Atomic force microscopy

(AFM)
Introduction
 AFM merupakan peralatan sangat canggih untuk mempelajari
struktur permukaan secara atomik, fenomena fouling pada
BRM (Bioreaktor material) atau proses-proses pemisahan
membran lainnya. AFM bisa memberikan gambar 3 dimensi
dengan resolusi setara atomik serta memberikan informasi
kuantitatif mengenai morfologi permukaan.
 Untuk yang kedua diperlukan bantuan software analisis
lainnya .
 Berbeda dengan SEM, Alat ini tidak memerlukan perlakukan
pendahuluan pada sampel.
TYPICAL APPLICATION
 3-dimensional topography of IC device
 Roughness measurements for chemical mechanical polishing
 Analysis of microscopic phase distribution in polymers
 Mechanical and physical property measurements for thin
films
 Imaging magnetic domains on digital storage media
 Imaging of submicron phases in metals
 Defect imaging in IC failure analysis
 Microscopic imaging of fragile biological samples
INTRODUCTION
BRIEF HISTORY
Peralatan AFM
 AFM terdiri dari catilever dengan probe yang tajam pada
ujungnya.
 Ketika probe tersebut dekat dengan sample, medan gaya
antara probe dan sample akan menghasilkan defleksi pada
centilever.
 Berdasarkan prinsip ini, bisa diperoleh informasi mengenai:
gambar 3D, kehalusan/kekasaran permukaan, dan kekuatan
tarik-menarik (adhission force).
Skema pengujian AFM
ANALYTICAL INFORMATION AND
TYPICAL APPLICATIONS

Surface Profile of Crystalline

Material
AFM Image of Defect on
Coated Glass
Height and Phase Mode Image of a Polymer Sample
 Top View AFM Image of
Steel Microstructure

AFM Images of Gold Plating

for Wire Bond Failure Analysis
Contoh-contoh gambar yang diperoleh dari
AFM:

Profil 3D dua membran yang tersumbat: (A) dari reaktor

thermofilik, (B) dari reaktor mesophilik
 CONTOH HASIL ANALISIS:

Perbandingan kekasaran dua membran yang tersumbat: dua

membran dengan material berbeda
CONTOH:

Perbandingan kekasaran
membran yang tersumbat
pada dua proses berbeda: (A)
MBR dan (B) AGMR)
Berdasarkan analisis menggunakan AFM, beberapa fenomena fouling pada
membran BRM dapat diringkas sebagai berikut:
 Membran yang tersumbat terdeteksi memiliki tingkat kekasaran yang lebih
tinggi. Perubahan kekasaran ini menandakan adanya deposisi foulan pada
permukaan membran dan distribusi yang tidak merata dari foulan pada
permukaan membran.
 Kekasaran permukaan dapat juga digunakan untuk mengidentifikasi tingkat
kemampatan sumbatan. Sumbatan yang mampat cenderung memiliki
kekasaran yang lebih rendah. Akibatnya porositas sumbatan juga cenderung
menyempit. Perbedaan tingkat kekasaran juga sangat tergantung pada
kondisi umpan (feed) atau lumpur aktif.
 Profil daya (force profile) antara sumbatan-membrane, sumbatan-sumbatan
juga dapat dihitung. Dengan demikian, kita dapat menghitung potensi
tersumbatnya membran yang satu dengan lainnya, terhadap foulan tertentu.
Informasi ini dapat digunakan sebagai data awal untuk mendesin membran
yang resistan terhadap penyumbatan.
Atomic Force Microscope images of lipid membranes.The picture on the left shows the
decomposition of a membrane under the influence of a lipid-degrading enzyme.The
picture on the right shows the structure of a membrane formed by a mixture