BAB I

PENDAHULUAN

1.1. LATAR BELAKANG

X-Ray Fluorescence (XRF) adalah suatu teknik analisis yang menggunakan
interaksi sinar X dengan bahan untuk menentukan komposisi unsurnya. XRF
secara luas digunakan sebagai alat karakterisasi cepat di banyak laboratorium dan
industri di dunia, untuk aplikasi yang beragam seperti metalurgi, forensic,
polimer, elektronik, arkeologi, analisis lingkungan, geologi dan pertambangan.
Kemajuan terbaru dalam teknologi sinar-X (X-Ray) telah menghasilkan
perkembangan.
Metode ini sangat sederhana, paling akurat dan sangat ekonomis untuk
penentuan
handal,

komposisi

kimia

dari

berbagai

bahan,

non-destruktif

tidak memerlukan atau sangat sedikit preparasi sampel,

dan

dan cocok

untuk sampel padat, cair, dan bubuk. Metode ini dapat digunakan untuk penentuan
berbagai unsur dari kalium (19) sampai uranium (92), dan memberi batas deteksi
tingkat ppm, tetapi dapat mengukur konsentrasi hingga 100% lebih mudah dan
secara bersamaan (John et al., 2001).
Penentuan senyawa berat dan toksik dalam sampel lingkungan (geologi
dan ekologi, tumbuhan, tanaman dll) dapat menggunakan XRF. 26 senyawa
seperti K, Ca, Ti, Cr, V, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag,
Sn, Sb, Cs, Ba, La, Pb dapat ditentukan dalam sampel secara bersamaan (Girard,
2010).
Instrumen XRF yang mampu menganalisis resolusi dengan kecepatan
tinggi, yang sekarang dipakai oleh peneliti dan analis dalam aplikasi dibidangnya
masing-masing.
X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray digunakan
untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan, mineral, sedimen

dan cairan. Ia bekerja pada panjang gelombang-dispersif spektroskopi prinsip

yang mirip dengan microprobe elektron. Namun, XRF umumnya tidak dapat
membuat analisis di spot ukuran kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron),
sehingga biasanya digunakan untuk analisis sebagian besar fraksi lebih besar dari
bahan geologi. Biayanya murah dan relatif mudah dalam persiapan sampel, stabil
dan kemudahan penggunaan X-Ray spektrometer membuat salah satu metode
yang paling banyak digunakan untuk analisis unsur utama di batuan, mineral, dan
sedimen.

1.2. RUMUSAN MASALAH

1. Bagaimanakah sejarah penemuan alat XRF spectroscopy?
2. Bagaimanakah penggunaan XRF spectroscopy?
3. Bagaimanakah cara menggunakan XRF spectroscopy?
4. Apa saja aplikasi dari XRF spectroscopy?
5. Dimana saja akses dari XRF spectroscopy?

1.3. TUJUAN
1. Mengetahui sejarah penemuan XRF spectroscopy.
2. Mengetahui penggunaan dari XRF spectroscopy.
3. Mengetahui cara penggunaan alat XRF spectroscopy.
4. Mengetahui aplikasi dari XRF spectroscopy.
5. Mengetahui akses XRF spectroscopy.

BAB II
PEMBAHASAN
2.1

Sejarah Penemuan XRF

Sinar-X atau X-Ray telah ditemukan pada tahun 8 November 1895 oleh

seorang Profesor Fisik bernama Wilhelm Conrad Rontgen kelahiran tahun 1845
dikota Lennep, Jerman. Beliau mendapati sinar ini dalam percobaan dengan
Sinar Katoda yang terdiri dari arus elektron. Arus dibuat dengan menggunakan
voltase tinggi antara electrode yang ditempatkan pada masing-masing ujung
tabung gelas yang udaranyahampir dikosongkan seluruhnya. Pada peristiwa ini
Rontgen sudah menutup sepenuhnya tabung sinar cathode dengan kertas hitam
tebal (barium platinocyanide), sehingga biar pun sinar listrik dinyalakan, tak ada
cahaya yang terlihat dari tabung. Tetapi saat Rontgen menyalakan arus listrik
didalam tabung sinar cathode, beliau terperanjat melihat bahwa cahaya mulai
memijar pada layar seperti distimulir oleh sinar lampu. Rontgen padamkan tabung
dan layar (yang terbungkus oleh barium platinocyanide) cahaya berhenti
memijar.Karena tabung sinar cathode sepenuhnya tertutup, Rontgen segera sadar
bahwa sesuatu bentuk radiasi yang tak kelihatan seharusnya datang dari tabung
ketika cahaya listrik dinyalakan. Karena ini merupakan hal yang misterius,
Rontgen

menyebut radiasi yang tampak itu Sinar-X / X-Ray adapun X

merupakan lambang matematika biasa untuk sesuatu yang tidak diketahui.

Rontgen menemukan bukti lain pada penelitian dalam Sinar-X, antara
lain:
1.

Sinar-X dapat membuat berbagai sinar benda kimia selain dari barium
platinocyanide.

