Nama :I Wayan Erdy Yanto

Nim :25117004
tugas :Pencemaran Udara

PRINSIP KERJA:

XRF

XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang

digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk
ataupun sample cair. sample cair.Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-
dispersive X-ray Fluorescence) dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan
menggunakan analyzer yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang
spesifik memilih panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg (PANalytical, 2009).

Prinsip kerja ED-XRF :

Konsep dasar dari semua spektrometer adalah sumber radiasi, sampel dan sistem deteksi.
Dalam spektrometer EDXRF, tabung sinar-X yang bertindak sebagai sumber menyinari sampel
secara langsung, dan fluoresensi yang berasal dari sampel diukur dengan detektor dispersif
energi. Detektor ini dapat mengukur energi yang berbeda dari radiasi karakteristik yang datang
langsung dari sampel. Detektor dapat memisahkan radiasi dari sampel menjadi radiasi dari
berbagai unsur yang ada dalam sampel. Pemisahan ini disebut dispersi.

Prinsip kerja WD-XRF :

Sistem WDXRF didasarkan pada hukum Bragg, yang menyatakan bahwa kristal akan
memantulkan sinar-x dari panjang gelombang tertentu dan sudut datang ketika panjang
gelombang sinar-x yang tersebar mengganggu secara konstruktif. Sementara posisi sampel
ditetapkan, sudut kristal dan detektor dapat diubah sesuai dengan hukum Bragg sehingga
panjang gelombang tertentu dapat diukur. Hanya sinar-x yang memenuhi hukum Bragg yang
tercermin.
Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence) dimana
dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang berupa cristal yang
berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik memilih panjang gelombang yang sesuai
dengan hukum bragg (PANalytical, 2009).

Prinsip kerja WDXRF diawali dengan radiasi sinar-X mengenai sampel dan mengemisikan
radiasi ke segala arah. Radiasi dengan arah yang spesifik dapat mencapai colimator, maka
pantulan sinar radiasi dari kristal kedetektor akan membentuk sudut θ. Sudut ini akan
terbentuk jika panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari
kisi Kristal (sesuai hukum Bragg) oleh detektor.

Gambar Prinsip Kerja WD-XRF

Prinsip Kerja Neutron Activity Analysis

Analisis aktivasi Neutron (NAA) adalah proses nuklir yang digunakan untuk menentukan
konsentrasi elemen dalam sejumlah besar bahan. NAA bergantung pada eksitasi oleh neutron
sehingga sampel yang dirawat sinar gamma. Ini memungkinkan identifikasi dan kuantifikasi
elemen yang tepat, di atas semua elemen jejak dalam sampel.Metode ini didasarkan pada
aktivasi neutron dan karenanya membutuhkan sumber neutron. Sampel dibombardir dengan
neutron, menyebabkan unsur-unsur membentuk isotop radioaktif.
Mode operasional terakhir lebih umum; dengan demikian, ketika seseorang menyebutkan
NAA, umumnya diasumsikan bahwa pengukuran sinar gamma yang tertunda dimaksudkan.
Sekitar 70% elemen memiliki sifat yang cocok untuk pengukuran oleh NAA.
Saat ini dua metode AAN telah digunakan dan dikembangkan secara intensif, yaitu metode
relatif dan metode k0-AANI. Kedua metode mempunyai akurasi dan presisi yang sama. Namun
demikian, untuk masa depan, laboratorium AAN akan menggunakan metode standar k0-AANI.

