Eksplorasi Cebakan Mineral

Laporan Kunjungan Labarotarium Hidrogeologi

Oleh:
NOPRIZAN AZMI
22121016

PROGRAM MAGISTER REKAYASA PERTAMBANGAN

FAKULTAS TEKNIK PERTAMBANGAN DAN PERMINYAKAN
INSTITUT TEKNOLOGI BANDUNG 2022
A. Pendahuluan
Kunjungan laboratorium ini dilakukan untuk mengetahui cara penggunaan peralatan yang
ada pada laboratorium hidrogeologi. Kunjungan dilakukan pada hari jum’at di mulai jam
14.00 WIB sampai jam 15.30 dengan jumlah 10 mahasiswa. Peralatan yang di kunjungi
ada enam yaitu, SEM (Scanning Elektron Micrhone), IC (Ion Chromotography), ICPMS
(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry), IRMS (Isotop Ratio Mass
Spectrometry), XRF (X-Ray Fluoroscence), dan XRD (X-Ray Difraction).
B. Peralatan Laboratorium
1. SEM (Scanning Elektron Microscope)
Pada kunjungan laboratorium hidrogeologi, alat pertama yang di kunjungi adalah SEM
(Scanning Elektron Microscope). Scanning Electron Microscope (SEM) adalah sebuah
mikroskop elektron yang didesain untuk mengamati permukaan objek secara langsung.
Karakterisasi sampel dengan menggunakan alat SEM bertujuan untuk melihat morfologi
dan tofografi dari sampel. EDS merupakan suatu alat yang digunakan untuk mengetahui
unsur yang terkandung pada sampel. EDS dapat dilakukan pada daerah yang kecil (titik),
garis dan kotak. Selai itu EDS dapat digunakan untuk mengetahui sebaran unsur
(mapping) pada sampel.

a. Prinsip Kerja:
- SEM, Elektron yang menghasilkan gambar sampel dengan memindai permukaan
dengan sinar elektron yang terfokus dengan perbesaran hingga skala tertentu
menggunakan berkas elektron terfokus energi tinggi. Sampel dalam kondisi
vakum untuk memastikan bahwa berkas elektron tetap fokus dan tidak
berinteraksi dengan partikel di udara. Ketika berkas elektron mengenai sampel, itu
 menyebabkan elektron sekunder dilepaskan dari sampel yang terdeteksi untuk
memberikan gambar berdasarkan topografi permukaan. Dua detektor yang paling
umum digunakan adalah 2 Secondary Electron Detector (SED) dan Backscattered
Electron (BSE) Detector. Elektron berinteraksi dengan detektor untuk membuat
gambar.
- EDS, Sinar-X juga dipancarkan dari permukaan sampel, yang membawa tanda
energi unik yang unik untuk elemen yang ditemukan dalam sampel. Sinar-X ini
dideteksi dengan detektor EDS untuk memberikan informasi dasar tentang
sampel. EDS memberikan data tentang komposisi kimiawi sampel dan
memberikan data tambahan tentang properti yang diamati dalam mikrograf SEM.
Kemampuan karakterisasi disebabkan oleh prinsip dasar bahwa setiap elemen
memiliki struktur atom yang unik yang memungkinkan serangkaian puncak unik
pada spektrum emisi elektromagnetiknya (yang merupakan prinsip utama
spektroskopi).
b. Jenis Sampel
Sampel harus berupa bahan padat dan tidak dapat dilakukan pada cairan atau gas.
Sampel bisa bulk sampel maupun sayatan poles. Untuk analisis kuantitatif dan
pemetaan X-ray, sayatan poles di coating dengan karbon.

2. IC (Ion Chromatography)
Ion Chromatography (IC) digunakan untuk analisis kimia air. IC mampu mengukur
konsentrasi anion utama, seperti fluoride, chloride, nitrat, nitrit, dan sulfat, serta kation
utama seperti lithium, natrium, amonium, kalium, kalsium, dan magnesium dalam parts-
per-billion (ppb) kisaran. Volume suatu badan air yang akan diteliti dengan jumlah
tertentu tapi masih mewakili sifat-sifat geokimia yang sama dengan badan air tersebut.
 Teknik analisis kromatografi merupakan salah satu teknik analisis instrumental kimia
disamping teknik spektrofotometri dan elektroanalisis kimia. Lebih dari itu IC (Ion
Chromatography) dapat dipakai untuk menentukan massa atau berat molekul suatu
senyawa dengan fragmentasinya sebagai salah satu analisis struktur. Sampel pada alat ini
dalam bentuk air.
Prinsip kerja didasarkan pada interaksi muatan positif dan negatif antara molekul spesifik
dengan matriks yang barada di dalam kolom kromatografi.
- Kromatografi pertukaran kation, bila molekul spesifik yang diinginkan bermuatan
positif dan kolom kromatografi yang digunakan bermuatan negatif.
- Kromatografi pertukaran anion, bila molekul spesifik yang diinginkan bermuatan
negatif dan kolom kromatografi yang digunakan bermuatan positif.

3. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)

ICP-MS secara sederhana dapat dipandang sebagai gabungan plasma induksi (Inductively
Coupled Plasma) dengan spektrometer massa. Inductively coupled plasma-mass
spectrometry (ICP-MS) adalah teknik analisis multi unsur untuk menentukan unsur dan
isotop yang terkandung di dalam berbagai jenis sampel. Lebih dari 90% unsur-unsur
(sebanyak 49 unsur) yang tercantum dalam tabel periodik dapat ditentukan dengan
menggunakan ICP-MS, termasuk logam alkali, logam transisi, dan unsur tanah jarang.
Sampel dalam bentuk powder dan dapat melakukan analisis sampel dalam jumlah yang
banyak. Jenis sampel pada ICP-MS berupa larutan yang mana sampel harus didektruksi
terlebih dahulu.
 Prinsip kerja dari ICP–MS adalah sampel diintroduksikan ke dalam suatu pusat
tabung plasma argon, yang mengkabut, secara cepat tersolvasi dan teruapkan. Selama
transit melewati inti plasma proses disosiasi dan ionisasi terjadi. Ion-ion terekstrak
dari tabung pusat plasma menuju suatu pompa vakum antarfase, kemudian
ditransmisikan ke dalam spektrometer massa. Didalam spektrometer dan massa ion-
ion terpisahkan berdasarkan massa mereka terhadap rasio muatan. Pada dasarnya
peralatan ICP-MS merupakan gabungan dari dua peralatan yang masing-masing
sudah berkembang, yakni antara alat eksitasi ICP dan MS-quadropole sebagai
detektor. dimana ICP Pengatomisasian elemen menggunakan plasma argon sehingga
memancarkan cahaya panjang gelombang tertentu yang kemudian dapat diukur
sedangkan MS untuk Membedakan massa setiap unsur.

4. IRMS (Isotop Ratio Mass Spectrometry)

Isotope Ratio Mass Spectrometry merupakan alat yang digunakan untuk analisis isotop
dengan metode mass spectrometry. Rasio yang dilihat yaitu kelimpahan isotop yang
dianalisis terhadap kelimpahan terbanyak dari unsur yang ada di bumi. Sampel dalam
bentuk powder sebanyak 300 mikrogram dan yang akan dianalisis yaitu hasil vapor dari
sampel.
 Vapour yang ditangkap oleh alat akan digunakan untuk dibandingkan dengan reference
gas untuk mendapatkan nilai rasio dari hasil analisis. Hasil analisis mengukur isotop dan
penganalisis unsur Karbon-13, Hidrogen-2, Oksigen18, Nitrogen-15, Sulfur-34.
Prinsip Kerja pemindaian spektrometer massa menggunakan detektor tunggal dan oleh
karena itu tidak dapat secara bersamaan mendeteksi pasangan isotop tertentu untuk
pengukuran rasio isotop. Untuk pengukuran rasio isotop, MS organik/pemindaian paling
baik dioperasikan dalam mode pemantauan ion (SIM) terpilih untuk mengoptimalkan
sensitivitas terhadap massa yang dipilih. Fraksi atom adalah jumlah atom tertentu (isotop)
dari suatu unsur kimia dibagi dengan jumlah total atom unsur dalam campuran.
5. XRF (X-Ray Fluorescence)
Teknik XRF merupakan suatu teknik analisis yang dapat menganalisa unsur-unsur yang
membangun suatu material. Teknik ini juga dapat digunakan untuk menentukan
konsentrasi unsur berdasarkan pada panjang gelombang dan jumlah sinar x yang
dipancarkan kembali setelah suatu material ditembaki sinar x berenergi tinggi. Sampel
yang digunakan yaitu powder tapi dapat juga dibentuk menjadi polish section untuk
sampel yang wet sehingga dapat dianalisis.
 Prinsip kerja menembakkan radiasi foton elektromagnetik ke material yang diteliti.
Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan akan berinteraksi dengan elektron yang berada
di kulit K suatu unsur. Elektron yang berada di kulit K akan memiliki energi kinetik yang
cukup untuk melepaskan diri dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan terpental keluar.
6. XRD (X-Ray Diffraction)
X-Ray Diffraction adalah teknik analisis non destruktif yang digunakan untuk
mengidentifikasi fase bahan kristal dan dapat memberikan informasi tentang dimensi unit
sel. Bahan yang dianalisis adalah dapat berupa bahan padat (terutama yang mempunyai
struktur kristal) berbentuk powder atau bubuk berukuran 200 mesh.
Karakterisasi X-Ray Diffraction dilakukan untuk menganalisis fase dan mengetahui
struktur kristal dan derajat kekristalan dari material yang dihasilkan. Analisis kristal
menggunakan difraktometer sinar-X yang dilengkapi dengan pencacah radiasi untuk
mencatat sudut dan intensitas difraksi. Sebuah recorder mencatat plot berkas difraksi
pada rentang sudut 2- Theta. Hasil analisis berupa pola difraksi atau biasa disebut
difraktogram yang dapat digunakan untuk menentukan fase kristalin dan jenis mineral
pada sampel.
Prinsip kerja dari X-Ray Diffraction adalah Sinar -X yang dihasilkan pada tabung sinar X
ditembakkan ke spesimen melewati rangkaian celah logam dengan nomor atom tinggi,
seperti molibdenum atau tantalum. Celah logam ini digunakan sebagai penyejajar berkas
sinar-X. Setelah terdifraksi oleh spesimen, berkas ini akan melewati rangakaian celah
yang lain.