Nama: Niswatul Khasanah

Nim : 1301596

Ringkasan Materi 2

DIFRAKSI KRISTAL DAN KISI BALIK

A. Jenis Difraksi Dalam Kristal
1. Sinar X
Sinar- X adalah gelombang elektromagnetik dengan sifat fisik yang sama
seperti gelombang elektromagnetik lainnya, seperti gelombang optik. Panjang
gelombang sinar-x sama dengan konstanta kisi kristal, dan hal inilah yang membuat
sinar-x berguna dalam analisis struktur kristal. Energi dari sinar-x foton diberikan
oleh hubungan Einstein E=hυ , di mana h adalah konstanta Planck dan υ adalah
frekuensi (Bagian AI). Mengganti h = 6,6 x 10-27 erg.s dan λ = 1 Å (ingat bahwa
υ = c / λ), orang menemukan energi E »104 eV, yang merupakan nilai khas.
Pengaturan eksperimen dasar untuk menghasilkan sinar-x digambarkan pada
Gambar 1. Elektron yang dipancarkan dari katoda di dalam tabung vakum dipercepat
oleh potensial yang besar. Sehingga elektron memperoleh energi kinetik yang tinggi
dan ketika elektron menumbuk target logam yang membentuk anoda pada ujung
tabung, hamburan sinar-x yang dipancarkan. Beberapa radiasi sinar-x kemudian
diekstraksi dari tabung dan digunakan untuk tujuan yang dimaksudkan. Radiasi yang
dipancarkan memiliki spektrum kontinyu yang luas, yang ditekankan serangkaian
garis diskrit. Spektrum kontinyu terjadi karena emisi radiasi oleh elektron seperti
yang dibelokkan oleh muatan nuklir pada target, sedangkan garis diskrit disebabkan
emisi oleh atom dalam target setelah garis diskrit tersebut ditimbulkan oleh elektron
yang datang. Frekuensi maksimum spektrum kontinyu vo berhubungan dengan
potensial percepatan oleh eV = hv0, karena energi maksimum foton tidak dapat
melebihi energi kinetik dari elektron yang datang. Panjang gelombang λ diberikan
oleh persamaan
12,3
λ0 = Å
V
 dimana V adalah dalam kilovolt.
Ketika sinar sinar-x melewati bahan, sebagian sinar diserap. Intensitas berkas
dilemahkan menurut hubungan
I=I 0 e−αx (2)
Dimana Io adalah intensitas awal pada permukaan medium dan x jarak
tempuh. Parameter ini dikenal sebagai koefisien penyerapan. Pelemahan intensitas
diungkapkan oleh persamaan (2) yang disebabkan oleh hamburan dan penyerapan
berkas oleh atom dalam medium.

Gambar 1. Generasi sinar X

Difraksi sinar-x oleh sebuah materi terjadi akibat dua fenomena: (1) hamburan
oleh tiap atom dan (2) interferensi gelombang-gelombang yang dihamburkan oleh
atom-atom tersebut. Interferensi ini terjadi karena gelombang-gelombang yang
dihamburkan oleh atom-atom memiliki koherensi dengan gelombang datang dan,
demikian pula, dengan mereka sendiri.
2. Elektron Cepat

Berkas elektron dihasilkan dari bedil elektron (elektron gun). Pemilihan

panjang gelombang elektron dilakukan dengan mengatur tegangan pemercepatnya
(energi elektron), menurut persamaan :

Salah satu kekurangan elektron sebagai sumber radiasi untuk difraksi kristal,
adalah karena elektron merupakan partikel bermuatan. Sebagai partikel bermuatan,
elektron mudah diserap oleh bahan, sehingga daya tembusnya kurang. Dengan
demikian, difraksi elektron hanya memberikan informasi tentang permukaan bahan
saja.
 3. Neutron
Berkas neutron dihasilkan dari reaksi inti, yang dapat berlangsung di dalam
reaktor atom (melalui reaksi fisi) dan dalam generator neutron. Dalam reaktor atom,
reaksi fisi diawali dengan penembakan neutron termal yang diarahkan pada inti berat,
misal uranium (92U235), sehingga terjadi pembelahan inti (fisi) yang disertai dengan
pemancaran neutron (dalam jumlah yang banyak) dan pembebasan energi sampai 200
MeV; menurut reaksi :
n + 92U235 X+Y + an + 200 MeV
neutron termal inti hasil fisi sejumlah neutron
(tak setabil)
atau dapat dituliskan dengan notasi : a(A, B)n. Salah satu contoh reaksi tersebut
misalnya : 2He4 (4Be9, 6C12)0n1. Berkas neutron, yang dihasilkan oleh reaksi inti
umumnya memiliki energi yang tinggi (neutron cepat).
Agar panjang gelombang neutron sekitar 1 angstrom, maka menurut
persamaan di atas energi neutron haruslah sekitar 0,025 eV (termasuk neutron
termal). Adapun klasifikasi neutron menurut besarnya energi adalah :
1) neutron termal : berenergi 0,025 eV
2) neutron lambat : berenergi 0-1 keV
3) neutron menengah : berenergi 1-500 keV
4) neutron cepat : berenergi 0,5-10 MeV

