MAKALAH

“XRF (X-ray fluorescence spectrometry)”

Disusun untuk memenuhi tugas mata kuliah Fisika Zat Padat

Disusun oleh :
Teana Nisa Ekacitra A1C317002
Ken Ayu Citra A1C317010
Fuji Murnasafitri A1C317024
Hilma Fadhilah A1C317048

JURUSAN PENDIDIKAN MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM

FAKULTAS KEGURUAN DAN ILMU PENDIDIKAN

PROGRAM STUDI PENDIDIKAN FISIKA

UNIVERSITAS JAMBI

2019
BAB I
PENDAHULUAN

Dewasa ini banyak sekali penelitian yang dilakukan untuk mengetahui

susunan dari sebuah bahan. Dari pengukuran density dan repractive index, kekerasan¸
termal, struktur, sifat optic, sifat magnetic, sampai komposisi. Banyak teknik
yang dilakukan dalam suatu penelitian, dan beragam bentuknya, tidak sama antar satu
dengan yang lainnya.
Dalam pengukuran kompisisi khususnya, dilakukan dengan metode
spektometri,. Alat yang digunakan dalam metode tersebut yakni XRF. alam
penggunaan alat-alat tersebut, para peneliti memanfaatkan pemancaran sinar-x dalam
metode penelitiannya. Mengapa sinar-x yang digunakan, Profesor Daniel
Mittleman dari Fakultas Teknik Elektrik dan Komputer Rice University memberi
penjelasan detailnya. Sinar-x merupakan bentuk radiasi elektromagnetik, seperti
cahaya, radiasi inframerah, gelombang mikro, dan gelombang radio. Namun
dibanding jenis radiasi tersebut, sinar- x lebih enerjik. Foton sinar-x seribu kali lebih
enerjik dibanding foton cahaya tampak.
Terakhir, mesin yang mengakselerasi elektron dalam orbit lingkaran dapat
menghasilkan sinar-x. Ketika elektron berputar, elektron ini memancarkan sinar-x
kuat. Nah itu tadi adalah pengetahuan awal dari makalah yang akan kita bahas pada
kali ini. Pemancaran Sinar-x akan digunakan dalam alat yang dinamakan XRF (X-
Ray Flourencenses). Kali ini akan dibahas lebih mendetail tentang, apa pengertian
XRF dan bagaimana prinsip kerjanya terhadap pengukuran kaca, apa kelebihan dan
kekurangan XRF, apa saja aplikasi dari XRF serta beberapa contoh hasil dari
pengukuran menggunakan XRF.
BAB II
PEMBAHASAN

2.1 Pengertian X-Ray Fluorescence (XRF)

Gambar 1. X-Ray Flourenceses

X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray
digunakan untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan,
mineral, sedimen dan cairan. Ia bekerja pada panjang gelombang-dispersif
spektroskopi prinsip yang mirip dengan microprobe elektron. Namun, XRF
umumnya tidak dapat membuat analisis di spot ukuran kecil khas pekerjaan
EPMA (2-5 mikron), sehingga biasanya digunakan untuk analisis sebagian besar
fraksi lebih besar dari bahan geologi. Biaya kemudahan dan rendah relatif
persiapan sampel, dan stabilitas dan kemudahan penggunaan x-ray spektrometer
membuat salah satu metode yang paling banyak digunakan untuk analisis unsur
utama dan jejak di batuan, mineral, dan sedimen.
Spektroskopi XRF adalah teknik analisis unsur yang membentuk suatu
material dengan dasar interaksi sinar-X dengan material analit. Teknik ini banyak
digunakan dalam analisa batuan karena membutuhkan jumlah sample yang relative
kecil (sekitar 1 gram). Teknik ini dapat digunakan untuk mengukur unsur-unsur yang
tertutama banyak terdapat dalam batuan atau mineral. Sampel yang digunakan
biasanya berupa serbuk hasil penggilingan atau pengepressan menjadi bentuk film.

