LAPORAN PRAKTIKUM

FISIKA ZAT PADAT

PENENTUAN JARAK ANTAR KISI DAN PENGGAMBARAN SPEKTRUM SINAR-X DENGAN DIFRAKSI BRAGG

Disusun Oleh (Kelompok V) : 1. Muhammad Irsal 2. Naeli Nimatin Ahadiyah 3. Nora Fajria 4. Arnefia Mei Yusnida

PROGRAM S-1 LINTAS JALUR FISIKA MEDIS FAKULTAS SAINS DAN MATEMATIKA UNIVERSITAS DIPONEGORO SEMARANG 2013

A. TUJUAN 1. Menentukan jarak antar kisi dengan difraksi Bragg. 2. Memisahkan panjang gelombang yang diemisikan oleh tabung sinar-X ke dalam bentuk spektralnya dengan difraksi Bragg.

B. DASAR TEORI 1. Sinar-X Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memilki panjang gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 - 1020 Hz dan memiliki energi 103 - 106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal. Ada 2 macam sinar-X yaitu : a. Sinar-X Bremsstrahlung Sinar-X Bremstrahlung terjadi ketika elektron dengan energi kinetik yang terjadi berinteraksi dengan medan energi pada inti atom. Karena inti atom ini mempunyai energi positif dan elektron mempunyai energi negatif, maka terjadi hubungan tarik- menarik antara inti atom dengan elektron. Ketika elektron ini cukup dekat dengan inti atom dan inti atom mempunyai medan energi yang cukup besar untuk ditembus oleh elektron proyektil, maka medan energi pada inti atom ini akan melambatkan gerak dari elektron proyektil. Melambatnya gerak dari elektron proyektil ini akan mengakibatkan elektron proyektil kehilangan energi dan berubah arah. Energi yang hilang dari elektron proyektil ini dikenal dengan photon sinar X bremstrahlung.

Gambar 1. Proses Sinar-X Bremsstrahlung 2

b. Sinar-X Karakteristik Sinar-X karakteristik terjadi ketika elektron proyektil dengan energi kinetik yang tinggi berinteraksi dengan elektron dari tiap-tiap kulit atom. Elektron proyektil ini harus mempunyai energi kinetik yang cukup tinggi untuk melepaskan elektron pada kulit atom tertentu dari orbitnya. Saat elektron dari kulit atom ini terlepas dari orbitnya maka akan terjadi transisi dari orbit luar ke orbit yang lebih dalam. Misalkan sebuah elektron di kulit K terionisasi sehingga terdapat sebuah kekosongan elektron di kulit K. Tempat yang kosong ini segera diisi oleh elektron yang berada pada keadaan tenaga yang lebih tinggi, misalnya elektron di kulit L atau M yang disertai dengan pancaran sebuah photon. Jika elektron pengisi kekosongan berasal dari kulit L maka sinar-X yang dihasilkan

dinamakan sinar-x Ka. Sedangkan jika berasal dari kulit L dinamakan sinarX Kb, dan bila berasal dari kulit M dinamakan sinar-X Kg (Suharyana, 2012). Ketika kulit L terdapat sebuah lubang elektron karena ditinggalkan oleh elektron yang berpindah ke kulit K, maka sebuah elektron dari

kulit M, N atau O akan bertransisi mengisi lubang tersebut. Kelebihan tenaga elektron yang berpindah dipancarkan dalam bentuk sebuah photon yaitu radiasi sinar-X cemiri. Bila elekron yang mengisi berasal dari kulit M maka sinar-X yang terjadi dinamakan sinar-X La, sedangkan jika berasal dari kulit N dinamakan sinar-X Lb.

