a.

Pengertian XRF
X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray digunakan
untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan, mineral, sedimen dan
cairan. Ia bekerja pada panjang gelombang-dispersif spektroskopi prinsip yang mirip
dengan microprobe elektron. Namun, XRF umumnya tidak dapat membuat analisis
di spot ukuran kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron), sehingga biasanya
digunakan untuk analisis sebagian besar fraksi lebih besar dari bahan geologi. Biaya
kemudahan dan rendah relatif persiapan sampel, dan stabilitas dan kemudahan
penggunaan x-ray spektrometer membuat salah satu metode yang paling
banyak digunakan untuk analisis unsur utama dan jejak di batuan,
mineral, dan sedimen.
XRF merupakan alat yang digunakan untuk menganalisis
komposisi kimia beserta konsentrasi unsur-unsur yang terkandung
dalam suatu sample dengan menggunakan metode spektrometri.
XRF umumnya digunakan untuk menganalisa unsur dalam mineral
atau batuan. Analisis unsur di lakukan secara kualitatif maupun
kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisi jenis
unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif
dilakukan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam bahan.

Gambar 1. XRF

b. Prinsip Dasar XRF

Dasar analisis alat X-Ray Fluorescent ini adalah pencacahan sinar x yang
dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali kekosongan elektron pada
orbital yang lebih dekat dengan inti (karena terjadinya eksitasi elektron) oleh elektron
yang terletak pada orbital yang lebih luar.
Ketika sinar x yang berasal dari radioisotop sumber eksitasi menabrak
elektron dan akan mengeluarkan elektron kulit dalam, maka akan terjadi kekosongan
pada kulit itu. Elektron dari kulit yang lebih tinggi akan mengisi kekosongan itu.
Perbedaan energi dari dua kulit itu akan tampil sebagai sinar X yang dipancarkan
oleh atom. Spektrum sinar X selama proses tersebut menunjukan peak/puncak yang
karakteristik, dimana setiap unsur akan menunjukkan peak yang karakteristik yang
merupakan landasan dari uji kualitatif untuk unsur-unsur yang ada dalam sampel.
1. Elektron di kulit K terpental keluar dari atom akibat dari radiasi
sinar X yang datang. Akibatnya, terjadi kekosongan/vakansi
elektron pada orbital (gambar 1)
2. Elektron dari kulit L atau M turun untuk mengisi vakansi
tersebut disertai oleh emisi sinar X yang khas dan meninggalkan
vakansi lain di kulit L atau M (gambar 2).
3. Saat vakansi terbentuk di kulit L, elektron dari kulit M atau N
turun untuk mengisi vakansi tersebut sambil melepaskan Sinar
X yang khas (gambar 3).
4. Spektrometri XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh
bahan yang selanjutnya

ditangkap detector untuk dianalisis

kandungan unsur dalam bahan

(gambar 4).

Gambar 2. Prinsip Kerja XRF

c. Cara Kerja XRF

Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF
dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi.
Sebuah spektrometer XRF bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens
beam, yang dikenal sebagai balok insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi
beberapa juga diserap dalam sampel dengan cara yang tergantung pada kimia nya.
Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target Rh, meskipun W, Mo, Cr dan
lain-lain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.
Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel, dikatakan bersemangat. Sampel
bersemangat pada gilirannya memancarkan sinar-X sepanjang spektrum panjang
gelombang karakteristik dari jenis atom hadir dalam sampel. Atom-atom dalam
sampel menyerap sinar-X energi pengion, elektron mendepak dari tingkat energi
rendah (biasanya K dan L). Para elektron dikeluarkan diganti oleh elektron dari,
energi luar orbit yang lebih tinggi. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi
yang mengikat penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Hal
ini melepaskan energi dalam bentuk emisi karakteristik sinar-X menunjukkan atom
jenis ini. Jika sampel memiliki unsur-unsur yang hadir, seperti yang khas untuk
kebanyakan mineral dan batuan, penggunaan Spektrometer dispersif Panjang
gelombang seperti bahwa dalam EPMA memungkinkan pemisahan spektrum yang
dipancarkan sinar-X yang kompleks ke dalam panjang gelombang karakteristik untuk
masing-masing elemen ini. Berbagai jenis detektor (aliran gas proporsional dan
kilau) digunakan untuk mengukur intensitas sinar yang dipancarkan. Penghitung
aliran yang biasa digunakan untuk mengukur gelombang panjang (> 0,15 nm) sinarX yang khas dari spektrum K dari unsur yang lebih ringan daripada Zn. Detektor
sintilasi umumnya digunakan untuk menganalisis panjang gelombang lebih pendek
dalam spektrum sinar-X (K spektrum elemen dari Nb ke I; L spektrum Th dan U). Xray dari panjang gelombang menengah (K spektrum yang dihasilkan dari Zn untuk Zr
dan L spektrum dari Ba dan unsur tanah jarang) umumnya diukur dengan
menggunakan kedua detektor bersama-sama. Intensitas energi yang diukur oleh
detektor sebanding dengan kelimpahan elemen dalam sampel. Nilai yang tepat dari
proporsionalitas ini untuk setiap elemen diperoleh dengan perbandingan standar