5) neutron ultra-cepat : berenergi >10 MeV

Untuk menurunkan energi neutron perlu langkah termalisasi, dengan cara
melewatkan berkas neutron pada moderator (air, grafit, air berat : D 2O). Selanjutnya,
neutron termal (λ sekitar 1 angstrom) masih memerlukan upaya penyelesaian agar
berkas neutron bersifat monokhromatis (tepatnya monoergis), dan sebagai
monokhomator umumnya dipakai kristal grafit.

B. Hukum Bragg
Sinar-X dapat terbentuk bilamana suatu logam sasaran ditembaki dengan berkas elektron
berenergi tinggi. Dalam eksperimen digunakan sinar-X yang monokromatis. Kristal akan
memberikan hamburan yang kuat jika arah bidang kristal terhadap berkas sinar-X (sudut
 θ) memenuhi persamaan Bragg, seperti ditunjukkan dalam persamaan berikut (Callister,
2003).
2d sin θ = nλ
Dimana:
d = jarak antar bidang dalam kristal
θ = sudut deviasi
n = orde (0,1,2,3,.....)
λ = panjang gelombang

Gambar 2. ilustrasi pemantulan Bragg dari sebuah kumpulan bidang paralel.

Jika JE + EK = λ, kemudian LH + HM = 2λ, dan seterusnya serta seluruh lapisan
(layer) yang bertumpuk menghamburkan sefase, maka intensitas dari foton difraksi
direkam oleh detektor. Jika wavelets sedikit berbeda fase, maka interferensi destruktif
terjadi karena terdapat ratusan lapisan (layer) dengan ketidaksamaan fase yang meningkat
sedikit demi sedikit, n umumnya diambil bernilai 1 dan ini dapat dipahami bahwa yang
digunakan merupakan sinar monokromatik.

C. Metode Percobaan Difraksi Sinar X

Difraksi dapat terjadi kapan saja ada hukum Bragg, λ = 2d sin . Persamaan ini
menempatkan kondisi yang sangat ketat pada λ dan  untuk setiap kristal tertentu.
Dengan radiasi monokromatik, pengaturan sebarang dari kristal tunggal dalam berkas
sinar-x tidak akan menghasilkan apapun dalam berkas difraksi. Beberapa cara untuk
memenuhi hukum Bragg harus dirancang, dan ini dapat dilakukan dengan terus menerus
memvariasikan baik λ atau  selama percobaan. Terdapat tiga metoda difraksi utama:
1. Metode Laue
 Metoda Laue adalah suatu metoda difraksi yang pertama pernah digunakan,
dan mereproduksi percobaan asli Von Laue. Sebuah sinar radiasi putih, spektrum
kontinyu dari sebuah tabung sinar-x, yang dibiarkan jatuh pada kristal tunggal. Pada
sudur Bragg  yang tetap untuk setiap set bidang dalam kristal, dan setiap set difraksi
memiliki panjang gelombang tertentu yang memenuhi hukum Bragg untuk nilai-nilai
tertentu d dan . Setiap berkas difraksi memiliki panjang gelombang yang berbeda.
Terdapat dua variasi dari metoda Laue yang tergantung pada posisi relatif dari
sumber, kristal, dan film (Gambar 3-5). Dalam setiap film yang datar, ditempatkan
tegak lurus terhadap berkas peristiwa. Film dalam metoda transmisi Laue (metoda
Laue asli) ditempatkan di belakang kristal sehingga dapat merekam berkas difraksi
dalam arah maju. Metoda ini disebut demikian karena berkas difraksi sebagian
ditransmisikan melalui kristal. Dalam metoda refleksi Laue adalah film ditempatkan
di antara kristal dan sumber sinar-x, sinar berkas peristiwa melewati lubang dalam
film, dan berkas difraksi dalam arah mundur dicatat.
Dalam metoda tersebut, berkas difraksi membentuk sebuah susunan dari titik-
titik pada film seperti diperlihatkan pada Gambar. 3.6. Susunan periodik pada titik-
titik ini biasanya disebut sebagai pola, tetapi istilah ini tidak digunakan dalam
pengertian sempurna dan tidak berarti setiap pengaturan periodik dari titik-titik.