Gambar 2. Spektrum Sinar-X 3

Radiasi K dan K merupakan spektrum sinar-X bersifat bergaris. Intensitas radiasi bergantung pada kemungkinan transisi yang bersangkutan dapat terjadi makin besar kemungkinannya, makin besar intensitas. Sedangkan kemungkinan transisi ditentukan oleh besarnya loncatan dalam satuan energi : makin besar perubahan energi transisi, makin kecil kemungkinannya, karena itu IK > IK. Dalam difraksi sinar-X baisanya dipakai radiasi monokromatik yakni K. Radiasi monokromatik dapat diperoleh dengan menggunakan system penapis yang sesuai. Energi yang dilepaskan saat terjadi transisi ini dikenal dengan photon sinar-X karakteristik. Energi photon sinar-X karakteristik ini bergantung pada besarnya energi elektron proyektil yang digunakan untuk melepaskan elektron dari kulit atom tertentu dan bergantung pada selisih energi ikat dari elektron transisi dengan energi ikat elektron yang terlepas tersebut.

Gambar 3. Proses Sinar-X Karakteristik 2. Interferensi Gelombang Inteferensi gelombang adalah peristiwa perpaduan dua gelombangyang koheren yaitu dua gelombang yang memiliki frekuensi dan selisih fase tetap .Ada dua macam peristiwa interferensi yaitu : a. Interferensi konstruktif, yaitu interferensi yang saling menguatkan yang terjadi bila kedua gelombang yang memiliki fase yang sama.

b. Interferensi destruktif, yaitu interferensi yang saling melemahkan yang terjadi bila kedua gelombang berlawanan fase.

Agar interferensi konstruktif/destruktif dapat terjadi terus menerus di suatu tempat, maka sumber-sumber gelombangnya harus menghasilkan gelombang yang koheren. Dua gelombang dikatakan koheren jika beda fasanya tetap.

Cahaya juga merupakan gelombang (yaitu gelombang EM) sehingga prinsip superposisi linear juga berlaku pada cahaya. Fenomena interferensi (konstruktif dan destruktif) juga dapat ditemui pada gelombang cahaya. 3. Difraksi Sinar-X (XRD) Apabila suatu bahan dikenai sinar-X maka intensitas sinar-X yang ditransmisikan lebih kecil dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh bahan dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar yang dihantarkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasenya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasenya sama. Berkas sinar-X yang saling menguatkan disebut sebagai berkas difraksi. 5

Difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan merupakan berkas difraksi dikenal sebagai Hukum Bragg. Hukum Bragg menyatakan bahwa perbedaan lintasan berkas difraksi sinar-X harus merupakan kelipatan panjang gelombang. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg : n. = 2.d.sin ; n = 1,2,...

Gambar 4. Susunan Kisi Kristal Menurut Bragg Dari persamaan diatas dapat diaplikasikan pada kristal yaitu : 2 dhkl sin = n Dengan adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, dhkl adalah jarak antara dua bidang kisi kristal, adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal, dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan. Keadaan ini membentuk pola interferensi yang saling menguatkan untuk sudut-sudut yang memenuhi hukum Brag. Gejala ini dapat diamati pada grafik hubungan antara intensitas spektrum karakteristik sebagai fungsi sudut 2. Untuk menentukan sudut dalam kristal/anoda adalah sistem kristal/atom dan parameter atau arah difraksi ditentukan oleh bentuk dan ukuran sel satuannya.

Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Standar ini disebut JCPDS. Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5-2,0 mikron. Sinar ini dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar-X. Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan tipis yang terbentuk. Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X. Proses difraksi sinar X dimulai dengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram yang menyatakan hubungan antara sudut difraksi 2 dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. Untuk difraktometer sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X. Sinar X didifraksikan dari sampel yang konvergen yang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar X. Sinar X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyal listrik. Sinyal tersebut, setelah dieliminasi komponen noisenya, dihitung sebagai analisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar x juga digunakan untuk menentukan ukuran kristal, regangan kisi, komposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki orde yang sama. Difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih dari pada ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi. Ukuran atom dalam orde angstrom () maka 7

supaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang gelombang dari sinar yang melalui kristal harus dalam orde angstrom (). Komponen XRD ada 2 macam yaitu: a. Slit dan film b. Monokromator Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut

dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang paling umum adalah K dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari K1 dan K2. K1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali lebih intensitas dari K2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu K =05418. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer.

