LAPORAN PRAKTIKUM

INSTRUMENTASI KIMIA
ACARA :
Analisis Kandungan Logam dengan Spektroskopi X-Ray
Fluorescensce (XRF)

Disusun Oleh :
Nama

: Hersandy D.Kusuma

NIM

: 011300339

Prodi

: Teknokimia Nuklir

Semester

: III

Kelompok

: A3

Teman Kerja

: 1. Ari Nurul P
2. Muhammad reza P

Tanggal Praktikum : 06 November 2014

Asisten

: Haries handoyo, S.ST

SEKOLAH TINGGI TEKNOLOGI NUKLIR

BADAN TENAGA NUKLIR NASIONAL
YOGYAKARTA

2013
Spektroskopi X-Ray Fluorescence (XRF)
I.

Tujuan
1. Memahami cara kerja alat spektrometer X-Ray Fluorescence (XRF).
2. Menentukan kandungan logam dalam sampel.

II.

Dasar Teori
Sinar X
Sinar X adalah pancaran gelombang elektromagnetik yang sejenis dengan
gelombang radio, panas, cahaya sinar ultraviolet, tetapi mempunyai panjang
gelombang yang sangat pendek sehingga dapat menembus benda-benda. Sinar-x
ditemukan pertamakali oleh Roentgen pada tahun 1895. Pada saat ditemukan, sifatsifat sinar-x tidak langsung dapat diketahui. Sifat-sifat alamiah (nature) sinar-x baru
secara pasti ditentukan pada th 1912 seiring dengan penemuan difraksi sinar-x oleh
kristal. Difraksi sinar-x ini dapat melihat atau membedakan objek yang berukuran
kurang lebih1 angstroom. Sifat-sifat sinar-x tersebut adalah:
a.

Tidak dapat dilihat oleh mata, bergerak dalam lintasan lurus, dan dapat
mempengaruhi film fotografi sama seperti cahaya tampak.

b. Daya tembusnya lebih tinggi dari pada cahaya tampak, dan dapat
menembus tubuh manusia,kayu, beberapa lapis logam tebal.
c.

Dapat digunakan untuk membuat gambar bayangan sebuah objek pada

film fotografi (radiograf).

d. Sinar-x merupakan gelombang elektromagnetik dengan energi E = hf.

e. Orde panjang gelombang sinar-x adalah 0,5-2,5 (sedangkan orede
panjang gelombang untuk cahaya tampak = 6000 ). Jadi letak sinar-x
dalam diagram spektrum gelombang elektromagnet adalah antara sinar
ultra violet dan sinar gama.

Sinar-X merupakan bagian dari spektrum elektromagnetik dan dinyatakan

dalam energi mereka (kilo elektron volt - keV) atau panjang gelombang (nanometer
nm). XRF (X-ray Fluorescence) merupakan konsekuensi dari perubahan yang terjadi
dalam sebuah atom. Sebuah atom yang stabil terdiri dari inti dan elektron yang
mengorbit itu. Elektron yang mengorbit tersebut akan disusun dalam kerang: setiap
shell terdiri dari elektron dengan energi yang sama. Ketika energi tinggi insiden
(primer) X-ray bertabrakan dengan atom itu mengganggu stabilitas ini. Sebuah
elektron dikeluarkan dari tingkat energi rendah (misalnya K shell: lihat diagram) dan
ruang yang dibuat. Akibatnya elektron dari tingkat energi yang lebih tinggi (misalnya
L shell) jatuh ke dalam ruang ini.
Perbedaan energi yang dihasilkan sebagai elektron bergerak antara level
dilepaskan sebagai sekunder sinar-X yang merupakan karakteristik dari elemen.
Proses ini disebut XRF.
XRF adalah teknik terbukti untuk analisis material dalam berbagai industri dan
aplikasi, dari Positif Material Identification , memo menyortir logam , mengukur
sulfur dalam minyak, menganalisis ketebalan lapisan logam finishing dan paduan
logam untuk kontrol kualitas dalam industri barang konsumen elektronik dan .
Spektrum X-ray fluorescence
Peristiwa X-ray fluorescence terjadi melalui dua tahap:
1. Tahap pertama adalah foto-ionisasi atom. Energi dari foton akan dipindahkan ke
elektron pada kulit terdalam (elektron K) yang menyebabkan elektron terlempar dari
atom, yang dinamakan fotoelektron, dengan asumsi bahwa foton tersebut memiliki
cukup energi. Efek fotolistrik ini memyebabkan atom menjadi kehilangan elektron.