Gambar 3.5 Transmisi dan Refleksi Balik Metoda Laue

Gambar 3.6 Transmisi dan Refleksi Balik Pola Laue dari Kristal aluminium. Tungsten radiasi,
30 kV, 19 mA.
Kurva yang terlihat dalam foto umumnya elips atau hiperbola untuk pola
transmisi [Gambar. 3.6 (a)] dan hiperbola untuk pola refleksi balik [Gambar. 3.6 (b)].
 Gambar 3.7 Lokasi titik Laue (a) pada elips dalam metod transmisi dan (b)
pada hiperbola dalam metoda refleksi balik (C = kristal, F = film, ZA = daerah
sumbu).
Titik-titik terletak pada salah satu kurva yang merupakan refleksi dari bidang
salah satu daerah. Hal ini disebabkan oleh fakta refleksi Laue pada bidang dari daerah
semua di permukaan ke kerucut imajiner yang sumbunya adalah sumbu daerah.
Seperti ditunjukkan pada Gambar. 3-7 (a), satu sisi kerucut bersinggungan dengan
berkas transmisi, dan sudut kemiringan ϕ sumbu daerah (ZA) berkas transmisi
sama dengan sudut dari semi-puncak kerucut.
Sebuah film ditempatkan seperti yang ditunjukkan yaitu memotong kerucut di
elips imajiner yang melewati pusat film, titik-titik difraksi dari bidang dari daerah
yang diatur pada elips ini. Ketika sudut melebihi 45 °, sebuah film ditempatkan di
antara kristal dan sumber sinar-x untuk merekam pola refleksi balik yang akan
berpotongan pada kerucut dalam hiperbola, seperti yang ditunjukkan pada Gambar-3-
7 (b)
Fakta bahwa refleksi Laue dari bidang pada daerah di permukaan kerucut
dapat dengan baik ditunjukkan dengan proyeksi stereografik. Dalam Gambar. 3-8,
kristal adalah di pusat bola referensi, berkas peristiwa I masuk dari kiri, dan berkas
transmisi T di sebelah kanan. Titik yang mewakili sumbu daerah terletak pada keliling
lingkaran dasar dan kutub lima bidang pada daerah ini, P 1 sampai P5, berada di
lingkaran besar yang ditunjukkan. Arah difraksi oleh salah satu bidang, misalnya
bidang P2, dapat ditemukan sebagai berikut. I, P2, D2 (arah difraksi yang diperlukan),
 dan T sebidang. Oleh karena itu D2 terletak pada lingkaran besar melalui I, P2, dan T.
Sudut antara I dan P2 (90°-), dan jarak D2 harus terletak pada jarak sudut yang sama
dengan sisi lain dari P2, seperti yang ditunjukkan. Para berkas difraksi ditemukan, D l
sampai D5, yang terlihat di lingkaran kecil, persimpangan dengan bola referensi dari
sumbu kerucut adalah sumbu daerah.

Gambar 3.8 Proyeksi Stereografik dari Metoda Transmisi Laue

Posisi titik pada film, baik untuk transmisi dan metoda refleksi balik,
tergantung pada orientasi kristal relatif ke berkas peristiwa, dan titik-titik menjadi
menyimpang dan melapisi kristal. Fakta-fakta ini menjelaskan dua penggunaan utama
dari metoda Laue yaitu penentuan orientasi kristal dan penilaian kualitas kristal.
2. Metode Rotasi Kristal

Dalam Metoda rotasi kristal sebuah kristal tunggal dipasang dengan salah satu
sumbu, atau beberapa arah kristallografik, normal ke berkas sinar-x monokromatik.
Sebuah film silinder ditempatkan di sekitarnya dan kristal dirotasikan dengan arah
yang dipilih, sumbu dari film bertepatan dengan sumbu rotasi kristal (Gambar 3-9).
Sebagai kristal berputar, satu set bidang kisi tertentu akan membuat sudut Bragg
untuk refleksi dari berkas peristiwa monokromatik, dan pada saat itu sebuah berkas
transmisi akan terbentuk. Berkas transmisi sekali lagi terletak pada kerucut imajiner
tapi sekarang sumbu kerucut tersebut bertepatan dengan sumbu rotasi. Hasilnya
adalah bahwa titik pada film, ketika film ini diletakkan datar, terletak pada garis
horisontal imajiner, seperti ditunjukkan pada Gambar. 3-10. Kristal diputar sekitar
satu sumbu, sudut Bragg tidak mengambil semua nilai yang mungkin antara 0° dan
90° untuk setiap set bidang. Tidak setiap set mampu menghasilkan Berkas difraksi,
sebagai contoh set tegak lurus atau hampir tegak lurus dengan sumbu rotasi.
 Gambar 3.9 Metoda Rotasi Kristal

