Tugas Nanoteknologi

Candra Lutfi /13015023

1. Photon Correlation Spectroscopy

Photon Correlation Spectroscopy (PCS) adalah metode pengukuran
partikel pada daerah dimensi 1 nm 10 m. Prinsip kerja PCS berdasarkan
Dynamic Light Scattering yaitu mengukur intensitas foton yang tersebar
setelah mengenai parikel yang bergerak mengikuti gerak brown. Prinsip ini
digunakan untuk mengkarakterisasi ukuran protein, polimer, misel,
karbohidrat, dan nanopartikel. Pada suhu konstan, metode ini hanya
memerlukan data viskositas cairan suspensi untuk memperkirakan ukuran

partikel rata-rata dan fungsi distribusinya (dan untuk fraksi volume

diperlukan data indeks bias ).

Teori PCS hanya berlaku untuk cahaya yang hanya terdispersi satu kali.
Jika menggunakan cahaya yang sudah terdispersi beberapa kali akan
menyebabkan hasil yang keliru dan salah interpretasi. Oleh karena itu PCS
membutuhkan suspensi yang sangat encer untuk menghindari disperse yang
berulang (multiple scattering). Konsentrasi partikel yang rendah membuat
metode ini peka terhadap zat pengotor dalam cairan. Jadi biasanya cairan
sangat murni dan lingkungan ruang bersih harus digunakan untuk persiapan
dan operasi.

Sumber :
Braun, Adelina, et al. "A new certified reference material for size analysis of
nanoparticles." Journal of Nanoparticle Research 14.9 (2012): 1021.
http://www.sympatec.com/EN/PCCS/PCS.html diunduh 27/04/2017

2. Atomic Force Microscopy

Atomic force microscope ini merupakan salah satu alat untuk
penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Cara
untuk mendapatkan informasi pada Atomic force microscope dengan meraba
permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik yang
disebut dengan piezoelektrik. Elemen piezoelektrik ini yang memfasilitasi
perintah elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat sehingga
 Tugas Nanoteknologi
Candra Lutfi /13015023

membuatnya dapat memindai dengan presisi tinggi. Atomic force microscope

terdiri dari sebuah penopang (cantilever) dengan ujung yang tajam sebagai
alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan sampel.
Penopang tersebut biasanya terbuat dari silikon dengan radius kelengkungan
ujung mencapai bilangan nanometer. Ketika ujungnya dibawa mendekati
permukaan sampel, gaya antara ujung tajam pemindai dengan permukaan
sampel menyebabkan pelengkungan penopang sesuai dengan hukum Hooke.
Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur
AFM meliputi gaya kontak mekanik, gaya van der
waals, gaya kapiler, ikatan kimia, gaya
elektrostatik, gaya magnet, gaya casimir, gaya
pelarutan, dan lain-lain. Atomic force microscope
juga memungkinkan menampilkan gambar dari
kristal yang lunak dan permukaan polimer.

Cara Kerja AFM Gambar dari plasmid DNA hasil

AFM ukuran helix 2 nm dengan
lebar 15 nm.

Resolusi lateralnya mencapai 1,5 nm sedangkan resolusi vertikalnya

mencapai 0,05 nm. Artinya ketelitian AFM dalam mengukur ketinggian suatu
pemukaan lebih besar daripada ketelitiannya dalam mengukur panjang atau
lebar.
Mode operasi AFM ada 3 yang bersesuaian dengan gaya partikel yaitu
1. Contact AFM untuk probe-surface separation kurang dari 0.5 nm
2. Intermittent contact/tapping mode AFM untuk probe-surface
separation 0.5 2 nm
3. Non-contact AFM untuk probe-surface separation 0.1 10 nm
 Tugas Nanoteknologi
Candra Lutfi /13015023

Kegunaan AFM
- Dalam ilmu Fisika, alat ini lebih mempermudah para ilmuwan dalam
mengetahui struktur atom secara langsung, sehingga dapat di ubah dan di
manipulasi untuk kepentingan ilmu sains.

- Dalam ilmu kimia, alat ini dapat menjelaskan bagaimana struktur dari
berbagai macam molekul, sehingga lebih mudah dalam membuat suatu
reaksi kimia.

- Dalam bidang biologi

yaitu untuk menyelidiki
struktur, fungsi dan
spesifik sel. Misalnya
untuk meyelidiki struktur
dan fungsi hubungan
antara bakteri
Streptococcus mutans
yang merupakan dasar
aetiological pada gigi mati
tulang manusia (gigi).

3. Scanning Tunneling
Microscopy
Scanning
Tunneling
Microscopy bekerja
dengan memindai ujung kawat logam yang sangat tajam di atas permukaan
sampel. Dengan membawa ujungnya sangat dekat ke permukaan, dan
dengan menerapkan voltase listrik ke ujung atau sampel, kita dapat
memperoleh gambaran permukaan pada skala yang sangat kecil.
 Tugas Nanoteknologi
Candra Lutfi /13015023

Rangkaian kompenen STM

STM didasarkan pada beberapa

prinsip. Salah satunya adalah
efek mekanika kuantum dari

Cara kerja STM

tunneling. Efek inilah yang

memungkinkan kita untuk "melihat" permukaan. Prinsip lainnya adalah efek
piezoelektrik. Efek inilah yang memungkinkan kita untuk secara tepat
memindai ujungnya dengan kontrol tingkat angstrom. Terakhir, diperlukan
sebuah loop umpan balik, yang memantau arus tunneling dan
mengkoordinasikan arus dan posisi ujungnya. Hal ini ditunjukkan secara
skematis di bawah dimana tunneling berasal dari ujung ke permukaan
dengan tip rastering
dengan posisi
piezoelektrik, dengan
loop umpan balik
mempertahankan
setpoint arus untuk
menghasilkan gambar
3D dari topografi
elektronik.

4. Scanning Electron
Microscope (SEM)
Scanning
Electron Microscope (SEM) adalah alat seperti microskop elektron yang
menghasilkan gambar dari suatu sampel dengan cara memindai
permukaan benda dengan pancaran elektron yang terfokuskan.
 Tugas Nanoteknologi
Candra Lutfi /13015023

Cara kerjanya adalah dengan memanfaatkan sifat dualisme elektron

dibuat pancaran elektron. Pancaran elektron ini dipercepat dan juga
difokuskan dengan melewatkannya melalui lensa. Pancaran electron yang
terfokuskan akan mengenai permukaan benda. Electron akan berinteraksi
dengan atom di permukaan lalu atom akan mengemisikan pancaran
elektron lainnya yang kemudian ditangkap oleh detektor dan
diinterpretasikan dalam bentuk grafik.

5. Transmission Electron Microscopy (TEM)

Transmission Electron Microscopy (TEM) adalah metode mkroskopis
yang menggunakan pancaran elektron yang dilewatkan melalui sampel
yang sangat tipis untuk mengetahui bentuk permukaan sampel. Cara
kerjanya adalah sampel yang ingin diketahui bentuknya di letakkan di
antara dua lensa. Lensa pertama digunakan untuk menjadikan pancaran
elektron menjadi vertikal lalu mengenai sampel yang sangat tipis.
Pancaran elektron akan berinteraksi dengan sampel saat melalui sampel.
Lalu pancaran elektron
yang sudah
berinteraksi ini
dilewatkan melalui
lensa yang bertujuan
untuk memfokuskan
pancaran elektron.
Kemudian pancaran
elektron yang
terfokuskan ini
dilewatkan ke sebuah
lensa untuk
memperbesar bayangan yang dihasilkan dari interaksi antara pancaran
elektron dan sampel tipis.