Gambar 1.

Peristiwa fotoionisasi

2. Tahap kedua adalah stabilisasi atom yang terionisasi. Hal ini menyebabkan re-emisi
dari semua, atau sebagian, energi yang dibutuhkan selama peristiwa eksitasi. Peristiwa
ini terjadi hampir secara instan (dalam 10 hingga 16 detik), sebuah elektron dari orbit
yang lebih luar dari atom tersebut untuk melompat ke dalam untuk mengisi ruang
kosong. Karena elektron yang lebih luar memiliki energi yang lebih besar, maka
elektron yang berpindah akan memiliki kelebihan energi yang dipancarkan dalam
bentuk foton X-ray fluorescence. Dengan cara ini, atom kembali ke keadaan dasar
dengan sangat cepat.
Proses terbentuknya sinar-X
Sinar-X Karakteristik
Pada generator sinar-X, saat filamen katoda dipanaskan menyebabkan filamen
berpijar sehingga elektron-elektron bergerak dari atom-atom filamen dan lepas dari
katoda. Elektron-elektron dari katoda akan lepas dan bergerak dengan kecepatan
tinggi menuju anoda. Elektron yang ditembakkan dari katoda ini memiliki energi
berupa energi kinetik. Selanjutnya pada anoda, elektron yang ditembakkan dari katoda
menumbuk elektron lain di anoda sehingga energi kinetik elektron dari katoda
berubah dan memberikan energi kinetik pada elektron anoda sehingga elektron
tereksitasi terlepas dari lintasan orbitnya. Saat elektron kembali dalam keadaan dasar
atau setimbang, terjadi perubahan energi. Perubahan energi ini ternyata mampu
menghasilkan foton dengan frekuensi yang tinggi, peristiwa ini menghasilkan foton
sinar-X yang dikenal sebagai sinar-X karakteristik.

elemen
waveleng elemen
waveleng elemen
waveleng elemen
wavelengt
line
line
line
line
t
th (nm)
t
th (nm)
t
th (nm)
t
h (nm)

