Kelompok:
1. Fabio Dwi Bagus Irawan (20130130128)
2. Mochamad Khalil Putra Prasetya (20140130009)
3. Eko Saryanto (20140130159)
4. Rachmat Saparudin (20140130267)
Pengertian
SEM (Scanning Electron Microscope) adalah salah satu
jenis mikroscop electron yang menggunakan berkas electron
untuk menggambarkan bentuk permukaan dari material yang
dianalisis.
SEM (Scanning Electron Microscope) memiliki resolusi
yang lebih tinggi dari pada mikroskop optic.
SEM mempunyai depthoffield yang besar, yang dapat
memfokuskan jumlah sampel yang lebih banyak pada satu
waktu dan menghasilkan bayangan yang baik dari sampel tiga
dimensi.
Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada
cahaya. Cahaya hanya mampu mencapai 200nm sedangkan
elektron bisa mencapai resolusi sampai 0,1 – 0,2 nm.
Prinsip kerja
1. Electron gun menghasilkan electron beam dari
filamen. Pada umumnya electron gun yang
digunakan adalah tungsten hairpin gun dengan
filamen berupa lilitan tungsten yang berfungsi
sebagai katoda. Tegangan yang diberikan kepada
lilitan mengakibatkan terjadinya pemanasan. Anoda
kemudian akan membentuk gaya yang dapat menarik
elektron melaju menuju ke anoda.
2. Lensa magnetik memfokuskan elektron menuju suatu
titik pada permukaan sampel.
3. Sinar elektron yang terfokus memindai (scan)
keseluruhan sampel dengan diarahkan oleh koil
pemindai.
4. Ketika elektron mengenai sampel, maka akan terjadi
hamburan elektron, baik Secondary Electron
(SE) atau Back Scattered Electron (BSE) dari
permukaan sampel dan akan dideteksi oleh detektor
dan dimunculkan dalam bentuk gambar pada monitor
CRT
KOMPONEN UTAMA
1. Penembak elektron (electron
gun)
2. Lensa Magnetik
3. Detektor
1. Backscatter detector
2. Secondary detector
4. Sample Holder
5. Monitor CRT (Cathode Ray
Tube)
Perbedaan SEM dengan TEM
PERSAMAAN SEM DAN EDX/EDS
Hampir sama dengan SEM hanya saja pada SEM EDX
merupakan dua perangkat analisis yang digabungkan menjadi satu
panel analitis sehingga mempermudah proses analitis dan lebih
efisien.
• PRINSIP
• KEGUNAAN
a. EDXRF dapat digunakan untuk berbagai aplikasi yang luar biasa
dari analisis unsur.
b. EDXRF ini dapat digunakan untuk menganalisa komponen
utama dalam produk atau proses atau penambahan aditif kecil.
HASIL PERCOBAAN
KELEBIHAN - KELEMAHAN SEM
Adapun kelebihan teknik SEM yaitu terdapat sistem vakum
pada electron-optical column dan sample chamber yang bertujuan antara
lain:
Menghilangkan efek pergerakan elektron yang tidak beraturan karena
adanya molekul gas pada lingkungan tersebut, yang dapat
mengakibatkan penurunan intensitas dan stabilitas.
Meminimalisasi gas yang dapat bereaksi dengan sampel atau
mengendap pada sampel, baik gas yang berasal dari sampel atau pun
mikroskop. Karena apabila hal tersebut terjadi, maka akan menurunkan
kontras dan membuat gelap detail pada gambar.
Topografi
Morfologi
Komposisi
Informasi kristalografi