X-RAY FLUORESENSE SPECTROMETRY

Makalah

Disusun Oleh:

KELOMPOK IV
Eka Rizky Ramadhani (11.2018.1.00695)
Samuel Marthen Reyani (11.2018.1.00698)
Pani Eka Agus Purwodadi (11.2018.1.00703)
Aldy Elriq Syahputra (11.2018.1.00704)
Evie Noviany Dias (11.2018.1.00722)

JURUSAN TEKNIK PERTAMBANGAN

FAKULTAS TEKNOLOGI MINERAL DAN KELAUTAN

INSTITUT TEKNOLOGI ADHI TAMA SURABAYA

2019
 BAB I
PENDAHULUAN

1.1. Latar Belakang

Dalam praktikum kimia analisa, untuk mengetahui kandungan dalam sebuah bahan,
banyak sekali penelitian yang telah dilakukan. Dari pengukuran massa jenis dan
indeks bias, kekerasan¸ termal, struktur, sifat optik, sifat magnetik, sampai
komposisi. Banyak teknik yang dilakukan dalam suatu penelitian untuk mengukur
sebuah bahan. Teknik yang digunakan juga mempunyai bentuk yang beragam, serta
memiliki perbedaan antara satu dengan yang lainnya.

Dalam pengukuran kompisisi khususnya, yang dilakukan dengan metode

spektometri, Alat yang biasanya digunakan adalah XRF. Dalam penggunaan
tersebut, para peneliti memanfaatkan pemancaran sinar-x dalam metode
penelitiannya. Sinar-x yang digunakan, Profesor Daniel Mittleman dari Fakultas
Teknik Elektrik dan Komputer Rice University memberi penjelasan detailnya.
Sinar-x merupakan bentuk radiasi elektromagnetik, seperti cahaya, radiasi
inframerah, gelombang mikro dan gelombang radio. Namun dibanding jenis radiasi
tersebut, sinar-x lebih enerjik. Foton sinar-X seribu kali lebih enerjik dibanding
foton cahaya tampak. Terakhir, mesin yang mengakselerasi elektron dalam orbit
lingkaran dapat menghasilkan sinar-x. Ketika elektron berputar, elektron ini
memancarkan sinar-x yang kuat.

Dalam makalah ini, akan dibahas tentang alat yang digunakan pada metode
spektometri, yaitu X-Ray Fluoresense. Penulis tertarik untuk membahas alat ini,
karena dari beberapa alat yang dipakai untuk menguji atau bahkan mengdentifikasi
kandungan yang ada dalam larutan atau bahan, sering menggunakan alat ini. Selain
itu, alat ini juga dapat menguji larutan hingga mengetahui kandungan unsur dan
senyawa yang ada di dalamnya. Alat ini juga memiliki kekurangan yang sedikt
kalua dibandingkan dengan alat yang lain.
1.2. Rumusan masalah

Rumusan masalah di makalah ini adalah:

1. Apa pengertian analisa X-Ray Fluoresense?
2. Bagaimana prinsip kerja X-Ray Fluoresense?
3. Apa saja jenis-jenis X-Ray Fluoresense?
4. Apakah kelebihan dan kekurangan dari X-Ray Fluoresense?
5. Bagaimana cara penggunaan X-Ray Fluoresense?

1.3. Tujuan Penulisan

Tujuan penulisan makalah ini adalah untuk mengetahui dan memahami tentang
X-Ray Fluoresense, yang meliputi:
1. Pengertian X-Ray Fluoresense
2. Prinsip kerja X-Ray Fluoresense
3. Jenis-jenis X-Ray Fluoresense
4. Kelebihan dan kekurangan X-Ray Fluoresense
5. Cara penggunaan X-Ray Fluoresense lewat contoh penelitian
 BAB II
PEMBAHASAN

2.1. Pengertian XRF

XRF (X-Ray fluorosence Spectometry) merupakan alat yang digunakan untuk

menganalisis komposisi kimia beserta konsentrasi unsur-unsur yang terkandung
dalam suatu sampel dengan menggunakan metode spektrometri. Konsentrasi yang
dapat ditentukan adalah padatan, bubuk ataupun sampel cair. XRF umumnya
digunakan untuk menganalisa unsur dalam mineral atau batuan. Analisis unsur di
lakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk
menganalisi jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif
dilakukan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam bahan.

Gambar 2.1 X-Ray Fluorosence

XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace
element, bahkan dibawah level ppm. Level trace element atau elemen jejak adalah
elemen kimia yang konsentrasinya (atau ukuran jumlah lainnya) sangat rendah.
Dalam kimia analitik, elemen jejak adalah elemen yang konsentrasinya kurang dari
100 bagian per juta (ppm) yang diukur dalam jumlah atom atau kurang dari 100
mikrogram per gram. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang
gelombang komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang
dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PAN alytical, 2009).
 Gambar 2.2 Pembagian Panjang Gelombang

Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu
material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih
untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung pada
penggunaannya, XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga sumber
eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron dengan
energi yang tinggi (Viklund, 2008).