Li

22.8

Ni

K1 0.1658

L1 0.3149

Pt

L1 0.1313

Be

11.4

Cu

K1 0.1541

Xe

L1 0.3016

Au

L1 0.1276

6.76

Zn

K1 0.1435

Cs

L1 0.2892

Hg

L1 0.1241

4.47

Ga

K1 0.1340

Ba

L1 0.2776

Tl

L1 0.1207

3.16

Ge

K1 0.1254

La

L1 0.2666

Pb

L1 0.1175

2.362

As

K1 0.1176

Ce

L1 0.2562

Bi

L1 0.1144

K1,2 1.832

Se

K1 0.1105

Pr

L1 0.2463

Po

L1 0.1114

Ne

K1,2 1.461

Br

K1 0.1040

Nd

L1 0.2370

At

L1 0.1085

Na

K1,2 1.191

Kr

K1 0.09801

Pm

L1 0.2282

Rn

L1 0.1057

Mg

K1,2 0.989

Rb

K1 0.09256

Sm

L1 0.2200

Fr

L1 0.1031

Al

K1,2 0.834

Sr

K1 0.08753

Eu

L1 0.2121

Ra

L1 0.1005

Si

K1,2 0.7126

K1 0.08288

Gd

L1 0.2047

Ac

L1 0.0980

K1,2 0.6158

Zr

K1 0.07859

Tb

L1 0.1977

Th

L1 0.0956

K1,2 0.5373

Nb

K1 0.07462

Dy

L1 0.1909

Pa

L1 0.0933

Cl

K1,2 0.4729

Mo

K1 0.07094

Ho

L1 0.1845

L1 0.0911

Ar

K1,2 0.4193

Tc

K1 0.06751

Er

L1 0.1784

Np

L1 0.0888

K1,2 0.3742

Ru

K1 0.06433

Tm

L1 0.1727

Pu

L1 0.0868

Ca

K1,2 0.3359

Rh

K1 0.06136

Yb

L1 0.1672

Am

L1 0.0847

Sc

K1,2 0.3032

Pd

K1 0.05859

Lu

L1 0.1620

Cm

L1 0.0828

Ti

K1,2 0.2749

Ag

K1 0.05599

Hf

L1 0.1570

Bk

L1 0.0809

K1 0.2504

Cd

K1 0.05357

Ta

L1 0.1522

Cf

L1 0.0791

Cr

K1 0.2290

In

L1 0.3772

L1 0.1476

Es

L1 0.0773

Mn

K1 0.2102

Sn

L1 0.3600

Re

L1 0.1433

Fm

L1 0.0756

Fe

K1 0.1936

Sb

L1 0.3439

Os

L1 0.1391

Md

L1 0.0740

Co

K1 0.1789

Te

L1 0.3289

Ir

L1 0.1351

No

L1 0.0724

Prinsip Kerja XRF Spectrometer

X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray digunakan
untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan, mineral, sedimen dan
cairan. Ia bekerja pada panjang gelombang-dispersif spektroskopi prinsip yang mirip
dengan microprobe elektron. Namun, XRF umumnya tidak dapat membuat analisis di
spot ukuran kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron), sehingga biasanya digunakan
untuk analisis sebagian besar fraksi lebih besar dari bahan geologi. Biaya kemudahan
dan rendah relatif persiapan sampel, dan stabilitas dan kemudahan penggunaan x-ray
spektrometer membuat salah satu metode yang paling banyak digunakan untuk
analisis unsur utama dan jejak di batuan, mineral, dan sedimen.

Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF
dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi.
Sebuah spektrometer XRF bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens
beam, yang dikenal sebagai balok insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi
beberapa juga diserap dalam sampel dengan cara yang tergantung pada kimia nya.
Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target Rh, meskipun W, Mo, Cr dan lainlain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.
Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel. Pada gilirannya memancarkan
sinar-X sepanjang spektrum panjang gelombang karakteristik dari jenis atom hadir
dalam sampel. Bagaimana ini terjadi? Atom-atom dalam sampel menyerap sinar-X
energi pengion, elektron mendepak dari tingkat energi rendah (biasanya K dan L).
Para elektron dikeluarkan diganti oleh elektron dari, energi luar orbit yang lebih
tinggi. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat penurunan
orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Hal ini melepaskan energi
dalam bentuk emisi karakteristik sinar-X menunjukkan atom jenis ini. Jika sampel
memiliki unsur-unsur yang hadir, seperti yang khas untuk kebanyakan mineral dan
batuan, penggunaan Spektrometer dispersif Panjang gelombang seperti bahwa dalam
EPMA memungkinkan pemisahan spektrum yang dipancarkan sinar-X yang
kompleks ke dalam panjang gelombang karakteristik untuk masing-masing elemen
ini. Berbagai jenis detektor (aliran gas proporsional dan kilau) digunakan untuk
mengukur intensitas sinar yang dipancarkan. Penghitung aliran yang biasa digunakan
untuk mengukur gelombang panjang (> 0,15 nm) sinar-X yang khas dari spektrum K
dari unsur yang lebih ringan daripada Zn. Detektor sintilasi umumnya digunakan
untuk menganalisis panjang gelombang lebih pendek dalam spektrum sinar-X (K
spektrum elemen dari Nb ke I; L spektrum Th dan U). X-ray dari panjang gelombang
menengah (K spektrum yang dihasilkan dari Zn untuk Zr dan L spektrum dari Ba dan
unsur tanah jarang) umumnya diukur dengan menggunakan kedua detektor bersamasama. Intensitas energi yang diukur oleh detektor sebanding dengan kelimpahan
elemen dalam sampel. Nilai yang tepat dari proporsionalitas ini untuk setiap elemen
diperoleh dengan perbandingan standar mineral atau batuan dengan komposisi yang
diketahui dari analisis sebelumnya dengan teknik lain.