Apabila electron dari suatu kulit atom bagian dalam dilepaskan, maka
electron yang terdapat pada bagian kulit luar akan berpindah pada kulit yang
ditinggalkan tadi menghasilkan sinar-X dengan panjag gelombang yang karakteristik
bagi unsure tersebut (Perhatikan Gambar di bawah).

Pada teknik difraksi sinar-X suatu berkas electron digunakan, sinar-X

dihasilkan dari tembakan berkas elektron terhadap suatu unsur di anoda untuk
menghasilkan sinar-X dengan panjang gelombang yang diketahui. Peristiwa ini
terjadi pada tabung sinar- X.
Pada teknik XRF, kita menggunakan sinar-X dari tabung pembangkit sinar- X
untuk mengeluarkan electron dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-X
baru dari sample yang di analisis.
 Seperti pada tabung pembangkit sinar-X, elektoron dari kulit bagian dalam
suatu atom pada sample analit menghasilkan sinar-X dengan panjang-panjang
gelombang karakteristik dari setiap atom di dalam sample. Untuk setiap atom di
dalam sample, intensitas dari sinar-X karakteristik tersebut sebanding dengan jumlah
(konsentrasi) atom di dalam sample. Dengan demikian, jika kita dapat mengukur
intensitas sinar –X karakteristik dari setiap unsure, kita dapat membandingkan
intensitasnya dengan suatu standar yang diketahui konsentrasinya, sehingga
konsentrasi unsure dalam sample bisa ditentukan.
Instrumen yang digunakan untuk melakukan pengukuran tersebut dinamakan
X-Ray Fluorescence Spektrometer. Perlatan ini terdiri dari tabung pembangkit sinar-
X yang mampu mengeluarkan electron dari semua jenis unsur yang sedang diteliti.
Sinar-X ini yang dihasilkan harus berenergi sangat tinggi, sehingga anoda target
dalam tabung pembangkit harus berupa unsure Cr, Mo, W, atau Au.

