Makalah XRF
Makalah XRF
Disusun oleh :
JURUSAN FISIKA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM
UNIVERSITAS NEGERI SEMARANG
TAHUN 2012
BAB I
PENDAHULUAN
susunan dari sebuah bahan. Dari pengukuran density dan repractive index, kekerasan¸
termal, struktur, sifat optic, sifat magnetic, sampai komposisi. Banyak teknik yang
dilakukan dalam suatu penelitian, dan beragam bentuknya, tidak sama antar satu dengan
yang lainnya.
spektometri,. Alat yang digunakan dalam metode tersebut yakni XRF. alam penggunaan
Fakultas Teknik Elektrik dan Komputer Rice University memberi penjelasan detailnya.
gelombang mikro, dan gelombang radio. Namun dibanding jenis radiasi tersebut, sinar-
x lebih enerjik. Foton sinar-x seribu kali lebih enerjik dibanding foton cahaya tampak.
menghasilkan sinar-x. Ketika elektron berputar, elektron ini memancarkan sinar-x kuat.
Nah itu tadi adalah pengetahuan awal dari makalah yang akan kita bahas pada kali ini.
Pemancaran Sinar-x akan digunakan dalam alat yang dinamakan XRF (X-Ray
Flourencenses). Kali ini akan dibahas lebih mendetail tentang, apa pengertian XRF dan
bagaimana prinsip kerjanya terhadap pengukuran kaca, apa kelebihan dan kekurangan
XRF, apa saja aplikasi dari XRF serta beberapa contoh hasil dari pengukuran
menggunakan XRF.
BAB II
PENGERTIAN XRF
membuat analisis di spot ukuran kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron), sehingga
biasanya digunakan untuk analisis sebagian besar fraksi lebih besar dari bahan geologi.
Biaya kemudahan dan rendah relatif persiapan sampel, dan stabilitas dan kemudahan
penggunaan x-ray spektrometer membuat salah satu metode yang paling banyak digunakan
untuk analisis unsur utama dan jejak di batuan, mineral, dan sedimen.
Dasar analisis alat X-Ray Fluorescent ini adalah pencacahan sinar x yang
dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali kekosongan elektron pada orbital
yang lebih dekat dengan inti (karena terjadinya eksitasi elektron) oleh elektron yang terletak
Ketika sinar x yang berasal dari radioisotop sumber eksitasi menabrak elektron dan
akan mengeluarkan elektron kulit dalam, maka akan terjadi kekosongan pada kulit itu.
Elektron dari kulit yang lebih tinggi akan mengisi kekosongan itu. Perbedaan energi dari dua
kulit itu akan tampil sebagai sinar X yang dipancarkan oleh atom. Spektrum sinar X selama
proses tersebut menunjukan peak/puncak yang karakteristik, dimana setiap unsur akan
menunjukkan peak yang karakteristik yang merupakan landasan dari uji kualitatif untuk
Tahap 1 :
Ketika photon X-Ray memiliki energy yang cukup untuk menabrak atom, ini menyebabkan
Tahap 2:
Atom akan mengisi kekosongan pada kulit K dengan electron dari kulit L; sebagai
penurunan electron ke tingkat energy rendah dan melepaskan energy yang disebut K alfa X-
Ray.
Tahap 3:
Atom mengisi kekosongan kulit K dengan electron dari kulit M, sebagai penurunan electron
ke tingkat energy rendah, dan melepaskan energy yang disebut K betha X-ray.
Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF dimungkinkan
oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi. Sebuah spektrometer XRF
bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens beam, yang dikenal sebagai balok
insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi beberapa juga diserap dalam sampel dengan
cara yang tergantung pada kimia nya. Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target
Rh, meskipun W, Mo, Cr dan lain-lain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.
Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel, dikatakan bersemangat. Sampel
karakteristik dari jenis atom hadir dalam sampel. Bagaimana ini terjadi? Atom-atom dalam
sampel menyerap sinar-X energi pengion, elektron mendepak dari tingkat energi rendah
(biasanya K dan L). Para elektron dikeluarkan diganti oleh elektron dari, energi luar orbit
yang lebih tinggi. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat
penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Hal ini melepaskan energi
dalam bentuk emisi karakteristik sinar-X menunjukkan atom jenis ini. Jika sampel memiliki
unsur-unsur yang hadir, seperti yang khas untuk kebanyakan mineral dan batuan,
panjang gelombang karakteristik untuk masing-masing elemen ini. Berbagai jenis detektor
(aliran gas proporsional dan kilau) digunakan untuk mengukur intensitas sinar yang
dipancarkan. Penghitung aliran yang biasa digunakan untuk mengukur gelombang panjang
(> 0,15 nm) sinar-X yang khas dari spektrum K dari unsur yang lebih ringan daripada Zn.
