XRD dan XRF dalam analisis geokimia

XRF atau X-Ray Flourescence merupakan teknik analisa non destruktif yang digunakan
untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada sampel padat,bubuk
ataupun cair melalui analisis unusr penyusun sampel.Xrf di Lakukan Untuk Mengukur Panjang
Gelombang Komponen Material Yang Dihasilkan Sampel Saat Diradiasi Sinar X. Analisis
menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar-X
yang terjadi dari peristiwa efekfotolistrik. Efekfotolistrik terjadi karena elektron dalam atom
target (sampel) terkena berkas berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-X). Bila energi sinar
tersebut lebih tinggi dari pada energi ikat elektron dalam orbit K, L, atau M atom target, maka
elektron atom target akan keluar dari orbitnya. Dengan demikian atom target akan mengalami
kekosongan elektron. Kekosongan elektron ini akan diisi oleh elektron dari orbital yang lebih
luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-X

XRD- Atau X-ray Diffraction digunakan untuk analisis komposisi karakterisasi kristal.

Prinsip dasar XRD Adalah mengdifraksi cahaya yang melalui celah kristal dari intensitas dari
sudut difraksi,sehingga dapat di analisis untuk menentukan jenis struktur kristalnya. XRD adalah
teknik yang bergantung pada berkas sinar-X yang memiliki panjang gelombang pada skala ±1Å.
Ketika berkas tersebut terhambur dari suatu bahan dengan struktur atom/molekul pada skala
tersebut, akan terjadi interferensi yang menghasilkan pola dengan intensitas berbeda. Secara
kualitatif serupa dengan pola warna-warni yang dihasilkan oleh gelembung sabun - warna
berbeda terlihat dari arah berbeda.

XRD sangat berbeda dari radiografi sinar-X, atau tomografi yang bergantung pada fakta bahwa
sinar-X diserap lebih kuat oleh beberapa bahan daripada yang lain, contohnya: tulang atau tumor
menyerap lebih dari otot atau lemak, sehingga gambar yang ditransmisikan memberikan gambar
langsung dari struktur di dalam tubuh atau objek dalam skala milimeter atau lebih. Sebaliknya,
XRD menghasilkan pola difraksi yang tidak menyerupai struktur yang mendasarinya, dan
memberikan informasi tentang struktur internal pada skala 1 hingga 100 Å.