2.2. Karakteristik Sampel

Beberapa sampel yang dapat dianalisis dengan menggunakan XRF yaitu:
1. Sampel serbuk ± 100 mesh
2. Sampel cair yang homogen
1) Tipe sampel yang diperoleh dari lingkungan seperti minyak dan air
2) Tidak membutuhkan preparasi yang rumit
3. Sampel padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm
1) Logam, plastik dan kaca atau keramik
2) Pelapisan permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia yang
terbaca
3) Ukuran partikel tidak menjadi persoalan
4) Permukaan harus homogeny
4. Presed Powder
1) Tipe sampel yang dapat dibentuk press powder seperti batuan, semen,
lumpur, alumina, fly ash dan lain-lain
2) Agen pengikat seperti lilin atau selulosa dapat digunakan untuk
memperkuat sampel.
 5. Serbuk dipress membentuk tablet padat menggunakan hydraulic press
Fused Beads:
1) Tipe sampel yang termasuk dipreparasi seperti fused bead adalah
batuan, semen, bijih besi dan lain-lain
2) Sampel dicmpur dengan flux. Digesti fluxing selalu penting bila
dibutuhkan presisi yang tinggi dan borat Spectromelt dapat digunakan
untuk proses ini.
3) Sampel dan flux dipanaskan pada suhu ≈ 1000 oC
4) Permukaan harus homogen

2.3. Prinsip kerja XRF

Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan
karakteristik sinar-X yang terjadi akibat efek fotolistrik. Apabila terjadi eksitasi
sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau sumber radioaktif mengenai
sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh material. Proses dimana
sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang
terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila
sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam
menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak
stabil. Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke
kulit yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X yang tertentu
dan berbeda antara dua energi ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan
dari proses yang disebut X Ray Fluorescence (XRF). Proses deteksi dan analisa
emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada umumnya kulit K dan L terlibat pada
deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah Kα dan Kβ serta Lα dan Lβ pada
XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi akan menggambarkan
puncak-puncak pada intensitas yang berbeda (Viklund, 2008).
Berikut adalah penjelasan singkat dan gambar dari prinsip kerja X-Ray fluorosence:

Gambar 2.3 Prinsip Kerja XRF

Gambar 1 : Elektron di kulit K terpental keluar dari atom, karena radiasi sinar X
yang datang. Akibatnya, terjadi kekosongan atau vakansi elektron pada
orbital.

Gambar 2 : Elektron dari kulit L atau M “turun” untuk mengisi vakansi tersebut,
disertai oleh emisi sinar X yang khas dan meninggalkan vakansi lain di
kulit L atau M.

Gambar 3 : Saat vakansi terbentuk di kulit L, elektron dari kulit M or N “turun”

untuk mengisi vakansi tersebut sambil melepaskan Sinar X yang khas.

Gambar 4 : Spektrometri XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh bahan

yang selanjutnya ditangkap detector untuk dianalisis kandungan unsur
dalam bahan.
 Gambar 2.4 Proses Kerja Alat X-Ray Fluoresence

2.4. Jenis XRF

Secara umum, Berdasarkan karakteristik sinar yang dipancarkan, elemen kimia
dapat diidentifikasi dengan menggunakan WDXRF (Wave Length Dispersive
XRF) dan EDXRF (Energy Dispersive XRF). Perbedaan umum kedua alat ini,
terletak pada ukurannya. WDXRF memiliki ukuran yang lebih besar dan
menggunakan water chiller atau kita sebut dengan pendingin sedangkan
EDXRF lebih kecil dan tidak menggunakan pendingin dalam penggunaanya

2.4.1. WDXRF (Wave Length Dispersive X-ray Fluorescence)

Untuk XRF jenis ini, dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan
analyzer yang berupa kristal yang berperan sebagai grid. Kisi kristal yang spesifik
memilih panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg (PAN alytical,
2009).

Keuntungan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):

1. Aplikasinya luas dan beragam.
2. Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
3. Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.
4. Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah
 Gambar berikut menggambarkan prinsip kerja WDXRF(Gosseau,2009).

Gambar 2.5 Prinsip Kerja WDXRF

Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah.
Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai colimator.
Sehingga refleksi sinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ.
Sudut ini akan terbentuk jika, panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan
sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya panjang gelombang yang sesuai
akan terukur oleh detektor. Karena sudut refleksi spesifik bergantung panjang
gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang berbeda, perlu dilakukan
pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor (Gosseau, 2009).

