KOPI

DIFRAKSI
SINAR X
Oleh
Kelompok 8:
Ayu Nurjannah
(120332410119)
Khozidatul Ummah
(120332410126)
Riska Umi Faridatus Saniyah
(120332410128)

SEJARAH X-RAY

Ditemukan pertama kali oleh

Roentgen (Wilhelm Conrad Roentgen),
seorang profesor fisika dan rektor
Universitas Wuerzburg di Jerman pada
tahun 1895.

Pada saat ditemukan,

sifat-sifat sinar-x tidak
langsung dapat diketahui.
Sifat-sifat alamiah (nature)
sinar-x baru secara pasti
ditentukan pada th 1912
seiring dengan penemuan
difraksi
sinar-x.
Difraksi sinar-x ini dapat
melihat
atau
membedakan objek yang berukuran kurang
lebih 1 angstroom.

PENGERTIAN
SINAR X

Sinar x merupakan radiasi elektromagnetik dengan

panjang gelombang sekitar 1 angstoom, letaknya antara
sinar UV dan sinar Gamma.

PRINSIP XRD

Merupakan salah satu metode yang digunakan

untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter
struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran
partikel.

Hal ini terjadi sebagai akibat dari pantulan elastis

(hamburan) yang terjadi ketika sebuah sinar
berinteraksi dengan sebuah target. Pantulan yang
tidak terjadi kehilangan energi disebut pantulan
elastis (elastic scatering). Kemudian, pantulan
elastis tersebut akan ditangkap oleh detektor.

INTERAKSI SINAR X
DENGAN SAMPEL

Berdasarkan hukum Bragg, kristal dapat dipandang

terdiri atas bidang-bidang datar (kisi kristal). Jika berkas
sinar x dijatuhkan pada sampel kristal, maka sampel
tersebut akan membiaskan sinar x yang memiliki panjang
gelombang sama dengan jarak antar kisi bidang kristal.
Sinar yang dibiaskan kemudian akan ditangkap oleh
detektor, kemudian diterjemahkan sebagai puncak
difraksi.

INSTRUMENTASI

Filamen
Target
filter

INSTRUMENTASI

Sumber
Sinar
Sinar
X dihasilkan dari penembakan target

(logam anoda) oleh elektron berenergi tinggi

yang berasal dari hasil pemanasan filamen dari
tabung sinar X (Rontgen). Tabung sinarX
tersebut terdiri atas empat komponen utama,
yakni
filamen (katoda) yang berperan sebagai
sumber elektron,
ruang vakum sebagai pembebas hambatan
target sebagai anoda
sumber tegangan listrik

Tumbukan Elektron
dengan
Target
Tumbukan
elektron dengan
logam target
menyebabkan:
Gerakan elektron diperlambat. Sebagian kecil
elektron berhenti bergerak. Sebagian energi
elektron diubah menjadi panas dan sinar-X dengan
berbagai panjang gelombang (white radiation).
Energi yang dibebaskan digunakan untuk
mengeksitasi elektron pada kulit K atau L atau
kulit-kulit yang lain, tergantung pada besarnya
energi tersebut.

Tumbukan Elektron
dengan
Target
Akibat adanya tempat
kosong pada kulit K,

sebuah elektron dari kulit L akan mengalami

transisi menuju kulit K sambil melepaskan
radiasi.
Radiasi yang dihasilkan merupakan sinar-X yang
diberi notasi K yang merupakan radiasi
monokromatik. Radiasi ini ada dua yaitu K1
dan K2

Tumbukan Elektron
dengan
Target
Dalam eksperimen yang
diperlukan adalah

radiasi K . Oleh karena itu radiasi yang lain

harus dibuang dengan cara difilter.
Sinar-X yang diperoleh merupakaan sinar
monokromatik yang akan digunakan untuk
meradiasi spesimen (sampel).

