Petunjuk Teknis Kalibrasi Mikrometer

A. Praba Drijarkara
ver. 0.2 27/05/2006

1 Pendahuluan
1.1 Tujuan dibuatnya Petunjuk Teknis Kalibrasi ini adalah untuk mengharmoniskan
pelaksanaan kalibrasi alat ukur jenis mikrometer luar, mikrometer dalam dan
kepala mikrometer yang dilakukan oleh laboratorium yang diakreditasi oleh
Komite Akreditasi Nasional.
1.2 Metode kalibrasi yang diuraikan dalam Petunjuk ini didasarkan pada standar
JIS B 7502 khususnya Klausul 10.1, 10.2 dan 10.3.

2 Lingkup
2.1 Petunjuk ini menguraikan prosedur metode kalibrasi mikrometer luar (outside
micrometer), mikrometer dalam (inside micrometer) dan kepala mikrometer
(micrometer head), meliputi:
2.1.1 pengukuran kerataan muka ukur (mikrometer luar dan kepala mikrometer),
2.1.2 pengukuran kesejajaran muka ukur (mikrometer luar),
2.1.3 pemeriksaan kesalahan penunjukan mikrometer (mikrometer luar, mikrometer
dalam dan kepala mikrometer).

3 Definisi
3.1 Mikrometer luar Alat ukur yang dapat mengukur dimensi luar dengan cara
membaca jarak antara dua muka ukur sejajar yang berhadapan, yaitu sebuah
muka ukur tetap yang terpasang pada satu sisi rangka berbentuk U, dan
sebuah muka ukur lainnya yang terletak pada ujung spindle yang dapat
bergerak tegak lurus terhadap muka ukur, dan dilengkapi dengan sleeve dan
thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai dengan pergerakan spindle.
3.2 Mikrometer dalam jenis tubular (mikrometer dalam dua-titik) Alat ukur yang
dapat mengukur dimensi dalam dengan cara membaca jarak antara dua muka
ukur sferis yang saling membelakangi, yaitu sebuah muka ukur tetap yang
terpasang pada batang utama dan sebuah muka ukur lainnya yang terletak
pada ujung spindle yang dapat bergerak searah dengan sumbunya, dan
dilengkapi dengan sleeve dan thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai
dengan pergerakan spindle.
3.3 Kepala mikrometer Alat ukur yang dapat mengukur pergerakan spindle-nya
yang bergerak searah dengan sumbunya, dan dilengkapi dengan sleeve dan
thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai dengan pergerakan spindle
serta dilengkapi bagian dudukan.
3.4 Kesalahan penunjukan Nilai penunjukan mikrometer dikurangi nilai
sesungguhnya.
3.5 Setting bar Batang logam dengan dua permukaan rata sejajar, atau dua
permukaan sferis, dengan panjang tertentu di antara kedua permukaannya,

Halaman 1 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

 yang digunakan untuk mengatur posisi pengukuran minimum sebuah
mikrometer luar yang nilai pengukuran minimumnya lebih besar dari 0 mm.

4 Komponen
4.1 Nama bagian-bagian utama mikrometer diuraikan dalam Gambar 4.1, 4.2, dan
4.3

Landasan
Spindle Penjepit Sleeve

10
0 5 5
0
45
40

Muka-muka ukur Garis fidusial Ratchet

Thimble

Rangka

Pelat isolator

Gambar 1. Mikrometer Luar

[gambar mikrometer dalam]

Gambar 2. Mikrometer Dalam

[gambar kepala mikrometer]

Gambar 3. Kepala Mikrometer

5 Prinsip Kalibrasi
5.1 Pengukuran kerataan muka ukur dilakukan dengan perbandingan terhadap
sebuah standar kerataan optis (optical flat) dengan menggunakan prinsip
interferensi cahaya.
5.2 Pengukuran kesejajaran muka ukur dapat dilakukan dengan dua cara: dengan
perbandingan terhadap standar kesejajaran (optical parallel), atau dengan
sebuah balok ukur yang dipindah-pindah posisinya.
5.3 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer dilakukan dengan
perbandingan terhadap seperangkat balok ukur (gauge block).