Aplikasi
X-Ray fluoresensi digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk

penelitian di petrologi beku, sedimen, dan metamorf

survei tanah

pertambangan (misalnya, mengukur nilai dari bijih)

produksi semen

keramik dan kaca manufaktur

metalurgi (misalnya, kontrol kualitas)

lingkungan studi (misalnya, analisis partikel pada filter udara)

minyak industri (misalnya, kandungan sulfur minyak mentah dan produk

minyak bumi)

bidang analisis dalam studi geologi dan lingkungan (menggunakan

portabel, tangan memegang spektrometer XRF)

X-Ray fluoresensi sangat cocok untuk penyelidikan yang melibatkan

massal kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)
dalam batuan dan sedimen

massal kimia analisis unsur jejak (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co,
Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan
sedimen - batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa
bagian per juta

Fluoresensi sinar-X terbatas pada analisis

relatif besar sampel, biasanya> 1 gram

bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif

dihomogenisasi

bahan yang komposisinya mirip, standar baik ditandai tersedia

bahan yang mengandung kelimpahan tinggi unsur-unsur yang penyerapan

dan efek fluoresensi yang cukup dipahami dengan baik
Dalam kebanyakan kasus untuk batuan, bijih, sedimen dan mineral,

sampel tanah untuk menjadi bubuk halus. Pada titik ini dapat dianalisis secara

langsung, terutama dalam hal analisis elemen jejak. Namun, rentang yang
sangat luas dalam kelimpahan unsur yang berbeda, terutama besi, dan berbagai
ukuran butir dalam sampel bubuk, membuat perbandingan proporsionalitas
dengan standar sangat merepotkan. Untuk alasan ini, adalah praktek umum
untuk mencampur sampel bubuk dengan fluks kimia dan menggunakan tungku
atau kompor gas untuk mencairkan sampel bubuk. Mencair menciptakan gelas
homogen yang dapat dianalisis dan kelimpahan (sekarang agak diencerkan)
elemen dihitung.
Detektor sinar-X
Ada dua jenis detektor yang paling umum, yaitu:
1. Tranduser gas yang bekerja sebagai pencacah proporsional.
Tiap foton sinar-X yang menyebabkan ionisasi dalam campuran gas (misalnya
argon/metana) akan memberikan pulsa yang sebanding dengan energinya.
2. Tranduser semikonduktor (pencacah sintilasi).
Tiap foton sinar-X meningkatkan konduktivitas daerah aktif (irisan) dari dioda silikon
(satu elektron untuk sekitar 3,6 eV). Sinyal-sinyal pengganggu dapat dikurangi jika
sensor bekerja pada temperatur rendah (didinginkan dengan nitrogen cair atau alat
pendingin). Permukaan jendela detektor dilindungi dengan film berylium.

Gambar 2.

Detektor sinar-X (a) pencacah proporsional yang digunakan

dalam mode pulsa, (b) dioda Si/Li yang didinginkan, (c) prinsip kerja detektor
sintilasi

III.

Alat Percobaan

1. Material standar nickel waspalloy (wrought) dan sertifikatnya.

2. 2 plat logam sampel bernomor dan 1 sampel logam bebas.
3. Alat spektrometer x-ray fluorescence jenis XMET7000.

Gambar 1.

IV.

Alat percobaan : XMET7000

Langkah Kerja

1. Alat x-ray fluorescence dinyalakan dan login dengan user supervisor.

2. Alat diset, dengan waktu penembakan 10 detik, 30 detik dan 60 detik.
3. Material standar diletakkan di atas meja, dan ditembak dengan alat spektrometer
dengan posisi detektor alat tegak lurus terhadap meja dan sampel.
4. Hasil pengukuran dicatat.
5. Langkah 3-4 diulangi untuk sampel plat logam masing-masing satu kali pengukuran
dengan waktu selama 30 detik.
6. Kadar unsur dalam material standar menurut sertifikatnya dicatat.

V.