Metode relatif dilakukan dengan membandingkan sinyal hasil pengukuran luas puncak (ROI=
Region of Interest) dari unsur yang akan dianalisis terhadap standar dari unsur yang sama, pada
kondisi yang sama pula. Kondisi yang dimaksud adalah antara lain kondisi iradiasi, pencacahan,
pendinginan dan penggunaan matrik standar yang sama pula. Dengan demikian untuk satu jenis
unsur yang akan dikuantifikasi, akan diperlukan unsur standar yang sama yang akan digunakan
sebagai pembanding. Berbeda dengan metode relatif, pada metode k0-AANI tidak diperlukan
adanya bahan standar unsur [8–11]. Pada metode ini, kemungkinan terjadinya kontaminasi
silang dapat dihindari, relatif cepat dan kemungkinan penggunaan untuk otomatisasi analisis,
cukup besar. Namun demikian metode ini sangat bergantung pada parameter reaktor dan
parameter pencacahan yang akurat.
Prinsip Cara Kerja AAS :

Setiap alat AAS terdiri atas tiga komponen berikut :

1. Unit atomisasi

2. Sumber radiasi

3. Sistem pengukur fotometrik

Atomisasi dapat dilakukan dengan baik dengan nyala maupun dengan tungku. Untuk mengubah
unsure metalik menjadi uap atau hasil disosiasi diperlukan energi panas. Temperatur harus
benar-benar terkendali dengan sangat hati-hati agar proses atomisasinya sempurna. Biasanya
temperatur dinaikkan secara bertahap, untuk menguapkan dan sekaligus mendisosiasikan
senyawa yang dianalisis. Bila ditinjau dari sumber radiasi, haruslah bersifat sumber yang
kontinyu. Di samping itu sistem dengan penguraian optis yang sempurna diperlukan untuk
memperoleh sumber sinar dengan garis absorpsi yang semonokromator mungkin.

Seperangkat sumber yang dapat memberikan garis emisi yang tajam dari suatu unsure yang
spesifik tertentu dikenal sebagai lampu pijar hallow cathode. Dengan pemberiaan tegangan
pada arus tertentu, logam mulai memijar, dan atom-atom logam katodenya akan teruapkan
dengan pemercikkan. Atom akan tereksitasi kemudian mengemisikan radiasi pada panjang
gelombang tertentu.

berprinsip pada absorbsi cahaya oleh atom. Atom-atom menyerap cahaya tersebut pada panjang
gelombang tertentu, tergantung pada sifat unsurnya. Dengan absorpsi energi, berarti
memperoleh lebih banyak energi, suatu atom pada keadaan dasar dinaikan tingkat energinya
ketingkat eksitasi. Keberhasilan analisis ini tergantung pada proses eksitasi dan memperoleh
garis resonansi yang tepat.

AAS ( Atomic Activation Sp)

Prinsip Kerja AAS didasarkan pada proses penyerapan energi radiasi oleh atom- atom yang
berada pada tingkat energi dasar (ground state). Penyerapan tersebut menyebabkan
tereksitasinya elektron dalam kulit atom ke tingkat energi yang
lebih tinggi. Keadaan ini bersifat labil, elektron akan kembali ke tingkat energi dasar sambil
mengeluarkan energi yang berbentuk radiasi. Dalam AAS, atom bebas berinteraksi dengan
berbagai bentuk energi seperti energi panas, energi elektromagnetik, energi kimia dan energi
listrik. Interaksi ini menimbulkan proses-proses dalam atom bebas yang menghasilkan absorpsi
dan emisi (pancaran) radiasi dan panas. Radiasi yang dipancarkan bersifat khas karena
mempunyai panjang gelombang yang karakteristik untuk setiap atom bebas (Basset, 1994).

Adanya absorpsi atau emisi radiasi disebabkan adanya transisi elektronik yaitu perpindahan
elektron dalam atom, dari tingkat energi yang satu ke tingkat energi yang lain. Absorpsi radiasi
terjadi apabila ada elektron yang mengabsorpsi energi radiasi sehingga berpindah ke tingkat
energi yang lebih tinggi. Emisi terjadi apabila ada elektron yang berpindah ke tingkat energi
yang lebih rendah sehingga terjadi pelepasan energi dalam bentuk radiasi. Panjang gelombang
dari radiasi yang menyebabkan eksitasi ke tingkat eksitasi tingkat-1 disebut panjang gelombang
radiasi resonansi. Radiasi ini berasal dari unsur logam/metaloid.

