KARAKTERISTIK

NANOMATERIAL

Mikrajuddin Abdullah dan Khairurrijal

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (SEM)

SEM adalah salah

satu jenis mikroskop
elektron yang
menggunakan berkas
elektron untuk
menggambar profil
permukaan benda.
Prinsip kerja SEM
adalah menembakkan
permukaan benda
dengan berkas

Dalam SEM berkas elektron berenergi tinggi

mengenai permukaan material. Elektron pantulan
dan elektron sekunder dipancarkan kembali
dengan sudut yang bergantung pada profil
permukaan material.

SEM memiliki resolusi yang lebih tinggi dibandingkan mikroskop

optik. Hal ini disebabkan oleh panjang gelombang de Broglie
yang dimiliki elektron lebih pendek daripada gelombang optik.
Makin kecil panjang gelombang yang digunakan maka makin
tinggi resolusi mikroskop.
Syarat agar SEM dapat menghasilkan citra yang tajam, yakni
permukaan benda harus bersifat sebagai pemantul elektron atau
dapat melepaskan elektron sekunder ketika ditembak dengan
berkas elektron. Material yang memiliki sifat demikian adalah
logam. Jika permukaan logam diamati di bawah SEM maka profil
permukaan akan tampak dengan jelas.

Permukaan Isolator perlu dilapisi logam

agar dapat diamati dengan jelas di bawah
SEM.

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)

TEM merupakan alat yang paling teliti yang

digunakan untuk menentukan ukuran partikel
karena resolusinya yang sangat tinggi. Partikel
dengan ukuran beberapa nanometer dapat
diamati dengan jelas menggunakan TEM. Bahkan
dengan high resolution TEM (HR-TEM) kita dapat
mengamati posisi atom-atom dalam partikel.

Prinsip kerja TEM yakni

sample yang sangat tipis
ditembak dengan berkas
electron yang berenergi
sangat tinggi (dipercepat
pada tegangan ratusan kV).
Berkas electron dapat
menembus bagian yang
lunak sample tetapi ditahan
oleh bagian keras sample
(seperti partikel). Detektor
yang berada di belakang
sample menangkap berkas
electron yang lolos dari
bagian lunak sample.
Akibatnya detector
menangkap bayangan yang

Ini adalah contoh foto TEM

sample partikel dan
carbon nanotube. Dari
citra CNT tampak garisgaris adalah barisan
atom-atom karbon yang
membentuk dinding
multiwall carbon
nanotube. Jumlah lapisan
kulit dapat ditentukan
dengan mudah hanya
dengan menghitung

ATOMIC FORCE MICROSCOPY

Prinsip Kerja
AFM juga sangat sederhana dan dapat dipahami hanya
dengan konsep-konsep fisika dasar. AFM memerlukan sistem
vakum, tegangan tinggi, maupun fasilitas pendinginan pada
SEM dan TEM.

CONTOH GAMBAR YANG DIAMATI

OLEH AFM
Perangkat utama sebuah AFM adalah
sebuah tip yang sangat tajam yang
ditempatkan di ujung cantilever yang
akan di gerakkan selama permukaan
benda yang teramati.
Dengan adanya tekstur
permukaan benda yang tidak rata
maka selama mengerakkan tip sudut
kemiringan cantilever berubah-ubah.
Perubahan sudut tersebut
memberikan informasi kealaman
tekstur permukaan benda.

KESIMPULAN
Karakterisasi sangat diperlukan untuk
memberi keyakinan bahwa kita telah berhasil
mensintesis
material
dengan
struktur
nanometer.
Karakterisasi
juga
akan
memberikan informasi sifat-sifat material.
Informasi
sifat-sifat
tersebut
memberi
peluang rekayasa material dalam skala
nanometer untuk menghasilkan sifat khas
yang berguna.

SEKIAN
&
TERIMA KASIH