RESUME

TEROPONG DAN MIKROSKOF

Disusun untuk memenuhi tugas mata kulia Konsep Dasar IPA SD

Dosen pengampu : Dr. Gamar Abdullah, S.SI, M.Pd

Disusun oleh :

Hawadira Haleda (151422142)

JURUSAN PENDIDIKAN GURU SEKOLAH DASAR

FAKULTAS ILMU PENDIDIKAN

UNIVERSITAS NEGRI GOROTALO

2022/2023
A. Teropong
Teleskop atau teropong adalah sebuah instrumen pengamatan yang berfungsi
mengumpulkan radiasi elektromagnetik dan sekaligus membentuk citra dari benda yang
diamati. Teleskop merupakan alat paling penting dalam pengamatan astronomi. Jenis
teleskop (biasanya optik) yang dipakai untuk maksud bukan astronomis antara lain adalah
transit, monokular, binokular, lensa kamera, atau keker. Teleskop memperbesar ukuran
sudut benda, dan juga kecerahannya Sebuah teleskop optik adalah teleskop yang bekerja
mengumpulkan cahaya atau memfokuskan cahaya terutama dari spektum cahaya tampak
dari spektrum elektromagnetik (meskipun ada beberapa yang juga bekerja
mengumpulkan sinar inframerah dan ultraviolet). Teleskop optik digunakan untuk
memperbesar dan memperjelas bentuk obyek yang berada pada jarak yang jauh.
1. Sejarah Teropong
Perkembangan ilmu pengetahuan dan teknologi pengamatan pada lima
abadlalu membawa manusia untuk memahami benda-benda langit terbebas
dariselubung mitologi. Galileo Galilei (1564-1642) dengan teleskop refraktorny
amampu menjadikan mata manusia "lebih tajam" dalam mengamati benda langit yang
tidak bisa diamati melalui mata biasa.
Karena teleskop Galileo bisa mengamati lebih tajam, ia bisa melihat berbagai
perubahan bentuk penampakan Venus, seperti Venus Sabit atau Venus Purnama
sebagai akibat perubahan posisi Venus terhadap Matahari. Teleskop Galileo terus
disempurnakan oleh ilmuwan lain seperti Christian Huygens(1629- 1695) yang
menemukan Titan, satelit Saturnus, yang berada hampir 2kali jarak orbit Bumi-
Yupiter.
Perkembangan teleskop juga diimbangi pula dengan perkembangan
perhitungan gerak benda-benda langit dan hubungan satu dengan yang lain melalui
Johannes Kepler (1571-1630) dengan Hukum Kepler. Dan puncaknya,Sir Isaac
Newton (1642-1727) dengan hukum gravitasi. Dengan dua teori perhitungan inilah
yang memungkinkan pencarian dan perhitungan benda- benda langit selanjutnya.
2. Jenis-jenis Teropong
Jenis teropong ini juga sebuah teropong yang digunakan untuk dapat melihat
atau mengitai benda-benda yang ada di langit. Misalnya saja bintang. langit, dan
planet-planet. Teropong ini juga dapat disebut dengan teropong astronomi. Teropong
bintang ini dapat terdiri dari dua jenis yaitu jika ditinjau dari jalannya sinar, yaitu
seperti berikut:
a. Teropong bias
Teropong bias yaitu salah satu teropong yang terdiri dari dua lensa cembung
yakni sebagai sebuah lensa okuler dan objektif. Cara kerjanya ketika sinar masuk
kedalam teropong lalu dibiasksan oleh lensa. Pada jenis teropong ini, cahaya
atau sinar yang masuk akan dibiaskan oleh lensa sehingga bayangan benda
dapat dilihat. Berdasarkan bentuk dan fungsi kegunaanya, teropong bias terbagi
menjadi 4 jenis, berikut penjelasannya.
1) Teropong bitang

Gambar 1.1

Teropong bintang atau teropong astronomi digunakanuntuk mengamati

benda- benda angkasa luar. Teropong bintang menggunakandua buah lensa
positif, masing-masing sebagai lensa obyektif dan lensaokuler. Berbeda dengan
mikroskop, pada teropong jarak focus lensa obyektiflebih besar dari jarak focus
lensa okuler.
2) Teropong bumi