Pinsip cara kerja dari PIXE:

Metode ini didasarkan pada pendeteks sinar X dari de-eksitasi atom akibat interaksi dengan
partikel bermuatan.Ketika partikel bermutan berinteraksi dengan atom maka akan
menyebabkan elektron pada tingkat tenaga bagian dalam terlepas,yang menyebabkan
kekosongan pada tingkat tenaga itu.Terlepasnya elekton dari peristiwa ionisasi.kekosangan
ini akan diisi oleh oleh elektron dan dipancarkan oleh sinar X.Perpindahan elektron dari
tingkat tenaga lebih tinggi ke rendah disebut de-eksitasi atom.Sinar X digunakan untuk
mencari unsur dalam suatu sampel.Tampang lintang produksi sinar X berbanding lurus
dengan tampang lintang ionisasiatom melalui kesetaraan fuorescence yield.Untuk mendeteksi
sinar X karakteristik dari suatu unsur dalam sampel diperlukan spektometri sinar X.
Spektrum energi sinar-X terdiri dari latar belakang kontinu bersama dengan puncak-puncak
sinar-X khas dari atom yang ada dalam spesimen. Sinar-X dideteksi oleh detektor Si (Li) atau
germanium dan pulsa dari detektor itu diperkuat dan akhirnya terdaftar dalam penganalisa
ketinggian pulsa. Hasil karakteristik sinar-X sebanding dengan konsentrasi unsur dalam
bahan. Oleh karena itu, analisis komposisi unsur absolut dapat dilakukan dengan menentukan
emisi sinar-X yang berasal dari spesimen tereksitasi karena semua parameter, seperti
penampang produksi sinar-X, sudut padat yang digantikan oleh detektor, efisiensi detektor,
dll.

Prinsip Kerja Smoke Stain Reflectometer :

menghitung konsentrasi ambien asap hitam adalah mengukur kegelapan noda asap yang
diperoleh dari sampler. Ini dilakukan menggunakan reflektometer foto-listrik. Instrumen ini
memancarkan cahaya stabil ke noda asap, yang dipantulkan kembali dari noda asap ke
elemen peka-foto. Respons listrik kemudian diperkuat untuk menghasilkan pembacaan meter.
Semakin gelap noda, semakin sedikit cahaya yang dipantulkan, sehingga pembacaan meter
rendah sesuai dengan permukaan gelap, dan pembacaan tinggi ke permukaan terang.
Reflektometer berbunyi pada skala 0 (hitam) hingga 100 (putih). Pembacaan reflektometer
ini, bersama dengan volume udara sampel yang diukur, dan ukuran klem filter, digunakan
untuk menghitung konsentrasi sekitar asap hitam dari kalibrasi standar

Prinsip kerja Smoke stain reflectometer adalah dengan metode reflektansi,dimana cahaya
yang direfleksikan atau diserap pada filter sampel bergantung pada konsentrasi partikel,
densitas, refraksi indeks dan ukuran. Prinsip kerja ini untuk pengukuran BC (Black Carbon)
menggunakan metode reflektansi cahaya, semua cahaya yang berasal dari suatu sumber
cahaya/lampu dihamburkan melalui annular photocel ke permukaan filter sampel,
selanjutnya cahaya tersebut direfleksikan kembali ke photocell, maka panjang path cahaya
tersebut adalah dua kali dari panjang path transmisi.

Gambar Smoke Stain Reflectometer

1. Perbandingan ( Keuntungan dan Kekurangan):

ED – XRF vs WD – XRF
WD-XRF
Keuntungan:
1. WD-XRF cukup luas dan beragam. Kondisi pengukuran yang optimal setiap elemen
dapat diprogram.
2. WD-XRF sangat bagus untuk mengalisa elemen berat. Rentangan elemen WD-XRF
mulai dari Beryllium ke Uranium (Be ke U)
3. Aplikasinya luas dan beragam, kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap
elemen dapat diprogram.
4. Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat, sensitivitas yang sangat tinggi dan
limit deteksi yang sangat rendah.
5. Unggul pada analisa unsur ringan (B – Mg).