Penggunaan utama dari metoda Rotasi kristal dan variasinya dalam mencegah
struktur kristal yang tidak diketahui, dan untuk tujuan itu alat yang berguna adalah
kristallographer sinar-x Namun, penentuan lengkap struktur kristal kompleks adalah
subjek di luar cakupan buku ini dan di luar provinsi metalurgi rata yang menggunakan
sinar-x difraksi sebagai alat laboratorium. Untuk alasan ini metoda rotasi kristal tidak
akan dijelaskan secara detail lebih lanjut, kecuali untuk diskusi singkat dalam
Lampiran I.

Gambar 3.10 Pola Rotasi Kristal dari Kristal hexagonal yang diputar pada sumbu C. Filter
Radiasi (coretan disebabkan oleh radiasi putih tidak dihapus oleh filter) (Courtesy B.E.Warren)

3. Metode Serbuk

Dalam metoda powder, kristal diperiksa dan dikurangi menjadi powder yang
sangat halus dan ditempatkan dalam berkas dari sinar-x monokromatik. Setiap
partikel powder adalah kristal kecil, atau himpunan kristal yang lebih kecil,
berorientasi secara acak sehubungan dengan berkas peristiwa. Hanya secara
kebetulan, beberapa kristal akan benar berorientasi sehingga (100) bidang, misalnya,
dapat merefleksikan berkas peristiwa. Kristal lain akan berorientasi untuk (110)
refleksi, dan sebagainya. Hasilnya bahwa setiap set bidang kisi mampu berefleksi.
Massa powder setara, pada kenyataannya, rotasi kristal tunggal, bukan tentang satu
sumbu, tapi tentang semua sumbu.

Gambar 3.11 Pembentukan Kerucut Difraksi dari Radiasi dalam Metoda Powder

Pertimbangkan satu refleksi hkl. Satu atau lebih kristals kecil akan,
berorientasi bahwa (hkl) dalam bidang yang membentuk sudut Bragg untuk refleksi;
Gambar. 3.11 (a) menunjukkan satu bidang di set yang cenderung terbentuk pada
Berkas terdifraksi. Jika bidang ini sekarang diputar pada berkas peristiwa sebagai
sumbu sedemikian rupa sehingga  dipertahankan konstan, maka Berkas refleksi akan
melakukan perlintasanan di atas permukaan kerucut seperti ditunjukkan pada Gambar.
3.11 (b), sumbu kerucut bertepatan dengan Berkas refleksi. Rotasi ini tidak benar-
benar terjadi dalam metoda powder, namun keberadaan sejumlah besar partikel kristal
memiliki semua kemungkinan orientasi setara dengan rotasi ini, karena di antara
partikel-partikel ini akan ada fraksi tertentu yaitu (hkl) bidang yang membuat sudut
Bragg dengan Berkas peristiwa dan pada waktu yang sama posisi rotasi pada sumbu
berkas peristiwa. Refleksi hkl dari massa stasioner powder memiliki bentuk lembaran
berbentuk kerucut radiasi difraksi, dan kerucut terpisah yang dibentuk untuk setiap set
bidang kisi dengan ruang berbeda.

Gambar 3.12 menunjukkan tiga kerucut dan juga menggambarkan metoda

difraksi powder-yang paling umum. Dalam hal ini, metoda Debye-Wseherrer, film
sempit melengkung ke dalam sebuah silinder dengan spesimen yang ditempatkan
pada porosnya dan berkas peristiwa itu diarahkan pada segitiga untuk sumbu ini.
Difraksi radiasi Kerucut berpotongan pada strip silinder film di garis dan, ketika strip
membuka gulungan dan ditata datar, pola yang dihasilkan memiliki penampilan yang
diilustrasikan pada Gambar. 3.l2 (b). Pola yang sebenarnya dihasilkan oleh berbagai
serbuk logam yang disajikan pada Gambar. 3.13. Setiap baris difraksi jika terdiri dari
banyak bintik-bintik kecil, masing-masing dari partikel kristal terpisah, yang berada
begitu dekat dengan munculnya garis kontinyu. Garis umumnya melengkung, kecuali
mereka terjadi persis pada 2=90° ketika mereka akan menjadi lurus. Dari posisi
diukur dari garis difraksi diberikan pada film,  dapat ditentukan, dan, mengetahui
λ , kita dapat menghitung jarak d dari bidang kisi yang terefleksi yang dapat
menghasilkan garis