Gambar 1.2

Teropong bumi yang disebut juga teropong medan atauteropong yojana

menghasilkan bayangan akhir yang tegak terhadap arahbenda semula. Hal ini
dapat diperoleh dengan menggunakan lensa cembung ketiga yang disisipkan di
antara lensa obyektif dan lensa okuler. Lensacembung ketiga hanya berfungsi
membalik bayangan tanpa perbesaran, olehkarena itu lensa ini disebut lensa
pembalik.
3) Teropong panggung atau teropong galilei

Gambar1.3

Teropong panggung atau teropong Galilei disebut jugateropong

Belnada sebagai lensa obyektif dan lensa negatif sebagai lensa okuler. atau
teropong tonil. Teropong ini menghasilkan bayanganakhir yang tegak dan
diperbesar dengan menggunakan dua buah lensa, lensapositif
 4) Teropong prisma

gambar 1.4

Penggunaan lensa pembalik untuk menghasilkanbayangan akhir yang

tegakmengakibatkan teropong bumi menjadi relatiCepanjang. <ntuk
menghindarinyamaka lensa pembalik diganti denganpenggunaan dua prisma
siku4siku samakaki yang disisipkan di antara lensaobyekti$ dan lensa okuler.
Prisma4prismatersebut digunakan untukmembalikkan bayangan dengan
pemantulansempurna.
b. Teropong ruang angkasa

Gambar 1.5

Teropong ruang angkasa pertama kali di gagas pada tahun 1962 dan mulai
direalisasikan ditahun 1977 dan selesai di tahun 1985. Teropong ruang angkasa ini
baru ada satu yang diberi nama Hubble Space Telescope yang mulai diangkasakan
pada tanggal 25 April 1990.
Teropong ruang angkasa ini sangat membantu para ilmuan saat mengamati
atau mempelajari objek luar angkasa dengan menempatkan teropong ini di sekitar
km diatas permukaan laut. Teropong ruang angkasa ini akan berotasi terhadap
bumi seperti bulan dengan kecepatan 8km perdetik dengan diperlukan waktu
sekitar 97 menit sehingga dalam sehati dapat berotasi sebanyak 16 kali.
 Teleskop ruang angkasa ini terdiri dari dua cermin cekung yang dilengkapi
dengan adanya antena, kamera, komputer dan spektograf. Ada juga detektor
elektronik berupa kamera yang berfungsi untuk mengumpulkan cahaya bintang
yang ditangkap oleh cermin. Selanjutnya gambar yang ditangkap akan diubah
menjadi kode digital dan diradiasikan ke bumi dengan antena yang memiliki
kemampuan untuk mengirim data 1juta bit perdetik. Selanjutnya kumpulan kode
tersebut diubah menjadi foto dan spektograf yang menguraikan menjadi spectrum
pelangi mirip dengan prinsip kerja prisma.
Dengan adanya teropong ruang angkasa sangat membantu para ilmuan
untuk mengamati kejadian pada ruang angkasa. Salah satu kejadian yang pernah
tertangkap oleh teropong ini yaitu kejadian supernova, planet ke 10, serta usia
benda langit.
c. Teropong Pantul

Gambar 1.6

Teropong pantul atau dikenal juga dengan teropong Reflektor pertama kali
dikembangkan oleh sir Issac Newton tahun 1680 dengan memanfaatkan sistem
pemantulan di satu atau kombinasi cermin cekung sebagai pengganti lensa yang
merefleksi cahaya dan bayangan sebuah fokus.
Dengan teropong pantul atau teropong Reflektor ini maka objek dengan
intensitas cahaya kecil yang dapat terlihat lebih baik dibandingkan dengan
menggunakan refraktor. Teropong jenis ini sering digunakan oleh para astronom
untuk mengamati objek deepsky seperti nebula, galaksi, open cluster, komet atau
objek lain yang memiliki intensitas cahaya kecil.
 d. Teropong Hibrida

