Disusun Oleh :
Nama : Faris Nasiruddin
Kelas : PT Elektronika, A1
NIM : 22502241003
FAKULTAS TEKNIK
UNIVERSITAS NEGERI YOGYAKARTA 2023
I.TUJUANPERCOBAAN
Praktikan diharapkan dapat
1. Membuktikan Teorema De Morgan I
2. Membuktikan Teorema De Morgan II
II. PENDAHULUAN
Pada percobaan ini diterapkan pemakaian dari teorema De Morgan yang menyatakan
bahwa :
1. suatu rangkaian NAND gate adalah ekivalen dengan rangkaian OR gate yang
menggunakan NOT gate pada setiap input-inputnya.
A.B=A+ B
2. suatu rangkaian NOR gate adalah ekivalen dengan rangkaian AND gate yang
menggunakan NOT gate pada setiap input-inputnya.
A + B =A . B
V. RANGKAIAN PERCOBAAN
A
A
X1 IN V
X2
B N AN D 2 OR 2
B IN V
A
A
Y1 IN V
Y2
B N OR 2 AN D 2
B IN V
TABEL 1
INPUT OUTPUT
A B X1 X2 Y1 Y2
0 0 1 1 1 1
0 1 1 1 0 0
1 0 1 1 0 0
1 1 0 0 0 0
VI. PERTANYAAN DAN TUGAS
1. Buatlah Tabel Kebenaran dari ke-4 percobaan tersebut, seperti terlihat pada Tabel 1.
INPUT OUTPUT
A B X1 X2 Y1 Y2
0 0 1 1 1 1
0 1 1 1 0 0
1 0 1 1 0 0
1 1 0 0 0 0
2. Bandingkanlah hasil-hasil dari percobaan tersebut. Kesimpulan apa yang dapat diambil
dari perbandingan ini ?
Jawab: dari hasil percobaan X2 di dapatkan bahwa NOT dan OR dapat menghasilkan
gerbang NAND jika disatukan, sedangkan dipercobaan Y2 terlihat bahwa NOT dan AND
dapat menghasilakan gerbang logika NOR, dengan adanya hasil praktek ini berarti
teorema de morgan terbukti benar yaitu A+ B = A . B dan A . B = A + B
3. Buktikanlah persamaan berikut dengan menggunakan teorema De Morgan :
Y=(A+B)+(A+B)=(A+B).(A+B)
X =(A+B)+(C+D) =(A.B)+(C.D)