Gambar 5. Letak Kristal pada Goniometer

Fitur penting dari sebuah spektrometer sinar-X diperlihatkan pada Gambar 4. Sinar-x dari tabung T pada kristal C yang dapat diatur pada setiap sudut yang diinginkan ke berkas yang datang oleh rotasi terhadap suatu sumbu melalui O. pusat lingkaran spektrometer. D adalah counter yang mencatat intensitas difraksi sinar-x, tetapi juga bisa diputar sekitar dan ditetapkan pada setiap posisi sudut yang diinginkan. Kristal ini biasanya dipotong atau dibelah sehingga set tertentu pada bidang refleksi sejajar dengan permukaannya, seperti yang terlihat pada gambar. Digunakan kristal yang diposisikan sehingga bidang yang direfleksi membuat beberapa sudut tertentu dengan berkas yang datang, dan D ditetapkan pada sudut yang sesuai 2. Intensitas Berkas difraksi kemudian diukur dan panjang gelombang yang dihitung dari hukum Bragg, prosedur ini diulang untuk berbagai sudut . Sebelum mempertimbangkan bagaimana jarak bidang pertama ditentukan, maka harus mempertimbangkan subjek intensitas sinar-x. Biasanya intensitas kerapatan ditemukan dengan mengukur volume, biasanya dengan orde cm3, dengan massa spesimen tertentu. Tapi difraksi sinar-x memungkinkan untuk menentukan parameter kisi sel satuan kristal, dan menentukan volumenya dengan mengetahui jumlah atom dalam sel.

C. METODE PENGAMBILAN DATA 1. Alat dan Bahan a. Satu set piranti sinar-X b. Sebuah filter Zicron c. Monokristal LiF d. Sebuah ratemeter e. Sebuah pencacah digital f. Multirange-meter g. Stopwatch h. Alat tulis

2. Cara Kerja

Gambar 6. Bagian-bagian Piranti Sinar-X dan Pencacah Digital a. Siapkan semua alat dan bahan. b. Letakkan Kristal LiF pada pegangannya. c. Atur tegangan tabung pencacah yaitu 6 kV. d. Pilih waktu operasi 20 menit dengan tombol timer 4. e. Jika pengaturan sudah benar, kemudian nyalakan piranti sinar-X dengan tombol 1. f. Atur goniometer dengan menggerakkan kristal dan tabung pencacah dari sudut kecil ke sudut besar. Sudut yang diinginkan dari rentang 0 sampai 16 dengan selisih sudut pertama dan kedua mempunyai selisih 0,5. ( = 0; 0,5; 1; 1,5; dst ). g. Nyalakan pencacah digital dengan bersamaan menyalakan stopwatch. Selang waktu yang digunakan untuk menghitung hasil cacahan yaitu 30 sekon. h. Perhatikan hasil cacahan pada pencacah digital. i. Setelah jarum stopwatch menunjukkan angka 30, catat hasil cacahan yang terdapat pada pencacah digital. j. Ulangi percobaan di atas dengan sudut yang berbeda.

10

D. HASIL PERCOBAAN No 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 Sudut (0) 0 0,5 1 1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5 5 5,5 6 6,5 7 7,5 8 8,5 9 9,5 10 10,5 11 11,5 12 12,5 13 13,5 14 14,5 Hasil Cacah (cps) 50971 18879 9805 4861 1893 601 45 10 12 18 11 19 13 9 8 12 13 9 11 5 9 4 5 9 16 11 4 8 18 11

11

31 32 33

15 15,5 16

13 9 6

E. PEMBAHASAN Menurut Bragg, struktur kisi-kisi ruang dalam kristal dapat dipertimbangkan sebagai lapisan-lapisan kisi bidang yang sejajar dengan jarak antar bidang kisi sebesar d. Ketika berkas sinar-X menumbuk kristal, berkas tersebut akan didifraksikan oleh elemen elemen kisi kristal dan akan mencapai keadaan maksimum bila perbedaan lintasan berkas sinar kelompok bidang kisi memenuhi persyaratan 2d sin = n Dengan d : jarak antar bidang kisi (konstanta kisi) : sudut Bragg n : orde bilangan : panjang gelombang