Sinar-X yang dihasilkan ini, kemudian dilewatkan melalui suatu kolimator

untuk menghasilkan berkas sinar yang koheren. Berkas sinar ini kemudian
didifraksikan oleh kisi kristal yang sudah diketahui nilai d-nya. Dengan
menggunakan persamaan Bragg (n = 2dsinθ ) kita dapat menentukan sudut dari
sinar-X yang telah diketahui panjang gelombangnya. Kemudian kristal dan detector
diatur untuk mendifraksikan hanya panjang gelombang tertentu.
 Intensitas sinar-X karakteristik untuk setiap unsure yang sedang diselidiki
ditentukan dengan cara merotasikan kristal dan detector pada sudut yang dibutuhkn
untuk mendifraksi panjang gelombang karakteristik tersebut. Intensitas sinar-X
kemudian diukur untuk setiap unsur dan setiap unsure pada standar yang telah
diketahui konsentrasinya.
Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan
pencacahan karakteristik sinar-X yang terjadi dari peristiwa efekfotolistrik.
Efekfotolistrik terjadi karena electron dalam atom target (sampel) terkena berkas
berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-X). Bila energi sinar tersebut lebih tinggi dari
pada energi ikat elektron dalam orbit K, L, atau M atom target, maka elektron atom
target akan keluar dari orbitnya. Dengan demikian atom target akan mengalami
kekosongan elektron. Kekosongan electron ini akan diisi oleh elektron dari orbital
yang lebih luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-X. Skematik proses
identifikasi dengan XRF tampak pada Gambar 3. Sinar-X yang dihasilkan
merupakan gabungan spektrum sinambung dan spektrum berenergi tertentu (discreet)
yang berasal bahan sasaran yang tertumbuk elektron.
Jenis spektrum discreet yang terjadi tergantung pada perpindahan elektron
yang terjadi dalam atom bahan. Spectrum ini dikenal dengan spektrum sinar-X
karakteristik. Spektrometri XRF memanfaat-kan sinar-X yang dipancarkan oleh
bahan yang selanjutnya ditangkap detektor untuk dianalisis kandungan unsur dalam
bahan. Bahan yang dianalisis dapat berupa padat massif, pelet, maupun serbuk.
Analisis unsur dilakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif
menganalisis jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif
dilakukan untuk menentukan konsetrasi unsur dalam bahan. Sinar-X yang dihasilkan
dari peristiwa seperti peristiwa tersebut diatas ditangkap oleh oleh detektor semi
konduktor Silikon Litium (SiLi).
 2.2 Prinsip Dasar X-Ray Fluorescence (XRF)
Dasar analisis alat X-Ray Fluorescent ini adalah pencacahan sinar-x
yang dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali kekosongan elektron
pada orbital yang lebih dekat dengan inti (karena terjadinya eksitasi elektron) oleh
elektron yang terletak pada orbital yang lebih luar.
Ketika sinar x yang berasal dari radioisotop sumber eksitasi menabrak
elektron dan akan mengeluarkan elektron kulit dalam, maka akan terjadi
kekosongan pada kulit itu. Elektron dari kulit yang lebih tinggi akan mengisi
kekosongan itu. Perbedaan energi dari dua kulit itu akan tampil sebagai sinar X yang
dipancarkan oleh atom. Spektrum sinar X selama proses tersebut menunjukan
peak/puncak yang karakteristik, dimana setiap unsur akan menunjukkan peak yang
karakteristik yang merupakan landasan dari uji kualitatif untuk unsur-unsur yang ada
dalam sampel. Adapun prinsip dasar XRF, sebagai berikut:
1. Tahap 1: Ketika photon X-Ray memiliki energy yang cukup untuk menabrak
atom, ini menyebabkan electron terlepas dari kulitnya (dalam hal ini Kulit K).
2. Tahap 2: Atom akan mengisi kekosongan pada kulit K dengan electron dari
kulit L; sebagai penurunan electron ke tingkat energy rendah dan melepaskan
energy yang disebut K alfa X- Ray.
3. Tahap 3: Atom mengisi kekosongan kulit K dengan electron dari kulit M, sebagai
penurunan electron ke tingkat energy rendah, dan melepaskan energy yang disebut
K betha X-ray.
 Gambar 2. Prinsip Dasar XRF

2.3 Cara Kerja XRF

Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF
dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi.
Sebuah spektrometer XRF bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens
beam, yang dikenal sebagai balok insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi
beberapa juga diserap dalam sampel dengan cara yang tergantung pada kimia nya.
Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target Rh, meskipun W, Mo, Cr dan
lain-lain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.
Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel, dikatakan bersemangat.
Sampel bersemangat pada gilirannya memancarkan sinar-X sepanjang spektrum
panjang gelombang karakteristik dari jenis atom hadir dalam sampel. Bagaimana ini
terjadi? Atom-atom dalam sampel menyerap sinar-X energi pengion, elektron
mendepak dari tingkat energi rendah (biasanya K dan L). Para elektron dikeluarkan
diganti oleh elektron dari, energi luar orbit yang lebih tinggi. Ketika ini terjadi,
energi dilepaskan karena energi yang mengikat penurunan orbital elektron dalam
dibandingkan dengan yang luar. Hal ini melepaskan energi dalam bentuk emisi
karakteristik sinar-X menunjukkan atom jenis ini. Jika sampel memiliki unsur-unsur
yang hadir, seperti yang khas untuk kebanyakan mineral dan batuan,
penggunaan Spektrometer dispersif Panjang gelombang seperti bahwa dalam
EPMA memungkinkan pemisahan spektrum yang dipancarkan sinar-X yang
kompleks ke dalam panjang gelombang karakteristik untuk masing-masing elemen
ini. Berbagai jenis detektor (aliran gas proporsional dan kilau) digunakan untuk
mengukur intensitas sinar yang dipancarkan. Penghitung aliran yang biasa
digunakan untuk mengukur gelombang panjang (> 0,15 nm) sinar-X yang khas dari
spektrum K dari unsur yang lebih ringan daripada Zn.
Detektor sintilasi umumnya digunakan untuk menganalisis panjang
gelombang lebih pendek dalam spektrum sinar-X (K spektrum elemen dari Nb ke
I; L spektrum Th dan U). X-ray dari panjang gelombang menengah (K spektrum
yang dihasilkan dari Zn untuk Zr dan L spektrum dari Ba dan unsur tanah jarang)
umumnya diukur dengan menggunakan kedua detektor bersama-sama. Intensitas
energi yang diukur oleh detektor sebanding dengan kelimpahan elemen dalam
sampel. Nilai yang tepat dari proporsionalitas ini untuk setiap elemen diperoleh
dengan perbandingan standar mineral atau batuan dengan komposisi yang diketahui
dari analisis sebelumnya dengan teknik lain.

