Kelompok Sampel 1 :

Noviani Dwi Ningrum 1518102010

Siti Rohimah 1518102010
Siti Umi Afifah 1518102010
Ayu Triwardani 151810201052
Arik Irawati 151810201053
Niko Dhian Hernawan 1518102010

SPIP image rougness report image File name:

sampel 1.Jpg

Parameters:

Texture Analysis
Za [Arbitrary] 3.8283
Zq [Arbitrary] 5.8758
Zsk -1.244
Zku 6.5733
Zz [Arbitrary] 41.202
Zmean
-4.6349E-06
[Arbitrary]
Zmin [Arbitrary] -25.875
Material ratio curve Zmax
15.328
Roughness::AbbottCurve Not Applicable or [Arbitrary]
Ztd [°] 89.647
Supported
Ztdi 0.088771
Zrw [Pixels] 510.2
Zrwi 0.0058005
Zhw [Pixels] 2559
Zfd 2.0282
Zcl20 [Pixels] 168
Zcl37 [Pixels] 134
Ztr20
Ztr37
Zch [°] 34.178

Analysis setup:

Form removal: Subtract Mean

ANALISA
Perkembangan Teknologi Material saat ini sangatlah pesat. Banyak penelitian
mengenai material terutama polimer dan komposit yang saat ini sedang banyak
dikembangkan. Mengingat material komposit memang memiliki potensi yang bagus
dalam aplikasinya yang meliputi bidang penerbangan, otomotif, perkapalan, kereta api,
dan konstruksi bangunan. Salah satu metode untuk mengevaluasi properti material ialah
dengan melakukan pengujian material. Material bisa diuji kekuatan, kekerasan,keausan,
dan kekasaran permukaannya.
Kekasaran permukaan merupakan suatu hal yang sangat penting bagi suatu
material. Hal ini dikarenakan material yang nantinya akan dijadikan suatu komponen
harus memiliki suatu nilai kekasaran tertentu agar dapat sesuai dengan fungsi
komponennya. Kekasaran permukaan dari material polimer dan komposit bisa diuji
dengan berbagai cara, mulai dari Tactile method (Profile measurement), Focus variation
(Areal measurement), Fringe Projection (Areal measurement), Confocal Laser scanning
microscope (Areal measurement), dan beberapa metode lainnya.
SEM merupakan teknik yang secara umum digunakan untuk mempelajari
morfologi dan topografi permukaan sampel. Alat ini biasanya dilengkapi dengan energi
dispersive Xray spectroscopy (EDX) untuk memperoleh informasi tentang komposisi
unsur-unsur penyusun sampel. Pada prinsipnya, informasi yang diperoleh dari
instrumen ini adalah sinyal yang berasal dari emisi elektron sekunder sebagai hasil dari
interaksi antara sinar yang mengenai spesimen. Elektron sekunder adalah elektron yang
dari sampel dan memiliki energi rendah sehingga elektron yang berasal dari permukaan
sampel yang mampu mencapai detektor. Elektron sekunder digunakan untuk
penggambaran morfologi dan topografi sampel.
Gambar diatas merupakan hasil dari pengolahan contoh sampel yang bertujuan
untuk mengetahui karakteristik dari suatu bahan dengan meggunakan software SPIP dan
Gwyddion. SPIP atau disingkat Scanning Probe Image Processor adalah perangkat
lunak analisis gambar terdepan dalam industri untuk Scanning Probe Microscopy
(SPM) dan mendukung hampir semua format file SPM, merupakan perangkat lunak
analisis yang lebih disukai untuk jenis lain dari pencitraan nano dan skala mikro seperti
SEM dan TEM, confocal dan mikroskop optik, interferometri dan profilometri.
Sedangkan Gwyddion adalah program modular untuk visualisasi dan analisis data SPM
(scanning probe microscopy), terutama ditujukan untuk analisis bidang ketinggian yang
diperoleh dengan teknik pemeriksaan probe mikroskopi (AFM, MFM, STM, SNOM /
NSOM) dan mendukung banyak format data SPM. Namun, ini dapat digunakan untuk
bidang ketinggian umum dan pengolahan gambar (grayscale), misalnya untuk analisis
data profilometri atau peta ketebalan dari pencitraan spektrofotometri. Gwyddion
menyediakan sejumlah besar fungsi pemrosesan data, termasuk semua karakterisasi
statistik standar, leveling dan koreksi data, penyaringan atau fungsi penandaan butir.

Hasil yang didapatkan berupa informasi - informasi sifat Kristal dari bahan
tersebut. Salah satuya adalah tigkat kekasaran atau roughness. Pegolahan dengan SPIP
menghasilkan grafik yang lebih lengkap dibadingkan dengan hasil Gwyddion. Namun,
pada aplikasi SPIP proses roughness hanya dilakukan sekali, berbeda dengan
Gwyddion. Pada aplikasi Gwyddion, penentuan permukaan roughness dapat ditentukan
sendiri. Seperti halnya, gambar hasil roughness di bawah ini. Hasil tersebut didapat dari
sampel salah satu tempat pada gambar SEM yang telah diberikan. Struktur aliran yang
melalui permukaan kasar dipengaruhi oleh kekasaran atau roughness dengan semakin
rapat roughness maka struktur permukaannya juga semakin kasar. Hasil Gwyddion di
bawah ini sangat berbeda dibandingkan dengan hasil SPIP. Hasil dari dua aplikasi
tersebut berbeda dikarenakan satuan hasil setiap proses berbeda. Berdasarkan
kecanggihan aplikasi, Gwyddion lebih canggih dibandingkan SPIP.
 Kurva grain tersebut dilakukan sebagai uji butiran sehingga dapat mengetahui
ukuran distribusi butiran yang dihasilkan. Pada hasil kurva grain diatas dapat terlihat
bahwa struktur butiran membentuk kurva yang rapat dan struktur butiran mengalami
peningkatan hingga mencapai puncak kurva kemudian mengalami penurunan hingga
akhir. Kurva grain berada di titik minimum dengan nilai sebesar kurang dari 0,1
mikrometer, sedangkan titik maksimum grain berada pada nilai sebesar 0,5 mikrometer.
Pada gambar telah ditampilkan data kurva grain yang cukup jelas dimana telah tersedia
nilai maksimum dan minimum pada titik kurva serta tersedia pula batas-batas nilai pada
grain pada masing-masing area. Kurva grain ini berfungsi untuk mengetahui distribusi
butiran dengan penentuan nilai butiran pada setiap percobaan.