Sebaliknya, jika bentuk dan ukuran sel satuan dari kristal diketahui, kita dapat
memprediksi posisi garis semua difraksi pada film. Garis terendah dengan nilai 2
yang dihasilkan oleh refleksi dari bidang dari jarak terbesar. Dalam sistem kubik,
misalnya, d adalah maksimum ketika (h2 + k2 + l2) adalah minimum, dan nilai
minimum dari istilah ini adalah 1, sesuai dengan (hkl) sebesar (100). Refleksi 100
adalah sesuai salah satu nilai terendah 2. Refleksi berikutnya mungkin akan
memiliki indeks hkl sesuai dengan nilai yang lebih tinggi berikutnya (h2 + k2 + l2),
yaitu 2, dalam hal ini (hkl) sama dengan (110), dan sebagainya

Gambar 3.12 Debye-Scherrer metoda powder: (a) hubungan film untuk spesimen dan berkas

peristiwa, (b) munculnya film saat diletakkan datar.

Debye-Scherrer dan variasi lain dari metoda powder sangat banyak

digunakan, khususnya dalam metalurgi. Metoda powder, satu-satunya metoda yang
 dapat digunakan ketika sebuah spesimen tunggal-kristal tidak tersedia, dan hal ini
terjadi lebih sering daripada tidak dalam pekerjaan metalurgi. Metoda ini sangat
cocok untuk menentukan parameter kisi dengan presisi tinggi dan untuk identifikasi
fase, apakah mereka terjadi sendiri atau dalam campuran seperti paduan polyphase,
produk korosi, tahan api, dan batuan. Kegunaan lainnya dari metoda powder akan
sepenuhnya dijelaskan dalam bab-bab selanjutnya.

D. Penurunan Rumus Amplitudo Hamburan

1. Analisis Fourier
Sebagian besar sifat kristal dapat dihubungkan dengan komponen Fourier dari
kerapatan elektron. Aspek tiga dimensi pada kecenderungan waktu tertentu tidak
menyebabkan berbagai kesulitan dengan matematikanya, tapi pertama kita mengingat
fungsi n (x) dengan periode a pada satu dimensi. Kita kembangkan n (x) dalam deret
Fourier sinus dan kosinus :

Dimana p adalah bilangan bulat positif, Cp dan Sp adalah konstanta real,

disebut koefisien ekspansi Fourier.
2п
Faktor dalam uraian akan meyakinkan bahwa n (x) memiliki periode
a
a:

2п p
Kita dapat menyatakan bahwa sebuah titik pada kisi balik atau ruang
a
Fourier pada kristal. Titik kisi balik memberitahukan kita bahwa diizikan terminologi
dalam deret Fourier.
Terminologi diizinkan jika konsisten dengan kecenderungan waktu tertentu
dari kristal, seperti gambar berikut, titik lain dalam ruang balik tidak diizinkan dalam
ekspansi Fourier pada fungsi periodik. Ini adalah waktu yang tepat untuk menuliskan
deret dengan rapi dari :
 Koefisien np merupakan bilangan kompleks. Untuk memastikan bahwa n (x)
adalah fungsi nyata, kita memerlukan n-p = np
Kemudian jumlah dari terminologi p dan –p adalah real. Dengan φ =
2 п px /a maka jumlahnya adalah :

yang mana dalam jumlah untuk fungsi real,

jika pers. (4) terpenuhi. Re {np} dan Im {np} menunjukkan bagian real dan imajiner
dari np.
Ekspansi dari Analisis Fourier untuk fungsi periodik dalam tiga dimensi tidak rumit.
Kita temukan kumpulan dari vektor G

adalah sama dibawah seluruh translasi kisi T yang meninggalkan kristal yang sama.

2. Vektor Kisi Balik

Sumbu-sumbu vektor b1, b2 dan b3 untuk kisi balik didefinisikan sebagai relasi,
dengan , a1 . a2 dan a3 adalah vektor basis kisi . Sifat-sifat dari b 1, b2 dan b3 adalah
bahwa berlaku aturan :
dij = 1 jika i = j : dij = 0 jika i¹j.