Untuk dapat menghasilkan sinarX dengan

baik, maka logam yang digunakan sebagai target
harus memiliki titik leleh tinggi dengan nomor
atom (Z) yang tinggi agar tumbukan lebih efektif.
Logam yang biasa digunakan sebagai target
(anoda) adalah Cu, Cr, Fe, Mo dan Ag. Sedangkan
logam yg biasa digunakan sebagai filter adalah Ni,
V, Mn, Nb, dan Pd.

Samp
el

Material uji (spesimen) dapat

digunakan bubuk (powder)
Ukuran kurang dari 10 mikro meter
atau 200 mesh
Diletakkan dalam sampel holder dan
dipres untuk meratakan permukaan

Detekto
r

Berdasarkan

persamaan Bragg, jika seberkas sinarX di jatuhkan pada sampel kristal, maka bidang
kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki
panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi
dalam kristal tersebut
Sinar yang dibiaskan dari bidang kristal akan
ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan
sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak
bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin
kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap
puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu
bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu
dalam sumbu tiga dimensi.

Detekto
r

Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili

satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu
dalam sumbu tiga dimensi yang disebut indeks Miller
Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran
ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinarX untuk hampir semua jenis material. Standar ini
disebut JCPDS (Joint Committee Powder Diffraction
Standar) untuk mengetahu bidang dengan indeks
Miller (hkl) tertentu pada puncak-puncak difraksi yang
terbentuk pada difraktogram.

Contoh Difraktogram XRD

Kristal CdSe

Contoh Difraktogram
XRD Amorf

APLIKASI
Membedakan antara material yang
bersifat kristal dengan amorf
Mengukur macam-macam keacakan dan
penyimpangan kristal.
Karakterisasi material kristal
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir
halus seperti tanah liat
Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

MENDETEKSI DEFECT
KRISTAL
Salah satu contoh aplikasinya adalah (diambil dari salah satu jurnal
ilmiah):

ANALISIS CACAT STRUKTUR GRAFIT OLEH

IRADIASI SINAR GAMMA
Abstrak :

Menganalisis cacat pada struktur grafit (sebagai bahan reaktor

nuklir) yang disebabkan oleh iradiasi sinar gamma dgn metode
difraksi sinar x. Sebelum dan sesudah diiradiasi dengan sinar
gamma dilakukan identifikasi struktur bahan grafit dengan XRD.

Hasil identifikasi menunjukkan puncak intensitas grafit berkurang

secara drastis oleh radiasi sinar gamma. Penurunan ini terjadi
karena interaksi radiasi sinar gamma dengan bahan grafit

Peningkatan dosis radiasi sinar gamma menyebabkan

peningkatan cacat dalam struktur grafit dalam hal disorder kisi

GRAFIT MERUPAKAN SALAH SATU SENYAWA

KARBON YANG MEMPUNYAI STRUKTUR
KRISTAL HEKSAGONAL

METEDOLOGI ANALISIS CACAT

STRUKTUR GRAFIT OLEH IRADIASI
SINAR GAMMA
Pelet grafit yang terbentuk diidentifikasi fasanya
menggunakan difraktometer sinar-X (XRD) Phillips,
di Bidang Karakterisasi dan Analisis Nuklir (BKAN),
PTBIN-BATAN
Sampel grafit yang telah diidentifikasi dengan XRD
kemudian diiradiasi dengan sinar gamma pada
dosis (50 - 250) kGy dari Co-60
Sampel grafit yang telah diiradiasi ini dilakukan
kembali identifikasi fasa dengan XRD untuk
mengetahui perubahan yang terjadi akibat iradiasi

HASIL ANALISIS CACAT STRUKTUR

GRAFIT OLEH IRADIASI SINAR
GAMMA
Pola

difraksi sinar-X untuk bahan grafit

sebelum dan sesudah iradiasi dengan
sinar gamma sampai dosis 250 kGy,
ditunjukkan pada Gambar di slide
berikutnya

ANALISIS CACAT STRUKTUR GRAFIT

OLEH IRADIASI SINAR GAMMA

1.Identifikasi fasa
Dari bahan grafit yang dideteksi dengan difraktometer sinar-X terlihat
fasa karbon dengan puncak C (002) pada sudut difraksi (2 teta)
sekitar 26,50 dan C (004) pada sudut difraksi (2 teta) sekitar 54,50

2. Identifikasi cacat kristal

Cacat yang terbentuk oleh radiasi sinar gamma ini dibuktikan dengan
adanya penurunan luasan garis difraksi, peningkatan sudut difraksi
dan jarak antar kisi menjadi lebih pendek.

