Diktat Bab 1-2 (Xrf-Aes) 014

1
KIMIA INSTRUMENTAL ANALISIS 2

(KIA-2, Revisi 3)
Bab. TEKNIK ANALISIS NUKLIR:
XRF-AES, SPEKTROMETRI DAN ANALISIS
AKTIVASI NEUTRON (AAN)
Kimia-FMIPA-UII
Disusun Oleh
Agus Taftazani
(2013)
KIA-2/Bab.XRF-AES/FMIPA-UII-013/aguszani@batan.go.id
PENDAHULUAN Kimia Analisis Instrumental

Spektrometri : mempelajari dan (ilmu) pengukuran berdasar spektrum.
Spektrum :sederetan noda (speck, hitam/putih/warna lainnya) pada film.
Noda ini diakibatkan oleh: sinar (tampak, infra merah, ultra violet, sinar X maupun sinar
), partikel (netral atau ion: , , netron, ion-ion, atom, molekul dsb.)
Letak noda yang timbul akibat proses tsb. pada film (atau yang lain) memberi ciri dari sinar
maupun partikel yang jatuh padanya sehingga dapat dipakai sebagai alat pengukuran, peneraan,
analisis dsb.
Instrumen : untuk memisahkan agar suatu berkas jatuh pada noda-noda tertentu.
Alat pemisah: tergantung kepada jenis berkas yang akan dianalisis
sinar IR, UV, Vis:
pemisahannya dengan kisi (grating)
Iinstrumen
R/UV-Vis
berkas ion dengan medan magnet atau listrik dsb.
Spektrom. Masa
Intensitas (sinar yang datang) pada noda:
dicirikan oleh posisi/lokasi/panjang gelombang/
energi tertentu menunjukan ciri spesifik
tebal-tipisnya/lebar-sempitnya noda
analisis kualitatip
analisis kuantitatip
Perkembangan Teknik deteksi:

Intensitas noda menjadi pulsa-pulsa elektronik (maka analisis noda pada film sudah tidak
mengikat lagi), analisis berdasar sinyal elektronik pada suatu detektor dapat dilakukan.
Ada detektor atau probe yang sekaligus dapat memisahkan spektrum dari suatu berkas
sehingga bersama dengan rangkaian elektroniknya berkas dapat langsung dianalisis tanpa
terlebih dahulu mengalami instrumen pemisah.
Pada detektor nuklir (NaI(Tl) dan Ge(Li) untuk sinar dan Si(Li) untuk sinar X) maka
sinar dengan pendek sekali dapat dideteksi dan dilihat pemisahan energinya atau pada
saluran ganda (multichannel analyser).
Spektrometri NMR atau EPR (tidak lagi bicara mengenai noda-noda dalam film ataupun
detektor yang memisahkan berkas sinar/partikel) , tetapi spektrum yang ditimbulkan
adalah akibat sinyal resonansi yang terjadi untuk inti/atom tertentu menghendaki
hubungan antar medan magnet luar dan frekuensi radio yang dipakai. ( = B, =
frekuensi radio, B = medan magnet luar, = tetapan giro magnet nuklir/atom dari
inti/atom tertentu).
Hubungan antar frekuensi dan medan magnet tersebut memberikan ciri dari inti atom
tertentu yang dianalisis untuk analisis kualitatip saja (analisis kuantitatip berdasar
tinggi/rendahnya pulsa resonansi)
Cara-cara analisis lainnya dalam bidang kimia (elektrokimia, kromatografi, analisa termal
dsb.).
BAB 1: XRF
Spektrometri Pendar Sinar-X (X-Ray Flourescence)