Gambar 1.7

Teropong Hibrida atau dikenal juga dengan teropong katadioptrik adalah

jenis teropong gabungan dari teropong pantul dan teropong bias yaitu merefraktor
dan mereflektor. Kelebihan dari teropong katadioptrik ini karena memiliki sudut
pandang yang luas dan akuransi lebih detail atau cermin lebih tinggi dibandingkan
dengan jenis teropong lain. Teropong ini biasanya digunakan pada sistem
mercusuar, ada pula yang digunakan pada mikroskop dan lensa tele pada kamera.
3. Bagian-bagian teropong
Pada bagian teleskop yang paling vital atau paling penting ialah sebuah
lensanya. Teleskop mempunyai dua buah len sa positif atau cembung, yang terletak
dekat dengan objek disebut dengan lensa objektif, dan yang terletak dekat dengan
mata (tempat pengamat mengintip) disebut dengan suatu lensa okuler.
Pada teleskop bumi ini juga terdapat sebuah lensa pembalik, yang mempunyai
fungsi untuk membalikkan sebuah bayangan tanpa melakukan pembesaran sehingga
bayangan akhir yang terbentuk bisa tegak seperti arah benda semula. Adapun bagian-
bagian umum dari teleskop adalah sebagai berikut.
 1) Tabung teleskop, ialah sebuah tempat lensa utama terletak
2) Finderscope, adalah teleskop kecil yang terpasang pada tabung utama.
Finderscope terpasang pada tabung melalui attachment finder. Posisi findercsope
dapat diubah-ubah tergantung keperluan. Hal ini dapat dilakukan dengan
mengendurkan dan mengencangkan kembali sekrup pengunci finderscope.
Biasanya pengubahan posisi finderscope hanya dilakukan ketika perlu melakukan
alignment antara finder scope dan tabung utama
3) Eyepiece, ialah fungsi lensa okuler. Eyepiece berfungsi sebagai lensa okuler pada
sistem teleskop ini. Eyepiece dipasang pada ujung tabung melalui flip mirror atau
diagonal. Agar posisi eyepiece aman terdapat sekrup pengunci eyepiece pada flip
mirror dan diagonal. Kita harus memastikan bahwa pengunci eyepiece telah
dipasang dengan kencang sebelum menggunakan teleskop. Hal ini perlu
dilakukan agar eyepiece tidak jatuh selama pemakaian.
4) Focuser, setiap teleskop memiliki focuser dan focusers datang dalam berbagai
gaya. melekat pada tabung teleskop dan memegang lensa mata teleskop.
5) Mounting, lebih dikenal dengan dudukan teleskop, ialah sebuah sistem penggerak
utama pada sebuah teleskop, yang dilengkapi dengan sebuah knop pengatur
lintang, tutup sumbu polar, skala ketinggian lintang untuk mengetahui suatu posisi
lintang pengamat berada, pemberat sudut jam untuk penyeimbang pada sebuah
arah sudut jam.
6) Tripod, untuk sebagai kaki untuk berpija knya sebuah teleskop diatas suatu
permukaan, Tripod merupakan fondasi paling bawah dari sistem teleskop.
B. Mikroskop
1. Pengertian mikroskop cahaya dan mikroskop electron
Alat yang dapat memperbesar bayangan benda yang terlalu kecil untuk dilihat
dengan mata telanjang disebut mikroskop. Pembuatan mikroskop pertama kali terjadi
pada abad ke-16 dan digunakan untuk penelitian secara luas sejak abad ke-17.
Mikroskop berasal dari kata micro yang berarti kecil dan scopium yang berarti
penglihatan.
 Terdapat 2 macam mikroskop, yaitu mikroskop cahaya dan mikroskop
elektron. Mikroskop cahaya disebut juga mikroskop optik adalah mikroskop yang
menggunakan sumber cahaya (foton) untuk memvisualisasikan gambar. Sumber
foton tersebut bisa sinar matahari (pada mikroskop cahaya konvensional) atau lampu
(pada mikroskop cahaya modern).
Mikroskop elektron adalah mikroskop yang menggunakan elektron statik dan
elektro magnetik untuk mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar. Mikroskopi
elektron sendiri adalah bidang ilmu sains yang menggunakan mikroskop sebagai alat
dan radiasi elektron untuk membentuk gambar spesimen. Foto alat mikroskop cahaya
dan mikroskop elektron terdapat pada Gambar 1.1.

