X-Ray Fluorescence

Analysis
(Analisa XRF)
Analisis X-ray
Fluoresensi
Pendahuluan
Prinsip Kerja
Skema Cara Kerja Alat
Preparasi Sampel
Instrumen XRF
Contoh spektra
Radiasi Elektromagnetik
1014Hz - 1015Hz
1Hz - 1kHz - 1015Hz - 1021Hz
1kHz 1014Hz
Extra-Low Radio Microwave
Infrared X-Rays,
Frequency
(ELF) Visible Light Gamma Rays

Low energy High energy

Pendahuluan
Fitur XRF
Prinsip Kerja
Peristiwa pada tabung
sinar-X.
Prinsip Kerja XRF
Pada teknik XRF,
dienggunakan sinar-X dari tabung pembangkit
sinar-X untuk mengeluarkan electron dari kulit
bagian dalamuntuk menghasilkan sinar-X
baru dari sample yang di analisis.
Prinsip Kerja XRF
Untuk setiap atom di dalam sample,
intensitas dari sinar-X karakteristik
tersebut sebanding dengan jumlah
(konsentrasi) atom di dalam sample.
Intensitas sinarX karakteristik dari
setiap unsur, dibandingkan dengan
suatu standar yang diketahui
konsentrasinya, sehingga konsentrasi
unsur dalam sample bisa ditentukan.
S kema C ara Kerja Alat
Instrumen XRF
Instrumen XRF terdiri
dari :
Sumber cahaya
O ptik
Detektor
S yarat S ampel
Serbuk
Ukuran serbuk < 4 00 mesh
Padatan
Permukaan yang dilapisi akan meminimalisir efek
penghamburan
Sampel harus datar untuk menghasilkan analisis
kuantitatif yang optimal
Cairan
Sampel harus segar ketika dianalisis dan analisis
dilakukan secara cepat jika sampel mudah menguap
Sampel tidak boleh mengandung endapan
 S umber C ahaya
Tabung Sinar X
End W indow
Side W indow
Radioisotop
T abung sinar x
End W indow
S ide W indow
Be W indow
Glass En v elope Target (Ti, Ag, H V Lead
Rh, etc.)

Electron beam
Copper Anode
Filament

Silicone Insulation
Radioisotop
Isotope Fe-5 5 Cm- Cd-109 Am- Co-57
244 241

Energy (keV) 5.9 14.3, 22, 88 59.5 122

18.3

Elements (K- Al V Ti-Br Fe-Mo Ru-Er Ba - U

lines)

Elements (L- Br-I I- Pb Yb-Pu None none

lines)
Optik

Source Detector
Filter

Source Filter

Detector

X-Ray
Source
C ontoh S pektra
C ontoh S pektra
D etektor
Si(L i)
P N Diode
Silicon Drift Detectors
Proportional Counters
Scintillation Detectors
S i ( L i) D etektor
FET
W Indow

Super-Cooled Cryostat

Dewar
filled with
Si(Li) LN 2
Pre-Amplifier
crystal

Cooling: LN2 or Peltier

Window: Beryllium or Polymer
Counts Rates: 3,000 50,000 cps
Resolution: 120-170 eV at Mn K-alpha
PIN D iode

Cooling: Thermoelectrically cooled

(Peltier)
Window: Beryllium
Count Rates: 3,000 20,000 cps
Resolution: 170-240 eV at Mn k-alpha
Silicon Drift Detector

Packaging: Similar to PIN Detector

Cooling: Peltier
Count Rates; 10,000 300,000 cps
Resolution: 140-180 eV at Mn K-alpha
Proportional Counter
Window

Anode Filament

Fill Gases: Neon, Argon, Xenon, Krypton

Pressure: 0.5- 2 ATM
Windows: Be or Polymer
Sealed or Gas Flow Versions
Count Rates EDX: 10,000-40,000 cps WDX: 1,000,000+
Resolution: 500-1000+ eV
Scintillation Detector
PMT (Photo-multiplier tube)
Sodium Iodide Disk Electronics

Window: Be or Al Connector
Count Rates: 10,000 to
1,000,000+ cps
Resolution: >1000 eV