3. Identifikasi puncak intensitas

Puncak intensitas bahan grafit berkurang secara drastis oleh adanya
cacat yang terbentuk dalam struktur kristal grafit. Penurunan
intensitas ini dibuktikan lebih jauh dengan adanya pergeseran sudut
difraksi dan perubahan luasan intensitas maksimum yang dianalisis
dengan program origin, seperti ditunjukan gambar

ANALISA TABEL DATA

Pada

Tabel terlihat bahwa dengan adanya

radiasi sinar gamma menyebabkan
terjadinya pergeseran sudut difraksi dan
penurunan luasan garis difraksi bahan grafit
dan semakin besar dosis radiasi sinar
gamma yang diberikan maka penurunan
nilai ini semakin besar. Sudut difraksi
bergeser menjadi lebih besar, sedangkan
penurunan luasan garis difraksi ini
mencapai sekitar 67 % untuk C (002) dan
sekitar 57 % untuk C (004) pada dosis 250
kGy.

MENGAPA SINAR GAMMA

MENYEBABKAN CACAT KRISTAL
PADA MATERIAL GRAFIT

Proses terbentuknya cacat dalam struktur grafit dapat

dijelaskan dengan proses terjadinya interaksi radiasi sinar
gamma dengan bahan grafit. Interaksi antara radiasi sinar
gamma dengan bahan grafit, terutama oleh hamburan Compton
yang menyebabkan ionisasi dari atom-atom bahan. Hamburan
ini menyebabkan eksitasi elektron-elektron orbital atau
menghasilkan pasangan elektron-hole. Elektron-elektron yang
terionisasi ini memberikan energi kinetik yang cukup untuk
dapat menyebabkan penambahan ionisasi atau memberikan
energi yang cukup pada atom untuk menimbulkan pergeseran

Jika energi dari atom yang bergeser ini tidak cukup untuk
memutuskan atom karbon lain atau untuk meloloskan diri dari
struktur, sehingga memberikan kisi atom (disebut dengan
intersisi) setelah atom-atom karbon bergeser dari posisinya

ANALISIS CACAT STRUKTUR GRAFIT

OLEH IRADIASI SINAR GAMMA

KESIMPULAN :

1. Dari hasil penelitian ini dapat disimpulkan bahwa iradiasi

bahan grafit dengan sinar gamma sampai dosis 250 kGy
menyebabkan terjadinya penurunan puncak intensitas
difraksi, peningkatan sudut difraksi, penurunan luasan garis
difraksi. Dan juga perubahan bidang kisi sehingga
menyebabkan pergeseran garis difraksi.
2.

Dalam struktur grafit telah terbentuk cacat oleh radiasi

sinar gamma karena adanya perubahan bidang kisi
sehingga menyebabkan pergeseran garis difraksi.

3 . Akan tetapi sampai dosis 250 kGy belum menunjukkan

terjadinya perubahan fasa dan struktur grafit

APAKAH DEFECT INI BERGUNA?

Adanya cacat atau kerusakan pada bahan karbon
(grafit) akan memberikan dampak pengaruh pada sifat
elektronik dan magnetik bahan secara bersamaan.
Penelitian ini perlu dilakukan dalam rangka untuk
membuka jalan menuju diaplikasikannya teknik radiasi
(dalam hal ini radiasi sinar gamma) pada industri
manufaktur elektronik.
Studi mendasar tentang cacat fisik di dalam grafit yang
telah dilakukan ini berguna untuk mengkaji aspek
keselamatan yang berkaitan dengan decommissioning
reaktor dan sistem pemodelan untuk cacat di dalam
bahan karbon yang lebih kompleks