Spektrometri pendar sinar-X adalah suatu metode analisis yang didasarkan pada
pengukuran tenaga dan intensitas spektra sinar-X yang dihasilkan sebagai akibat interaksi atomatom unsur cuplikan yang dikenai radiasi sumber pengeksitasi.
Menurut teori Bohr, atom terdiri dari inti atom yang bermuatan positif dan elektronelektron yang bermuatan negatif. Elektron-elektron mengelilingi inti pada kulit-kulit diskrit dan
terikat pada inti dengan gaya Colomb. Bila atom suatu unsur dikenai radiasi dengan tenaga
radiasi yang lebih besar dari tenaga ikat elektron terhadap inti dalam atom tersebut, maka
elektron dari atom tersebut akan terpental dan meninggalkan tempat lowong. Tempat kosong
tersebut akan diisi oleh elektron dari kulit lebih luarnya lagi. Jadi atom dalam keadaan dasar
secara bertahap, dimana setiap tahap terjadi loncatan elektron dari tenaga lebih tinggi ke tingkat
tenaga yang lebih rendah. Kelebihan tenaga ini dipancarkan dalam bentuk sinar-X. Tenaga
radiasi sinar-X tersebut adalah karakteristik setiap atom unsur yang memancarkan.
Sinar-X tersebut merupakan hasil eksitasi elektron suatu unsur setelah disinari suatu
sumber sinar. Prinsip spektrometer pendar sinar-X berdasarkan lepasnya elektron pada bagian
dalam dari atom akibat terkena radiasi sehingga menyebabkan emisi.Proses emisi ini
menghasilkan sinar-X karakteristik yang menjadi identitas unsur-unsur tertentu.
Energi sinar-X karakteristik unsur-unsur digunakan untuk analisis kualitatif. Sedangkan
intensitas spektrum sinar-X digunakan sebagai dasar perhitungan analisis kuantitatif. Teknik
analisis dengan spektrometer pendar sinar-X ini lebih banyak digunakan daripada analisis
konvensional lainnya seperti polarografi, gravimetrik dan sebagainya, karena mengingat metode
ini cepat, seksama, tidak merusak bahan, dapat digunakan pada cuplikan berbentuk padat, bubuk,
cair maupun pasta
Aplikasi spektrometri pendar sinar-X dalam bidang analisis semakin berkembang pesat.
Kelebihan lain dari teknik analisis ini adalah dapat menganalisa campuran yang sukar dipisahkan
dengan cara analisis biasa. Metode ini bersifat tidak merusak terhadap cuplikan, sehingga dapat
digunakan secara luas dalam berbagai bidang seperti industri, geologi dan arkeologi. Selain itu,
cuplikan yang dibutuhkan untuk analisis menggunakan metode ini juga relatif sedikit.
Metode analisis menggunakan spektrometri pendar sinar-X seperti halnya dengan metodemetode analisis lain yaitu juga dipengaruhi oleh adanya matrik dan heterogenitas cuplikan di
samping beberapa kelemahan lain seperti kepekaannya rendah, tidak bisa mendeteksi unsurunsur ringan. Beberapa metode analisis yang digunakan untuk mengatasi/mereduksi pengaruh
matrik (pengaruh serapan dan pengkayaan) tersebut adalah metode kalibrasi standar, metode
internal standar, metode standarisasi dengan sinar-X terhambur, metode pengenceran matrik
(dilution method), metode lapis tipis, metode standar adisi dan dilusi. Metode kalibrasi standar
pada prinsipnya adalah garis spektra unsur di dalam cuplikan diinterpolasikan ke kurva kalibrasi
standar yang dibuat antara intensitas garis spektra unsur yang sama terhadap konsentrasi standar
Interaksi Elektromagnetik
Ketika suatu cuplikan dikenai sinar dari sumber pengeksitasi akan terjadi tiga jenis
interaksi elektromagnetik yaitu, efek fotolistrik, efek compton dan produksi pasangan.
Efek Fotolistrik
Efek fotolistrik adalah terpancarnya elektron dari permukaan logam yang disinari suatu
sumber pengeksitasi dengan frekuensi yang cukup tinggi. Gelombang sinar yang datang
tersebut membawa energi. Sebagian energi ada yang diserap oleh elektron dan ada yang
terkonsentrasi pada elektron tertentu yang kemudian muncul kembali menjadi suatu
energi kinetik. Dalam proses tersebut, berkas cahaya yang kuat akan menghasilkan energi
elektron yang besar. Dalam proses ini biasanya diikuti oleh terpancarnya sinar-X dan
elektron auger dengan energi kinetik yang sama besar dengan energi ikat. Proses
terjadinya auger elektron disebabkan karena terjadinya kekosongan elektron pada suatu
orbital akibat terkena energi sinarX atau gamma.
Paparan sinar-X atau gamma dari luar ini menyebabkan elektron terlempar keluar dari
orbitnya, sehingga orbital yang kosong tersebut ditempati oleh elektron lain yang berasal
dari orbital yang lebih tinggi tingkatan energinya. Semakin besar energi ikat elektron
dalam suatu atom, maka kebolehjadian untuk terjadinya efek fotolistrik semakin besar
Efek Compton
Efek compton merupakan interaksi foton dengan elektron bebas atau dengan elektron
yang tidak terikat kuat pada inti karena lemahnya gaya coulomb yang mempengaruhinya.
Saat terjadi efek compton ini, tumbukan yang terjadi adalah jenis tumbukan elastis antara
sinar yang datang sebagai partikel foton dan elektron suatu atom dalam cuplikan.
Produksi Pasangan (Pair Production)
Produksi pasangan merupakan proses interaksi yang terjadi antara foton dengan materi
yang menghasilkan terbentuknya pasangan positron dan elektron dengan energi kinetik
yang sama besar.
Sinar gamma mempunyai karakteristik yang sama dengan sinar-X. Kekuatan masingmasing tipe interaksi elektromagnetik tersebut tergantung pada energi dan nomor atom
(Z) dalam unsur cuplikan. Unsur dengan nomor atom sedikit membutuhkan energi di
bawah 100 keV dan hanya mengalami proses fotolistrik. Efek Compton terjadi pada
range energi 1-2 MeV dan produksi pasangan pada range energi di atas 5 MeV
10-10 m = 1 A
MODEL ATOM BOHR
Elektron
Inti Atom (proton + Netron)
10-14 m
2/19/2013
aguszani@batan.go.id
15
Prinsip Dasar Spektrometri Pendar Sinar-X
Prinsip dasar analisis spektrometri pendar sinar-X adalah pengukuran sinar-X