Percobaan dilakukan dengan mengamati difraksi sinar-X yang memiliki panjang gelombang 7,1 x m terhadap kristal LiF, tegangan tabung pencacah 6 kV, arus tabung 1 mA, dan rentang sudut yang digunakan 0o sampai 16o. Sudut kristal LiF divariasi dalam selang waktu masing-masing 30 detik. Dari data hasil percobaan dapat diperoleh nilai konstanta kisi dari kristal LiF yang kemudian dibandingkan dengan referensi yang ada. Pada percobaan ini, intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam sebagai contoh dan detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing. Sebuah puncak dalam intensitas terjadi ketika mineral berisi kisi-kisi dengan d-spacings sesuai dengan difraksi sinar-X pada nilai . Meski masing-masing puncak terdiri dari dua pemantulan yang terpisah (K1 dan K2), pada nilai-nilai kecil dari 2 lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih dengan K2 muncul sebagai suatu gundukan pada sisi K1. Pemisahan lebih besar terjadi pada nilai-nilai yang lebih tinggi . Untuk mendapatkan nilai konstanta kisi ( jarak antar kisi ) diperlukan nilai puncakpuncak difraksi yang terjadi pada nilai-nilai yang tinggi. Oleh karena itu, diperlukan suatu grafik yang menggambarkan puncak-puncak difraksi. Grafik ini menghubungkan antara intensitas dengan sudut () yang ditunjukkan pada grafik di bawah ini.

12

Grafik Intensitas dengan Sudut

50 45 40 35 30 25 20 15 10 5 0 0 1 2 45

Intensitas (cps)

18 10 12 11

19 13 9 8 12 13 9 11 5 9 4 5 9

16 11 4 8

18 11 13 9 6

10

11

12

13

14

15

16

17

18

Sudut ()

Gambar 6. Grafik antara Intensitas (cps) dan Sudut () Dari grafik diatas dapat disimpulkan hubungan antara sudut Bragg dan nilai cacahan berbanding terbalik. Semakin besar nilai sudut yang diujikan, maka akan didapat nilai cacahan yang semakin kecil. Berdasarkan grafik diatas dapat diperoleh nilai puncak-puncak difraksi. Nilai puncak-puncak difraksi mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Tiap puncak mempunyai nilai sudut tertentu yang dibutuhkan untuk mendapatkan nilai jarak antar kisi kristal LiF. Untuk menghitung nilai jarak antar kisi kristal LiF menggunakan persamaan Bragg yaitu 2d sin = n atau d= n 2 sin

Perhitungan nilai d untuk setiap sudut puncak difraksi yaitu : Diketahui : = 71 pm = 7,1 x 10-11 m Berdasarkan referensi, Kristal LiF mempunyai konstanta kisi 2d = 402,76 pm maka d = 201,38 pm. a. Sudut () = 4,5

1. ( 71) 2 ( sin 4,5 ) 13

71 0,15691

= 452,46 pm b. Sudut () = 5,5

1. ( 71) 2 ( sin 5,5 )

71 0,19169

= 370,38 pm c. Sudut () = 8

1. ( 71) 2 ( sin 8 )

71 0,27834

= 255,07 pm d. Sudut () = 9

1. ( 71 ) 2 ( sin 9 )

71 0,31286

= 226,93 pm e. Sudut () = 10

= 1. ( 71 ) 2 ( sin 10 ) = 71 0,34729 = 204,43 pm 14

f. Sudut () = 12

1. ( 71 ) 2 ( sin 12 )

71 0,41582

= 170,74 pm g. Sudut () = 14

1. ( 71 ) 2 ( sin 14 )

71 0,48384

= 146,74 pm h. Sudut () = 15

1. ( 71 ) 2 ( sin 15 )