Detektor sintilasi umumnya digunakan untuk menganalisis panjang gelombang lebih pendek
dalam spektrum sinar-X (K spektrum elemen dari Nb ke I; L spektrum Th dan U). X-ray
dari panjang gelombang menengah (K spektrum yang dihasilkan dari Zn untuk Zr dan L
spektrum dari Ba dan unsur tanah jarang) umumnya diukur dengan menggunakan kedua
detektor bersama-sama. Intensitas energi yang diukur oleh detektor sebanding dengan
kelimpahan elemen dalam sampel. Nilai yang tepat dari proporsionalitas ini untuk setiap
elemen diperoleh dengan perbandingan standar mineral atau batuan dengan komposisi yang
Electron energy tinggi ditembakkan pada anoda (biasanya terbuat dari Ag atau Rh). Energy
Energy dispersive, multi channel analyzer tidak monokromatik , inilah yang diperlukan.
Energy foton dalam keV adalah terkait dengan jenis elemen. Tingkat emisi (cps)
· Perangkat lunak analyzer mengkonversi data spectral untuk pembacaan hasil secara
langsung.
Konsentrasi unsur ditentukan dari data kalibrasi pabrik, ketebalan sampel seperti yang
Fluorescence) dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer
yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik memilih panjang
· Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
· Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah
Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah.
Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator. Sehingga refleksi
sinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika,
panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal.
Maka hanya panjang gelombang yang sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut
refleksi spesifik bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang
berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor (Gosseau,2009).
software yang mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009). Radiasi
Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor. Detektor
menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi impuls elektrik. Amplitudo
dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang diterima
detektor. Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel
Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam memori
komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai spesifik terhadap
sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun
dari XRF :
· Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K,
P) maupun tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr,
· Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologik maupun dalam tubuh
secara langsung
· Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar
. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang
· Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.
APLIKASI
survei tanah
produksi semen
minyak bumi)
massal kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P)
massal kimia analisis unsur jejak (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr,
Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan sedimen -
batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa bagian per juta
bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif dihomogenisasi
untuk menjadi bubuk halus. Pada titik ini dapat dianalisis secara langsung, terutama dalam
hal analisis elemen jejak. Namun, rentang yang sangat luas dalam kelimpahan unsur yang
berbeda, terutama besi, dan berbagai ukuran butir dalam sampel bubuk, membuat
perbandingan proporsionalitas dengan standar sangat merepotkan. Untuk alasan ini, adalah
praktek umum untuk mencampur sampel bubuk dengan fluks kimia dan menggunakan
tungku atau kompor gas untuk mencairkan sampel bubuk. Mencair menciptakan glass
homogen yang dapat dianalisis dan kelimpahan (sekarang agak diencerkan) elemen dihitung.
Gambar 6. Contoh kurva hubungan energy unsure terhadap intesitas paduan U-Zr
Gambar 7. Contoh Spektrum hubungan energi dengan intensitas paduan AlMgSi1
Gambar 8. Karakteristik spectrum sinar-X yang dihasilkan dari penyinaran irisan gigi
Gambar 9 (b)
Gambar 9 (a)(b)(c). Contoh Hasil Pengukuran Pada Kaca Silika menggunakan XRF
Gambar 10. Contoh Hasil Pengukuran Pada kaca Silika menggunakan EDAX
Gambar 11. Contoh Hail Pengukuran XRF pada Kaca Silika
BAB III
PENUTUP
Kesimpulan
konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair.
2. Prinsip Dasar analisis alat XRF (X-ray fluorescence spectrometry) ini adalah
pencacahan Sinar-X yang dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali
Masrukan, Dian Anggraini dan Rosika. Vol. 13 No. 3 Juli 2007: 99 -146. Studi Komparasi
Fluorocency (Xrf) Dan Emission Spectroscoy .Pusat Teknologi Bahan Bakar Nuklir,
Masrukan dan Rosika. Vol. 14 No. 1 Tahun 2008: 1-48. Perbandingan Hasil Analisis Bahan
Bakar U-Zr dengan Menggunakan Teknik XRF dan SSA. Pusat Teknologi Bahan Bakar
http://teaf.fiu.edu/Training_Downloads/Module%204d_SEM%20and%20XRF.pdf 5
Januari 2012-15.30