2.4 Box Diagram XRF

Gambar 3. Box Diagram Dari X-Ray Source (Tabung Sinar-X)

Adapun tahapan dari diagram alir XRF yakni,

1. Electron energy tinggi ditembakkan pada anoda (biasanya terbuat dari Ag atau
Rh). Energy eksitasi dapat bervariasi dari 15-50 kV dan arusnya 1-200 µA.
2. Silicon Drift Detector (SDD) and digital pulse processor. Energy dispersive,
multi channel analyzer tidak monokromatik , inilah yang diperlukan. Energy
foton dalam keV adalah terkait dengan jenis elemen. Tingkat emisi (cps)
berhubungan dengan konsentrasi unsure.
3. Perangkat lunak analyzer mengkonversi data spectral untuk pembacaan
hasil secara langsung. Konsentrasi unsur ditentukan dari data kalibrasi pabrik,
ketebalan sampel seperti yang diperkirakan dari sumber backscatter , dan
parameter lainnya.

2.5 Jenis-Jenis XRF

Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray
Fluorescence) dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan
analyzer yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik
memilih panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg (PANalytical, 2009).
Keuntungan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):
1. Aplikasinya luas dan beragam.
2. Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
3. Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.
4. Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah
Gambar berikut menggambarkan prinsip kerja WDXRF(Gosseau,2009.)
 Gambar 4. Ilustrasi Prinsip Kerja WDXRF

Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala

arah. Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator.
Sehingga refleksi sinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ.
Sudut ini akan terbentuk jika, panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan
sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya panjang gelombang yang sesuai
akan terukur oleh detektor. Karena sudut refleksi spesifik bergantung panjang
gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang berbeda, perlu dilakukan
pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor (Gosseau,2009).
Jenis XRF yang kedua adalah EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray
Fluorescence) spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal, namun
menggunakan software yang mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor
(PANalytical, 2009). Radiasi Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung
ditangkap oleh detektor. Detektor menangkap foton – foton tersebut dan
dikonversikan menjadi impuls elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut
bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang diterima detektor. Impuls
kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel
Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam
memori komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai
spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya
yang relatif rendah, namun keakuratan kurang. (Gosseau,2009). Gambar berikut
mengilustrasikan prinsip kerja EDXRF (Gosseau,2009):
 Gambar 5. Ilustrasi prinsip kerja EDXRF

