TRANSMISSION ELECTRON

MICROSCOPY

Kelompok IV
Eka Yuliastika N D1121181015
Melly Mulya Ningsih D1121181027
Prajid Egif Auzan D1121181023
Sejarah TEM ( Transmission Electron Microscopy )

Seorang ilmuwan dari universitas Berlin

yaitu Dr. Ernst Ruska menggabungkan
penemuan elektron dan membangun
mikroskop transmisi elektron (TEM)
yang pertama pada tahun 1931.
 Pengertian TEM ( Transmission Electron Microscopy )

 TEM merupakan teknik mikroskopis dimana sejumlah

elektron ditransmisikan melalui spesimen tipis dan
berinteraksi dengan spesimen yang di melewati.

 Gambar terbentuk dari interaksi elektron yang

ditransmisikan melalui spesimen. Gambar diperbesar
dan difokuskan ke perangkat visual, seperti layar
fluoresen atau yang akan dideteksi oleh sensor
seperti kamera CCD.
 Bagian - Bagian TEM ( Transmission Electron Microscopy )
 Electron gun
 Kolom elektron
 Sistem lensa elektro-magnetik
 Spesimen / ruang sampel
 Panel kendali utama dan kontrol
operational
 Pengambilan gambar
 Electron Gun

Berfungsi menembakkan elektron

Kolom Elektron

Kolom elektron terdiri dari rungan

vakum dengan rakitan gun di
bagian atas, sebuah kolom dengan
satu set lensa elektromagnetik, port
sampel, airlock, dan satu set
apertures
Sistem Lensa Magnetik

 Lensa elektromagnetik berfungsi untuk

membentuk berkas elektron.
 Setiap lensa terdapat gulungan kawat
tembaga dengan sejumlah arus yang
melaluinya dan terdapat lubang di
bagian tengah untuk tempat tembakan
elektron itu bergerak.
Sampel / Ruang Sampel

 Sampel dipasang
melalui flens
kemudian
dikencangkan
dengan sekrup ke
wells

 Pemegang
kemudian
dimasukkan ke
dalam kolom
Panel Control
Pengambilan Gambar
Prinsip Kerja

menghasilkan elektron monokromatik

Memfokuskan berkas elektron

Mengurangi intensitas sinar dengan menyaring
elektron dari beam

Memfokuskan berkas elektron

meningkatkan kontras dengan menghalangi difraksi

elektron

Memperbesar Gambar

Melihat Hasil Gambar

 Persiapan Sampel TEM ( Transmission Electron Microscopy )
 Melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur sel yang akan
diamati. Fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa glutaraldehida atau osmium
tetroksida.
 Pembuatan spesimen dengan ketebalan kurang dari 100 nm Pemotongan Spesimen
menggunakan mikrotom. Umumnya mata pisau
 Mikrotom terbuat dari berlian karena berlian tersusun dari atom karbon yang padat. Oleh
karena itu, sayatan yang terbentuk lebih rapi. Sayatan yang telah terbentuk diletakkan di
atas cincin untuk diamati.
 Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati
dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam berat seperti
uranium dan timbal.
Aplikasi TEM ( Transmission Electron Microscopy )
 untuk melihat sampel pada tingkat molekuler, sehingga
memungkinkan untuk menganalisis struktur dan tekstur.
 Dipakai untuk mengkarakterisasi Kristal, digunakan untuk
menganalisa defek, endapan, ukuran butiran dan
distribusinya.
 Dipakai untuk karakterisasi bahan amorf berpori,
polimer, material lunak (biologis)
 Kelebihan TEM ( Transmission Electron Microscopy )
Kelebihan
 TEM menawarkan pembesaran yang paling kuat, hingga lebih dari satu juta kali
pembesaran
 TEM dapat digunakan untuk berbagai macam aplikasi dan dapat dimanfaatkan
di berbagai bidang ilmiah, pendidikan dan industri yang berbeda.
 TEM memberikan informasi tentang elemen dan struktur majemuk dengan gambar
berkualitas tinggi dan detil.
 TEM mampu menghasilkan informasi tentang fitur permukaan, bentuk, ukuran dan
struktur.
 KELEBIHAN DAN KEKURANGAN TRANSMISSION ELECTRON
Kekurangan TEM ( Transmission Electron Microscopy )
Kekurangan
 Persiapan sampel untuk TEM umumnya memerlukan lebih banyak
daripada kebanyakan teknik karakterisasi lainnya.
 Banyak material memerlukan persiapan sampel yang rumit untuk
menghasilkan sebuah sampel yang cukup tipis agar elektron dapat
menembus sampel.
 Struktur sampel juga mungkin berubah selama proses persiapan. Juga bidang
pandang relatif kecil, meningkatkan kemungkinan bahwa daerah dianalisis
mungkin tidak dapat mewakili dari seluruh sampel. Ada potensi pula sampel
rusak oleh berkas elektron.
TERIMAKASI
H