karakteristik yang dihasilkan dari efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron
dalam atom target (cuplikan) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi gamma atau sinar X).
Secara umum cara kerja dari spektrometer pendar sinar-X adalah sebagai berikut: sinar-X
dari sumber pengeksitasi akan mengenai cuplikan dan menyebabkan interaksi antara
sinar-X dengan cuplikan yang menimbulkan sinar-X yang karakteristik tiap unsur.
TRANSISI ELEKTRON
Energi
Eksternal
Sinar-X
karakteristik
Gambar 2
2/19/2013
17
Gambar 2. Proses interaksi sinar-X dengan cuplikan (Taftazani, 2013)

Sinar-X karakteristik tersebut selanjutnya mengenai detektor Si(Li) yang akan

menimbulkan pulsa listrik yang lemah, pulsa yang lemah kemudian diperkuat dengan
preamplifier yang selanjutnya diperkuat lagi dengan amplifier dan disalurkan pada
penganalisis saluran ganda (Multi Chanel Analyzer). Tenaga sinar-X karakteristik
tersebut dapat dibaca pada tabel tenaga, sehingga dapat diketahui unsur-unsur yang ada
dalam cuplikan yang dianalisis
Komponen Spektrometer Pendar Sinar-X
Spektrometer Pendar Sinar-X tersusun dari tiga komponen utama, yaitu: sumber eksitasi,
detektor dan unit pemrosesan data
Sumber Eksitasi
Untuk menghasilkan sinar-X yang karakteristik dapat digunakan dua macam pengeksitasi
sinar-X, yaitu:
Tabung sinar-X
Tabung sinar-X merupakan pengganti sumber radioisotop sebagai sumber pengeksitasi.
Sinar-X dihasilkan dari penembakan elektron yang dipercepat dalam medan listrik kuat
pada suatu target. Proses ini membutuhkan voltase tinggi. Kelebihan dari sumber tabung
sinar-X adalah energi sinar-X yang dihasilkan dapat diatur dan disesuaikan dengan energi
unsur yang akan dianalisis.
2. Sumber radiasi Tabung (Pesawat Pembangkit Radiasi)
Anoda
Target
Focusing Cup
Katoda
Pendingin
Filament
Sinar-X
2/19/2013
Windows
kV
20
Sumber Radioisotop
Sumber radioisotop adalah isotop-isotop tertentu yang dapat digunakan untuk
mengeksitasi cuplikan sehingga menghasilkan sinar-X yang karakteristik (Herlani dkk,
2011). Sinar-X yang dihasilkan berasal dari peluruhan radioaktif isotop-isotop tersebut.
Sumber radioisotop memiliki beberapa kekurangan diantaranya adalah keterbatasan

dalam menganalisis unsur karena energi tiap-tiap sumber radioisotop berbeda, sumber
radioisotop dapat membahayakan lingkungan karena menghasilkan sinar-X sewaktuwaktu baik saat digunakan maupun tidak.
Sumber radioisotop adalah salah satu jenis sumber eksitasi yang digunakan dalam XRF
untuk menghasilkan sinar X primer. Sumber radioisotop memanfaatkan isotop-isotop
untuk menghasilkan radiasi sinar X. Isotop adalah unsur yang memiliki nomor atom sama
tetapi nomor massa berbeda karena perbedaan jumlah neutronnya. Unsur-unsur yang
memiliki karakteristik tersebut dapat meluruh dan menghasilkan energi yang besar
berupa sinar-X.
Dalam memilih sumber radioisotop, terdapat beberapa syarat yang harus dipenuhi antara
lain: proses peluruhan radioaktif memancarkan sinar , dan , tenaga radiasi yang
dipancarkan 1-50 keV, aktivitas sumber radioisotop 1-5 mCi, dan juga memiliki waktu
paruh (Mulyono dkk, 2008). Pemilihan sumber radioisotop untuk pengeksitasi
disesuaikan dengan jenis unsur yang akan dianalisis, yaitu sumber primer harus
mempunyai energi lebih besar dari energi ikat elektron yang akan dieksitasi (Sumantri,
2002). Dalam aplikasinya, sumber radioisotop dibungkus dengan timbal agar penyebaran
radiasi terhadap lingkungan dapat dicegah. Beberapa contoh sumber radioaktif disajikan
dalam Tabel 5berikut ini
Tabel 5. Sumber-sumber radioisotop yang dapat digunakan untuk eksitasi sinar-X
(EPA SW-846, Method 6200)
Radioisotop
Energi
Eksitasi (keV)
Aktivitas
Peluruhan
(mCi)
Waktu Paruh
(T1/2)
Range Analsis Unsur
Iron-55 (55Fe)
5,9
20-50
2,7 tahun
Sulfur Kromium K Lines

Molibdenum Barium L
Lines
Cadmium-109
(109Cd)
22,1 dan 87,9
5 30
1,3 tahun
Kalsium Rodium K Lines

Tantalum Timbal K Lines
Barium - Uranium L Lines
Americium241 (241Am)
26,4 dan 59,6
5 30
432 tahun
Tembaga Tulium K Lines