2.5 Perbedaan Prinsip XRD dengan XRF

1. XRD (X-Ray Diffraction)
XRD (X-Ray Diffraction), salah satu teknik analisa untuk stuktur suatu
mineral, garam, logam, bahkan senyawaan organik seperti DNA, vitamin dan drug.
selain itu juga membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf,
mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal,karakterisasi material
kristal, identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat, penentuan
dimensi-dimensi sel satuan. XRD bekerja berdasarkan difraksi sinar X yang
dihamburkan oleh sudut kristal material yang dianalisa. Akan tetapi, kelemahannya,
XRD kurang tepat jika digunakan untuk analisa kuantitatif (jumlah atau kadarnya).
Walaupun banyak orang mengklaim bahwa XRD bisa memberikan informasi tentang
'berapa kandungannya' namun masih kurang valid jika dibandingkan dengan teknik
analisa lainnya di laboratorium. umumnya XRD digunakan untuk analisa jumlah
yang membutuhkan waktu cepat tapi tidak perlu akurat.
2. XRF (X-Ray Fluorescen)
XRF (X-Ray Fluorescen), mirip dengan XRD namun perbedaannya adalah
fluoresensinya yang digunakan untuk Analisa suatu material tambang, cukup dibuat
homogen dengan digerus dan dipadatkan atau dilebur, dicetak menjadi semacam bead
atau kayak koin gitulah, tentunya dengan penimbangan tertentu. XRF lebih akurat
dibandingkan XRD secara kuantitatif. Jumlah XRF bias memberikan data baik dalam
bentuk elemen maupun oksida. Analisanya pun relatif cepat karena simultan
(beberapa elemen atau oksida bisa dianalisa sekaligus dalam sekali running).
Biayanya relatif murah. Sekurangannya tidak bisa analisa untuk elemen atau oksida
dalam kadar rendah (< 0.01). Untuk yang <0.01 saya sarankan dengan 123 atau AA.
Setiap teknik Analisa memiliki kelebihan serta kekurangan, beberapa
kelebihan dari XRF adalah cukup mudah, murah dan analisanya cepat, jangkauan
elemen hasil analisa akurat, membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya
(untuk Trace elemen), dapat digunakan untuk analisa elemen mayor. Dan beberapa
kekurangan dari XRF yaitu tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti 4
dan 4e, analisa sampel cair membutuhkan volume gas helium yang cukup besar,
preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan membutuhkan
perlakuan yang banyak.

2.6 Kelebihan dan Kekurangan XRF

Setiap teknik analisa memiliki kelebihan serta kekurangan, beberapa
kelebihan dari XRF :
1. Cukup mudah, murah dan analisanya cepat.
2. Jangkauan elemen Hasil analisa akurat.
3. Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya(untuk Trace elemen).
4. Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na,
K, P) maupun tace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb,
Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn).
5. Akurasi yang tinggi.
6. Dapat menentukan unsur dalam material tanpa adanya standar.
7. Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologik maupun dalam
tubuh secara langsung.
Beberapa kekurangan dari XRF :
1. Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He.
2. Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar.
3. Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama
dan memebutuhkan perlakuan yang banyak.
4. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur
yang terkandung dalam material yang akan kita teliti.
5. Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.

2.7 Aplikasi
X-Ray fluoresensi digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk penelitian di
petrologi beku, sedimen, dan metamorf survei tanah pertambangan (misalnya,
mengukur nilai daribijih) produksi semen keramik dan kaca manufaktur metalurgi
(misalnya, kontrol kualitas) lingkungan studi (misalnya, analisis partikel pada filter
udara) minyak industri (misalnya, kandungan sulfur minyak mentah dan
produk minyak bumi) bidang analisis dalam studi geologi dan lingkungan
(menggunakan portabel, tangan memegang spektrometer XRF)
X-Ray fluoresensi sangat cocok untuk penyelidikan yang melibatkan massal
kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) dalam
batuan dan sedimen massal kimia analisis unsur jejak (dalam kelimpahan> 1 ppm;
Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan
sedimen - batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa bagian per juta
Fluoresensi sinar-X terbatas pada analisis relatif besar sampel, biasanya> 1
gram bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif dihomogenisasi
bahan yang komposisinya mirip, standar baik ditandai tersedia bahan yang
mengandung kelimpahan tinggi unsur-unsur yang penyerapan dan efek fluoresensi
yang cukup dipahami dengan baik.
Dalam kebanyakan kasus untuk batuan, bijih, sedimen dan mineral, sampel
tanah untuk menjadi bubuk halus. Pada titik ini dapat dianalisis secara langsung,
terutama dalam hal analisis elemen jejak. Namun, rentang yang sangat luas dalam
kelimpahan unsur yang berbeda, terutama besi, dan berbagai ukuran butir dalam
sampel bubuk, membuat perbandingan proporsionalitas dengan standar sangat
merepotkan. Untuk alasan ini, adalah praktek umum untuk mencampur sampel
bubuk dengan fluks kimia dan menggunakan tungku atau kompor gas untuk
mencairkan sampel bubuk. Mencair menciptakan glass homogen yang dapat
dianalisis dan kelimpahan (sekarang agak diencerkan) elemen dihitung.