Kekurangan:
1. Resolusi yang tinggi dapat menyebabkan lebih sedikit tumpang tindih spektral dan
intensitas latar belakang yang lebih rendah.
2. Rutin dekonvolusi spektral dapat menimbulkan kesalahan sehingga dapat
menggandakan atau melipatgandakan kesalahan karena menghitung statistic untuk
setiap koreksi tumpang tindih ke setiap elemen yang lain.
 3. WD-XRF lebih mahal karena membutuhkan 100-1000 kali fluks untuk mencapai
jumlah yang sama di detektor.
4. Menggunakan eksitasi sinar X langsung yang tidak diubah dan berisi kontinum energi
dengan sebagian energi tidak optimal untuk menarik elemen yang menarik.
Keuntungan:
1. ED-XRF paling baik dalam menentukan elemen dengan bentuk energi sinar-X yang
rendah
2. Mudah digunakan dan Sampel dapat berupa padat, bubuk (butiran) dan cairan.
3. Tidak merusak sample (Non Destructive Test).
4. Sampel utuh dan analisa dapat dilakukan berulang-ulang.
5. Banyak unsur dapat dianalisa sekaligus (Na- U).
6. Konsentrasi dari ppm hingga 100%.
7. Hasil keluar dalam beberapa detik (hingga beberapa menit, tergantung aplikasi),
8. Menjadi metoda analisa unsur standar dengan banyaknya metoda analisa ISO dan
ASTM yang mengacu pada analisa XRF
Kekurangan:
1. Kepekaan dan resolusi ED-XRF kurang optimal untuk elemen cahaya.
2. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang
terkandung dalam material yang akan diteliti.

1. Perbandingan keuntungan dan kekurangan XRF vs PIXE vs AAS vs NAA

1) XRF
Keuntungan :
1. Cukup mudah, murah dan analisanya cepat.
2. Jangkauan elemen Hasil analisa akurat.
3. Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya (untuk Trace  elemen).
4. Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)
maupun tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U,
V, Y, Zr, Zn).
Kekurangan:
1. Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He.
2. Analisa sampel cair membutuhkan Volume  gas helium yang cukup besar.
3. Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan memebutuhkan
perlakuan yang banyak.
4. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur
yang terkandung dalam material yang akan kita teliti.
5. Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.
2) PIXE
Keuntungan :
1. PIXE merupakan teknik yang sangat selektif dengan kepekaan tinggi dan simultan.
2. Memiliki batas deteksi mencapai orde submikrogram bahkan nanogram.
3. Hanya memerlukan sampel dalam jumlah kecil.
4. Dapat bekerja dengan sampel isolasi.
5. Memiliki kecepatan yang jauh lebih rendah daripada elektron.
6. Tidak merusak dan menawarkan tingkat sinyal yang serupa dengan rekan balok
elektronnya.
7. Memiliki rasio signal-to-background yang lebih baik.
Kekurangan:
1. Harus memperhitungkan tebal tipis sampel dalam menentukan kandungan unsur
dalam sampel.
2. Sangat bergantung pada matriks sampel sehingga energi proton dan atenuasi sinar X
akan berkurang.
3) AAS
Keutungan :

1. Spesifik
2. Batas (limit) deteksi rendah
3. Dari satu larutan yang sama, beberapa unsur berlainan dapat diukur
4. Pengukuran dapat langsung dilakukan terhadap larutan contoh (preparasi contoh
sebelum pengukuran lebih sederhana, kecuali bila ada zat pengganggu)
5. Dapat diaplikasikan kepada banyak jenis unsur dalam banyak jenis contoh.
6. Batas kadar-kadar yang dapat ditentukan adalah amat luas (mg/L hingga persen).
7. Output dapat langsung dibaca
8. Cukup ekonomis.
Kekurangan:
1. Pengaruh kimia dimana AAS tidak mampu menguraikan zat menjadi atom
misalnya pengaruh fosfat terhadap Ca
2. Pengaruh ionisasi yaitu bila atom tereksitasi (tidak hanya disosiasi) sehingga
menimbulkan emisi pada panjang gelombang yang sama, serta pengaruh matriks
3. misalnya pelarut.

