Nama : Hikmah

Nim : 4001419004

Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan jangkauan panjang gelombang antara

0,1 angstrom sampai sekitar 10 angstorn. Panjang gelombang katakteristik sinar-X akibat transisi
elektron antar kulit berada pada rentang sekitar 1 sampai 2 anstrom. Sebagai contoh, panjang
gelombang sinar-X garis Kα atom tembaga adalah λ=1,5406 angstrom.

Jarak antar atom dalam kristal zat padat adalah beberapa angstrom. Contohnya, jarak
antar atom C dalam intan adalah 3,567 angstrom. Jarak antar atom Si dalam kirtal silikon adalah
5,431 angstom. Jarak antar atom emas dalam logam emas adalah 4,065 anstrom. Terlihat jelas di
sini bahwa jarak antar atom dalam kristal kira-kira sama dengan panjang gelombang sinar-X.
Dengan demikian, menjadi pertanyaan: apakah kristal dapat mendifraksi sinar-X?

Karena pada awalnya sinar-X belum diketahui apakah berupa gelombag elektromagnetik
atau bukan, perdebatan tentang difraksi tersebut cukup panjang. Sinar-X ditemukan oleh
Rontgen tahun 1895. Fenomena difraksi sinar-X pertama kali diamati oleh Max von Laue tahun
1912. Sejak saat itulah sinar-X diterima sebagai gelombang elektromagnetik.
Teori Bragg tentang Difraksi Sinar-X oleh Kristal
Difraksi sinar-X oleh kristal pertama kali dibuktikan oleh Max von Laue. Atas temuan
tessebut Laue mendapat hadiah Nobel Fisika tanh 1914. Kajian lebih mendalam difraksi sinar-X
oleh kristal sehingga struktur kristal dapat ditentukan dilakukan oleh William Henry Bragg
bersama anaknya Lawrence Bragg. Mereka memandang atom-atom dalam kristal sebagai
susunan teratur dari pemantul sinar-X, mirip dengan susunan kisi sebagaipemantuk cahaya. Lihat
Gambar 301.1.

301.1 Atom dalam kristal sebagai susunan terakutr pemantul sinar-X

 Jarak antar atom kita anggap d. Atom-atom tersebut membentuk bisang-bidang pemantul
dengan jarak d. Misalkan sinar-X datang dengan membentuk sudut θ terhadap arah horisontal.
Sebagian sinar-X dipantulkan oleh bidang paling atas. Sebagian dipantulkan oleh bidang kedua
dari atas. Sebagian dipantulkan oleh bidang ketiga dari atas. Dan seterusnya. Inteferensi
konstruktif terjadi jika beda lintasan sinar-X yang dipntulkan oleh bidang berdekatan merupakan
kelipatan bulat dari panjang gelombang, atau
Δs=nλ
dengan
Δs adalah beda lintasan
λ adalah panjang gelombang sinar-X
n=1,2,3,… adalah bilangan bulat.
Perhatikan Gambar 301.1. Beda panjang lintaan sinar-X yang dipantulkan bidang paling atas dan
di bawahnyab adalah
Δs=2dsinθ
Dengan menyamakan dua persamaan di atas kita peroleh
2dsinθ=nλ(301.1)
Persamaan ini dinamakan persamaan Bragg. Persamaan Bragg menjadi landasan difraksi sinar-X
untuk analisis material. Atas temuan tersebut, Bragg bapak dan anak mendapat hadiah Nobel
Fisika tanh 1915.

Analisis Kristlinitas Bahan

 Alat yang digunakan untuk kajian tersebut dinalaman X-Ray Difffractometer (XRD).
Gambar fitur adalah contoh XRD. Pada alat ini, sinar-X yang digunakan memiliki panjang
gelombang yang tetap. Yang paling banyak digunakan adalah panjang gelomvang CuKα.
Gelombang ini dihasilkan akibat transisi elektron dari kuli L ke kulit K dalam atom tembaga.
Panjang gelombang adalah λ=1,5406 angstrom
Proses pengukuran yang dilakukan menggunakan XRD adalah mengubah susut datang
sinar-X mulai dari hampir sejajar permukaan bahan dari sampai hampir sejajar pada sisi
seberang. Pengubahan tersebut dilakukan dengan memutar secara besama-sama sumber sinar-X
dan detektor ke arah vertikal. Masing-masing berputar dengan sudut maksimal 90o. Pemutaran
tersebut dilakukan secara otomatis oleh bagian yang bernama goniometer. Sumber sinar-X dan
detektor dipasang tetap pada goniometer.
Gambar 301.2 adalah contoh sumber sinar-X, detektor yang dipasang pada goniometer.
Gambar 301.3 adalah ilustrasi pemutaran goniometer. Tiap perubahan sudut maka diukur
intensitas sinar yang dipantulkan. Gambar 301.4 adalah ilustrasi arah berkas menuju sampel dan
arah pantul menuju detektor.
Gambar 301.2 Contoh sumber sinar-X, detektor yang dipasang pada goniometer

Gambar 301.3 Ilustrasi pemutaran goniometer

Gambar 301.4 Ilustrasi arah berkas menuju sampel dan arah pantul menuju detektor
Saat terjadi interferensi konsruktif maka intensitas yang dipantulkan maksimum. Jika
interferensi tidak konstruktif maka intensitas yang dipancarkan lemah. Dengan pemutaran sudut
tersebut maka akan terjadi beberpa kali interferensi konstruktif. Jadi, kita akan deteksi sejumlah
puncak difraksi.
Pada sudut berapa terjadi interfrensi maksimum sangat bergandung pada jarak antar
bidang pemantul yang ditunjukkan pada Gambar 301.1. Jarak bidang pemantul terserbtu sangat
bergantung pada material yang sedang diukur. Dengan demikian, dari pola difraksi yang
dihasilkan kita dapat mentimpulkan kira-kira material apa yang kita ukur.
Gambar 301.5 adalah contoh pola difraksi sinar-X untuk material perak dan palladium.
Perhatikan lokasi dan bentuk puncak. Puncak paling kiri dan kedua dari kiri untuk perak
memiliki sudut lebih kecil daripada untuk palladium. Puncak ketiga untuk perak berada pada
sudut 2θ≈65o sedangkan untuk palladium lebih dekat ke sudut 2θ≈70o. Begitu pula dua puncak
paling kanan. Lokasinya berbeda.

Gambar 301.5 (atas) pola difraksi oleh kristal perak dan (bawah) pola difraksi oleh kristal
palladium