URAIAN MATERI
RANGKUMAN
TUGAS
TES FORMATIF
MATERI I
PERAWATAN RANGKAIAN ELEKTRONIKA
titik kritis
t
pemakaian normal alat rusak
awal pemakaian
Alternatif kerusakan pada diagram alir akan menuntun langkah demi langkah
dalam melokalisasi kerusakan. Sistem kerja ini lehih dikenal dengan kegiatan
melokalisir kerusakan dari lingkup yang luas menuju fokus kerusakan. Uraian
berikut diberikan sebuah kasus proses pelacakan kerusakan pada rangkaian
power suplay. Rangkaian ini dilengkapi regulator dengan jumlah komponen
dalam hitungan puluhan, seperti diperlihakan pada gambar berikut.
Pada prinsipnya tidak ada peralatan yang dapat bekerja secara sempurna
sepanjang waktu, meskipun kualitas dan teknologinya canggih. Peralatan
elektronika setelah dipakai beberapa waktu akan mengalami kemunduran
kinerja dan akhirnya mengalami kerusakan. Pengetahuan tentang kualitas
peralatan elektronika sesuai kemampuan masing-masing komponen yang
memenuhi spesifikasi dapat digunakan untuk menentukan keandalan kualitas
terhadap waktu.
Keandalan dan kualitas suatu peralatan akan mempengaruhi usia kerja alat.
Peralatan elektronika yang dibuat dengan mempertahankan faktor kualitas
akan beroperasi dalam jangka waktu yang lebih lama dibanding sistem yang
dikerjakan dengan kurang memperhatikan faktor kualitas. Peramalan
seberapa jauh keandalan suatu alat, diperlukan pengetahuan tentang
kemampuan suatu item untuk melaksanakan suatu fungsi. Persyaratan yang
perlu dipenuhi adalah batas suatu kondisi yang ditentukan dalam periode
waktu tertentu (lamanya waktu jaminan purna jual).
Selama usia pakai suatu peralatan akan terjadi tiga tahap kegagalan. Tahap
kegagalan dini (infant mortality) merupakan kegagalan peralatan sesaat
setelah alat tersebut dibuat dan dikirimkan ke pelanggan. Kegagalan ini
disebabkan oleh kerusakan komponen dan kesalahan perancangan yang
terlalu menitikberatkan pada satu bagian dari peralatan tersebut. Biasanya
kegagalan dini masih berada dalam garansi perusahaan dan perbaikan
menjadi tanggung jawab perusahaan.
Setelah terjadi kegagalan dini akan diikuti dengan kegagalan normal terhadap
usia kerja peralatan elektronika. Pada umumnya laju kegagalan normal
memiliki angka persentase paling rendah. Kegagalan tahap akhir adalah
periode suatu peralatan mengalami laju kegagalan paling tinggi. Penyebabnya
adalah faktor usia kerja alat sudah berakhir. Cepat tidaknya suatu peralatan
memasuki tahap akhir kegagalan tergantung pada cara pemeliharaan peralatan
selama digunakan.
1
MTTF= =208333,3 hari
0,2 x 10−6 jam
Angka usia yang diperoleh sangat panjang untuk sebuah komponen yang
berdiri sendiri (belum menyatu dalam sebuah rangkaian).
FR(rangkaian)=FR (A ) + FR (B) + FR (C )
FR(rangkaian)=α
1
MTBF(rangkaian)=
α
FR(B )=¿
kapasitor elektrolit = 1,5×10-6/jam
FR(C) =¿
LED = 0,1×10-6/jam
FR( D)=¿
transistor < 1 Watt = 0,08×10-6/jam
FR(rangkaian)=FR (A ) + FR (B) + FR (C )+ FR (D )
1
MTBF (rangkaian)= −6
=240384,615 jam=10016 hari .
4,16 ×10 / jam
Hubungan antara keandalan (R) dan laju kegagalan sistem (λ) dituliskan
dengan persamaan:
R=e−αt
1. Metoda Symptom-function
2. Metoda Signal-tracing
Gambar
Gambar Metoda
a. Tegangan Signal
jala-jala Tracing
diukur Pasif
dengan sebuah
voltmeter ACCatu
pada Daya
stop kontak
dinding, pada sekring, dan pada saklar. Bila ada tegangan AC 220 V
pada ujung primer transformator, dapat dipastikan bahwa plug,
kabel, sekring dan saklar dalam kondisi baik.
4. Metoda Half-splitting.
Metoda ini digunakan untuk rangkaian dengan blok-blok tersusun seri.