ìb1 .a1 = 2p b1.a2 = b1 .a3 = 0

bi.aj = 2pdij íb2 .a2 = 2p b2.a1 = b2. a3 = 0

îb3 .a2 = 2p b3.a1 = b3 .a2 = 0

 Titik-titik dalam kisi balik dipetakan dengan seperangkat vektor dalam bentuk
vektor kisi balik G :

G = hb1 + kb2 + lb3

dengan h, k dan l adalah bilangan bulat . b1, b2 dan b3 disebut dengan vektor
basis balik.

a
b 3
3 a
2b
a
b 2
1
Gambar 1.1Relasi vektor basis balik dan vector basis kisi

Vektor b1 adalah tegak lurus terhadap bidang yang dibuat oleh vektor a2 dan a3
Vektor b2 adalah tegak lurus terhadap bidang yang dibuat oleh vector a1 dan a3 Vektor
b3 adalah tegak lurus terhadap bidang yang dibuat oleh vector a1 dan a2.

a. Kisi Balik Dari Kubus Sederhana (sc = simple cubic)

Vektor basis dari kisi kubus sederhana adalah

a 3= a z
^
Volume
b sel adalah 2π
= a1 . a2 x a3 =a3
z. Vektor basis primitif dari kisi baliknya adalah
^
3
a

Batas-batas daerah Brillouin pertamanya adalah bidang normal dari ke 6 vektor

kisi balik ±b1 , ±b2 , ±b3 , yaitu pada titik tengah dari vektor kisi balik
bersangkutan.
π
±b3 =± z
^
a

Kisi Balik untuk Kubus Berpusat Tubuh (bcc = body center cubic)
 a
a
2
1 a
3
Gambar 2. Kisi Balik untuk Kubus Berpusat Tubuh

Vektor basis primitif dari kekisi bcc adalah

a1 = 12 a (−^x + ^y +^z ) ;
a2 = 12 a ( x^ − ^y + ^z ) ;
a3 = 12 a ( x^ + ^y − ^z )

Vektor basis kisi balik dari bcc adalah

2π 2π 2π
b1 = a ( ^y +^z ) ; b2 = a ( x^ +^z ) ; b3 = a ( x^ + y^ )

Volume sel dalam ruang balik terebut adalah

b1 . b2 x b3 = 2 (2p/a)

Vektor kisi baliknya dalam bilangan h k l adalah

2π
G= [( k +ℓ ) x
^ +(h + ℓ ) ^y +( h+ k ) z^ ]
a

b. Kisi Balik Dari Kubus Berpusat Muka (fcc = face center cubic)

Gambar 3. Vektor basis kisi kubus berpusat-muka (fcc)

Vektor basis primitif untuk kisi fcc adalah
a 1 = a ( ^y +^z ) ; a2 = a ( ^x+ z^ ) ; a3 = a ( ^x + y^ )
 Vektor basis primitif kisi balik untuk kisi fcc adalah
2π 2π 2π
b1 = (−^x + ^y +^z ) ; b2 = ( ^x − ^y +^z ) ; b3 = ( ^x + ^y −^z )
a a a
3. Kondisi Difraksi
k’
k
k
(hkl)

k
Didefinisikan vektor hamburan Dk sedemikian rupa k + Dk = k’. Ini merupakan
ukuran dari perubahan vektor gelombang terhambur. Bila yang terjadi adalah
hamburan yang bersifat elastis, maka tidak ada perubahan besar vektor gelombang|k| = |k '| = 2 π λ
sehingga
Perubahan vektor Dk dalam k adalah tegak lurus terhadap bidang (hkl). Arahnya
adalah searah dengan arah G(hkl) atau vektor satuan n. Maka diperoleh hubungan
Δ k= ( k' − k ) = 2 Sin θ |k | n^ 4 π Sin θ G hkl
[
Dapat ditunjukkan bahwa jarak antar bidang d
] =
λ | Ghkl |
(hkl) berkaitan dengan besar G(hkl) dalam
bentuk 2π
d hkl =
| G hkl |
Sehingga dapat diungkapkan bahwa

Δ k= [ 2 d (hkl ) Sin θ
λ ] G(hkl )

Jika hukum Bragg terpenuhi maka,

Δ k = Ghkl

Dengan demikian relasi antara vektor gelombang awal dan akhir refleksi
Bragg dari gelombang – partikel dapat ditulis sebagai
k ' = Ghkl + k
Jika kuantitas 2
sehingga2 kondisi difraksi dapat ditulis sebagai
|k| = |k'|