2.

Sinar-X dapat menerobos melalui berbagai benda yang tidak tembus oleh
cahaya biasa. Rontgen menemukan bahwa sinar-X dapat menembus
langsung dagingnya tetapi berhenti pada tulangnya. Dengan cara
meletakkan tangannya antara tabung sinar cathode dan layar yang bersinar,
Rontgen dapat melihat dilayar bayangan dari tulang tanggannya.

3.

Sinar-X berjalan menurut garis lurus dan tidak seperti partikel bermuatan
listrik, sinar x tidak terbelokkan oleh bidang magnet.
Pada bulan Desember 1895 Rontgen menulis artikel pertamanya mengenai

Sinar-X. Laporannya dalam waktu singkat menarik perhatian banyak para

ilmuwan. Salah seorang ilmuwan yang penelitiannyadari hasil penemuan Rontgen
adalah Antoine Henri Becquerel. Meskipun maksud utama dari penelitiannya
menyelidki Sinar-X, justru menemukan fenomena penting tentang Radioaktivitas.
Secara umum, Sinar-X berkerja jika energi elektron mengenai sasaran. Sinar-X itu
sendiri tidak mengandung elektron, tetapi gelombang elektromagnetik yang
serupa dengan radiasi yang dapat terlihat mata (gelombang cahaya), kecuali
panjang gelombang Sinar-X jauh lebih pendek.
Sinar-X fluoresensi spektroskopi (XRF) secara universal diakui sebagai
metode yang sangat akurat untuk mengukur komposisi atom bahan dengan
penyinaran sampel dengan foton energi tinggi seperti x-ray atau gamma ray dan
mengamati fluoresensi sinar-X yang dihasilkan dipancarkan oleh. sampel.
Secara umum, rontgen fluoresensi spektrometer terdiri dari sumber radiasi eksitasi
(tabung sinar-x atau radioisotop), detektor radiasi untuk mendeteksi radiasi
terstimulasi dari sampel, dan layar dari output spektral. Komputer sering
digunakan untuk melakukan analisis data.

2.2

Penggunaan XRF Spectroscopy

Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur

suatu material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini
dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung
pada penggunaannya, XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga
sumber eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron
dengan energi yang tinggi (Viklund,2008).

2.3

Cara Menggunakan XRF Spectroscopy

Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan

pencacahan karakteristik sinar-X yang terjadi akibat efek fotolistrik. Efek

fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom target pada sample terkena sinar
berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-X).
Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau
sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan
oleh material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer
energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek
fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron
pindah dari kulit yang di dalam menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini
menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil. Apabila atom kembali pada
keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih dalam dan proses
ini menghasilkan energi sinar-X yang tertentu dan berbeda antara dua energi
ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X
Ray Fluorescence (XRF). Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa
XRF. Pada umumnya kulit K dan L terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering
terdapat istilah K dan K serta L dan L pada XRF. Jenis spektrum X ray dari
sampel yang diradiasi akan menggambarkan puncak-puncak pada intensitas yang
berbeda (Viklund,2008).

Berikut gambar yang menjelaskan nomenclature yang terdapat pada XRF

(Stephenon,2009) :

~ transisi elektron ~

Prinsip Kerja XRF

Ketika bahan yang terkena sinar-X dengan panjang gelombang pendek atau
sinar gamma, ionisasi atom komponen mereka mungkin terjadi. Ionisasi terdiri
dari pengusiran dari satu atau lebih elektron dari atom, dan dapat terjadi jika atom
terkena radiasi dengan energi yang lebih besar daripada potensi ionisasi nya.
Sinar-X dan sinar gamma dapat cukup energi untuk mengusir elektron yang
memiliki ikatan kuat dari orbital innert dalam sebuah atom. Penghapusan sebuah
6

elektron dengan cara ini membuat struktur elektron atom tidak stabil, dan elektron
di orbital yang lebih tinggi "jatuh" ke orbital yang lebih rendah untuk mengisi
kekosongan yang ditinggalkan. Ketika jatuh, energi dilepaskan dalam bentuk
foton. Dengan demikian, materi memancarkan radiasi, yang memiliki karakteristik
energi yang ditunjukkan. Fluoresensi, istilah untuk fenomena dimana penyerapan
radiasi dari hasil energi spesifik diemisikan kembali oleh radiasi dari energi yang
berbeda (umumnya lebih rendah).
Setiap elemen memiliki orbital elektron dari energi karakteristik. Setelah
penghapusan sebuah elektron innert oleh energi foton yang diberikan oleh sumber
radiasi utama, sebuah elektron dari kulit terluar jatuh ke bagian dalam. Ada
sejumlah cara di mana ini bisa terjadi, seperti yang ditunjukkan pada Gambar 1.