Tungsten Uranium L
Lines
Detektor
Tiga jenis detektor yang umum digunakan dalam analisis menggunakan spektrometer
sinar-X adalah alat cacah proposional isian gas, alat cacah sintilasi dan detektor-detektor
semikonduktor. Dari ketiga jenis detektor ini, setiap foton sinar-X sebanding dengan
tenaga foton. Pada detektor ini, sinar-X yang dideteksi diserap oleh atom gas, atom
iodium pada lempeng (NaI)Tl dan atom silikon pada lapisan Si(Li) (Susetyo, 1998).
Pada spektrometer pendar sinar-X yang menggunakan detektor jenis semikonduktor

Si(Li), biasanya menggunakan nitrogencair yang dimasukkan dalam dewar atau cryostat.
Penggunaan nitrogencair ini untuk mengatasi arus bocor bolak-balik yang disebabkan
oleh efek termal, sehingga detektor Si(Li) harus dioperasikan pada suhu sangat rendah,
yaitu dengan menggunakan nitrogen cair 77K atau setara -196oC sebagai pendingin.
Apabila tidak dilakukan pendinginan maka arus akan bocor dan akan merusak daya pisah
detektor. Selain itu, pendingin dengan nitrogen cair juga diperlukan untuk menjaga agar
ion-ion Li tidak merembes keluar dari kristal dan menyebabkan hilangnya daerah
intrinsik
Unit Pemrosesan Data
Unit pemrosesan data spektrometer pendar sinar-X meliputi preamplifier, linier amplifier,
counter, timer serta penganalisis salur ganda atau Multi Chanel Analyzer (MCA). Alatalat ukur ini dibutuhkan dalam mengolah pulsa output suatu detektor. Preamplifier
berfungsi dalam pembentukan ritme pulsa dengan rise time yang pendek. Linier amplifier
berfungsi untuk memperkuat dan membentuk pulsa yang keluar dari detektor. Timer
berfungsi untuk membatasi waktu cacah, serta MCA yang berfungsi mengklasifikasikan
pulsa yang masuk ke dalam saluran-saluran (Susetyo, 1998).
Cara Kerja Spektrometer Pendar Sinar-X
Sumber radioisotop di pasang di atas alat detektor, kemudian cuplikan diletakkan di atas
sumber.
Radiasi gamma () yang dihasilkan sumber radioisotop terhadap cuplikan akan
menimbulkan sinar-X karakteristik yang selanjutnya akan mengenai detektor sehingga
akan dihasilkan pulsa signal.
Pulsa yang dihasilkan ini masih sangat lemah sehingga masih perlu diperkuat dengan
penguat awal (preamplifier) dan dikirim ke MCA. Alat ini berfungsi untuk memilah
pulsa menurut tingginya (sesuai dengan tenaga sinar-X yang dihasilkan dari cuplikan).
Pulsa dengan tinggi tertentu dicatat cacahnya pada nomor salur tertentu dan ditampilkan pada
layar penganalisis salur ganda sebagai spektra sinar-X.
10
Sumber radiasi
radioisotop
MCA dengan Genie