Data Percobaan

1. Kadar unsur dalam material standar berdasarkan sertifikat

Material standar
Type : Waspalloy
Kadar persen berat unsur
1

Hasil pengamatan kandungan unsur logam dalam material standar

berdasarkan sertifikat.
Unsur
C
Si
S
P
Mn
Cu
Cr
Fe
Mo
Co
Ti
Al
Nb
B
Zr
Ni

Kadar (%)
0,0357
0,064
0,0007
0,0033
0,0311
0,0115
19,52
0,997
4,29
17,31
3,01
1,384
0,0314
0,0060
0,0563
57,2

ketidakpastian
0,0012
0,005
0,0004
0,0011
0,0008
0,07
0,007
0,04
0,07
0,02
0,009
0,0014
0,0003
0,0016
0,2

waktu

10 s

30 s

60 s
0,039

18,0021,00

49,0064,00

Limit

19,45

0,047

57,56

Kadar (%)

0,0,56

19,56

0,096

19,39

Cr

Ketidakpastian (%)

0,067

57,49

Kadar (%)

Ketidakpastian (%)

0,116

57,77

Kadar (%)

Ketidakpastian (%)

Ni

Unsur

12,0015,00

0,027

13,63

0,039

13,71

0,067

13,80

Co

3,505,00

0,008

4,38

0,012

4,41

0,021

4,46

Mo

2,753,25

0,025

3,46

0,036

3,49

0,062

3,42

Ti

0,002,00

0,008

1,10

0,011

1,06

0,019

1,04

Fe

0,001,00

0,015

0,21

0,02

0,13

0,035

0,13

Mn

0,021

0,11

0,015

0,09

0,021

0,08

0,000,50

0,004

0,03

0,06

0,04

Cu

2. Kadar unsur dalam material standar berdasarkan pengukuran dengan alat

Tipe : Waspalloy (Standar)
Tabel 1. Hasil pengukuran material standar dengan alat dengan variasi waktu

3. Hasil pengukuran kadar logam dalam sampel

Pengukuran selama t= 30 s
Tabel 2.
Unsur
Fe
Pb
Pd
Sn
Ir
Au
Ta
Mn
Ni
Co
Zn

Hasil pengukuran pada sampel 1 plat no. 9

Kadar (%)

Ketidakpastian

Limit

54,22
14,14
12,43
9,65
3,15
2,33
1,86
1,25
1,10
0,049
0,042

(%)
0,744
1,103
1,139
3,276
0,292
0,261
0,369
0,304
0,177
0,159
0,131

Tabel 3.

Hasil pengukuran pada sampel 2 plat no. 6

Unsur

Kadar (%)

Ketidakpastian

Limit

Fe
Pb
Pd
Zr
Ti
Mn
As
Zn
Au
Co
Cu

76,05
9,83
4,75
2,39
1,97
1,48
1,17
0,86
0,80
0,37
0,34

(%)
0,490
0,635
0,374
0,096
0,318
0,112
0,317
0,068
0,105
0,085
0,073

Tabel 4.
Unsur
Fe
Ti
Mn
Co
Pb
Cu
As

Hasil pengukuran pada sampel 3 ( C-1026 )

Kadar (%)

Ketidakpastian

Limit

95,88
2,87
0,37
0,36
0,30
0,09
0,08

(%)
0,104
0,030
0,008
0,016
0,028
0,006
0,014

96.00-99,80
0, 60-0,9
-

Ni

VI.

0,04

0,006

0,00-0,30

PEMBAHASAN
Praktikum kali ini bertujuan untuk menentukan kandungan serta kadar
kandungan yang terdapat dalam logam sampel dengan menggunakan alat
spekrtometer X-ray fluorescence (XRF) .Dimana alat yang digunakan

