TUGAS INDIVIDU

PENCEMARAN UDARA

Disusun Oleh:
Ratna Trihana 25117064

Dosen Pengampu:
Novi Kartika Sari, S.T., M.T.

PROGRAM STUDI TEKNIK LINGKUNGAN

JURUSAN TEKNOLOGI INFRASTRUKTUR DAN KEWILAYAHAN
INSTITUT TEKNOLOGI SUMATERA
LAMPUNG SELATAN
2019
1. Prinsip Kerja EDXRF (Energy Dispersive XRF) dan WDXRF (wavelength
dispersive XRF)
X-Ray Fluorescence (XRF) merupakan teknik analisa non-destruktif
yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang
ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen
dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace element, bahkan di bawah
level ppm. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang gelombang
komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan
sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PANalytical, 2009: 3).
Berdasarkan karakteristik sinar yang dipancarkan, elemen kimia dapat
diidentifikasi dengan menggunakan EDXRF (Energy Dispersive XRF) dan
WDXRF (wavelength dispersive XRF).
a. EDXRF (Energy Dispersive XRF)
EDXRF (Energy-dispersive X-rayFluorescence) spektrometri
bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software
yang mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009).

Gambar 1. Ilustrasi prinsip kerja ED-XRF

Dari gambar 1 prinsip kerja dari ED-XRF adalah radiasi Emisi dari
sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor.
Detektormenangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi
impuls elektrik. Amplitudodari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan
 energi dari foton – foton yang diterimadetektor. Impuls kemudian menuju
sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-ChannelAnalyzer) yang
akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam
memorikomputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan
nilai spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini,
membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun keakuratan kurang.
(Gosseau,2009).
b. WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence)
WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence) dimana
dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang
berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik memilih
panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg. (PANalytical, 2009)

Gambar 2. Ilustrasi prinsip kerja WD-XRF

Dari gambar 2 prinsip kerja dari WD-XRF adalah sampel yang
terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah. Radiasi
dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator. Sehingga
refleksisinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ. Sudut
ini akan terbentuk jika, panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan
sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya panjang gelombang yang
sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut refleksi spesifik
bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen
yang berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal serta
detektor (Gosseau,2009).
2. Prinsip Kerja NAA (Neutron Activation Analysis)
Neutron Activation Analysis adalah suatu metode analisis unsur
berdasarkan radioaktivitas imbas jika suatu cuplikan diiradiasi dengan
mengguna-kan neutron. Prinsip kerja NAA adalah Cuplikan yang akan
dianalisis, diiradiasi dengan menggunakan suatu sumber neutron maka terjadi
reaksi penangkapan neutron oleh inti atom unsur-unsur tersebut dan berubah
menjadi radioaktif. Reaksi ini disebut reaksi pengaktifan neutron, yang biasa
ditulis sebagai reaksi neutron-gamma (n, γ). Secara umum reaksinya dapat
dituliskan sebagai berikut :
zXA + 0n1 → zXA+1 + γ (1)
dengan : A dan Z masing-masing adalah nomor atom dan nomor massa dari
unsur X. Hasil reaksi di atas adalah isotop yang bersifat radioaktif yang
memancarkan sinar gamma yang dipancarkan oleh berbagai unsur dalam
cuplikan. Intensitas sinar gamma spesifik tersebut sebanding dengan jumlah
isotop dalam cuplikan. Analisis kualitatif dilakukan berdasarkan penentuan
tenaga sinar gamma, sedang analisis kuantitatif dilakukan dengan menentukan
intensitasnya.