mineral atau batuan dengan komposisi yang diketahui dari analisis sebelumnya
dengan teknik lain.
d. Karakterisik Sampel Pada XRF
Beberapa

sample

yang

dapat

dianalisis

dengan

menggunakan XRF yaitu :

1. Sample serbuk 100 mesh
2. Sample cair yang homogeny

Tipe sample yang diperoleh dari lingkungan seperti minyak

dan air

Tidak membutuhkan preparasi yang rumit

3. Sample padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan

diameter 2.5 cm

Logam, plastic dan kaca atau keramik

Pelapisan permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia

yang terbaca

Ukuran partikel tidak menjadi persoalan

Permukaan harus homogeny

4. Presed Powder

Tipe sample yang dapat dibentuk press powder seperti

batuan, semen, lumpur, alumina, fly ash dan lain-lain

Agen pengikat seperti lilin atau selulosa dapat digunakan

untuk memperkuat sample

5. Serbuk

dipress

membentuk

tabletvpadat

menggunakan

hydraulic press Fused Beads

Tipe sample yang termasuk dipreparasi seperti fused bead

adalah batuan, semen, bijih besi dan lain-lainSample dicmpur
dengan flux. Digesti fluxing selalu penting bila dibutuhkan
presisi yang tinggi dan borat Spectromelt dapat digunakan
untuk proses ini

Sample dan flux dipanaskan pada suhu 1000 oC

Permukaan harus homogeny

e. Spesifikasi XRF
Salah satu contoh spesifikasi XRF yang ada di LPPT UGM

Merek : RIGAKU

Model : NEX QC+ QuantEZ

Negara Asal : JEPANG

"High performance semiconductor detector,

Peltier thermo-

electric cooling, Optimum balance of spectral resolution and

count rate, A silicon drift detector (SDD) affords extremely high
count rate capability with excellent spectral resolution."
Sample handling :

Large 190 x 165 x 60 mm sample chamber

Higly repeatable sample positioning
6-position 32 mm automatic sample changer ,

Bulk sample

aperture
X-ray tube :

End Window Transmission X-ray Tube

125 micrometer
The high voltage, along with multiple automated X-ray tube
filters, provides multi-element analysis capability for unmatched

performance with low limits of detection (LOD) and Silver anode

Max voltage 50 KV,

Detector : <160 eV @ Mn K-Alpha Line

complaint 8 micrometer thin window (be)

High count rate detector capacity with Next Generation silicon

detector technology,
Software Feature :
Operator

EZ

Analysis"

Interface

QuantEZ

RPF-SQX

Fundamental Parameters Software (He option required for

optimum performance)

Advance mode with many feature : QuantEZ analytical software

was specifically designed NEX QC QuantEZ

Selectable Shaping Times (Empirical Calibrations)

Qualitative and quantitative analysis
Starter Kit (100 cups, 1 roll 4 um Prolene film, 2 aperture O-

rings)
Hydarulic Pellet Press Machine with 40 ton automatic press,
diameter 40 mm

DAFTAR PUSTAKA
http://www.lppt.ugm.ac.id/Posts/read/16 diakses pada Senin, 25
April 2016 pukul 06.18
https://www.scribd.com/doc/171620863/Makalah-XRF#download
diakses pada Senin, 25 April 2016 pukul 06.08