3.02, Canberra
Cryostat (Tabung Pengisian Nitrogen Cair)
9/20/2013
Gambar
.. Sistem XRF dengan detector Si(Li)
aguszani@batan.go.id/KAI2/FMIPAdan MCAUIIdari Canberra
26
Metode Analisis
XRF dapat digunakan secara kualitatif maupun kuantitatif.
Analisis Kualitatif
Analisis kualitatif bertujuan untuk mengetahui kandungan unsur dalam suatu sampel.
Dalam spektrometri sinar-X, analisis kualitatif meliputi pembacaan spektrum cuplikan
yaitu identifikasi puncak-puncak hingga klasifikasi unsur berdasarkan puncaknya dengan
syarat XRF sudah terkalibrasi tenaga terlebih dahulu. Analisis kualitatif menggunakan
spektrometer sinar-X dapat menganalisis semua unsur dengan nomor atom 15 dalam
satu sampel sekaligus (Agus Taftazani, 2013).
Analisis Kuantitatif
Analisis kuantitatif dapat dilakukan dengan metode absolut dan relatif. Metode absolut
dilakukan dengan menggunakan data efisiensi alat, sedangkan metode relatif dengan
standar pembanding seperti metode kurva standar, perbandingan tunggal (single
comparator) dan metode adisi (Taftazani, 2013).
Standar pembanding yang digunakan dalam analisis harus yang bersertifikat serta
mempunyai bentuk matrik dan kondisi pengukuran harus sama dengan sampel yang
dianalisis. Analisis kuantitatif berdasarkan intensitas unsur dalam satuan cps dan setelah
dibandingkan menjadi satuan berat mikro gram atau gram. Semakin besar nilai intensitas
menunjukkan semakin banyaknya kandungan unsur tersebut dalam sampel (Masrukan
dkk, 2007).
Kalibrasi Tenaga
Tinggi pulsa keluaran detektor dan penguat setara dengan tenaga sinar-X. pulsa dengan
tinggi tertentu dicatat dan dikumpulkan dalam suatu salur tertentu, sehingga nomor salur
akan sebanding dengan tenaga sinar-X yang terdeteksi. Hubungan kesebandingan ini
dapat ditentukan dengan cara mengeksitasikan beberapa unsur tertentu terpisah secara
11
bergantian atau campuran unsur tertentu secara bersama-sama. Puncak-puncak spektra

yang dihasilkan yang ditampilkan pada layar Multi Channel Analyzer (MCA) dicatat
nomor salurnya dengan bantuan cursor. Kurva hubungan antara nomor salur dengan
tenaga sinar-X yang teramati adalah merupakan kurva kalibrasi tenaga yang linier. Dalam
praktek hubungan ini dinyatakan secara matematis dalam persamaan yang mempunyai
bentuk umum: y = mx + c ,dimana:
y
x
= tenaga
= nomor salur
m
c
= slope
= intersep
Validasi Metode
Validasi metode adalah proses mengkonfirmasi bahwa satu metode mempunyai unjuk
kerja yang konsisten sesuai dengan apa yang dikehendaki dalam penerapan metode
tersebut (Samin, 2007). Kegiatan validasi metode meliputi pengujian presisi, akurasi dan
ketidakpastian.
Akurasi
Akurasi adalah kesesuaian hasil antara suatu analisis dan nilai benar/unsur. Nilai hasil
analisis kenyataannya merupakan perkiraan nilai benar dengan memperhitungkan nilai
ketidakpastiannya. Pengujian akurasi dapat dilakukan dengan dua cara, yaitu i) analisis
bahan acuan dimana hasilnya dibandingkan dengan nilai analit sebenarnya, selisih hasil