Gambar 1.1 skema alat optik mikroskop [hasil moditifikasi dari gambar Kaech (2012)]

2. Keunggulan mikroskop elektron dibandingkan mikroskop cahaya

berkebangsaan Jerman pada tahun 1932 yang bernama Ernest Ruska.
Penemuan Ruska didasarkan pada 2 macam konsep, yaitu:
1) elektron memiliki komponen seperti gelombang sehingga dapat diolah seperti
gelombang cahaya.
2) elektron dapat dimanipulasi dengan medan magnet sehingga dapat difokuskan
seperti lensa optik memfokuskan cahaya
Perbesaran suatu mikroskop dipengaruhi oleh resolusinya. Resolusi adalah
kemampuan untuk membedakan antara rincian-rincian kecil dari suatu gambar.
Resolusi berkaitan dengan jarak minimum antara 2 titik sehingga keduanya dapat
dilihat/dibedakan sebagai 2 titik. Resolusi mikroskop dipengaruhi oleh difraksi
cahaya, oleh karena itu juga dipengaruhi oleh panjang gelombang radiasi yang
 digunakan. Pengaruh panjang gelombang terhadap resolusi mikroskop dapat dilihat
dari rumus berikut ini.

Makin pendek panjang gelombang sinar radiasi makin kecil nilai R, makin
baik resolusinya, artinya makin mampu membedakan rincian-rincian kecil dari suatu
gambar. Panjang gelombang terpendek sinar tampak adalah 400 nm, sedangkan
panjang gelombang elektron 10.000 kali lebih kecil dari radiasi cahaya tampak.
Resolusi terbaik yang dapat dicapai oleh mikroskop cahaya adalah 0,2 um,
sedangkan yang dapat dicapai oleh mikroskop electron mencapai 0,1 nm. Dengan
demikian mikroskop elektron memiliki resolusi yang jauh lebih baik sehingga dapat
diaplikasikan untuk memvisualisasikan struktur yang tidak terlihat oleh mikroskop
optik.
Mikroskop elektron mampu menghasilkan gambar dengan resolusi jauh lebih
besar dari mikroskop cahaya akibat penggantian sumber cahaya dengan berkas
elektron yang diakselerasi dan penggantian lensa gelas dengan lensa
elektromagnetik.
3. Persamaan mikroskop elektron dan mikroskop cahaya
Terdapat beberapa persamaan antara mikroskop cahaya dan mikroskop
elektron pada jalur optiknya, antara lain:
1) Sistem iluminasi (pencahayaan) keduanya sama-sama terdiri atas sumber radiasi
dan lensa kondensor yang mengalirkan radiasi elektron ke arah obyek. Lensa
kondensor bertugas memfokuskan sinar radiasi dari sumber radiasi pada obyek.
2) Obyek sama-sama terletak di antara sumber cahaya dan sistem pencitraan.
3) Sama-sama menggunakan lensa obyektif dan lensa proyektor pada sistem
pencitraan. Lensa obyektif digunakan untuk memfokuskan berkas setelah
melewati spesimen/obyek. Lensa proyektor digunakan untuk memperbesar
gambar.
 4) Sistem perekaman gambar sama-sama bertugas mengubah radiasi menjadi gambar
permanen yang dapat dilihat.
4. Perbedaan mikroskop elektron dan mikroskop cahaya
Perbedaan utama antara mikroskop elektron dan mikroskop cahaya adalah
penggantian radiasi cahaya dengan radiasi elektron. Sebagaimana telas disebutkan
bahwa radiasi elektron memiliki panjang gelombang yang jauh lebih kecil
dibandingkan dengan panjang gelombang radiasi cahaya, yaitu 10.000 kali lebih
pendek (energi elektron jauh lebih besar). Akibat dari panjang gelombang yang lebih
pendek tersebut maka mikroskop elektron dapat memperbesar obyek dengan
perbesaran jauh lebih besar dengan resolusi jauh lebih baik dibandingkan mikroskop
cahaya. Dengan demikian mikroskop elektron dapat diaplikasikan untuk
memvisualisasikan struktur yang biasanya tidak terlihat oleh mikroskop optik. Akibat
energi yang jauh lebih besar tersebut, maka mikroskop elektron juga mampu
menembus bidang lebih dalam dibandingkan mikroskop cahaya.
sumber radiasi menyebabkan kebutuhan jenis lensa yang berbeda. Mikroskop
cahaya menggunakan lensa gelas, sedangkan mikroskop elektron menggunakan lensa
elektromagnetik. Hal itu karena elektron adalah partikel bermuatan, karena itu
elektron tidak bisa difokuskan atau dibelokkan dengan lensa gelas.
Lingkungan vakum sangat dibutuhkan untuk mikroskop elektron karena
tumbukan antara elektron berenergi tinggi dan molekul udara dapat menyebabkan
absorpsi elektron - elektron oleh molekul udara. Rangkuman perbedaan mikroskop
electron dan mikroskop cahaya dituliskan pada table 1.1
 Skema peralatan optik mikroskop cahaya terdapat pada Gambar 1.1,
sedangkan skema peralatan optik mikroskop elektron terdapat pada Gambar 1.2
hingga 1.4.
5. Kelemahan mikroskop elektronik dibandingkan mikroskop cahaya
Sekalipun mikroskop elektron memiliki berbagai kelebihan, namun juga
memiliki beberapa kelemahan, antara lain:
1) Persiapan sampel seringkali rumit, misalnya diperlukan melapisi spesimen dengan
lapisan logam yang sangat tipis (seperti emas) karena logam ini dapat
mencerminkan elektron,
2) Sebelum pengukuran dilakukan, sampel harus benar-benar kering, sehingga tidak
mungkin untuk mengamati spesimen hidup dan tidak mungkin untuk mengamati
spesimen bergerak,
3) Elektron tidak memiliki warna sehingga gambar yang dihasilkan hanya hitam dan
putih. Oleh karena itu kadang-kadang gambar harus diwarnai untuk memberikan
kesan visual yang lebih baik,
4) Energi berkas elektron sangat tinggi, karena itu selain tidak dapat pada benda
hidup juga membutuhkan ruang yang besar,
5) Harga mikroskop elektron mahal dan biaya pemeliharaannya cukup tinggi.
6) Macam-macam mikroskop electron
Terdapat bermacam-macam mikroskop elektron, masing- masing memiliki
yang karakteristik berbeda sesuai dengan tujuan pembuatannya, antara lain:
a. Mikroskop Pemindai Elektron (Scanning Electron Microscope)
Mikroskop pemindai elektron atau Scanning Electron Microscope (SEM)
adalah mikroskop electron yang mampu mengamati obyek secara tiga dimensi.
SEM dapat digunakan untuk mengamati permukaan sel atau struktur mikroskopik
lainnya. SEM modern saat ini memiliki resolusi hingga 1 nm atau perbesaran
400.000 X.
Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan pendeteksian 2 macam elektron
baru, yaitu elektron sekunder (secunder electron) atau elektron pantul
(backscattered electron) yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan
sampel dipindai dengan sinar elektron.
Elektron sekunder selanjutnya diperkuat sinyalnya dan besarnya elektron
ditampilkan pada layar monitor. SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan
seperti pada TEM, karena itu SEM dapat digunakan untuk melihat obyek dari
sudut pandang 3 dimensi. Bagan mekanisme kerja SEM terdapat pada Gambar
1.2.
 Gambar 1.2 skema peralatan optik SEM [dimodifikasi dari gambar Voutou stefanaki (2008)]