Pelacakan dilakukan untuk setengah sistem dan secara berturut-turut
dilakukan untuk setengah sistem yang lainnya sampai kerusakan
ditemukan. Cara ini akan mempercepat menemukan kerusakan.
Perhatikan gambar di bawah ini.
1 2 3 4
5 6 7 8
5 6 7 8
Osilator Referensi
Pembanding Phasa Filter Lolos VCO
Bawah
6. Metoda substitusi.
Metoda yang telah diuraikan sangat cocok untuk melokalisasi kerusakan yang
bersifat spesifik, hubung-singkat, terputus atau kerusakan komponen. Bila
menghadapi sistem elektronik yang kompleks atau kerusakan yang berulang,
cara yang telah dikemukakan belum cukup. Cara yang lebih canggih dapat
dilakukan dengan melakukan analisa problem solving melalui metoda analisis
kegagalan, analisis sinyal, analisa logika dan diagnosa rutin. Dua metode
pertama (analisis kegagalan dan analisis sinyal) dapat dipakai untuk semua
tipe sistem; tiga metode terakhir (analisis sinyal, analisa logika dan diagnosa
rutin) terbatas untuk sistem digital dan dapat dipakai khusus untuk macam-
macam komputer digital.
1. Analisis Kegagalan
Dua metode pertama dapat dipakai untuk semua tipe sistem; tiga metode
terakhir itu terbatas untuk sistem digital dan dapat dipakai khusus untuk
macam-macam komputer digital. Metode analisis kegagalan digunakan
ketika kegagalan berulang pada suatu rangkaian dan menekankan pada
penyebab kerusakan dari pada kerusakan komponen dan perangkat
rangkaian elektronika. Tiga langkah penting yang perlu dilakukan dalam
analisis kegagalan; analisis cara kerja rangkaian, melakukan pengukuran
dan mempelajari data produk.
R1 DC
R2 R3
Q1
Q2 R4
R5
D
2. Analisis Sinyal
Metoda analisis sinyal dapat membantu dalam membuat analisis, bila
sinyal yang diamati dapat memberikan petunjuk tentang lokasi
kerusakan. Metode ini biasanya memerlukan sebuah osiloskop memori
atau peralatan lain yang dapat menvisualisasikan sinyal. Analisis Sinyal
tanpa alat bantu akan membingungkan.
Contohnya ditemui pada pengujian perekam kaset video (VCR). Pada
pesawat video rumah, mungkin akan sulit menentukan, bagian yang tidak
benar kerjanya bila hasil rekaman tidak berwarna.
Kemungkinan penyebabnya adalah:
a. Transmisi dari studio yang rusak.
b. Alat perekam yang rusak sehingga tidak dapat merekam gambar
dengan sempurna.
3. Analisis Logika
Analisis logika terbatas untuk rangkaian digital dan dapat menangani
analisis dari yang paling sederhana, pengujian bit-per-bit untuk Test-
Word dan dengan menggunakan peralatan otomatis penganalisis logika.
Metoda ini menggunakan sinyal digital satu dan nol, untuk menentukan
fungsi logika yang mengalami kerusakan.
Gambar di bawah ini menunjukkan contoh apa yang dapat dilakukan
Masukan Paralel
dengan analisis logika.
Masukan Seri
Keluaran Paralel
4. Diagnosa Rutin
MATERI III
KERUSAKAN DAN PERBAIKAN RANGKAIAN ELEKTRONIKA
Setiap komponen elektronika bersifat pasif dan aktif memiliki keterbatasan dalam
pemakaian. Bagian penting dalam mencari kerusakan adalah memahami dengan
baik tentang komponen dan keterbatasan keterbatasannya. Rangkaian disekitar
komponen aktif terdapat komponen pasif. Pada umumnya komponen pasif yang
digunakan terdiri atas beberapa resistor. Komponen sering mengalami kerusakan
dalam bentuk hubung singkat. Bila ada kecurigaan kerusakan hubung singkat tak
perlu lagi melakukan pemeriksaan resistor-resistor pada rangkaian yang dibentuk
dari komponen aktif. Sisi lain yang perlu diperhatikan, bahwa 40% kerusakan
komponen disebabkan oleh kesalahan pemakaian. Kesalahan yang terjadi
kebanyakan pada saat mengoperasikan komponen diluar batas kemampuan.
