Lecturer Notes Week 4 (New)
Lecturer Notes Week 4 (New)
ISYE6094
Quality Engineering
Week ke 4
LO 2: Use statistical quality control technique and related software for data analysis
OUTLINE MATERI :
Sesi ini menyajikan grafik Shewhart control untuk data atribut, seperti fraksi cacat atau tidak
sesuai, ketidaksesuaian (cacat), atau ketidaksesuaian per unit produk. Mengeksplorasi
kemampuan proses analisis-yaitu, bagaimana diagram kontrol dan teknik statistik lainnya dapat
digunakan untuk memperkirakan kemampuan alami dari suatu proses dan untuk menentukan
bagaimana ia akan tampil relatif spesifikasi pada produk..
Data Atribut merupakan suatu karakteristik mutu yang diukur dalam perbandingan.
Misal nya : jumlah produk rusak, penilaian baik atau buruk.
Diagram Kendali pada Data Atribut digunakan untuk mengontrol proses yang sedang
berlangsung dengan menemukan dan memperbaiki masalah yang terjadi. Dengan Diagram
Kendali tersebut maka sebuah proses manufaktur atau proses bisnis dapat diketahui apakah
berjalan dalam kondisi terkontrol atau tidak.
Diagram kendali p digunakan bila jumlah observasi pada setiap sub-group nya bervariasi ( tidak
konstan ).
Contoh :
Proses pengendalian pada industri percetakan dengan melakukan pemeriksaan jumlah produk
yang rusak dengan jumlah data pemeriksaan yang berbeda setiap sub-group nya.
Diagram Kendali P adalah untuk memonitor proporsi kerusakan (p̂ ) dari sejumlah sample
pemeriksaan, maka Diagram Kendali NP digunakan untuk memonitor jumlah kerusakan itu
sendiri.
N pada Diagram Kendali NP berarti “number” yaitu JUMLAH item-item yang tidak sesuai /
rusak ( non-conforming units ) pada sejumlah sample pemeriksaan.
Perhitungan Batas Kendali Atas (UCL) dan Batas Kendali bawah (LCL) :
Misal:
Dalam 20 item sampel terdapat 2 item cacat :
• Item A ditemukan 3 titik kerusakan
• Item B ditemukan 5 titik kerusakan.
Diagram Kendali P menunjukkan proporsi cacat 2/20 = 0,2
Digram Kendali NP menunjukkan jumlah cacat = 2 item,
Diagram Kendali C menunjukkan 8 kerusakan.
Pada Diagram Kendali C membutuhkan ukuran sampel yang konstan.
Perhitungan Batas Kendali Atas (UCL) dan Batas Kendali bawah (LCL) :
Jika Diagram Kendali C menghitung titik kerusakan dalam satu item yang sama, maka Diagram
Kendali U digunakan dalam kasus di mana sampel yang diambil bervariasi atau memang seluruh
produk yang dihasilkan akan diuji.
Hal ini berarti bahwa Diagram Kendali U digunakan jika ukuran sampel lebih dari satu unit atau
mungkin bervariasi dari waktu ke waktu.
Pada Diagram Kendali C, kita langsung melakukan plot jumlah kerusakan pada Diagram
Kendali, maka berbeda dengan Diagram Kendali U, kita perlu menghitung dahulu :
Pada industri tekstil bagian printing, petugas QC melakukan pemeriksaan hasil cetak kain setiap
10 m2 dimana terdapat 8 roll kain dengan luas yang bervariasi.
Garis Tengah :
Perhitungan Batas Kendali Atas (UCL) dan Batas Kendali bawah (LCL) :