4) NAA
 Keuntungan :
1. Merupakan teknik analisis multi unsur seeara serentak untuk analisis kualitatif
maupun kuantitatif, dan tidak tergantung pada tingkat oksidasi ataupun bentuk kimia
dan fisika dari unsur yang dianalisis.
2. Sensitivitas deteksi sangat tinggi sehingga hanya diperlukan jumlah euplikan (bobot
massa atau volume) yang kecil.
3. Di dalam banyak hal merupakan teknik analisis tak merusak, tidak diperlukan proses
pemisahan selama analisis.
4. Apabila sarana iradiasi dan instrumen pengukuran telah tersedia, analisis dapat
dilakukan dengan prosedur yang mudah, tepat dan sederhana.
5. Analisis tidak berpotensi terganggu oleh kontaminasi kimia dalam lingkungan .
6. Dapat diaplikasikan untuk sekitar 70 % dari jenis unsur pada Peta Berkala dalam
berbagai maeam bahan euplikan.
7. Dari satu kali proses iradiasi dapat dilakukan pengulangan pengukuran disesuaikan
dengan rentang waktu paruh unsur yang dianalisis.
Kekurangan :
1. Tidak dapat membedakan berapa valensi unsur yang terdeteksi. Jadi, kadar yang
ditentukan merupakan kadar total suatu unsur, misalnya ferri atau ferro, merkuri atau
merkuro
2. Untuk unsur-unsur yang mempunyai waktu paruh pendek (dalam orde menit atau
detik) sulit dianalisis oleh NAA ini karena unsur tersebut akan meluruh terlebih
dahulu sebelum berhasil dideteksi.
3. Memerlukan waktu yang tidak sedikit untuk proses pencacahan cuplikan sampai
analisisnya.
4. Membutuhkan sumber neutron, biasanya digunakan reaktor nuklir.
5. Membutuhkan fasilitas pendukung seperti tempat penampungan dan pengolahan
limbah radioaktif serta fasilitas dan peraturan proteksi radiasi bagi pekerja.
6. Analisis kuantitatif sangat tergantung pada standar sekunder campuran yang
pembuatannya sangat rumit.
7. NAA tidak menyediakan peralatan sederhana dengan software yang mudah
dioperasikan dalam analisis laboratorium.
 Sumber:

https://www.malvernpanalytical.com/en/products/technology/x-ray-fluorescence/energy-
dispersive-x-ray-fluorescence

Harifan, Elsa Feryani, Mahrizal, Fatni Mufit. 2015. Analisis Komposisi Unsur Fe Terhadap Nilai
Suseptibilitas Magnetik Di Kota Padang Menggunakan Metode X-Ray Fluorescence (Xrf). Pillar Of
Physics. Vol. 5 : 57-64.

jurnal.batan.go.i

Admodjo, Djoko Prakoso Dwi, Indah Kusmartini, Syukria Kurniawati.2015. Pengujian

Unjuk Kerja Smoke Stain Reflectometer Eel43m Dan M43d Dalam Pengukuran Black
Carbon Sampel Lingkungan. 50 Tahun Reaktor TRIGA Bandung: 346-351

http://file.upi.edu/Direktori/FPMIPA/JUR._PEND._KIMIA/196808031992031-
AGUS_SETIABUDI/Bahan_Kuliah_Karakterisasi_Material/BAb_4_Teknik_XRF.pdf

https://www.scribd.com/doc/76696302/TUGAS-AKSEL