Gambar 1.transisi utama adalah nama yang diberikan: L K transisi secara

umum disebut K, transisi M K disebut K, M L transisi disebut L, dan
sebagainya. Setiap transisi ini menghasilkan foton fluoresen dengan energi

karakteristik sama dengan perbedaan energi dari awal dan akhir orbital. Panjang
gelombang radiasi neon ini dapat dihitung dari Hukum Planck:

Elektron yang kembali ke orbitalnya akan memiliki kelebihan energi yang

dikeluarkan sebagai X-Ray Fluorescence foton. Fluoresensi ini unik untuk
komposisi sampel. Detektor mengumpulkan spektrum ini dan mengubahnya ke
impuls listrik yang sebanding dengan energi dari berbagai sinar-X dalam spektrum
sampel. Karena setiap elemen memiliki ciri sinar-X yang berbeda dan
diidentifikasi, kita dapat melihat bagian-bagian tertentu dari spektrum yang
dipancarkan, dan dengan menghitung pulsa di sektor itu, menentukan keberadaan
dan konsentrasi dari elemen yang bersangkutan dalam sampel.
Energi dispersif X Ray Fluoresensi (EDXRF) bergantung pada detektor dan
detektor elektronik untuk mendeteksi puncak spektrum yang terjadi ketika Ray X
terkena pada Sampel. Tingkat energi yang berbeda ditafsirkan dari paparan
tersebut akan terdeteksi oleh Detector XRF dan kemudian mereka akan diproses
oleh perangkat lunak menghasilkan data.

2.4

Aplikasi XRF

X-Ray Fluoresensi digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk:

1.

Penelitian di batuan beku, sedimen, dan metamorf petrologi.

2.

Survei tanah.

3.

Pertambangan (misalnya, mengukur kadar bijih).

4.

Produksi semen.

5.

Keramik dan kaca manufaktur.

6.

Metalurgi (misalnya, kontrol kualitas).

7.

Studi lingkungan (misalnya, analisis partikulat pada filter udara).

8.

Industri perminyakan (misalnya, kandungan sulfur dari minyak mentah

dan produk minyak bumi).

9.

Analisis lapangan dalam studi geologi dan lingkungan (menggunakan

portabel, genggam spektrometer XRF).

X-Ray Fluoresensi sangat cocok untuk penyelidikan yang melibatkan

1.

Kimia curah analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)
di batu dan sedimen.

2.

Kimia curah analisis elemen (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr,
Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan
sedimen - batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa
bagian per juta.

X-ray Fluorescence terbatas pada analisis

1.

Sampel yang relatif besar, biasanya> 1 gram.

2.

Bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif

dihomogenisasi.

3.

Bahan yang komposisinya mirip, baik ditandai standar yang tersedia.

4.

Bahan yang mengandung kelimpahan tinggi unsur yang efek penyerapan

dan fluoresensi dipahami cukup baik.

2.5. Akses XRF Spectroscopy

XRF Spectroscopy ini banyak digunakan untuk analisis unsur dan analisis kimia,
terutama dalam penyelidikan logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan
untuk penelitian di geokimia, ilmu forensik dan arkeologi.

BAB III
9

KESIMPULAN

Dari makalah ini dapat disimpulkan bahwa:

1. Sinar-X fluoresensi spektroskopi (XRF) mempunyai metode yang sangat
akurat untuk mengukur komposisi atom bahan dengan penyinaran sampel
dengan foton energi tinggi seperti x-ray atau gamma ray dan mengamati
fluoresensi sinar-X yang dihasilkan dipancarkan oleh. sampel.
2. XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu
material, dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol
material.
3. Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan
pencacahan karakteristik sinar-X yang terjadi akibat efek fotolistrik yang
terjadi karena elektron dalam atom target pada sample terkena sinar
berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-X).
4. XRF digunakan pada penelitian di batuan beku, survei tanah,
pertambangan, produksi semen, keramik, kaca manufaktur, metalurgi,
studi lingkungan, industri perminyakan, analisis lapangan dalam studi
geologi dan lingkungan.
5. XRF Spectroscopy ini banyak digunakan untuk analisis unsur dan analisis
kimia, terutama dalam penyelidikan logam, kaca, keramik dan bahan
bangunan, dan untuk penelitian di geokimia, ilmu forensik dan arkeologi.

DAFTAR PUSTAKA
10

Fitton, G., 1997, X-Ray fluorescence spectrometry, in Gill, R. (ed.), Modern

Analytical Geochemistry: An Introduction to Quantitative Chemical
Analysis for Earth, Environmental and Material Scientists: Addison
Wesley Longman, UK.
Potts, PJ, 1987, A Handbook of Silicate Rock Analysis: Chapman and Hall.
Razi, Z. 2012. XRF (X-Ray Fluorosence). http://zaidanalrazi.blogspot.co.id /
2012/04 /xrf.html. Diakses pada tanggal 18 September 2015.
Rollinson, H., 1993, Using Geochemical Data: Evaluation, Presentation,
Interpretation: John Wiley, NY.
Utomo, W. P. 2011. X-Ray Fluorescence. http://dunia-wahyu.blogspot.co.id/2011/
11/x-ray-fluorosence-xrf.html. Diakses pada tanggal 18 September 2015.

11