2.4.2. EDXRF (Energy Dispersive XRF)

Jenis XRF ini, bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software
yang mengatur seluruh radiasi dari sampel ke detektor (PAN alytical, 2009).
Radiasi Emisi dari sampel yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh
detektor. Detektor menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi
impuls elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi
dari foton - foton yang diterima detektor.

Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel

Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam
memori komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai
spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya
yang relatif rendah, namun keakuratan kurang. (Gosseau, 2009).
Gambar berikut mengilustrasikan prinsip kerja EDXRF (Gosseau,2009).

Gambar 2.6 Prinsip Kerja EDXRF

2.4.3. Perbedaan WDXRF dan EDXRF

Tabel 2.1 Perbedaan WDXRF dan EDXRF

WDXRF EDXRF
(Wave Length Dispersive XRF) (Energy Dispersive XRF)
Lebih besar dan lebih kompleks Lebih kecil dan lebih sederhana

Menggunakan waterchiller Tidak menggunakan water chiller

(pendingin xray tube)
Analisa B(3) sampai U(92). Lebih sensitif Analisa Na(11) – U(92)
dan lebih akurat
Menggunakan Vacum pump Vacum pumb optional

Unggul dalam analisa unsur ringan Analis unsur berat (K-U)

(B hingga Mg)
Menggunakan gas P10 (aragon-Methane), Menggunakan He (optimal untuk
He (optimal, untuk analisa cairan) unsur ringan, Na hingga Cl)
2.5. Kelebihan dan Kelemahan X-Ray Fluoresence
2.5.1. Kelebihan X-Ray Fluoresence
Kelebihan alat XRF adalah:
1. Mudah digunakan dengan sampel berupa padatan, bubuk dan cairan
2. Tidak merusak sampel (Non Destructive Test)
3. Sampel utuh dan analisa dapat dilakukan berulang-ulang
4. Banyak unsur dapat dianalisa sekaligus (Na- U)
5. Konsentrasi dari ppm hingga 100%
6. Hasil keluar dalam hitungan detik hingga menit, tergantung aplikasi.
7. Menjadi metoda analisa unsur standar dengan banyaknya metoda analisa
ISO dan ASTM yang mengacu pada analisa XRF

2.5.2. Kelemahan X-Ray Fluoresence

Kelemahan alat XRF adalah:
1. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang
terkandung dalam material yang akan kita teliti.
2. Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He
3. Analisa sampel cair membutuhkan Volum gas helium yang cukup besar
4. Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama
dan memebutuhkan perlakuan yang banyak
5. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-
unsur yang terkandung dalam material yang akan kita teliti.
6. Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu

2.6. Contoh Penggunaan Alat X-Ray Fluoresence

Aplikasi penggunaan alat XRF untuk menguji sebuah unsur dalam larutan atau
padatan sangat banyak digunakan. Karena memiliki banyak kelebihan sehingga
mampu memberikan hasil yang lebih akurat dari metode lainnya. Berikut ini contoh
penggunaan alat XRF dalam ”Penentuan Kadar Silver Dalam Limbah Larutan Fixer
Dengan Metode Perpendaran Sinar-X”.
Saat ini uji secara tidak merusak dengan teknik radiografi digunakan sangat luas.
Teknik radiografi menggunakan film untuk menampilkan hasil pengujian. Larutan
fixer digunakan dalam proses film radiografi. Limbahnya mengandung silver (Ag)
dan tidak boleh dibuang ke lingkungan. Karena merupakan unsur yang memiliki
nilai ekonomis, maka pengelolaan terhadap limbah tersebut dengan mengambil
kembali unsur Ag tersebut dengan berbagai macam metode. Oleh karena itu perlu
dilakukan penentuan kadar Ag dalam limbah tersebut.

Kadar Ag dapat ditentukan dengan analisis perpendaran sinar-X (X-Ray

Fluorescence, XRF) , yang merupakan salahsatu metode analisis unsur secara tidak
merusak atau dengan preparasi sampel secara sangat sederhana. Analisis dilakukan
dengan cara menembak bahan dengan sumber radiasi gamma energi rendah atau
pesawat sinar-X yang akan menghasilkan sinar-X karakteristik dan diukur
menggunakan spektrometer sinar-X.

Dalam kegiatan ini dilakukan pengukuran kadar Ag dalam sampel limbah larutan
fixer berdasarkan kemudahan preparasi dan pengukuran dalam XRF yang sang at
sesuai digunakan dalam pengukuran kadar Ag dalam limbah fixer sebelum
dilakukan pengelolaan lebih lanjut.

