (sudut θ merupakan setengah sudut
antara sinar datang dan difraksi). Menurut persamaan bragg, peristiwa difraksi terjadi apabila
λ<2d, sehingga untuk gelombang optik tidak dapat digunakan.

5
 C. Komponen XRD
Komponen XRD ada 2 macam yaitu:
- Slit dan film
- Monokromator

Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk
menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut dipercepat terhadap
suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron.
Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-
elektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas
beberapa komponen-komponen, yang paling umum adalah Kα dan Kβ. Kα berisi, pada
sebagian, dari Kα1 dan Kα2. Kα1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan
dua kali lebih besar intensitasnya dari Kα2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan
karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Tembaga (Cu) adalah bahan sasaran yang
paling umum untuk difraksi kristal tunggal, dengan radiasi Cu, Kα = 05418Å. Sinar-X ini
bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar,
intensitas sinar-X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut
memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam
intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan
mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar
komputer.

6
(a) (b) (c)

(d)
Gambar 4. Seperangkat alat XRD (a) komputer (b) tabung XRD (c) cooler
(d) difractometer XRD

(a) (b)
Gambar 5. (a), (b) Difractometer sinar-X model lama

7
 D. Tujuan Penggunaan XRD
Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik
ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Kegunaan dan aplikasi :

1. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf

2. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
3. Karakterisasi material Kristal
4. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
5. Penentuan dimensi-dimensi sel satuan
6. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
7. Analisis kuantitatif dari mineral
8. Karakteristik sampel film

a. Kristal Tunggal:
Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
b. Bubuk:
Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk
Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya
E. Contoh Data Pengukuran Menggunakan XRD

Gambar 6. Spektrum sinar-X pada Kristal KBr pada tegangan U = 25 kV

Gambar 7. Spektrum sinar-X pada Fe3O4

 2. XRF (X-ray fluorescence spectrometry)
A. Prinsip Kerja XRF
XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif
yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada
padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be)
hingga Uranium pada level trace element, bahkan dibawah level ppm. Secara umum, XRF
spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi
flourosensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X.

Gambar 8. Pembagian Panjang Gelombang

Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu
material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih untuk
aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung pada penggunaannya,
XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga sumber eksitasi primer yang lain
seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron dengan energi yang tinggi.

Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau
sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh
material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada
elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini,
bila sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam
menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil.
Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih
dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X yang tertentu dan berbeda antara dua
energi ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray
Fluorescence (XRF). Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada
umumnya kulit K dan L terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah Kα dan
Kβ serta Lα dan Lβ pada XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi akan
menggambarkan puncak-puncak pada intensitas yang berbeda.
Berikut gambar yang menjelaskan nomenclature yang terdapat pada XRF :

Gambar 9. Prinsip Pengukuran Menggunakan XRF

B. Jenis-jenis XRF
Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray
Fluorescence) dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan
menggunakan analyzer yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang
spesifik memilih panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg (PANalytical, 2009).
Dengan menggunakan WDXRF spektrometer:

 aplikasinya luas dan beragam.

 Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
  Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.

 Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah

Gambar 10. Prinsip kerja WDXRF

Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah.
Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator. Sehingga refleksi
sinar radiasi dari kristal kedetektor akan memberikan sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika,
panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal.
Maka hanya panjang gelombang yang sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut
refleksi spesifik bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang
berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor.

Jenis XRF yang kedua adalah EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray

Fluorescence) spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan
software yang mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009). Radiasi
Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor. Detektor
menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi impuls elektrik. Amplitudo
dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang diterima
detektor. Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel
Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam memori
komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai spesifik terhadap
sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun
keakuratan berkurang.

Gambar 11. Prinsip Kerja EDXRF

C. Kelebihan dan Kekurangan XRF

Setiap teknik analisa memiliki kelebihan serta kekurangan, beberapa kelebihan
dari XRF :

 Cukup mudah, murah dan analisanya cepat

 Jangkauan elemen Hasil analisa akurat
 Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya(untuk Traceelemen)
 Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K,
P) maupun tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr,
Rh, U, V, Y, Zr, Zn)
Beberapa kekurangan dari XRF :

 Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He

 Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar
 Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan
memebutuhkan perlakuan yang banyak
 DAFTAR PUSTAKA

F., Astuti, D.W., Fatimah, Luthfiana, N.H., Maharani, R., Maestuti, N., dan
Widhyastuti, Y . 2009. X-Ray Difractometer (XRD). Jurusan Teknik Kimia UNS:
Surakarta.
Gosseau,D., 2009,Introduction to XRF Spectroscopy, (Online), http://users.skynet.be/,
diakses tanggal 14 Maret 2018.

Handono, A., Harjana. 2004. Fisika Zat Padat I. Jurusan Fisika UNS: Surakarta.

I.chorkendroff, J.W. Niemantsverdiet. Concepts of Modern Catalysis and Kinetics.

Wliey-VCH GmbH&Co. New York. 2003. Hal 143 -147.

Masriyanti. 2012. Prinsip-prinsip Spektroskopi.

PANalytical B.V., 2009, X-ray Fluorescence Spectrometry,

(Online), http://www.panalytical.com/index.cfm?pid=130,
diakses tanggal 14 Maret 2018

Viklund, A.,2008, Teknik Pemeriksaan Material Menggunakan XRF, XRD dan SEM-
EDS, (Online), http://labinfo.wordpress.com/, diakses tanggal 14 Maret 2018.

http://ardiannisworld.blogspot.com/2008/01/difraksi-neutron_31.htm
http://www.chem-is-try.org/
http://labinfo.files.wordpress.com
http://serc.carleton.edu/