SEM bekerja pada tegangan listrik antara 2 - 50 kV dengan diameter berkas

elektron sebesar 5 nm - 2 µm. Gambar diproduksi dari elektron sekunder (SE),
backscattered electron (BE), dan sinar-X. Pemisahan SE dan BE diatur menurut
energinya. Ketika elektron diemisikan dengan elektron kurang dari 50 eV, maka
dianggap sebagai SE, dan jika lebih dari 50 eV maka dianggap sebagai BE.
b. Mikroskop Elektron Pemindai Lingkungan (Environmental Scanning Electron
Microscope)
Mikroskop Elektron Pemindai Lingkungan atau Environmental Scanning
Electron Microscope (ESEM) merupakan hasil pengembangan lebih canggih dari
SEM, yaitu menghilangkan kevakuman pada tempat sampel yang biasanya
diterapkan pada SEM. Pengatur multi tekanan diterapkan pada alat ini sehingga
kevakuman dapat diatur menjadi 5 tingkat, yaitu makin berkurang dari sumber
radiasi hingga ke ruang sampel (Gambar 1.3). Kevakuman tinggi tetap dibutuhkan
pada daerah sumber radiasi dan kolom. Hal itu karena molekul-molekul gas dapat
menghamburkan elektron sehingga dapat mendegradasi radiasi elektron tersebut.
 Gambar 1.3 sistem ruang pada SEM (atas) dan ESEM (bawah) (Johnson, 1996)