FILM RADIOGRAFI

Film radiografi merupakan kristal AgBr yang dilapiskan pada bahan selulosa. Pada
teknik radiografi, digunakan sumber radiasi untuk memeriksa cacat dalam benda
uji. Selama penyinaran, film diletakkan di dekat benda uji. Radiasi yang sampai ke
film, akan membuat Ag+ menjadi logam Ag yang merupakan bayangan laten.
Bayangan laten perlu dikembangan supaya dapat dilihat. Proses pengembangan
dilakukan menggunakan larutan hidroquinon yang disebut larutan developer. Pada
proses pengembangan ini, Ag+ di sekitar logam Ag yang terbentuk oleh radiasi
akan diubah menjadi logam Ag. Dengan semakin banyaknya logam Ag yang
terbentuk, warna hitam dari bayangan laten semakin nyata. Tetapi walaupun logam
Ag yang terbentuk sudah semakin banyak, ternyata AgBr yang tersisa masih cukup
banyak.
Dalam proses selanjutnya, AgBr tersebut dilepas dari film dengan cara dilarutkan
dalam larutan thiosulfat atau larutan fixer. Oleh karena itu, larutan fixer
mengandung Ag dengan kadar 5 ppm hingga 12.000 ppm. Bila masuk ke dalam
tubuh, unsur Ag mengakibatkan pemucatan warna kulit dan perubahan warna putih
mata menjadi abu-abu. Oleh karena toxisitasnya tersebut, United State -
Environmental Protection Agency (US EPA) melarang pembuangan limbah Ag ke
lingkungan dan menetapkan kadar maksimum dalam air minum sebesar 0,1 ppm.

Logam Ag dengan nomor atom 47 memiliki energi ikat elektron pada orbit K
sebesar 25,514 KeV dan memiliki enegi ikatelektron pada orbit L3 sebesar 3,352
KeV. Energi Sinar-X karakteristik yang dihasilkan akibat adanya transisi elektron
menuju kulit K untuk Kal sebesar 22,183 KeV, Ka2 sebesar 21,990 KeV dan menuju
kulit L sebesar Lal 24,942 KeV, La2 sebesar 25,456 KeY.

METODE YANG DIGUNAKAN

Sumber radiasi yang digunakan adalah Am-241 dengan energi gamma 59 KeV
dengan aktivitas 24 mCi. Sinar-X karakteristik yang dihasilkan diukur
menggunakan spektrometer XRF. Analisis kualitatif atau posisi puncak Ag
dilakukan berdasarkan energi sinar-X karakteristik yang dihasilkan. Kalibrasi
energi dari spektrometerdilakukan menggunakan unsur Titanium (Ti), Tembaga
(Cu), dan Perak (Ag). Kalibrasi dilakukan berdasarkan energi Ka, dari unsur
tersebut. Analisis kuantitatif atau penentuan kadar Ag dalam sam pel dilakukan
secara komparatif dengan larutan standar Ag berbagai konsentrasi. Volume dan
waktu pengukuran untuk sampel dan standar sama.
HASIL DAN PEMBAHASAN

Kalibrasi energi yang dilakukan berdasarkan energi Ka, dari unsur Ti, Cu dan Ag
memberikan persamaan y=2,602keV + 1,151 x 10-0,02 xch

Tabel 2.2. Data Identifikasi unsur Ag

Karakteristik Sinar-X Kα Kβ
Energi (KeV) 22,16 24,94
Puncak energi (KeV) 22,20 24,90

Validasi terhadap kalibrasi energi dilakukan terhadap unsur Ag dalam standar pada
puncak spektrum dari Sinar-X karakteristik Kα1, dan Kβ1, memberikan data
pengukuran pada Tabel 2.2 yang menunjukkan kesesuaian dengan nilai energi
Karakteristik Sinar-X.

Kalibrasi konsentrasi pada puncak energi Kα, dari larutan standar Ag dengan
konsentrasi 400 ppm, 800 ppm, 1200 ppm, dan 1600 ppm dengan dengan
persamaany = 4,3905 x – 42, dengan y adalah cacahan atau area dan x adalah
konsentrasi. Kadar Ag rata-rata dalam cuplikan sebesar(1600 ± 80) ppm.

Kadar Ag dalam limbah fixer kegiatan radiografi di Pusdiklat SATAN sebesar

(1600 ± 80) ppm. Analisis kadar Ag dalam limbah fixertidak memerlukan preparasi
secara khusus, sehingga sangat mudah untuk analisisAg dalam limbah fixer
sebelum diproses lebih lanjut.

Tabel 2.3 Hasil Analisis Kadar Ag

No. Cuplikan 1 2 3 4 5
Area 6876 6966 6990 7202 6928
Devisiasi Standar Area (%) 1,9 1,9 1,9 1,8 1,9
Kadar (ppm) 1576 1596 1650 1580 1580
Standar Kadar (%) 4.8 4.8 4.8 4.8 4.8