Metode Karakterisasi Nanomaterial : AFM

Nur’aini Nafisah (140310150081)

Atomic Force Microscope (AFM) merupakan salah satu metoda karakterisasi serupa
Scanning Probe Microscopy (SPM) yang bekerja dengan melibatkan interaksi antara probe
dan permukaan bahan melalui proses fisis tertentu [1]. Dinamakan Atomic Force Microscope
karena dapat mencapai resolusi atom dan dapat membedakan dua atom berjarak dekat,
gambarnya dibuat dengan mengukur kekuatan antara probe dan permukaan sampel, serta
dapat memperbesar gambar sampel seperti mikroskop lainnya[2]. Interaksi ini kemudian dapat
men-generate citra permukaan bahan pada skala mikroskopik, sehingga susunan partikel pada
permukaan bahan dapat terlihat dengan jelas. Metoda karakterisasi AFM hanya melibatkan
gaya yang terjadi antara tip dan sampel. Gaya yang terjadi bisa berupa gaya tarikan atau
dorongan. Setiap gaya akan mengakibatkan pembengkokan tertentu pada bagian cantilever
dimana akan terdeteksi oleh berkas laser dan kemudian ditangkap oleh detektor yang
kemudian akan dicitrakan menjadi sebuah gambar[1].
AFM mampu memberikan informasi topografi 3D suatu permukaan pada skala hingga
nanometer. Resolusi lateralnya mencapai 1,5 nm sedangkan resolusi vertikalnya mencapai
0,05 nm. Artinya ketelitian AFM dalam mengukur ketinggian suatu pemukaan lebih besar
daripada ketelitiannya dalam mengukur panjang atau lebar. AFM juga dapat menampilkan
gambar dari kristal yang lunak dan permukaan polimer[1].
AFM di gunakan untuk memanipulasi ukuran atom atau molekul dan struktur pada berbagai
permukaan. Kegunaan AFM antara lain mempermudah dalam mengetahui struktur atom
secara langsung, sehingga dapat di ubah dan di manipulasi untuk kepentingan ilmu sains,
dapat menjelaskan bagaimana struktur dari berbagai macam molekul, sehingga lebih mudah
dalam membuat suatu reaksi kimia, serta untuk menyelidiki struktur, fungsi dan spesifik sel[1].
Komponen-komponen AFM adalah probe, ujung jarum atau tip untuk memindai sepanjang
permukaan sampel sehingga dapat mengkarakterisasi suatu bahan, panjang tip kurang dari 5 μm
dan diameter ujung Tip kurang dari 10 nm , cantilever sebagai tempat tip menempel, panjang
cantilever berkisar 100 – 500 μm dan beberapa mikron untuk tebalnya , scaner piezoelectric
untuk mengontrol pergerakan tip atau sampel pada arah x, y dan z , laser untuk menembakkan
laser ke arah cantilever, detektor sebagai pendeteksi pantulan laser, photodioda, dan perangkat
komputer sebagai pengolah data[1].
Prinsip kerja dari AFM yaitu saat posisi tip dipermukaan sampel, maka dapat dideteksi oleh
laser dan dipantulkan ke photodioda untuk diteruskan ke detektor. Kemudian, dari detektor
langsung ke komputer/monitor untuk mendapatkan penggambaran dalam skala nano atom.
Probe yang ditempatkan di ujung kantilever bisa dianggap sebagai pegas. Jumlah gaya antara
probe dan sampel tergantung pada konstanta pegas (kekakuan kantilever dan jarak antara
probe dan permukaan sampel). Gaya ini dapat dijelaskan menggunakan Hooke's Law[3].
AFM dapat digunakan untuk sampel yang bersifat konduktor maupun isolator seperti atom
dan molekul, makromolekul, spesies biologi seperti sel, DNA, dan protein. Syarat sampel
yang digunakan adalah memiliki minimal salah satu dimensinya berukuran kurang dari 100
nm. Persiapan awal sampel adalah meletakkan sample pada tempat sample yang ada pada
alat, pastikan ujung tip berada tepat di permukaan sample, dan menghidupkan alat dan layar
komputer[1].
Referensi :

[1] Nababan, Nico. Mikroskop dan Analisis : Atomic Force Microscope (AFM). Medan :
Departemen Fisika, Universitas Sumatera Utara.
[2] Chatterjee, Snehajyoti. 2010. Atomic Force Microscopy : A Tool to Unveil the Mystery of
Biological Systems. Transcription and Disease Laboratory, Jawaharlal Nehru Centre for
Advanced Scientific Research, Bangalore.
[3] Wilson, Robert A. Introduction to Scanning Probe Microscopy (SPM) : Basic Theory
Atomic Force Microscopy (AFM). Department of Chemistry, Northern Kentucky
University, Highland Heights, KY 41099.

Pertanyaan :

Dimana tempat sampel diletakkan? Apakah semua bentuk zat padat dan cair dapat digunakan
sebagai sampel AFM? Bagaimana perbedaan pada sampel konduktor dan isolator?