2 k . G + G2 = 0
Ini adalah ungkapan bagi kondisi yang diperlukan untuk terjadinya difraksi.
Dapat dibuktikan bahwa

a1 . Δk = 2 π h ; a2 . Δk = 2 π k ; a3 . Δk = 2 π l
 Persamaan ini adalah persamaan Laue, yang mana digunakan dalam
pembicaraan simetri dan struktur kristal.
2
2 k. G + G = 0
E. Analisis Fourier Dari Basis
Resultan gelombang difraksi oleh keseluruhan atom dalam unit sel (satu satuan sel)
dinyatakan dalam faktor struktur. Bila kondisi difraksi terpenuhi amplitudo terhambur
bagi kristal terdiri dari N sel adalah diungkapkan sebagai
FC=N.SG
Dimana kuantitas SG disebut dengan faktor struktur yang didefinisikan sebagai
r j= x a + y a + z a
j 1 yang
Dan fj = faktor atomik. Kemudian, bagi refleksi j dilabel
2 j dengan
3 h, k, l,

Sehingga faktor struktur S G . r j =¿ 2 π ( hx j +ky j +lz j )

¿
S ( hkl ) = ∑ f exp [ i 2 π ( hx +ky +lz )]
Amplitudo terhambur sebagaiG penjumlahan
j
j
yang bentukj eksponensial
j j

iφ
Dalam difraksi intensitas adalah
F ( hkl )=∑
terkait dengan
f j e j =famplitude,
Cos φ + f yaitu besar
i Sin φ= f Aabsolut
+ f B |F|
j

√
2 2
|F|=
(∑ f j A j) + (∑ f j B j)
j j

A = ∑ Cos 2π (hx + ky +lz) ; B = ∑ Sin 2π ( hx+ky+lz)

√
2 2
|F|=
{∑ f j cos2 π ( hx j+ky j+lz j)} +{∑ f j sin 2 π (hx j+ky j+lz j) }
j j

F. Daerah Brillouin
Zona Brilloin ditemui ketika terjadi difraksi Bragg dari sinar-X. Ketika bidang
normal yang membagi dua vektor kisi balik, daerah itu ditutup antara antara bidang
tersebut dari variasi Brillouin Zone. Untuk kristal satu dimensi, berhimpit dengan
sehingga 2 = 2 cos = 2 , Dengan ϴ demikian nilai = + ½ , dimana = n(2п/a) adalah vektor
kisi respirok, dan n adalah bilangan bulat. Sehingga = + ½ = + n(п/a). Difraksi pertama
terjadi dan celah energi pertama terjadi untuk nilai = + (п/a). C daerah antara - п/a dengan
п/a disebut Daerah Brilloiun zona pertama.

Latihan:
1. Perak memiliki struktur fcc dengan jari-jari atom 0,1444 nm, berapa besar sisi unit sel
perak itu?

Jawab :

Diketahui : r= 0,1444 nm

Ditanya : a ?

4 r 4 (0,1444)
a= = =0,408 nm
√2 √2
2. Nikel memiliki struktur fcc dengan kerapatan 8,9 Mg/m3

a) Berapakah besar volume per unit sel ?

b) Berdasarkan jawaban bagian a) hitunglah jari-jari atomnya?

Jawab :

3
Diketahui : ρ=8,9 Mg /m m= 58,69

Ditanya : a) V ?

b) r ?

m
ρ=
V

m 58,69
a) V= = =6,59 x 103 m3
ρ 8,9 Mg / m3

b)
4
V =4 x ( r 3) sehingga r= 3 3 V
3 16 π √
r=
√
3 3(6,59 x 103 m3)
16 (3,14)
=7,328 nm

3. Karena emas tebalnya 0,08 nm dan luasnya 670 nm2 .

a) Bila emas itu adala kristal kubik dengan a=0,4076 nm,ada berapa unit sel dalam
kertas emas itu?
 b) Bila emas kerapatannya 19,32 Mg/m3 , berapa massa per unit sel?

Jawab :

Diketahui : d=0,08 nm , luas =670 nm2

3
a ¿ 0,4076 nm ρ=19,32 Mg /m

Ditanya : a) unit sel ?

b) massa per unit sel ?

massa
sel
unit
ρ=
volume
sel
unit

massa volume Mg
unit
sel=ρ x
unit m( )
sel= 19,32 3 x ( 53,6 nm 3 )=1,035 x 10−24 mg

4. Perak memiliki struktur fcc, dengan konstanta kisi 0,4077 nm, bila berat atomnya adalah
108, berapakah kerapatannya?

Jawab :

Diketahui : a=0,4077 nm

m=108

ditanya : ρ?

a √ 2 0,4077 nm √ 2
r= = =0,144 nm
4 4

V =4 x ( 43 r )=4 x( 43 (0,144) )=0,05 m

3 3 3

m 108 3
ρ= = =2159,77 Mg /m
V 0,05 m3
5. Suatu kristal KCl memiliki struktur fcc dengan kerapatan 1,98 g/cm3 . bila berat
molekulnya adalah 74,55, berapakah jarak antara dua atom yang berurutan?

