A. Latar belakang
Difraksi sinar-X merupakan salah satu metode yang digunakan untuk mengetahui struktur atom
kristal, dan metode yang paling umum digunakan yaitu difraksi sinar-X dengan sampel bubuk.
Mengidentifikasi bahan yang tidak diketahui menggunakan difraksi sinar-X tidak sepenuhnya diperlukan,
karena biasanya sudah memiliki informasi awal mengenai elemen konstituen dan volume dari sampel.
Identifikasi masalah:
Meskipun banyak buku yang membahas mengenai kristalografi, tetapi banyak mahasiswa, peneliti muda,
dan insinyur yang ingin memahami lebih dalam karena sering menemukan hal yang luar biasa. Mereka
kesulitan untuk mengidentifikasi dan memahami poin-poin penting dalam waktu yang terbatas, terutama
dalam memperkirakan informasi struktural dari data difraksi sinar-X.
B. Fokus Penilitian
Pada jurnal ini penulis menitik beratkan pembahasan pada titik kunci dari analisis struktural yang
diperlukan untuk memperoleh informasi struktural sampel bubuk pada sampel bahan yang tidak diketahui
C. Kajian Teori
Ada berbagai metode yang digunakan untuk mengukur intensitas hamburan berkas sinar-X dari bahan
kristal, dan masing-masing metode meliliki keuntungannya masing-masing. Metode yang paling sering
digunakan yaitu mengukur intensitas difraksi sinar-X dari sampel bubuk sebagai fungsi dari sudut hamburan
(sudut difraksi) menggunakan difraktometer.
Difraksi sinar-X kristalografi dengan sampel bubuk merupakan metode yang baik dan banyak digunakan
untuk mengetahui struktur atom dari berbagai material dalam berbagai negara. Sejak penemuan difraksi
sinar-X pada bahan kristal tahun 1912 oleh Max von Laue dan pada tahun 1913 oleh WL Bragg dan WH
Bragg, metode ini sudah banyak mengalami kemajuan. Awalnya kristalografi digunakan sebagai studi untuk
penampilan eksternal dari mineral alami. Kemudian, kristalografi menjadi sebuah metode berharga sebagai
pertimbangan tentang bagaimana kristal dapat dibangun dari unit-unit kecil, dengan pengulangan yang tak
terbatas dari unit struktural yang identik dalam ruang. Terdapat tujuh macam sistem kristal yang diketahui.
Jenis sistem kristal itu meliputi kubik, tetragonal, orthorhombik, hexagonal, trigonal, monoklinik, triklinik.
E. Kesimpulan
Analisis difraksi sinar-X tidak hanya digunakan untuk mengidentifikasi fase dan estimasi parameter kisi dari zat yang
tidak diketahui, tetapi juga untuk menentukan konsentrasi fase dalam campuran. Profil puncak juga digunakan untuk
memperkirakan ukuran partikel kristal yang sangat kecil yang disebut "kristalis" dalam sampel bubuk.