6 Persyaratan Kalibrasi
6.1 Kalibrasi dilakukan dalam suhu 20 °C ± 1 °C dan kelembaban relatif 55 % ±
10 %
6.2 Untuk pemeriksaan digunakan optical flat atau optical parallel dengan
kerataan kurang dari 0,1 µm.

Halaman 2 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

6.3 Untuk pemeriksaan kesejajaran digunakan optical parallel dengan keratann
kurang dari 0,1 µm dan kesejajaran kurang dari 0,2 µm, dan/atau gauge block
Kelas 0 atau Kelas 1 (ISO3650) atau yang setara.
6.4 Untuk pengukuran kesalahan penunjukan digunakan balok ukur Kelas 0 atau
Kelasi 1 (ISO 3650) atau yang setara.

7 Prosedur Kalibrasi

7.1 Pengukuran kerataan muka ukur mikrometer luar dan mikrometer

kepala
7.1.1 Letakkan sebuah optical flat atau optical parallel pada permukaan ukur.
Hitung banyaknya garis interferensi merah yang timbul dari cahaya putih pada
permukaan kontak muka ukur. Satu garis merah dapat diasumsikan sama
dengan 0,3 µm.
7.1.2 Lakukan pemeriksaan kerataan pada kedua muka ukur.

7.2 Pengukuran kesejajaran muka ukur mikrometer luar

7.2.1 Menggunakan Optical Parallel

7.2.1.1 Letakkan sebuah optical parallel, atau gabungan sebuah balok ukur yang
diapit dua optical parallel, pada muka ukur tetap sedemikian sehingga pola
interferensi menjadi satu warna saja atau timbul pola kurva tertutup.
Kemudian putar ratchet hingga muka ukur spindle merapat pada permukaan
optical flat. Hitung banyaknya garis interferensi merah yang timbul dari
cahaya putih pada permukaan kontak muka ukur spindle.
7.2.1.2 Lakukan pemeriksaan di atas sedikitnya pada empat nilai ukur, masing-masing
terpaut ¼ putaran spindle.

7.2.2 Menggunakan Balok Ukur

7.2.2.1 Letakkan sebuah balok ukur di tengah kedua muka ukur dan putar ratchet,
lakukan pembacaan. Berikutnya lakukan hal yang sama, dengan posisi balok
ukur di empat tepi muka ukur. Hitung selisih pembacaan yang terbesar.

7.3 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer luar

7.3.1 Putar ratchet hingga spindle berada pada posisi ukur terkecil1. Atur posisi
sleeve agar penunjukannya sesuai dengan nilai ukur tersebut. Letakkan balok
ukur atau gabungan balok ukur di antara kedua muka ukur, lalu putar ratchet
hingga muka ukur berhimpit dengan balok ukur2. Hitung selisih antara
penunjukan mikrometer dengan panjang balok ukur.
7.3.2 Lakukan pengukuran pada Klausul 7.3.1 dengan beberapa ukuran balok ukur
atau gabungan balok ukur. Ukuran balok ukur atau gabungan balok ukur yang
digunakan harus dipilih agar dapat mengukur kesalahan yang terjadi bukan
hanya pada posisi ukur yang merupakan kelipatan bilangan bulat dari putaran
spindle, melainkan juga posisi-posisi di antaranya. Sebagai contoh, balok ukur

1 Pengaturan posisi ukur minimum dapat dilakukan dengan acuan setting bar ataupun balok ukur.
Lihat Klausul 11 mengenai pelaporan.
2 Balok ukur sebaiknya diletakkan sedemikian sehingga titik tengah balok ukur berhimpit dengan
titik tengah muka ukur mikrometer. Jika pengukuran dilakukan berulang, posisi balok ukur
terhadap muka ukur mikrometer harus kira-kira sama.

Halaman 3 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

 atau gabungan balok ukur dengan nilai nominal 2,5 mm, 5,1 mm, 7,7 mm,
10,3 mm, 12,9 mm, 15 mm, 17,6 mm, 20,2 mm, 22,8 mm 25 mm dapat
digunakan.

