1.

Mikroskop optik
Mikroskop optik merupakan suatu alat yang digunakan untuk mengamati dan
mempelajari mikrostruktur dari suatu objek cuplikan seperti keadaan mikrostruktur pada
butiran atau batas butir suatu logam, fasa serta distribusi fasanya.  Pengamatan
metalografi menggunakan mikroskop optik pada dasarnya menggunakan bantuan
cahaya refleksi atau cahaya polarisasi.
Mikroskop optik terdiri dari beberapa bagian komponen yang sangat penting seperti
lensa obyektif, okuler, kondensor, filter cahaya dan daya resolusi.  Lensa objektif
terletak dibagian bawah berdekatan dengan benda yang akan diamati, sedangkan
lensa okuler terletak dibagian atas yang berdekatan dengan mata. Apabila sebuah
benda yang akan diamati diletakkan dengan lensa objektif, maka akan membentuk
bayangan nyata yang diperbesar.  Letak bayangan tersebut terdapat di dalam tabung
mikroskop, yaitu lensa okuler dan titik api lensa okuler.  Lensa okuler menganggap
bayangan sebagai suatu benda dan sebagai hasilnya adalah bayangan maya yang jauh
lebih besar dari bayangan sebelumnya dan dapat dilihat oleh mata yang berada diatas
lensa okuler.  Komponen-komponen tersebut masing-masing memiliki fungsi dan
kegunaan.  Lensa obyektif berfungsi memperbesar bayangan pertama dari suatu
cuplikan.  Lensa okuler berfungsi memperbesar bayangan yang telah diperbesar oleh
lensa obyektif, sedangkan lensa kondensor berfungsi memfokuskan cahaya yang
datang dari sumber.

2. X-ray diffraction (XRD)

X ray diffraction merupakan suatu teknik nondestruktif untuk mengetahui informasi
mengenai struktur kristal, komposisi kimia, dan property fisika dari suatu material dan
thin film. Ketika sinar x-ray mengenai suatu material, sinar x-ray akan berhamburan ke
segala arah. Kebanyakan radiasi yang berhamburan akan saling melemahkan, namun
sinar x-ray yang mengenai bidang kristalografik pada sudut spesifik akan diperkuat.
Fenomena ini disebut difraksi. Sinar x-ray akan terdifraksi ketika kondisinya memenuhi
hukum Bragg.
Sin Ө = λ/〖2d〗_hkl
Dimana, Ө= setengan sudut antara sinar yang terdifraksi dan sinar beam original; λ =
panjang gelombang X-rays; dan d_hkl= ruang interplanar antara bidang-bidang yang
menyebabkan penguatan konstruktif dari sinar.
Ketika material yang akan diteliti disiapkan dalam bentuk powder, selalu ada minimal
partikel powder dimana (hkl) bidangnya orientasinya pada sudut Ө untuk memnuhi
hokum Bragg. Maka dihasilkan berkas terdifraksi membuat sudut 2Ө dengan berkas
tertabrak. Pada diffraktometer, detector x-ray bergerak mencatat sudut 2Ө pada saat
berkas electron terdifraksi, memberikan karakteristik pola difraksi. Jika kita tahu panjang
gelombang dari sinar x-ray, maka kita akan dapat menentukan jarak interplanar
(interplanar spacing) dan bahkan mengidentifikasi bidang yang menyebabkan difraksi.
3. SEM (Scanning Electron Microscop)
SEM (scanning electron microscop) adalah suatu tipe dari mikroskop electron yang
mana gambar dari permukaan suatu material didapatkan dengan men scan nya
menggunakan sinar electron berenergi tinggi. Dengan menggunakan electon maka
perbesaran yang didapat akan lebih besar dibandingkan dengan menggunakan sumber
cahaya konvensional. SEM dapat menunjukkan gambar 3 dimensi secara detail.
Karena tidak menggunakan cahaya, maka hasil gambar yang didapat akan berupa
gambar hitam putih.

Berikut merupakan system kerja SEM;

Sampel yang akan diamati ditaruh didalam kolom mikroskop yang vakum. Setelah
udara dipompa keluar sehingga keadaan di dalam vakum, pemancar electron akan
memancarkan sinar electron nerenergi tinggi. Sinar ini akan menuju ke specimen
setelah melalui sejumlah lensa magnetic yang didesain untuk memfokuskan electron ke
specimen.

Ketika sinar electron tersebut mengenai target, maka akan ada electron yang terpencar
keluar dari bidang target. Sebuah detektor akan menghitung electron ini dan mengirim
sinyal ke sebuah amplifier. Gambar final yang terbentuk berdasarkan dari sejumlah
electron yang diemisikan dari setiap spot dari sampel tersebut.

4. TEM (Transmission Electron Microscopy)

TEM adalah suatu teknik untuk mengetahui struktur mikroskopik dengan cara
mentransmisikan berkas electron ke lapisan ultra tipis. Suatu citra yang terbentuk dari
interaksi elektron yang ditransmisikan melalui specimen, citra mengalami pembesaran
dan terfokus pada sebuah perangkat imaging, seperti pada lapisan film fotografi, atau
oleh sebuah sensor seperti CCD kamera.
TEMS mampu menghasilkan resolusi pencitraan yang lebih tinggi daripada mikroskop
cahaya. Hal ini memungkinkan instrumen untuk dapat memeriksa detail-bahkan sekecil
satu kolom atom, yang puluhan ribu kali lebih kecil daripada yang terkecil dibanding
objek yang diamati dalam mikroskop cahaya. TEM pertama dibangun oleh Max Knoll
dan Ernst Ruska pada tahun 1931.

Sebuah “sumber cahaya” di bagian atas memancarkan elektron yang memancar

melalui vakum di kolom mikroskop. Pemfokusan pada TEM menggunakan lensa
elektromagnetik, untuk memfokuskan electron. Berkas elektron kemudian bergerak
melalui spesimen yang akan diamati. Tergantung pada densitas material, beberapa
elektron tersebar dan menghilang dari berkas. Pada bagian bawah mikroskop elektron
yang tidak tersebar menabrak layar fluorescent, yang memunculkan sebuah “bayangan
gambar” spesimen dengan bagian-bagian yang berbeda ditampilkan dalam kegelapan
bervariasi menurut densitas mereka. Gambar tersebut dapat dipelajari secara langsung
atau difoto dengan kamera.