2.7 Contoh Kurva Hasil Pengukuran Menggunakan XRF

Gambar 6. Contoh kurva hubungan energi unsur terhadap intesitas paduan U-Zr
Gambar 7. Contoh Spektrum hubungan energi dengan intensitas paduan AlMgSi1

Gambar 8. Karakteristik spectrum sinar-X yang dihasilkan dari penyinaran irisan

gigi dentin manusia oleh sumber 109Cd.

Gambar 9 (a)
Gambar 9 (b)

Gambar 9 (a)(b). Contoh Hasil Pengukuran Pada XRF

(c)
Gambar 9 (a)(b)(c). Contoh Hasil Pengukuran Pada Kaca Silika menggunakan XRF
Gambar 10. Contoh Hasil Pengukuran Pada kaca Silika menggunakan EDAX

Gambar 11. Contoh Hail Pengukuran XRF pada Kaca Silikon

2.9 ANALISA HASIL PEMBACAAN UJI XRF

1. PEMBACAAN BAHAN

Br (11.9291 KeV)
( from Kα)

Sb (26.4876 KeV)
Ru (19.2396 KeV) Br (13.1829 KeV)
( from Kα)
( from Kα) ( from Kα)

Xe(29.7938 KeV)
( from Kα)

Keterangan Hasil Pembacaan:

Untuk pembacaan bahan yang di tampilkan pada uji XRF, kita dapat
mengidentifikasinya melalui peak-peak spektrum/gelombang. Caranya adalah dengan
membaca jumlah energi yang terdapat pada puncak spektum/wave dari data tersebut.
Kemudian kita dapat mencocokan hasil pembacaan energinya pada energy tabel yang
telah ditentukan.
Dari data tersebut dapat di identifikasi, 5 unsur yang mendominasi pada
sampel tersebut yaitu :
1. Br (11.9291 KeV) ( from Kα)
2. Sb (26.4876 KeV) ( from Kα)

3. Br (13.1829 KeV) ( from Kα)

4. Ru (19.2396 KeV) ( from Kα)

5. Xe(29.7938 KeV) ( from Kα)

2. BREMSTRAHLUNG PEAK

Bremstrahlung peak
 Bremstrahlung peak

Analisa Pada Breamstrahlung Peak

Breamstrahlung peak merupakan gelombang radiasi dari sinar-Xray yang

dipancarkan secara kontinu, yang terjadi akibat interaksi elektron dengan medan inti
dari suatu atom. Pada bremstrahlung ini dapat diidentifikasi dari kontinunitas dari
spektum gelombang pada hasil uji XRF. Bremstrahlung ini tidak dapat di jadikan
sebagai acuan untuk mengidentifikasi suatu bahan, karena kekontinunitasnya. Pada
contoh grafik bremstrahlung di atas terjadi pada range 30-40 KeV dengan intentitas
berkiasar 72-144 cps.
3. COMPTON PEAK

Compton Peak

Analisa Compton Peak

Compton peak merupakan gelombang radiasi dari sinar-Xray yang

dipancarkan akibat interaksi elektron dengan suatu atom bahan . Pada compton peak
ini dapat diidentifikasi dari kontinunitas dari spektum gelombang pada hasil uji XRF.
Dari hasil pembacaan compton peak pada grafik diatas.
4. Escape Peak