71 0,51763

= 137,16 pm Dari data diatas dapat diperoleh nilai konstanta kisi (d) rata-rata yaitu:

= d1 + d2 + d3 + d4 + d5 + d6 + d7 + d8 8 = 452,46 + 370,38 + 255,07 + 226,93 + 204,43 + 170,74 + 146,74 + 137,16 8 = 1963,91 8 = 245,48 pm

15

Dari perhitungan nilai konstanta kisi ( d ) yang diinterpretasikan ke dalam tabel berikut. Sudut () 4,5 5,5 8 9 10 12 14 15 Intensitas Maksimum (cps) 18 19 13 11 9 16 18 13 Jumlah Rata-rata Konstanta Kisi d (pm) 452,46 370,38 255,07 226,93 204,43 170,74 146,74 137,16 1963,91 245,48

Berdasarkan tabel diatas, dapat diperoleh nilai rata-rata konstanta kisi kristal LiF yaitu 245,48 pm. Namun, konstanta kisi kristal LiF menurut referensi yaitu 201,38 pm yang menunjukkan selisih yang cukup signifikan dengan hasil percobaan sebesar 44,1 pm. Hasil selisih yang cukup signifikan kemungkinan terjadi karena perfoma alat yang kurang baik, namun hal ini terjadi juga bisa kemungkinan karena human error.

F. KESIMPULAN DAN SARAN 1. Kesimpulan a. Difraksi sinar-X merupakan salah satu metode yang digunakan untuk

mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. b. Hukum Bragg menyatakan bahwa perbedaan lintasan berkas difraksi sinar-X harus merupakan kelipatan panjang gelombang. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg : 2d sin = n c. Dari hasil percobaan, dapat diperoleh puncak-puncak difraksi yang berhubungan dengan nilai konstanta kisi. Dengan nilai () pada puncak-puncak difraksi didapatkan nilai konstanta kisi rata-rata yaitu 245,48 pm. 16

d. Nilai konstanta kisi pada hasil percobaan dengan referensi terdapat selisih yang cukup signifikan yaitu 44,1 pm. 2. Saran a. Pada percobaan ini dibutuhkan ketelitian dan ketepatan dalam pengamatan maupun perhitungan. Oleh karena itu, sebaiknya dalam percobaan benar-benar memperhatikan setiap nilai cacah yang dihasilkan oleh pencacah digital dan tepat dalam menghitung selang waktu yang dibutuhkan pada stopwatch. b. Untuk mendapatkan data yang akurat dibutuhkan hasil yang otentik dengan cara ketepatan dan kebersamaan dalam menghitung antara pencacah digital dengan stopwatch.

17

DAFTAR PUSTAKA
Albert, R and Daniels, F. 1984. Kimia Fisika. Jakarta : Penerbit Erlangga. Anggar, Aru. 2010. Laporan Praktikum Sinar-X. http://linnastory.blogspot.com/. Diakses pada tanggal 30 Mei 2013. Dianingrum, Nur Anita. 2011. Analisa Instrumental. http://anitanurdianingrum.blogspot.com. Diakses pada tanggal 30 Mei 2013. Kittel, C. 1986. Introduction of Solid State Physics. New York : Jhon Willey and Son. M.A. Omar. 1975. Elementary Solid State Physics, Principle, and Application. New York : Addison Wesley. Nursiono , Teguh (1997) Percobaan difraksi sinar X dengan kristal tunggal LiF dan NaCl sebagai kisi difraksi.UNDIP : FMIPA. Roselina, Khoirul Ika. 2011. Interferensi Gelombang. http://www.scribd.com/doc/. Diakses pada tanggal 1 Juni 2013. Sutrisno. 1989. Fisika Modern. Bandung : ITB. www.phys.itb.ac.id/~khbasar/arsip/FI1201/Interferensidandifraksi.pdf http://www.scribd.com/doc/99436998/Makalah-Spektroskopi-Sinar-x-2 http://tjuk-emet.blogspot.com/2011/08/sinar-x-bremsstrahlung-dan-sinar-x.html

18