Diketahui : ρ=1,98 g/cm 3 KCl, m=74,55

Ditanya : jarak antara dua atom yang berurutan?

Jawab:

Massa unit sel= 4 KCl(74,55)/ (6,02 x 1023 KCl)

3 Massaunit sel
Volume unit sel= V =a3 Sehingga V =a =
ρ

V =a =
3 Massa unit sel
ρ √
se h ingga a=
3 4 KCl(74,55)/(6,02 x 10 23 KCl)

1,98 g/cm 3
−9
=0,135 x 10 m

jarak antara dua atom yang berurutan=1/2 ( 0,135 x 10−9 m )= 0,067 nm

6. Nikel memiliki struktur fcc dengan jari-jari atomnya adalah 1,243 x 10-10m. Hitunglah
jarak antara bidang-bidang : a) (200), b) (220),c) (111).

Diketahui : r=1,243 x 10-10m

Ditanya : jarak antara bidang a) (200), b) (220),c) (111)?

Jawab:

Konstanta kisi dari unit sel fcc

4 r 4 x 1,243 x 10−10 m
a= = =3,515 Å
√2 √2
3,515 Å
d 200 = =1,757 Å
√22 +02 +0 2
3,515 Å
d 220 = =1,242 Å
√22 +22 +02
3,515 Å
d 111= =2,029 Å
√12 +12 +12
7. Konstanta kisi suatu unit sel timah adalah 0,493 nm. Bila timah hitam ini memiliki
struktur fcc, hitunglah jumlah atom/mm2 pada bidang (100) dan (111).

Diketahui : a=0,493 nm

Ditanya : jumlah atom/mm2 pada bidang (100) dan (111)?

4r 0,493 √ 2
a= dimanar = =0,174 nm
√2 4

Bidang (100) berisi 2 atom per muka unit sel

0,493 x 10−6
¿
¿
¿2
¿
¿
atom 2 atom
=
mm2 ¿

Bidang (111) berisi 3 atom dari 1/6 atom dan 3 buah dari ½ atom

Jumlah atom pada bidang ini=(3x1/6)+(3x1/2)=2 atom

Luas bidang ini :

1 1 1 1
L AFH = x FHx AK = a √ 2= a √6= a 2 √ 3=4 r 2 √ 3
2 2 2 2

12 atom/ mm3
¿
atom 2atom 2 atom
2
= 2 = 2
=9,53 x 10¿
mm 4 r √ 3 4( 0,174 nm) √ 3

8. Lukislah bidang (111) pada Cu yang memiliki struktur fcc dan konstanta kisi 0,361 nm.
(a) hitunglah jumlah atomnya per mm2 dan (b) jarak antar bidangnya.

Diketahui : a=0,361 nm
Ditanya :
 a) jumlah atomnya per mm2

4r 0,361nm √ 2
a= dimanar = =0,127 nm
√2 4

Bidang (111) berisi 3 atom dari 1/6 atom dan 3 buah dari ½ atom

Jumlah atom pada bidang ini=(3x1/6)+(3x1/2)=2 atom

Luas bidang ini :

1 1 1 1
L AFH = x FHx AK = a √ 2= a √6= a 2 √ 3=4 r 2 √ 3
2 2 2 2

12 atom/mm3
¿
atom 2atom 2 atom
2
= 2 = 2
=17,92 x 10¿
mm 4 r √ 3 4( 0,127 nm) √ 3

9. Nikel memiliki struktur fcc dengan jari-jari atom 0,1246 nm. Berapakah jarak
d200;d220;d111?

Diketahui : r=0,1246 nm
Ditanya : jarak d200;d220;d111?
Jawab :
Struktur fcc r=0,1246 nm=0,1246 x 10-9 m
Konstanta kisi untuk unit sel fcc
4 r 4 x 0,1246 x 10−6 m
a= = =o , 352 nm
√2 √2
Untuk bidang (200) h=2,k=0,l=0

0,352 Å
d 200 = =0,176 Å
√22 +02 +0 2
0,352 Å
d 220 = =0,124 Å
√22 +22 +02
0,352 Å
d 111= =0,203 Å
√12 +12 +12