7.4 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer dalam

7.4.1 Susun balok ukur atau gabungan balok ukur dengan nilai nominal sama dengan
nilai ukur terkecil mikrometer dalam di antara dua jaw tipe rata menggunakan
penjepit balok ukur. Lakukan pengaturan posisi nol mikrometer dalam
menggunakan susunan balok ukur tersebut. Lakukan pengukuran kesalahan
penunjukan dengan menambahkan balok-balok ukur dan menghitung selisih
penunjukan mikrometer dalam dan panjang balok ukur. Lihat Klausul 7.3.2
untuk menentukan panjang balok ukur yang digunakan.

7.5 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer kepala

7.5.1 Pasangkan mikrometer kepala pada rangka kalibrasi. Putar ratchet sehingga
muka ukur spindle berhimpit dengan bola baja, lakukan penyetelan nol.
Lakukan pengukuran kesalahan penunjukan dengan menambahkan balok-balok
ukur di antara bola baja dan muka ukur spindle dan menghitung selisih
penunjukan mikrometer kepala dan panjang balok ukur. Lihat Klausul 7.3.2
untuk menentukan panjang balok ukur yang digunakan.

8 Evaluasi Ketidakpastian Pengukuran

8.1 Model Matematis

8.1.1 Kesalahan penunjukan mikrometer dihitung dengan model seperti pada
Persamaan 8.1.

E=L−L SL S S⋅  S⋅−L D−L W −LG [8.1]

E : Kesalahan Penunjukan Mikrometer
L : Penunjukan Mikrometer
L S : Panjang nominal balok ukur ditambah nilai koreksi balok ukur
S :
 : Selisih koefisien muai antara mikrometer dan balok ukur
S : K
 : Selisih suhu antara mikrometer dan balok ukur
L D : Drift nilai koreksi balok ukur
LW : Koreksi akibat wringing balok ukur
LG : Koreksi akibat ketidaksempurnaan geometrik muka ukur mikrometer
8.1.2 Berdasarkan model matematis pada Persamaan 8.1, ketidakpastian baku
gabungan dalam nilai kesalahan penunjukan dapat dihitung dengan Persamaan
8.2.
2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2
uc E =u  Lu L S L S⋅S⋅u  L S⋅S⋅u  u  L Du L W u L G  [8.2]

Halaman 4 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

8.2 Evaluasi sumber-sumber ketidakpastian
8.2.1 Sumber-sumber ketidakpastian dalam Persamaan 8.2 dapat dievaluasi menurut panduan dalam Tabel 8 1.

Tabel 8 1. Evaluasi Sumber-sumber ketidakpastian

Variabel Estimasi nilai Estimasi ketidakpastian

L L= 
L 2 2 2
u L=u L repu L rnd 

L : Rata-rata penunjukan mikrometer dari pengukuran s
berulang uL rep =
n
uL rep  : ketidakpastian dari sebaran nilai pengukuran berulang
s : simpangan baku
n : banyaknya pengukuran pada titik ukur yang dievaluasi
Pengukuran berulang untuk mengevaluasi sebaran nilai dapat dilakukan pada
salah satu titik ukur dan sebaiknya dilakukan 10 kali pada titik tersebut.
a
uL rnd =
3
uL rnd  : ketidakpastian akibat pembulatan pada penunjukan mikrometer
a : setengah dari nilai terkecil yang dapat dibaca dari skala penunjukan
mikrometer.
Pada mikrometer dengan skala analog tanpa nonius, nilai a bisa saja lebih kecil
dari ½ divisi skala terkecil mikrometer.
LS L S=L SN  L S u2 L S  x =∑ u2 L Si 
L SN : Nilai nominal balok ukur i
L S  x  : panjang balok ukur untuk mengukur kesalahan penunjukan mikrometer
 L S : Nilai koreksi balok ukur
pada titik ukur ke-x
i : banyaknya balok ukur yang digabungkan untuk mendapatkan nilai
nominal L S  x 
uL Si  : ketidakpastian baku nilai koreksi tiap-tiap balok ukur yang digunakan
uL S  diestimasi dari nilai terbesar di antara nilai-nilai uL S x .
S S=T mikrometer T balok ukur/2 uS  tidak perlu diestimasi karena koefisien sensitivitasnya nol.
Nilai  S dapat diestimasi dari rata-rata suhu ruang di titik
pengukuran pada saat pengukuran