ESEM dapat mengamati obyek kering, basah, berminyak, serta non

konduktif dalam keadaan aslinya (tanpa perlakuan) atau dengan modifikasi.
ESEM dapat bekerja dalam lingkungan gas dengan tekanan hingga 50 Torr dan
temperatur hingga sebesar 1500 °C. Karena ruang sampel tidak vakum maka
operator dapat mengamati obyek hidup secara langsung, contohnya pengamatan
binatang apid hijau hidup di atas daun mawar.
Dengan SEM, ukuran, distribusi ukuran, serta bentuk nanomaterial dapat
secara langsung diamati. Namun demikian, proses pengeringan sampel dan poses
mengkontraskan sampel dapat menyebabkan kerusakan sampel dan mengubah
karakteristik nano material. Selain itu, banyak sampel biomolekul yang bersifat
non konduktif sehingga membutuhkan pelapisan dengan lapisan ultra tipis
material konduktor elektrik agar pembentukan gambar tidak gagal. Metode
pembekuan kryogenik sering dibutuhkan pada pengukuran dengan mikroskop
elektron untuk menggambarkan gugus fungsi yang terikat pada nano partikel,
sehingga ukuran nano material tidak dapat diinvestigasi dalam kondisi fisiologis,
 kecuali menggunakan ESEM sampel dapat digambarkan dalam keadaan
alamiahnya tanpa modifikasi ataupun preparasi.
c. Mikroskop Elektron Transmisi (Environmental Scanning Electron Microscope)
Pada Mikroskop Elektron Transmisi atau Transmission Electron Microscope
(TEM), sinar monokromatik elektron berinteraksi dengan sampel/obyek,
ditransmisikan sebagian oleh sampel/obyek, dan difokuskan menjadi suatu
gambar serta diproyeksikan ke layar. Bagian gambar yang lebih terang mewakili
daerah pada sampel yang lebih banyak dilewati oleh berkas elektron, sedangkan
daerah gelap mewakili daerah yang lebih sedikit dilewati oleh berkas elektron.
TEM dapat memperbesar gambar sampai sekitar 500.000 X.
d. Mikroskop pemindai transmisi elektron (Scanning Transmission Electron
Microscope)
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) merupakan hasil
pengembangan alat TEM, yaitu dengan cara menambahkan scan coil pada TEM.
Scan coil digunakan untuk memindai probe pada sampel sehingga bermacam-
macam signal terhambur dideteksi untuk menghasilkan gambar.
STEM juga melewatkan berkas elektron melalui irisan tipis spesimen/obyek
seperti pada TEM, namun tidak memfokuskan berkas elektron setelah melewati
sampel, melainkan memfokuskan berkas terlebih dahulu dan membangun gambar
melalui pemindaian. Gambar bagan alat optik STEM terdapat pada Gambar 1.4,
hasil modifikasi dari bagan alat STEM dari Nelist (2011).
 Gambar 1.4 bagan peralatan opti pada STEM [hasil modifikasi bagan alat dari(Nelist, 2011)

e. Mikroskop elektron refleksi (Reflection Electron Microscope)

Reflection Electron Microscope (REM) beroperasi mirip dengan SEM.
Namun, REM mengumpulkan backscattered electron atau elektron yang
dihamburkan secara elastis setelah berkas elektron primer menabrak permukaan
spesimen. REM merupakan kombinasi dari teknik pencitraan, difraksi, dan
spektroskopi untuk karakterisasi topografi, struktur kristal, dan komposisi
permukaan dari kristal tunggal
f. Mikroskop elektron energi rendah (Low Energy Electron microscope)
Mikroskop elektron - energi rendah atau Low Energy Electron Microscope
(LEEM) adalah mikroskop elektron yang dapat menggambarkan permukaan
material pada tingkat elektron, interaksi permukaan atom, dan film kristal tipis.
Pada LEEM, elektron berenergi tinggi (15 20 keV) dipancarkan dari senapan
elektron, difokuskan dengan menggunakan satu set kondensor elektron, dan
dikirim melalui deflektor berkas magnetik (biasanya 60 atau 90"). Gerakan
elektron yang cepat melalui lensa objektif mulai melambat hingga energi rendah
(1-100 eV) di dekat permukaan sampel.
 DAFTAR PUSTAKA

Nur Halima Dewi. (2020). “Ilmu Pengetahuan Alam”. Jawa Tengah

Suparti. (2010). “Mikroskop”. Jawa Tengah

Setianingsih T. (2017). “MIKROSKOP ELEKTRON TRANMISI : TEORI DAN

APLIKASINYA UNTUK KARAKTERISASI MATERIAL.” UB Media Universitas
Brawijaya