X-ray

fluorescence bertipe/merk XMET7000. Pada praktikum ini, spektrometer XRF

digunakan untuk menganalisis kandungan logam pada satu sampel logam standar
untuk standar kalibrasi,dua sampel plat yang sudah disediakan dan satu logam bebas.
Prinsip kerja dari spektrometer XRF adalah sampel logam ditembak dengan
sinar X yang terpancar dari alat. Akibat menerima energi dari sinar X yang datang,
maka elektron K dari atom-atom logam akan terpental keluar dan menyebabkan
elektron-elektron yang lebih luar mengisi kulit K dan memancarkan sinar X
karakteristik. Sinar X karakteristik inilah yang kemudian diubah menjadi pulsa listrik
dan terbaca detektor. Karena energi sinar X karakteristik untuk masing-masing unsur
spesifik (satu unsur berbeda dengan unsur lain), maka kandungan unsur dalam sampel
pun dapat ditentukan.
Pada saat dilakukan analisis menggunakan spektrometer XRF, pengukuran
dilakukan dengan posisi tegak lurus, ini bertujuan agar sinar X yang terpancar dari
alat selama beroperasi tidak sampai mengenai lingkungan (terutama manusia,
pengguna) sehingga orang-orang di sekitarnya tetap aman dari radiasi sinar X dari alat
selain itu bagian pemancar radiasi diusahakan tertutup seluruhnya oleh logam agar
pancaran X-ray karakteristik oleh sampel dapat ditangkap seluruhnya oleh detektor
selain itu agar tidak ada noise(pengganggu) akibat sinar X yang tertembak mengenai
benda lain disekitar sampel dan X-ray karakteristiknya tertangkap oleh detektor.
Waktu pengukuran menggunakan alat ini dapat diatur sesuai dengan kebutuhan.
Dalam praktikum ini, pengukuran dilakukan dengan memvariasi waktu selama 10
detik, 30 detik dan 60 detik untuk logam standar bersertifikat, hal ini bertujuan untuk
mengetahui pengaruh waktu terhadap hasil analisis pada suatu sampel.

Praktikum ini diawali dengan pengukuran plat standar untuk kalibrasi alat.
Kalibrasi yang dilakukan merupakan kalibrasi secara tidak langsung , dikarenakan
user tidak diberi wewenang oleh instansi perusahaan/ penjualnya. Setelah dilakukan
pengukuran, pada layar dari spektrometer XRF dapat ditampilkan kandungan logamlogam dalam plat standar serta kadarnya. Dari alat XRF juga dapat diketahui nilai
ketidakpastian alat selama pengukuran. Setelah didapatkan hasil pengukuran
selanjutnya dibandingkan dengan sertifikat standar logam yang sudah ada. Setelah
dibandingkan ternyata terdapat kadar suatu kandungan hasil pengukuran tidak sesuai
dengan nilai yang ada pada sertifikat. Akan tetapi, pada spektrometer XRF juga dapat
dikatahui nilai rentang kadar sehingga dapat diketahui nilai kadar yang terukur masih
termasuk dalam rentang nilai atau tidak. Berdasarkan pengukuran standar dengan
memvariasikan waktu dapat terlihat bahwa semakin lama waktu yang digunakan
terhadap analisis , maka semakin stabil alat dalam menangkap sinyal

xray

karakteristik apa saja yang terkandung dalam suatu sampel. Hal ini dapat terlihat pada
daata percobaan dimana pada waktu

pengukuran selama 10 detik hanya 10 unsur

yang terdeteksi , pada t=30 detiik terdapat 11 unsur yang terdeteksi dan pada waktu 60
detik terdapat 12 unsur yang terdeteksi. Meskipun lamanya waktu berpengaruh akan
tetapi alat juga akan mendeteksi unsur-unsur tetap pada waktu tertentu.

Pada

pengukuran sampel plat logam juga dapat diketahui kadar logam-logam yang
terkandung di dalam plat tersebut. Dari hasil pengukuran dapat diketahui bahwa
semua nilai kadar yang terukur masih termasuk dalam rentang limit nilai kadar yang
dapat terukur oleh spektrometer XRF.

VII.

KESIMPULAN
1. Prinsip kerja alat spektrometer X-ray fluorescence adalah tangkapan energi
emisi sinar X karakteristik dari atom yang tereksitasi oleh sistem detektor.
2. Setiap unsur memancarkan sinar X yang spesifik sehingga kandungan unsurunsur di dalam plat/sampel dapat diketahui dan diukur melalui alat spectrometer
XRF.

3. Lamanya waktu pengukuran cukup berpengaruh terhadap analisis /pendeteksian

unsur yang terkandung dalam suatu sampel

VIII.

DAFTAR PUSTAKA
http://anekakimia.blogspot.com/2011/06/analisa-instrumen-xrf.html diakses pada
tanggal 17 November 2014
http://translate.google.com/translate?hl=id&sl=en&u=http://en.wikipedia.org/wiki/Xray_fluorescence&prev=search diakses pada tanggal 17 November 2014
Yogyakarta, 18 November 2014
Asisten

Haries Handoyo, S.ST

Praktikan

Hersandy D. Kusuma