Kecepatan kegagalan pada resistor variabel lebih tinggi dari pada jenis
resistor tetap. Potensiometer mempunyai kecepatan kegagalan pada
umumnya kira-kira 3×10-6 perjam, tetapi angka-angka itu berubah
bergantung pada metode yang digunakan oleh pabriknya. Kerusakan
yang terjadi pada sebuah potensiometer bisa sebagian atau total.
Kerusakan sebagian disebabkan oleh kenaikan resistansi kontak yang
menimbulkan kenaikan noise kelistrikan. Bentuk lain kegagalan sebagian
disebabkan oleh kontak yang terputus-putus karena partikel-partikel
debu, minyak gemuk (pelumas) atau bahan-bahan ampelas yang
terkumpul antara kontak geser dan jalur. Gangguan tersebut dapat
dihilangkan dengan bahan pembersih seperti contact cleaner.
Kerusakan total disebabkan sirkit terbuka diantara jalur dan sambungan
ujung-ujungnya atau antara kontak geser dan jalur. Hal ini dapat
disebabkan oleh perkaratan bagian logam karena kelembaban, atau
pembengkakan logam atau plastik yang terjadi saat penuangan jalur yang
menggunakan temperatur tinggi.
1. Dioda.
Standar tegangan maju dioda silicon, germanium, Schottky, tunel, dan
zener harusnya tidak lebih dari 1,1V (dalam rangkaian). Bila lebih dari
VCC
short
nilai tersebut menandai adanya dioda terbuka, yang harus dilepaskan,
diuji, dan diganti. Bila suatu dioda mengalirkan arus tetapi drop tegangan
dioda nol atau hanya beberapa milivolt, berarti dioda hubung singkat,
Gambar Pengetesan Transistor
pindahkan, uji, dan ganti. Dioda penyearah yang hubung singkat dapat
merusak dioda lain , kapasitor filter, dan trafo daya, lakukan pemeriksaan
sebelum memberikan catu daya.
2. Transistor
Bila ditemukan tegangan transistor pada daerah tegangan maju basis-
emitter lebih dari 1,1V (basis positif untuk NPN, basis negatif untuk
PNP) mempunyai junction base-emitter yang terbuka dan harus diganti.
Transistor yang telah melewati tahap pengetesan dapat diputuskan bahwa
transistor tersebut dalam keadaaan baik. Cara pengetesan transistor,
perhatikan gambar di bawah ini.
Vrc
drops
RCVCC Vce
rise
short
short
Bila beban kolektor mempunyai resistansi yang mendekati nol, arus turun
pada resistor emiter. Hubung singkat antara B-E menyebabkan VRE
short
Sinyal Kecil turun, kecuali jika transistor dibiaskan secara normal pada cut off.
VCE RB Untuk transistor yang dirangkai paralel, seperti diperlihatkan pada
Daya Tinggi
drops
gambar berikut.
RC
VCC
0,1µF
100Ω
1 Vp-p VCC
Jika basis diatur secara langsung oleh transistor, seperti gambar di bawah
ini.
Gambar Pemberian bias rangkaian
1. Rise
2. Drop transistor aktif
short
2
IG
10MΩ
VG 15V shorted gate
R=10MΩ
3. FET
FET dalam kondisi baik memiliki IG = 0 (arus pada gate = 0), seperti
yang ditunjukkan pada gambar di bawah ini.
Deviasi yang besar dari VG yang diinginkan menunjukkan arus gate
mengalir. Pentrigeran gate ditentukan dari jaringan resistif yang
sederhana dan tegangan yang diharapkan dapat dihitung, karena Jika FET
tersebut merupakan FET insulated-gate, itu artinya FET tersebut rusak.
Hal itu terjadi jika sambungan pada FET rusak, atau diberi trigger maju
pada gatesource. Periksa tegangan VGS 0.6V. Kerusakan FET seringkali
sinyal setengah
gelombang + ditandai dengan adanya tegangan gate yang tidak normal.
Gambar Pengetesan SCR
4. SCR
short
SCR dalam kondisi ON memiliki tegangan 0,1V hingga 1,5V antara
anoda dan katodanya atau ketika konduksi anoda-katoda positif. SCR
rusak hubung singkat bila tegangannya mendekati nol. VGK seharusnya
tidak pernah di atas +1,2V saat ada tegangan kerja. Jika terjadi, berarti
gate rusak terbuka. Terjadinya hubung singkat antara gate-katoda
menyebabkan SCR tetap ditrigger, melewatkan tegangan positif dari
anoda-katoda seperti pada gambar di bawah ini.
Jika tegangan positif tidak muncul saat diberi sinyal sinus antara anoda
dan katodanya, berarti beban terbuka atau SCR yang hubung singkat.