Halaman 5 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

 Variabel Estimasi nilai Estimasi ketidakpastian
 =0 (diasumsikan bahwa mikrometer dan balok ukur 2×10−6
Dapat diestimasi dari perkiraan, misalnya u= /°C .
terbuat dari bahan yang sama)
3
S Nilai rata-rata koefisien muai bahan pembuat mikrometer dan uS  tidak perlu diestimasi karena koefisien sensitivitasnya nol.
balok ukur.
Misalnya jika mikrometer dan balok ukur terbuat dari baja,
S =11,5 x 10-6/ °C
 =0 (diasumsikan bahwa mikrometer dan balok ukur telah 0,2
Dapat diestimasi dari perkiraan, misalnya u= °C
dikondisikan cukup lama sehingga mempunyai suhu yang
sama)
3
LD Jika ada riwayat kalibrasi, L D dapat dihitung dari regresi. Jika L D dihitung dari riwayat kalibrasi, uL D  dapat dihitung dari
Jika tidak ada riwayat kalibrasi, diasumsikan L D=0 . ketidakpastian regresi pada grafik riwayat kalibrasi.
Jika tidak ada riwayat kalibrasi:
0,050,0005⋅Ls⋅Y
uL D = µm µm untuk balok ukur Kelas 1, atau
3
0,020,00025⋅Ls⋅Y
uL D = µm untuk balok ukur Kelas 0.
3
LS : panjang nominal balok ukur dalam mm
Y : jangka waktu sejak kalibrasi balok ukur terakhir dalam tahun

= 
LW LW =0 k⋅0,05 2
Dapat diestimasi dari perkiraan, misalnya uL W µm
3
k : banyaknya wringing atau sambungan balok ukur
LG LG =0 0,5
Dapat diestimasi dari perkiraan, misalnya uL G = µm
3

Halaman 6 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

9 Laporan Kalibrasi
9.1 Jika nilai hasil pengukuran kerataan atau kesejajaran muka ukur melebihi
batas yang diijinkan dalam standar spesifikasi yang diacu, laporan kalibrasi
sebaiknya mencantumkan hasil pengukuran kerataan dan kesejajaran muka
ukur, serta menyebutkan batas yang diijinkan dan acuan kepada standar
spesifikasi tersebut.
9.2 Hasil pengukuran kesalahan penunjukan dapat ditampilkan sebagai nilai
kesalahan pengukuran, atau sebagai nilai koreksi penunjukan dengan tanda
(+/-) yang berlawanan dengan nilai kesalahan penunjukan.
9.3 Untuk mikrometer luar dengan nilai ukur terkecil lebih besar dari 0 mm,
laporan harus menyebutkan jenis dan identitas alat yang dipakai untuk
menentukan posisi nilai ukur terkecil (misalnya setting bar atau balok ukur).

10 Referensi
10.1 Japanese Standards Association, JIS B 7502 Micrometer Callipers, 1994
10.2 ISO, Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, 1993

Halaman 7 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006

 11 Laporan Kalibrasi
11.1 Jika nilai hasil pengukuran kerataan atau kesejajaran muka ukur melebihi
batas yang diijinkan dalam standar spesifikasi yang diacu, laporan kalibrasi
sebaiknya mencantumkan hasil pengukuran kerataan dan kesejajaran muka
ukur, serta menyebutkan batas yang diijinkan dan acuan kepada standar
spesifikasi tersebut.
11.2 Hasil pengukuran kesalahan penunjukan dapat ditampilkan sebagai nilai
kesalahan pengukuran, atau sebagai nilai koreksi penunjukan dengan tanda
(+/-) yang berlawanan dengan nilai kesalahan penunjukan.
11.3 Untuk mikrometer luar dengan nilai ukur terkecil lebih besar dari 0 mm,
laporan harus menyebutkan jenis dan identitas alat yang dipakai untuk
menentukan posisi nilai ukur terkecil (misalnya setting bar atau balok ukur).

12 Referensi
12.1 Japanese Standards Association, JIS B 7502 Micrometer Callipers, 1994
12.2 ISO, Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, 1993
[APD] [Petunjuk Teknis Kalibrasi Mikrometer v0.2b.odt] [29-05-2006 09:57]

Halaman 8 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2 25-05-2006