3. Prinsip Kerja AAS (Atomic Absorption Spectrophotometry)

Atomic Absorption Spectrophotometry adalah metode analisis dengan
prinsip dimana sampel yang berbentuk liquid diubah menjadi bentuk aerosol
atau nebulae lalu bersama campuran gas bahan bakar masuk ke dalam nyala,
disini unsur yang dianalisa tadi menjadi atom-atom dalam keadaan dasar
(ground state). Lalu sinar yang berasal dari lampu katoda dengan panjang
gelombang yang sesuai dengan unsur yang uji, akan dilewatkan kepada atom
dalam nyala api sehingga elektron pada kulit terluar dari atom naik ke tingkat
energi yang lebihtinggi atau tereksitasi. Penyerapan yang terjadi berbanding
lurus dengan banyaknya atom ground state yang berada dalam nyala. Sinar
yang tidak diserap oleh atom akan diteruskan dan dipancarkan pada detektor,
kemudian diubah menjadi sinyal yang terukur.
4. Prinsip Kerja PIXE (Particel Induced X-Ray Emission)
Metode ini didasarkan pada pendeteksian sinar X dari de-eksitasi atom
akibat interaksi dengan partikel bermuatan. Ketika partikel bermuatan
berinteraksi dengan atom maka akan menyebabkan elektron pada tingkat
tenaga bagian dalam terlepas (tereksitasi ketingkat tenaga bagian luar) yang
menyebabkan kekosongan pada tingkat tenaga itu. Terlepasnya elektron dari
suatu atom disebut peristiwa ionisasi, yang masing-masing atom mempunyai
tampang lintang ionisasi tertentu. Kekosongan ini akan diisi oleh elektron
berasal dari tingkat tenaga diatasnya yang dalam waktu bersamaan dipancaran
sinar X. Perpindahan elektron dari tingkat tenaga lebih tinggi ke tingkat lebih
rendah disebut de-eksitasi atom. Pancaran sinar X pada proses de- eksitasi
atom ini sangat spesifik untuk masing-masing unsur sehingga sering disebut
sinar X karakterisitik. Sinar X ini digunakan untuk menciri suatu unsur dalam
suatu sampel. Tampang lintang produksi sinar X berbanding lurus dengan
tampang lintang ionisasi atom melalui faktor kesetaraan fluorescence yield
(kebolehjadian transisi radiasi relatip terhadap bukan radiasi). Dalam
prakteknya partikel ion yang digunakan adalah proton karena mempunyai
tampang lintang reaksi yang lebih besar sehingga akan dapat memberikan batas
deteksi yang lebih baik. Akselerator yang banyak digunakan khusus untuk
PIXE ialah Tandem Elektrostatik 1,5 MV. Untuk mendeteksi sinar X
karakteristik dari suatu unsur dalam sampel diperlukan spektrometri sinar X.

5. Prinsip Kerja Smoke Stain Reflectometer

Smoke Stain Reflectometer merupakan alat yang bekerja dimana cahaya
yang berasal dari suatu sumber cahaya/lampu dihamburkan melalui annular
photocel ke permukaan filter sampel, selanjutnya cahaya tersebut direfleksikan
kembali ke photocell, maka panjang path cahaya tersebut adalah dua kali dari
panjang path transmisi. Berikut tata cara pengukuran reflektans black carbon
menggunakan EEL smoke stain reflectometer :
 Sampel yang akan diukur harus disimpan (dikondisikan) minimal 12 jam
pada kondisi yang sama dengan alat EEL Smoke Stain Reflectometer.
 Kondisi diusahakan berada pada rentang suhu 18-25oC dan kelembaban
maksimum mencapai 55 %.
 Sampel yang akan diukur harus ditangani menggunakan pinset yang bersih.
 Alat dihubungkan dengan tegangan jala-jala 220 – 240 V, tombol ON
ditekan lalu dibiarkan minimal selama ½ jam agar kondisi alat stabil.
 Angka pada display diatur hingga menunjukkan angka 00,0 dengan
memutar tombol ZERO tanpa memasang Reflectometer Lead (RL) pada
soket INPUT.
 Kabel RL dipasang pada soket INPUT, kemudian Reflectometer Lead (RL)
diletakkan di atas standar putih. Tombol COARSE atau tombol FINE
diputar hingga angka pada display menunjukkan angka 100.
 Untuk pengukuran filter halus sampel partikulat udara, Reflectometer Lead
(RL) diletakkan di atas standar abu-abu, kemudian tombol COARSE dan
FINE diputar hingga angka pada display menunjukkan angka yang sesuai
dengan nilai yang didapatkan dari pengukuran 5 filter halus kosong pada
standar abu-abu.
 Untuk pengukuran partikulat udara pada filter kasar, Reflectometer Lead
(RL) diletakkan di atas standar abu- abu, kemudian tombol COARSE dan
FINE diputar hingga angka pada display menunjukkan angka yang sesuai
dengan nilai yang didapatkan dari nilai pengukuran 5 filter kasar kosong
pada standar abu-abu.
 Sampel partikulat udara diletakkan pada standar putih dengan posisi sampel
(debu) di atas, kemudian Reflectometer Lead (RL) diletakkan di atas
sampel tersebut.
 Pengukuran dilakukan sebanyak 3 kali untuk masing-masing sampel.
6. Perbandingan Keuntungan dan Kekurangan
Tabel 1. Perbandingan Keuntungan dan Kekurangan ED-XRF dan WD-XRF
Keteranga ED-XRF WD-XRF
n
Keuntungan  Biaya relatif rendah.  Aplikasinya luas dan beragam.
 Kondisi pengukuran yang
optimal dari tiap – tiap elemen
dapat diprogram.·
 Analisa yang sangat bagus
untuk elemen berat.·
 Sensitivitas yang sangat tinggi
dan limit deteksi yang sangat
rendah.
Kekurangan  Keakuratan kurang
 Aplikasinya lebih kecil.