Dengan Ohmmeter seharusnya SCR menunjukkan hubungan seperti
sebuah dioda antara gate katoda (satu polaritas hambatannya kecil dan
selalu besar untuk semua polaritas ohmmeter
Ohmmeter
5. UJT
MATERI IV
MANAJEMEN PERAWATAN DAN PERBAIKAN
RANGKAIAN ELEKTRONIKA
A. Perencanaan Pekerjaan
Pekerjaan perawatan yang terencana akan mendapatkan hasil yang baik dan
optimal. Untuk itu diperlukan format khusus yang digunakan untuk membuat
perencanaan. Secara umum format perencanaan pekerjaan perawatan memuat
isi tentang jenis atau tipe pekerjaan, sifat atau level pekerjaan, tenaga
pelaksana yang diperlukan, material atau suku cadang yang diperlukan, waktu
atau lama pengerjaan, dan sebagainya.
RANGKUMAN
PERAWATAN RANGKAIAN ELEKTRONIKA
RANGKUMAN
PELACAKAN KERUSAKAN RANGKAIAN ELEKTRONIKA
11. Mean Time Between Failures (MTBF) adalah lamanya pemakaian suatu
sistem sampai dicapai kegagalan. MTBF digunakan untuk rangkaian yang
dapat diperbaiki, seperti instrumen dan sistem. Formula penghitungan
diberikan oleh rumus:
FR(rangkaian)=FR (A ) + FR (B) + FR (C )
FR(rangkaian)=α
1
MTBF(rangkaian)=
α
Hubungan antara keandalan (R) dan laju kegagalan sistem (λ) dituliskan
dengan persamaan:
R=e−αt
13. Pemilihan metoda yang sesuai dalam mencari kerusakan akan dapat
menentukan efisiensi kerja. Beberapa teknik yang bisa digunakan, antara lain:
Symptom-function, Signal-tracing, metoda tegangan dan hambatan untuk
mengisolasi kerusakan komponen atau daerah rangkaian tertentu, Metoda
Half-splitting, Metoda Pemutusan Lup, dan Metoda substitusi.
14. Analisa problem solving terdiri atas analisis kegagalan, analisis sinyal, analisa
logika dan diagnosa rutin.
RANGKUMAN
KERUSAKAN DAN PERBAIKAN RANGKAIAN ELEKTRONIKA
1. Setiap komponen elektronika bersifat pasif dan aktif memiliki keterbatasan
dalam pemakaian. Bagian penting dalam mencari kerusakan adalah
memahami dengan baik tentang komponen dan keterbatasannya.
2. Setiap resistor ketika beroperasi akan mendisipasikan daya. Kenaikan
temperatur yang disebabkan oleh daya yang didisipasikan akan maksimum
ditengah-tengah badan resistor, ini disebut “Hot spot temperature”.
3. Kecepatan kegagalan pada resistor variabel lebih tinggi dari pada jenis
resistor tetap. Potensiometer mempunyai kecepatan kegagalan pada umumnya
kira-kira 3×10-6 per jam, tetapi angka-angka itu berubah bergantung pada
metode yang digunakan oleh pabriknya.
4. Kapasitor merupakan komponen yang dapat diandalkan karena memiliki
tingkat kegagalan yang rendah terutama. Umur kapasitor dapat diperpanjang
dengan cara menggunakan kapasitor di bawah batas tegangan yang
diperbolehkan dan pada temperatur ambient yang rendah. Penurunan
temperatur 10ºC dapat melipatkan umurnya dua kali lebih panjang.
5. Tiga penyebab kerusakan semikonduktor (komponen aktif); kerusakan
mekanis, kerusakan salah pemakaian dan kerusakan bahaya lingkungan.
6. Perbaikan rangkaian elektronika terdiri atas tiga kegiatan; kegiatan pelacakan
kerusakan dengan menggunakan berbagai metoda, melakukan pengukuran
dan pengujian, serta melakukan perbaikan (pergantian).
RANGKUMAN
MANAJEMEN PERAWATAN DAN PERBAIKAN
RANGKAIAN ELEKTRONIKA
DAFTAR PUSTAKA
Peni Handayani dan Trisno Yuwono Putro, 2008. Teknik Pemeliharaan dan
Perbaikan Sistem Elektronika Jilid 1, 2 dan 3. Jakarta: Direktorat
Pembinaan Sekolah Menengah Kejuruan, Direktorat Jenderal Manajemen
Pendidikan Dasar dan Menengah, Departemen Pendidikan Nasional.