tersebut memberikan nilai penyimpangan dari metode, ii) analisis bahan acuan/uji dimana
hasilnya dibandingkan dengan pengukuran dengan menggunakan metode lain. Selisihnya
memberikan nilai penyimpangan metode relatif terhadap metode lain. Cara kedua
dilakukan ketika tidak tersedia bahan acuan. Nilai bias atau penyimpangan ialah nilai
yang dipergunakan untuk mengukur kebenaran hasil analisis yang menyatakan perbedaan
antara hasil analisis yang diharapkan dengan nulai acuan yang merupakan estimator nilai
sebenarnya (Murniasih dkk, 2010).
Presisi
Presisi atau kecermatan suatu metode yaitu tingkat kedapat-ulangan suatu rangkaian hasil
uji diantara hasil-hasil itu sendiri. Presisi berhubungan dengan hasil suatu metode pada
pengulangan pengukuran sampel yang homogen dengan kondisi terkontrol. Presisi hasil
uji dapat dilakukan dengan pengulangan analisis, apabila variasi hasilnya kecil maka
dikatakan bahwa kecermatan pengukuran tersebut tinggi. Presisi didefinisikan sebagai
closeness of agreement atau seberapa dekat hasul-hasil pengujian atau analisis yang tidak
saling mempengaruhi satu sama lain yang diperoleh dalam kondisi tertentu. Kualitas dari
sebuah hasil pengukuran atau analisis dapat dilihat dari presisinya.
Ketidakpastian Baku Tipe A
12
Apabila suatu pengukuran dilakukan sebanyak n kali, maka nilai rerata dan simpangan
bakunya dapat dihitung. Simpangan baku atau standar deviasi (S) adalah suatu taksiran
sebaran populasi dimana n nilai tersebut diambil, yaitu
S = [ (Xi X)2]0,5/n-1.
(1)
Perhitungan ketidakpastian baku tipe A (), dilakukan dengan cara pengukuran
atau pengamatan berulang sehingga dapat diperoleh nilai rata-ratanya.
= S/n..
(2)
Ketidakpastian Baku Tipe B
Perhitungan ketidakpastian baku tipe B(), nilai ketidakpastian yang dilaporkan
bersumber dari acuan dalam sertifikat dibagi dengan faktor cakupan yang diberikan
dalam acuan sertifikat, bila tidak ditemukan informasi faktor cakupan, maka dapat
diambil 2 (dua) untuk distribusi normal persamaan (3) dan distribusi rekatangular
persamaan (4) dengan tingkat kepercayaan 95 %.
(x) = S/2 atau S/1,96.
(3)
(x) = S/3.
(4)
Perhitungan ketidakpastian gabungan (c) diperoleh dengan menggabungkan seluruh
ketidakpastian baku dari komponen-komponennya, yaitu dengan menjumlahkan seluruh
ketidakpastian baku, mengkuadratkan, dan menarik pangkat dua dari jumlahnya dengan
persamaan sebagai berikut.
c2 = B2 + C2 atau C = (B2 + C2)0,5.
(5)
Ketidakpastian diperluas (U), untuk mendapatkan probabilitas yang memadai bahwa nilai
hasil uji berada dalam rentang yang diberikan oleh ketidakpastian. Perhitungannya yaitu
dengan mengalikan ketidakpastian baku gabungan dengan faktor cakupan (2) yang
memberikan tingkat kepercayaan sekitar 95%.
U = k.C.
(6)
13
BAB 2
AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY
(AES)
Disusun oleh
Agus Taftazani
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