Escape peak

Analisa Escape Peak

Escape peak merupakan peak yang terjadi ketika sinar X-karakteristik yang
dipancarkan dari suatu bahan pada pengujian XRF. Hal ini akan mengakibatakan
muncul suatu intensitas yang terpisah dari puncak gelombang yang lainnya sehingga,
untuk escape peak ini juga dapat di sebuat sebagai puncak melarikan diri. Dari grafik
tersebut dapat di idenifikasi nilai escape peak nya pada energi 4.543 keV dengan
intensitas 0.1184 cps
5. RAYLEIGH PEAK

Rayleigh peak

Analisa Rayleigh Peak

Reyleigh peak merupakan gelombang radiasi dari sinar-Xray yang
dipancarkan akibat interaksi elektron dengan suatu atom bahan . Pada Rayleigh peak
ini dapat diidentifikasi dari kontinunitas dari spektum gelombang pada hasil uji XRF.
Dari hasil pembacaan compton peak pada grafik diatas.
6. SUM PEAK

Sum peak dari

energi 11.909 KeV

Sum peak ke
energi 23.85 KeV

Analisa Sum Peak

Sum peak merupakan peak yang terjadi ketika sinar X-karakteristik yang
dipancarkan dari suatu bahan pada pengujian XRF. Terjadi ketika dua sinar
Xkarakteristik yang berbeda hampir bersamaan mengenai bahan, sinar X-ini tidak
dapat diakui sebagai pulsa yang terpisah. Dengan demikian, spektrum yang di
hasilkan menunjukkan peak di posisi energi dari jumlah energi dari dua sinar-X
karakteristik, bersama-sama dengan puncak spektrum karena sinar Xciri bahan.
Pada grafik tersebut sum peak terlihat dari pada energi gelombang dengan
besar 23.85 keV, merupakan penjumlahan dari energi 11.909 keV.
 BAB III
PENUTUP

3.1 Kesimpulan
Pada makalah ini dapat disimpulkan bahwa,
1. XRF (X-ray fluorescence spectrometry) digunakan untuk identifikasi serta
penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample
cair.
2. Prinsip Dasar analisis alat XRF (X-ray fluorescence spectrometry) ini adalah
pencacahan Sinar-X yang dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian
kembali kekosongan elektron pada orbital yang lebih dekat dengan inti.
3. Terdapat dua jenis XRF , WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence)
dan EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence) .
4. X-Ray Fluorescent Spectroscocy (XRF) mempunyai banyak keuntungannya yaitu
analisis tidak merusak, cepat, multi elemen dan murah.
5. X-Ray Fluorescent Spectroscocy (XRF digunakan dalam berbagai aplikasi,
termasuk keramik dan kaca manufaktur
DAFTAR PUSTAKA

Scott Ryland.XRF and SEM analysis of glass.Florida. Dept. of Law Enforcement

Masrukan, Dian Anggraini dan Rosika. Vol. 13 No. 3 Juli 2007: 99 -146. Studi
Komparasi Hasil Analisis Komposisi Paduan Almgsi1 Dengan Menggunakan
Teknik X Ray Fluorocency (Xrf) Dan Emission Spectroscoy .Pusat Teknologi
Bahan Bakar Nuklir, BATAN. Kawasan Puspiptek Serpoong, Tangerang.
Masrukan dan Rosika. Vol. 14 No. 1 Tahun 2008: 1-48. Perbandingan Hasil
Analisis Bahan Bakar U-Zr dengan Menggunakan Teknik XRF dan SSA. Pusat
Teknologi Bahan Bakar Nuklir, BATAN. Kawasan Puspiptek Serpoong,
Tangerang.
Munasir, Triwikantoro, Zainuri M., & Darminto. 2012. Uji Xrd Dan Xrf Pada Bahan
Meneral (Batuan Dan Pasir) Sebagai Sumber Material Cerdas (Caco3 DAN
Sio2). JPFA. 2(1): 20-29.