Tabel 2. Perbandingan keuntungan dan kekurangan XRF dan PIXE

Keteranga XRF PIXE
n
Keuntungan  Cukup mudah, murah dan  Multi unsur analisis dan cepat.
analisanya cepat.  Prepasi sampel sederhana.
 Jangkauan elemen hasil  Mampu menganalisis unsur
analisa akurat. sampai unsur berat.
 Membutuhan sedikit sampel  Sensitivitasnya umumnya 1
pada tahap preparasinya(untuk ppm namun untuk unsur
Trace elemen). tertentu bisa sampai ppb.
 Dapat digunakan untuk analisa
elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe,
Mn, Mg, Ca, Na, K, P)maupun
tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce,
Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni,
 Rb, Sc, Sr, Rh,U, V, Y, Zr,
Zn).
 Akurasi yang tinggi.
 Dapat menentukan unsur
dalam material tanpa adanya
standar.
 Dapat menentukan kandungan
mineral dalam bahan biologik
maupun dalam tubuh secara
langsung.
Kekurangan  Tidak cocok untuk analisa  Harus memperhitungkan tebal
element yang ringan seperti H tipis sampel dalam menentukan
dan He. kandungan unsur dalam sampel
 Analisa sampel cair membutu- sehingga ada dua formulasi
hkan volume gas helium yang analisis PIXE.
cukup besar.
 Preparasi sampel biasanya
membutuhkan waktu yang
cukup lama dan membutuhkan
perlakuan yang banyak.
 Tidak dapat mengetahui
senyawa apa yang
dibentuk oleh unsur-unsur
yang terkandung dalam
material yang akan kita teliti.·
 Tidak dapat menentukan
struktur dari atom yang
membentuk material itu.
 Tabel 3. Perbandingan keuntungan dan kekurangan AAS dan NAA
Keteranga AAS NAA
n
Keuntungan  Spesifik.  Mampu meng-identifikasi unsur
 Batas (limit) deteksi rendah. kelumit dalam orde bagian per
 Dari satu larutan yang sama, juta (ppm), bahkan untuk
beberapa unsur berlainan dapat beberapa kasus mampu hingga
diukur. orde bagian per milyar (ppb).

 Pengukuran dapat langsung  Mampu mengukur kadar total

dilakukan terhadap larutan unsur dalam suatu material
contoh (preparasi contoh tanpa tergantung pada bentuk
sebelum pengukuran lebih kimia maupun fisikanya.
sederhana, kecuali bila ada  Dimungkinkan analisis terhadap
zatpengganggu). sekitar 50 jenis unsur yang
 Dapat diaplikasikan kepada berbeda dalam satu cuplikan
banyak jenis unsur dalam secara simultan.
banyak jenis contoh.  Sampel tidak rusak secara
 Batas kadar-kadar yang dapat permanen sehingga dalam kasus
ditentukan sangat luas (mg/L analisis forensik ataupun
hingga persen). analisis pada sampel yang
langka seperti meteorit atau
arkeologi, sampel dapat
digunakan untuk analisis lebih
lanjut.
Kekurangan  Kurang sempurnanya  Keterbatasannya mendeteksi
preparasi sampel, seperti: unsur-unsur yang mempunyai
proses destruksi yang kurang waktu paruh pendek.
sempurna, tingkat keasaman  Tidak dapat membedakan
sampel dan blanko tidak sama. berapa valensi unsur yang
 Kesalahan matriks, hal ini terdeteksi.
disebabkan adanya perbedaan  Memerlukan waktu yang lama
matriks sampel dan matriks untuk proses pencacahan
 standar. cuplikan sampai analisisnya.
 Aliran sampel pada burner  Membutuhkan sumber neutron,
tidak sama kecepatannya. biasanya digunakan reaktor
 Kemungkinan adanya ganggu nuklir.
-an kimia berupa: disosiasi  AAN tidak menyediakan
tidak sempurna, ionisasi, peralatan sederhana dengan
terbentuknya senyawa refrakt- software yang mudah dioperasi-
ri. kan dalam analisis laboratorium.
REFERENSI :

Fatimah, Saedatul. 2018. Identifikasi Kandungan Unsur Logam Menggunakan Xrf

Dan Oes Sebagai Penentu Tingkat Kekerasan Baja Paduan. Skripsi.
Yogyakarta : Universitas Negeri Yogyakarta.

Murniasih, Sri. 2013. Optimasi Metode Kayzero Dalam Analisis Aktivasi Neutron
Di Reaktor Kartini. Tesis. Yogyakarta : Universitas Gadjah Mada. Diunduh
dari http://etd.repository.ugm.ac.id/

Syarip. 2002. Eksperimen Pembuatan Sistem Penganalisis Unsur Dengan Metode

Gama Serentak Menggunakan Sumber Neutron Pu-Be. Volume V Nomor
1. ISSN 1410-6957. http://jurnal.batan.go.id/index.php/ganendra/article
/view/210 (diakses 20 September, 2019)

https://docplayer.info/45996610-Makalah-xrf-x-ray-fluorescencespectrometry.
html (diakses 21 September 2019)

https://www.academia.edu/13867003/Spektrofotometri_Serapan_Atom_AAS_
(diakses 21 September 2019)