Diktat Bab 1-2 (Xrf-Aes) 014

Diunggah oleh

Informasi Dokumen

Judul Asli

Hak Cipta

Format Tersedia

Bagikan dokumen Ini

Bagikan atau Tanam Dokumen

Opsi Berbagi

Apakah menurut Anda dokumen ini bermanfaat?

Apakah konten ini tidak pantas?

Hak Cipta:

Format Tersedia

Diktat Bab 1-2 (Xrf-Aes) 014

Diunggah oleh

Hak Cipta:

Format Tersedia

1

KIMIA INSTRUMENTAL ANALISIS 2

PENDAHULUAN Kimia Analisis Instrumental

Perkembangan Teknik deteksi:

Spektrometri Pendar Sinar-X (X-Ray Flourescence)

MODEL ATOM BOHR

Inti Atom (proton + Netron)

Prinsip Dasar Spektrometri Pendar Sinar-X

Prinsip dasar analisis spektrometri pendar sinar-X adalah pengukuran sinar-X

Gambar 2. Proses interaksi sinar-X dengan cuplikan (Taftazani, 2013)

Sinar-X karakteristik tersebut selanjutnya mengenai detektor Si(Li) yang akan

Sumber radioisotop memiliki beberapa kekurangan diantaranya adalah keterbatasan

Range Analsis Unsur

Sulfur Kromium K Lines

22,1 dan 87,9

Kalsium Rodium K Lines

26,4 dan 59,6

Tembaga Tulium K Lines

Pada spektrometer pendar sinar-X yang menggunakan detektor jenis semikonduktor

MCA dengan Genie

Cryostat (Tabung Pengisian Nitrogen Cair)

bergantian atau campuran unsur tertentu secara bersama-sama. Puncak-puncak spektra

Anda mungkin juga menyukai