TUGAS 05

Failure Analysis

1. Jelaskan beberapa tools untuk analisa kerusakan!

Jawab:
a. Mikroskop Optik

Mikroskop optik merupakan salah satu alat yang digunakan untuk untuk mengamati dan
mempelajari mikrostruktur dari suatu sample / objek pengamatan seperti keadaan
mikrostruktur pada butiran atau batas butir suatu logam, fasa serta distribusi fasanya.
Tujuan dari pengamatan menggunakan mikroskop optik adalah untuk mengamati
permukaan dari sampel dengan perbesaran hanya sampai seribu kali. Dengan perbesaran
sebesar itu, maka pemanfaatan mikroskop optik hanya dapat digunakan pada pengamatan
Makro dan Metalografi untuk melihat batas butir serta fasanya.
b. SEM
Scanning Electron Microscopy (SEM) adalah satu jenis mikroskop elektron dimana gambar
yang dihasilkan merupakan hasil dari pemindaian permukaan sampel dengan high-energy
beam of electrons. SEM memiliki perbesaran 10 – 1.000.000 kali, dengan tingkat
kedalaman (depth of field) 4 – 0.4 mm dan resolusi sebesar 1 – 10 nm.
Kombinasi dari ketiga hal tersebut diperlukan untuk mengetahui komposisi dan informasi
kristalografi, sehingga SEM banyak digunakan untuk aplikasi berikut ini:
- Topografi atau kontur permukaan dari sample. Hal ini sangat pentik untuk analisa
suatu kegagalan, sehingga dapat diketahui bentuk patahan yang terjadi dengan lebih
detail. Selain itu, pengetahuan mengenai topografi jufa akan bermanfaat untuk
mengetahui tekstur.
- Morfologi atau bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek, sehinga dapat
diketahui bentuk inklusi, porositas, void dan cacat yang terdapat pada sample.
 - Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek
(titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
- Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir
di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
c. TEM
Pada TEM, sampel yang disiapkan sangat tipis sehingga elektron dapat menembusnya
kemudian hasil dari tembusan elektron tersebut yang diolah menjadi gambar. Keuntungan
menggunakan TEM antara lain dapat menghasilkan informasi kristalinintas / amorphous
material, dapat melihat data kristalografi dan kimia dari unit sel serta resolusinya hingga
sub atomic.

Salah satu aplikasi TEM dapat terlihat pada gambar 8. Pada gambar tersebut terlihat perubahan
bentuk struktur Kristal dari Titanium dari HCP ke FCC. (Yu, et al., 2017)

Gambar a) Foto HAADF-STEM dari Struktur HCP dan FCC pada antar muka Ti. b) pewarnaan foto a,
menggunakan kebalikan pola FFT pada fasa HCP dan FCC (Yu, et al., 2017)

d. XRD

e. XRF

2. Jelaskan fungsi dan prinsip kerja tools di atas!

Jawab:
a. Mikroskop Optik
Pengamatan metalografi menggunakan mikroskop optik pada dasarnya menggunakan
bantuan cahaya refleksi atau cahaya polarisasi
 Gambar Cara kerja Mikroskop Optik
b. SEM
Prinsip kerja SEM adalah dengan memancarkan elektron, kemudian elektron-elektron
berinteraksi dengan atom-atom sehingga menghasilkan sinyal yang memberikan informasi
tentang topografi permukaan sampel, komposisi kimia (menggunakan EDS), struktur
kristal, dan sifat-sifat lainnya seperti konduktivitas listrik.

Pancaran elektron akan dibaca oleh receptor/detector yang terdiri atas :

a. X-Ray Detector untuk analisa komposisi kimia
b. Back Scatter Detector
c. Secondary Detector
d. Auger Electron Detector untuk analisa komposisi permukaan atom
e. Cathodoluminescence untuk informasi elektronik
c. TEM
Metode kerjanya adalah dengan mendifraksikan elektron menembus material/sampel.
Oleh karena itu, ukuran sampel harus tipis. Aplikasi utama TEM adalah sebagai analisis
mikrostruktur, identifikasi cacat, analisis interfasa, struktur kristal, tatanan atom pada
kristal, serta analisa elemental skala nanometer.

d. XRD
Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang melalui celah kristal. Difraksi cahaya
oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut berasal dari radius yang
 memiliki panjang gelombang yang setara dengan jarak antar atom, yaitu sekitar 1
Angstrom.

e. XRF
Pada XRF, interaksi sinar-X dengan spesimen akan dapat
mengionisasi elektron atau menurunkun elektron ke tingkat kulit yang lebih
dalam dan menghasilkan sinar-X karakteristik yang sangat spesifik untuk tiap
jenis unsur. Dengan mengidentidikasi sinar-X karakteristik tersebut maka dengan XRF
dapat ditentukan komposisi unsur yang ada pada spesimen tersebut.
Teknik yang menggunakan insiden gelombang elektromagnetik X-Ray dari X-Raytube, dsb.
Identifikasi yang dihasilkan dari insiden gelombang X-Ray ini adalah sudut difraksi beserta
dengan bidang (dalam miller’s index) dan intensitasnya.
3. Gambarkan skematis perbedaan prinsip kerja OM & SEM!
Jawab:
No Prinsip Kerja OM SEM
Pembeda
1 Skema Kerja

2 Sumber Energi Cahaya Elektron

3 Perbesaran Maksimum 1000 kali 10 – 1.000.000 kali

4. Jelaskan hasil apa saja yang diperoleh dari analisa kerusakan material dengan menggunakan
ketiga tools di atas!
Jawab:

5. Jelaskan prinsip antara Secondary Electron (SE) dan Quick Back Scatter Electron (QBSE)
pada hasil pengukuran permukaan material logam!
Jawab:
No Faktor Pembeda SE QBSE

1 Prinsip kerja elektron sekunder menghasilkan memberikan perbedaan berat molekul

topografi dari benda yang dianalisa, dari atom – atom yang menyusun
permukaan yang tinggi berwarna lebih permukaan, atom dengan berat
cerah dari permukaan rendah molekul tinggi akan berwarna lebih
 cerah daripada atom dengan berat
molekul rendah.

2 Hasil gambar