Anda di halaman 1dari 2

PENENTUAN JARAK ANTAR BIDANG KISI SERBUK KRISTAL SODIUM

KLORIDA (NaCI) MENGGUNAKAN FOTOGRAFI DEBYE-SCHERRER

Dengan ditemukannya sinar-x oleh Wilhelm Konrad Rontgen pada tahun 1895, penelitian
mengenai struktur kristal zat padat menjadi semakin berkembang. Hal tersebut
dikarenakan sinar-x memiliki panjang gelombang mendekati ukuran jarak antar atom-
atom pada kristal, sehingga memungkinkan pengukuran dan pengamatan benda-benda di
bawah ukuran mikro.
Fotografi Debye-Scherrer yang digunakan untuk mengamati kristal dalam bentuk padatan
serbuk, juga memanfaatkan keistimewaan sifat dari sinar-x tersebut. Pada eksperimen
Tugas Akhir ini, fotografi Debye-Scherrer diperoleh dengan menggunakan X-Ray
Apparatus produksi Leybold Didactic GmbH, yang juga dapat dipergunakan untuk
berbagai macam eksperimen sinar-x yang lain.
Prinsip kerja eksperimen fotografi Debye-Scherrer ini adalah melakukan penyinaran oleh
sinar-x monokromatis selama 0,5 – 4 jam, pads suatu sampel padatan kristal yang sudah
ditumbuk hingga halus. Hasilnya berupa pola difraksi pads lembar film sinar-x, yang
berbentuk cincin-cincin konsentris. Semakin halus serbuk kristal, maka akan semakin
baik pula pola difraksi yang terbentuk pada lembar film sinar-x. Dengan mengukur
diameter dari cincin-cincin tersebut, dapat dihitung indeks Miller, konstanta kisi, dan
jarak antar bidang Miller, serta menentukan Faktor Struktur Geometrik dari sampel
kristal yang diamati. Untuk mendapatkan hasil eksperimen yang optimum, diperlukan
pemahaman teoritis dan pelaksanaan cara kerja aparatus serta pengolahan data yang
sesuai dengan prosedur eksperimen.
Analisis struktur polikristal grafit dengan metode difraksi elektron menggunakan
tabung difraksi
Teltron 2555

Telah dilaksanakan pengukuran diameter cincin hasil difraksi electron dengan target
karbon grafit pada tabung difraksi elektron Teltron 2555 di Sub-Lab Fisika Laboratorium
Pusat FMIPA Universitas Sebelas Maret Surakarta. Difraksi elektron merupakan salah
satu metode yang digunakan untuk mengetahui struktur kristal material. Dalam penelitian
ini dilakukan difraksi elektron pada kristal grafit untuk mengetahui jenis, struktur serta
indeks miller kristal grafit tersebut. Pengukuran diameter cincin hasil difraksi dilakukan
pada tegangan 3-5 KV. Tabung difraksi elektron berbentuk bola dengan jari-jari 6,6 cm
dan jarak material ke layar 13 cm. Diperoleh jarak antar atom karbon grafit pada lapisan
yang sama sebesar (1,974 ± 0,03)ú dengan indeks miller [102] dan jarak antar atom
karbon grafit dalam lapisan yang berlainan sebesar (1,144 ± 0,017)ú dengan indeks miller
[112]. Struktur kristal grafit tersebut berbentuk heksagonal.